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    一種三參考通道的紅外氣體分析方法與裝置制造方法及圖紙

    技術編號:14848845 閱讀:100 留言:0更新日期:2017-03-17 22:21
    本發明專利技術涉及一種三參考通道測量氣體成份的紅外在線光譜儀的測量方法與裝置。包括對光源的發光點進行準直的反射鏡,其特征在于:反射鏡后面設置采樣氣室和參考氣室及帶有四通道和四個獨立熱電堆的探測器,每個通道各配一個濾波片和透射窗口,探測器安裝在半導體制冷片上。本發明專利技術主要有以下優點:分析速度快;測試重現性好;可在線分析;尺寸小,便于安裝集成;功耗低;非接觸型;非消耗型,壽命長;無需載氣等耗材。

    【技術實現步驟摘要】
    (一)
    本專利技術涉及光學系統,具體涉及一種采用紅外吸收光譜技術測量氣體成份的在線分析測量方法與裝置。(二)
    技術介紹
    現有成熟測量技術包括:氣相液相色譜儀、催化燃燒傳感器、電化學傳感器、金屬氧化物半導體傳感器等。氣相液相色譜儀一般用于試驗室分析,價格昂貴,不適于在線應用,且檢測時間較長。催化燃燒傳感器通過氧化燃燒有機氣體產生熱量,進而根據測量溫度的變化檢測,可檢測任何可燃氣體。但檢測過程需要氧氣,且傳感器長期在高濃度的環境下暴露會影響降低靈敏度。電化學傳感器將電極封裝在電解質溶液里,把濃度信號轉為電流信號。但其只能在正常大氣壓附近操作,且工組溫度不能超過40℃。金屬氧化物半導體傳感器其原理如下:待測氣體與金屬氧化物接觸產生帶電離子,引發其電阻特性改變,通過測量電阻變化獲得濃度信息。但電阻特性的改變對溫度很敏感,需要嚴格控制在一個較高的工作溫度上,系統功耗高。它的交叉反應太靈敏,極易受到其他物質的干擾。縱觀上述技術,它們的劣勢集中表現為:廣譜反應,選擇性差,易受干擾,傳感單元屬于消耗型,壽命短。光譜技術可選擇特定波段檢測目標分析物,能有效處理其他物質的光譜干擾。光譜分析具有速度快,非消耗性,非接觸性等優勢特點。可實現快速、精準、穩定的檢測。由于可調制激光吸收光譜具有極高的靈敏度,現國際大公司開發競相開發用于石化領域的ppm級的痕量氣體在線分析儀,但是用于近紅外和中紅外波段檢測的光源激光二極管其最高工作溫度在室溫附近,且對溫度十分敏感。為保證測量穩定,需要控制溫度偏差在0.1℃甚至更高。該技術可以實時在線監測石油化工過程、石油天然氣管道儲運、環保環境監測、農牧業等應用場合的氣體,為控制決策提供可靠的數據支撐。與眾多傳統技術相比,熱輻射光源的光譜技術具有成本低、分析速度快、選擇性反應等技術優勢。采用合理設計可以實現多種分析物的同步測量。但是現有的紅外氣體分析儀,結構簡單,補償措施不到位,系統的穩定性差,對于環境尤其是溫度變化的適應能力欠佳,未能有效考慮系統老化、電子零部件漂移、光學表面玷污造成的光損耗等帶來的誤差。本專利針對上述應用環境,設計一個具有三個參考通道的穩定性和抗干擾性高的紅外光譜系統,可以實現對待測成分的準確測量。該系統的光路和電路可自動反饋,有效控制并且維持光源輻射的頻譜和強度的穩定分布。因而該系統的工組溫度范圍更寬,應對快速溫度變化能力更強,可應用于更加嚴苛的環境中。(三)
    技術實現思路
    本專利技術為了彌補現有技術的不足,提供了一種三參考通道的在線測量氣體成份的方法與裝置,本裝置主要包括:光源、氣室、濾波片、探測器和電路支持系統。半導體光源和探測器受溫度的影響比較大,嚴重影響測量結果的穩定性和準確度。現有溫度控制系統,可以一定程度減小溫漂誤差,但仍然無法滿足室外惡劣環境的要求。本系統對微弱信號進行有效處理,以降低閃爍噪聲(1/f噪聲),采用同源特性以排除環境影響。本專利技術是通過如下技術方案實現的:一種三參考通道的紅外在線光譜儀裝置,其特殊之處在于:反射鏡后面設置采樣氣室和參考氣室及帶有四個獨立探測器的四通道,每個通道各配一個濾波片和透射窗口,探測器安裝在半導體制冷片上,其中,四通道分別為參考通道λ1、λ2和R通道及與R通道的透射光經過同一波長濾波片的信號通道S通道,四通道并排設置,其中,參考通道λ1、λ2和R通道、信號通道S通道分別設置進、出氣孔,參考通道λ1、λ2共用進、出氣孔。本專利技術的三參考通道測量氣體成份的紅外在線光譜儀裝置,探測器的每個通道各配一個濾波片和透射窗口。本專利技術的三參考通道測量氣體成份的紅外在線光譜儀裝置,氣室腔體與反射鏡和安裝底座密封連接。本專利技術的三參考通道測量氣體成份的紅外在線光譜儀裝置,光源采用調制技術,以應對不同分析氣體,控制單元可實時校準,以實現穩定測量。其中,光源可以為設計工作溫度400℃以上的熱輻射源,熱輻射光源采用MEMS傳感器,是純阻性器件。一種三參考通道的紅外在線光譜儀的測量方法,包括以下步驟:(1)控制驅動電流:調節光源的驅動電流,從而使光源調節到所需的參數;(2)穩定光譜輸出:在λ1,λ2參考通道中密封對紅外波段沒有任何吸收的中性氣體,當工作環境變化時或者系統的老化漂移時,利用λ1,λ2參考通道的反饋信號和相應函數關系,調節驅動電流,保持λ1,λ2的固定比例關系,從而維持穩定的光譜;(3)建立第三參考通道:R通道中為含有一定已知濃度的待測組分氣體,稱之為參考氣,該通道稱之為第三參考通道,該通道中不含有干擾組分氣體;(4)基線補償:當光源關閉時,檢測器也會檢測到信號,這通常由背景譜線輻射、電路噪聲等因素造成,稱之為基線,在測量過程中,基線會一直存在,在光源關閉時,采集所有通道的基線,并用做后續補償計算;(5)選擇歸一化標準:光線穿過通道產生的損耗包括氣體吸收和光線幾何損耗,λ1、λ2通道不含有待測組分,所以該兩通道的信號反映了除吸收損耗之外的所有其它因素影響,λ1、λ2、R、S四通道的環境一致,所以λ1,λ2通道接收到的信號均可用作歸一化的標準,對R和S通道的信號歸一化;(6)參考比對:在R和S通道中均含有待測組分,相同的物理狀態下,S通道的信號強度與R通道的信號強度之比等于兩個通道的分析物濃度之比,基于此,通過參考對比得出S通道內的待測物濃度;(7)壓力補償:在S通道中或者采樣系統設置壓力測試裝置,根據待測氣體的壓力值對濃度測量結果補償。所述的三參考通道測量氣體成份的紅外在線光譜儀的測量方法,還包括步驟(8)溫度補償:在S通道中或者采樣系統設置溫度測試裝置,根據待測氣體的溫度值對濃度測量結果補償;補償可使用氣體方程等物理機理,也可使用基于經驗測試的數學模型。根據權利要求5所述的三參考通道測量氣體成份的紅外在線光譜儀的測量方法,其特征在于:通過步驟(5)做歸一化處理。使用相關通道的全部或部分光強確定一個或多個差值、比值、均方誤差、決定系數、互相關函數、互相關積分、回歸系數;通過步驟(6)對比R、S通道信號,使用減法、分割、交叉相關性、卷積、曲線擬合、回歸分析和優化的一種或多種數學或化學計量學的應用方法,進而計算待測無濃度;通過步驟(2)、(7)、(8)使用相關通道在不同氣體溫度、氣體壓力下的部分或全部光強確定一個或多個差值、比值、均方誤差、決定系數、互相關函數、互相關積分、回歸系數進行補償。步驟(6)中,相同的物理狀態為溫度、壓力相同;步驟(7)中,壓力測試裝置為壓力傳感器本文檔來自技高網
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    【技術保護點】
    一種三參考通道測量氣體成份的紅外在線光譜儀裝置,包括對光源的發光點進行準直的反射鏡,其特征在于:反射鏡后面設置采樣氣室和參考氣室及帶有四通道和四個獨立熱電堆的探測器,每個通道各配一個濾波片和透射窗口,探測器安裝在半導體制冷片上,其中,四通道分別為參考通道λ1、λ2?和R通道及與R通道的透射光經過同一波長濾波片的信號通道S通道,四通道并排設置,其中,參考通道λ1、λ2?和R通道、信號通道S通道分別設置進、出氣孔,參考通道λ1、λ2共用進、出氣孔。

    【技術特征摘要】
    1.一種三參考通道測量氣體成份的紅外在線光譜儀裝置,包括對光源的發光點進行準
    直的反射鏡,其特征在于:反射鏡后面設置采樣氣室和參考氣室及帶有四通道和四個獨立
    熱電堆的探測器,每個通道各配一個濾波片和透射窗口,探測器安裝在半導體制冷片上,其
    中,四通道分別為參考通道λ1、λ2和R通道及與R通道的透射光經過同一波長濾波片的信
    號通道S通道,四通道并排設置,其中,參考通道λ1、λ2和R通道、信號通道S通道分別設
    置進、出氣孔,參考通道λ1、λ2共用進、出氣孔。
    2.根據權利要求1所述的三參考通道測量氣體成份的紅外在線光譜儀裝置,其特征在
    于:探測器的每個通道各配一個濾波片和透射窗口。
    3.根據權利要求1或2所述的三參考通道測量氣體成份的紅外在線光譜儀裝置,其特征
    在于:氣室腔體與反射鏡和安裝底座密封連接。
    4.根據權利要求3所述的三參考通道測量氣體成份的紅外在線光譜儀裝置,其特征在
    于:光源為設計工作溫度400℃以上的熱輻射源。
    5.根據權利要求4所述的三參考通道測量氣體成份的紅外在線光譜儀裝置,其特征在
    于:熱輻射光源采用MEMS傳感器,是純阻性器件。
    6.一種三參考通道測量氣體成份的紅外在線光譜儀的測量方法,其特征在于:包括以
    下步驟:
    (1)控制驅動電流:調節光源的驅動電流,從而使光源調節到所需的參數;
    (2)穩定光譜輸出:在λ1,λ2參考通道中密封對紅外波段沒有任何吸收的中性氣體,當
    工作環境變化時或者系統的老化漂移時,利用λ1,λ2參考通道的反饋信號和相應函數關系,
    調節驅動電流,保持λ1,λ2的固定比例關系,從而維持穩定的光譜;
    (3)建立第三參考通道:R通道中為含有一定已知濃度的待測組分氣體,稱之為參考氣,
    該通道稱之為第三參考通道,該通道中不含有干擾組分氣體;
    (4)基線補償:當光源關閉時,檢測器也會檢測到信號,這通常由背景譜線輻射、電路噪
    聲等因素造成,稱之為基線,在測量過程中,基線會一直存在,在光源關閉時,采集所有通道
    的基線,并用做后續補償計算;
    (5)選擇歸一化標準:光線穿過通道產生的損耗包括氣體吸收和光線幾何損耗,λ1、λ2
    通道不含有待測組分,所以該兩通道的信號反映了除吸收損耗之外的所有其它因素影響...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:王文龍李興彥
    申請(專利權)人:山東羅納德分析儀器有限公司
    類型:發明
    國別省市:山東;37

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