【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】描述專利
本專利技術涉及涂覆有碳化硅并且具有用于接收將經受碳化硅的“外延生長”的基底的至少一個區的襯托器,并且涉及用于在基底支撐元件的壽命期間(即,還在已經被用于碳化硅的外延生長的許多工藝之后)限制該基底支撐元件的向外彎曲的方法。現有技術外延生長和用于獲得它的反應器已經已知許多年;它們基于被稱作“CVD”(化學氣相沉積)的技術。其中它們被使用的
是生產電子部件的
;用于該應用的工藝和反應器是特定的,因為需要非常高質量的沉積層并且質量要求不斷地在上升。一種類型的外延反應器使用被插入反應室中并且支撐將經受外延生長的一個或更多個基底的“襯托器”(參見圖1.1A中的參考數字10和1000);如已知的,基底可以完全是圓形的或常常具有“平坦面”(參見圖1.1B中的基底1000)。本專利技術事實上涉及這樣的襯托器,其特別地用于碳化硅的高溫(1550℃-1750℃)外延生長。通常,具有熱壁反應室的反應器用于碳化硅的高溫外延生長;室和襯托器的加熱通常借助于電磁感應或電阻來獲得。大部分現有技術(圖1)涉及在多達1250℃的工藝溫度下的硅的外延生長,并且涉及相應的反應器;事實上,僅僅最近,碳化硅的電子部件才開始略微地較廣泛地使用。在剛剛開始時,即數十年前,襯托器全部由石墨制成。然而,在那時,發現石墨污染基底,因為存在于襯托器的石墨中的雜質在外延生長工藝期間部分地遷移到疊加的基底中。因此,想
【技術保護點】
一種用于外延生長的反應器的襯托器,由具有第一面和第二面的由石墨制成的圓盤形主體組成,其中所述第一面包括適于接收將經受外延生長的基底的至少一個圓形區,據此所述第一面暴露對應于所述至少一個區的第一上表面和圍繞所述至少一個區的第二上表面,其中所述第二面暴露下表面,其特征在于,所述第二上表面和所述下表面預先用碳化硅的層來涂覆。
【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】2013.09.27 IT CO2013A0000401.一種用于外延生長的反應器的襯托器,由具有第一面和第二面的由石墨制成的圓盤
形主體組成,
其中所述第一面包括適于接收將經受外延生長的基底的至少一個圓形區,據此所述第
一面暴露對應于所述至少一個區的第一上表面和圍繞所述至少一個區的第二上表面,
其中所述第二面暴露下表面,
其特征在于,所述第二上表面和所述下表面預先用碳化硅的層來涂覆。
2.根據權利要求1所述的襯托器,其特征在于,僅所述第二上表面和所述下表面用碳化
硅的層來涂覆。
3.根據權利要求1或2所述的襯托器,由具有第一面和第二面的由石墨制成的圓盤形主
體組成,
其中所述第一面包括適于接收將經受外延生長的基底的至少一個圓形凹進部,據此所
述第一面暴露對應于所述至少一個凹進部的底部的降低的上表面和圍繞所述至少一個凹
進部的升高的上表面,
其中所述第二面暴露下表面,
其特征在于,所述升高的上表面和所述下表面預先用碳化硅的層來涂覆。
4.根據權利要求3所述的襯托器,其中所述下表面全部地或僅在環形區中或僅在中心
區中用碳化硅的層來涂覆。
5.根據權利要求3或4所述的襯托器,其中在所述上表面上的所述碳化硅的層的厚度大
于在所述下表面上的所述碳化硅的層的厚度。
6.根據權利要求3或4或5所述的襯托器,其中所述降低的上表面用石墨的層來涂覆。
7.根據權利要求3或4或5所述的襯托器,其中所述降低的上表面用碳化鉭的層來涂覆。
8.根據前述權利要求1至7中任一項所述的襯托器,其中所述降低的上表面是粗糙的或
高低不平的或有凸邊的。
9.根據權利要求1或2所述的用于外延生長的反應器的襯托器,由具有第一面和第二面
的由石墨制成的圓盤形主體組成,
其中所述第一面包括適于接收將經受外延生長的基底的至少一個圓形凸起,據此所述
第一面暴露對應于所述至少一個凸起的頂部的升高的上表面和圍繞所述至少一個凸起的
降低的上表面,
其中所述第二面暴露下表面,
其特征在于,所述升高的上表面和所述下表面預先用碳化硅的層來涂覆。
10.根據權利要求9所述的襯托器,其中所述下表面全部地或僅在環形區中或僅在中心<...
【專利技術屬性】
技術研發人員:弗朗西斯科·科里亞,D·克里帕,勞拉·戈博,M·毛切里,溫森佐·奧格里阿里,弗蘭科·佩雷蒂,馬爾科·普利西,卡爾梅洛·韋基奧,
申請(專利權)人:LPE公司,
類型:發明
國別省市:意大利;IT
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