一種非接觸智能卡測試裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術公開了一種非接觸智能卡測試裝置，包括：成品臺、速度調節裝置、角度調節裝置、高度調節裝置和讀卡器組合，其中，所述成品臺，用于支持非接觸智能卡產品的模塊形態及卡片形態的產品測試；所述速度調節裝置、角度調節裝置、高度調節裝置，分別用于對所述成品臺進行相對于所述讀卡器組合的距離、角度和/或進場離場速度調節；所述讀卡器組合，包括純非接讀卡器和雙界面讀卡器以及支持非接智能卡讀取的機具，用于讀取模塊形態和/或卡片形態的非接觸智能卡。本發明專利技術能夠涵蓋非接觸智能卡的功能及性能測試，通過角度、高度、進場速度等方面控制，實現非接觸智能卡的多維度測試，提高非接觸智能卡產品的測試覆蓋率。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及測試
，尤指一種非接觸智能卡測試裝置。
技術介紹
非接觸智能卡產品，具有傳輸速度快，交易時間短等特點，特別適用于使用環境惡劣，要求響應速度快、安全性高、功能需求復雜的場合。集成電路在生產中為了保證質量，需要盡可能的提高測試覆蓋率。現有的非接觸智能卡測試需要涉及到下面幾方面問題：非接觸智能卡的實場RF性能測試不能支持模塊狀態，必須封裝為卡狀態；非接觸智能卡的RF性能測試不能夠支持多種讀卡器類型，多模塊，多頻次，多角度，多距離，多速度等組合同測；非接觸智能卡產品的兼容性測試；自動化測試。目前市場上的非接觸智能卡產品測試設備，一部分針對模塊形式的產品測試，一部分針對卡片形式的產品測試，且測試功能主要集中在產品電性能及產品本身特點測試，不能模擬實場使用環境，且測試裝置不能兼容模塊及卡片形式的非接觸智能卡產品同測。
技術實現思路
為了解決上述技術問題，本專利技術提供了一種非接觸智能卡測試裝置，能夠涵蓋非接觸智能卡的功能及性能測試，通過角度、高度、進場速度等方面控制，實現非接觸智能卡的多維度測試，提高非接觸智能卡產品的測試覆蓋率。為了達到本專利技術目的，本專利技術提供了一種非接觸智能卡測試裝置，包括：成品臺、速度調節裝置、角度調節裝置、高度調節裝置和讀卡器組合，其中，所述成品臺，用于支持非接觸智能卡產品的模塊形態及卡片形態的產品測試；所述速度調節裝置、角度調節裝置、高度調節裝置，分別用于對所述成品臺進行相對于所述讀卡器組合的距離、角度和/或進場離場速度調節；所述讀卡器組合，包括純非接讀卡器或雙界面讀卡器或支持非接觸智能卡讀取的機具，用于讀取模塊形態和/或卡片形態的非接觸智能卡。進一步地，所述成品臺，通過更換臺面來支持非接觸智能卡產品的模塊形態及卡片形態的產品測試。進一步地，通過單獨控制或組合控制所述速度調節裝置、角度調節裝置和高度調節裝置，實現對所述成品臺進行相對于所述讀卡器組合的距離、角度和/或進場離場速度調節。進一步地，所述非接讀卡器是純非接讀卡器或雙界面讀卡器或專用非接產品測試設備。進一步地，所述非接觸智能卡測試裝置采用絲扛傳動、齒輪齒條傳動，通過多軸聯動、以及程控裝置，實現可編程控制的自動測試。與現有技術相比，本專利技術的測試方案可支持非接觸智能卡產品的模塊形態及卡片形態的產品測試，可兼容兩種形態的產品測試；可模擬實場使用環境進行測試，例如模擬刷卡高度、角度以及進場速度；并可以組合上述條件進行產品功能測試；此外，還可以擴展工作站，支持非接觸智能卡產品小批量自動化測試。本專利技術的其它特征和優點將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實施本專利技術而了解。本專利技術的目的和其他優點可通過在說明書、權利要求書以及附圖中所特別指出的結構來實現和獲得。附圖說明附圖用來提供對本專利技術技術方案的進一步理解，并且構成說明書的一部分，與本申請的實施例一起用于解釋本專利技術的技術方案，并不構成對本專利技術技術方案的限制。圖1是本專利技術的一實施例中非接觸智能卡測試裝置的結構示意圖。圖2是本專利技術的一實施例中非接觸測試工作站的結構示意圖。具體實施方式為使本專利技術的目的、技術方案和優點更加清楚明白，下文中將結合附圖對本專利技術的實施例進行詳細說明。需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互任意組合。在附圖的流程圖示出的步驟可以在諸如一組計算機可執行指令的計算機系統中執行。并且，雖然在流程圖中示出了邏輯順序，但是在某些情況下，可以以不同于此處的順序執行所示出或描述的步驟。圖1是本專利技術的一實施例中非接觸智能卡測試裝置的結構示意圖。如圖1所示，該裝置包括：非接觸測試工作站1、接觸測試工作站2、物料傳輸導軌3、上下物料盤4和搖輪計數器5。其中，非接觸測試工作站1，用于支持非接觸智能卡的產品測試。接觸測試工作站2，用于支持接觸智能卡的產品測試。物料傳輸導軌3，用于傳輸測試產品。上下物料盤4，用于將測試產品進行上下操作。搖輪計數器5，可以采用手搖輪的搖輪計數器，用于對測試產品進行計數。圖2是本專利技術的一實施例中非接觸測試工作站的結構示意圖。如圖2所示，非接觸測試工作站包括成品臺11、速度調節裝置12、角度調節裝置13、高度調節裝置14和讀卡器組合15，其中，成品臺11可更換臺面，支持非接觸智能卡產品的模塊形態及卡片形態的產品測試。速度調節裝置12、角度調節裝置13、高度調節裝置14分別可以將成品臺進行相對于讀卡器的距離、角度和/或進場離場速度調節，即可以將成品臺進行相對于讀卡器的距離、角度或進場離場速度的單獨控制或組合控制。讀卡器組合15包括多種類非接讀卡器，例如模塊形態和/或卡片形態的非接讀卡器，用于讀取模塊形態和/或卡片形態的非接觸智能卡，非接讀卡器可以是單面非接讀卡器或雙面非接讀卡器。基于圖1和圖2所示的非接觸智能卡測試裝置，下面將具體介紹測試工作流程。實施例一針對模塊類非接觸智能卡產品進行測試。1、將卷帶狀的IC卡模塊放置在本工裝上，支持32個模塊同測頭；2、測試頭另一端連接標準天線板，天線板放置在成品臺上，成品臺下方放置各型號或各類非接讀卡器；3、通過上位機軟件與PLC通信，控制三組伺服電機傳動，實現成品臺相對于讀卡器的距離、角度、進場離場速度調節及控制，或多種條件組合使用；4、通過調用上位機測試腳本控制讀卡器與模塊類非接觸產品進行功能測試；5、通過使用3、4兩種方式的組合，及上位機軟件設置實現RF性能的多模塊、多頻次、多角度，多距離，多速度自動測試。實施例二針對卡片類非接觸智能卡產品進行測試。1、將卡片類非接觸產品放置在成品臺上，成品臺下方放置各型號或各類非接讀卡器；2、通過上位機軟件與PLC通信，控制三組伺服電機傳動。實現成品臺相對于讀卡器的距離、角度、進場離場速度調節及控制，或多種條件組合使用；3、通過調用上位機測試腳本控制讀卡器與模塊類非接觸產品進行功能測試；4、通過使用2、3兩種方式的組合，及上位機軟件設置實現RF性能的多模塊、多頻次、多角度，多距離，多速度自動測試。本專利技術提供的非接觸智能卡測試裝置，測試工裝支持多模塊、測試頭可拆卸、測試工裝可擴展；工裝測試包括距離、角度、速度并可實現軟件自行配置；該工裝支持非接觸智能本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種非接觸智能卡測試裝置，其特征在于，包括：成品臺、速度調節裝置、角度調節裝置、高度調節裝置和讀卡器組合，其中，所述成品臺，用于支持非接觸智能卡產品的模塊形態及卡片形態的產品測試；所述速度調節裝置、角度調節裝置、高度調節裝置，分別用于對所述成品臺進行相對于所述讀卡器組合的距離、角度和/或進場離場速度調節；所述讀卡器組合，包括純非接和/或雙界面讀卡器和/或支持非接觸智能卡讀取的機具，用于讀取模塊形態和/或卡片形態的非接觸智能卡。

【技術特征摘要】
1.一種非接觸智能卡測試裝置，其特征在于，包括：成品臺、速度調節
裝置、角度調節裝置、高度調節裝置和讀卡器組合，其中，
所述成品臺，用于支持非接觸智能卡產品的模塊形態及卡片形態的產品
測試；
所述速度調節裝置、角度調節裝置、高度調節裝置，分別用于對所述成
品臺進行相對于所述讀卡器組合的距離、角度和/或進場離場速度調節；
所述讀卡器組合，包括純非接和/或雙界面讀卡器和/或支持非接觸智能
卡讀取的機具，用于讀取模塊形態和/或卡片形態的非接觸智能卡。
2.根據權利要求1所述的非接觸智能卡測試裝置，其特征在于，所述成
品臺，通過更換臺面來支持非接觸智能卡產品的模塊...

【專利技術屬性】
技術研發人員：劉碩，雷黎麗，
申請(專利權)人：大唐微電子技術有限公司，大唐半導體設計有限公司，
類型：發明
國別省市：北京;11