質量質心測試臺制造技術

本發明專利技術質量質心測試臺涉及一種用于測量運載火箭有效載荷質量和質心的裝置。其目的是為了提供一種可靠性高的質量質心測試臺。本發明專利技術質量質心測試臺包括質心盤(2)和底座(1)，所述質心盤設在底座的上方，所述底座上設有至少三個稱重傳感器(5)，每個稱重傳感器上均設有壓頭(8)，所述質心盤上螺紋連接有與所述壓頭一一對應的螺桿(9)，所述螺桿的下端置于所對應的壓頭上，所述稱重傳感器均與計算機系統連接，稱重傳感器將測量得到的信號傳給計算機系統。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及測試測量
，特別是涉及一種用于測量運載火箭有效載荷質量和質心的裝置。
技術介紹
有效載荷是運載火箭發射后，軌道分布或入軌的組成部分，包括上面級、衛星及支架類產品，為了提升衛星入軌精度，更有效地控制上面級的飛行姿態，需要準確地測量出有效載荷的質量、質心并配平，在配平過程中存在以下技術難題：有效載荷包括上面級、衛星及支架類產品，其裝配過程為不可逆操作，一旦測量過程出現問題，需要全部拆除后重新裝配測量，將導致火箭延期發射，因此需要測試臺具有較高的可靠性。現有的測試臺可靠性差，測量過程中容易出現反復測量。
技術實現思路
本專利技術要解決的技術問題是提供一種可靠性高的質量質心測試臺。本專利技術質量質心測試臺，包括質心盤和底座，所述質心盤設在底座的上方，所述底座上設有至少三個稱重傳感器，每個稱重傳感器上均設有壓頭，所述質心盤上螺紋連接有與所述壓頭一一對應的螺桿，所述螺桿的下端置于所對應的壓頭上，所述稱重傳感器均與計算機系統連接，稱重傳感器將測量得到的信號傳給計算機系統。本專利技術質量質心測試臺，其中所述稱重傳感器設為六個，所述壓頭和螺桿也均設為六個，六個所述稱重傳感器分別為第一稱重傳感器、第二稱重傳感器、第三稱重傳感器、第四稱重傳感器、第五稱重傳感器和第六稱重傳感器，所述第一稱重傳感器、第二稱重傳感器和第三稱重傳感器為主傳感器系統，所述第四稱重傳感器、第五稱重傳感器和第六稱重傳感器為備傳感器系統，主傳感器系統對應的螺桿伸出質心盤的長度大于備傳感器系統對應的螺桿伸出質心盤的長度，所述第一稱重傳感器、第二稱重傳感器和第三稱重傳感器沿所述質心盤的圓周均勻布置，所述第四稱重傳感器、第五稱重傳感器和第六稱重傳感器沿所述質心盤的圓周均勻布置，所述計算機系統包括主計算機系統和備計算機系統，所述主傳感器系統分別與主計算機系統和備計算機系統連接，所述主傳感器系統將測量得到的信號傳給主計算機系統和備計算機系統，所述備傳感器系統與主計算機系統和備計算機系統連接，備傳感器系統將測量得到的信號傳給主計算機系統和備計算機系統。本專利技術質量質心測試臺，其中所述底座與質心盤均呈圓環形，所述底座上設有至少兩個導向定位柱，導向定位柱沿底座的圓周方向均勻布置，所述質心盤的下側面設有與所述導向定位柱一一對應的盲孔，所述導向定位柱以伸縮的方式設置在底座上，當導向定位柱伸出時，導向定位柱的上端位于所述盲孔中且與盲孔為間隙配合，當導向定位柱縮回時，導向定位柱的上端脫離所述盲孔。本專利技術質量質心測試臺，其中所述導向定位柱設在底座上的具體方式為，所述底座上開設有安裝孔，所述導向定位柱位于安裝孔內且與安裝孔為間隙配合，所述安裝孔的孔壁上設有與外界相通的滑槽，所述導向定位柱上固連有把手，所述把手的另一端穿過滑槽伸到安裝孔外，所述滑槽包括相互連通的豎滑槽和橫滑槽，所述橫滑槽位于豎滑槽上方，當把手滑動到橫滑槽處時，橫滑槽對把手進行上下限位。本專利技術質量質心測試臺，其中所述底座的下側面設有多個墊鐵，所述墊鐵沿底座的圓周方向均勻布置。本專利技術質量質心測試臺，其中所述稱重傳感器包括稱重儀表和傳感器件，所述傳感器件將稱重儀表所測得的質量轉化為電信號并傳給計算機系統。本專利技術質量質心測試臺包括質心盤和底座，所述底座上設有至少三個稱重傳感器，每個稱重傳感器上均設有壓頭，所述質心盤上螺紋連接有與所述壓頭一一對應的螺桿，所述螺桿的下端置于所對應的壓頭上，螺桿將質心盤的重量通過壓頭傳遞給稱重傳感器，稱重傳感器將測量得到的信號傳給計算機系統，整個測試臺可靠性高。本專利技術質量質心測試臺中的計算機系統包括主計算機系統和備計算機系統，相應的，設有主傳感器系統和備傳感器系統，所述主傳感器系統分別與主計算機系統和備計算機系統連接，所述備傳感器系統與主計算機系統和備計算機系統連接，主傳感器系統在測量過程中能夠將信號傳給主、備計算機系統，備傳感器系統在測量過程中也能夠將信號傳給主、備計算機系統，也就是說主計算機系統可以控制主或備傳感器系統，備計算機系統也可以控制主或備傳感器系統完成測量工作。這樣，當主系統或備系統中出現零部件損壞時，可以切換至另一套系統，也可以只切換計算機系統或傳感器系統，繼續進行后續測量工作，不需要重復之前的測量工作。下面結合附圖對本專利技術作進一步說明。附圖說明圖1為本專利技術質量質心測試臺的結構示意圖；圖2為本專利技術質量質心測試臺中的稱重傳感器、壓頭以及螺桿的局部放大圖；圖3為本專利技術質量質心測試臺中的導向定位柱的結構示意圖；圖4為本專利技術質量質心測試臺中的主傳感器系統、備傳感器系統與主計算機系統、備計算機系統的連接關系圖；圖5為本專利技術質量質心測試臺中的主傳感器系統與主計算機系統的連接關系圖；圖6為本專利技術質量質心測試臺中的裝配誤差定義示意圖。具體實施方式如圖1所示，并結合圖2所示，本專利技術質量質心測試臺包括質心盤2和底座1，所述質心盤2設在底座1的上方，所述底座1上設有至少三個稱重傳感器5，每個稱重傳感器5上均設有壓頭8，所述質心盤2上螺紋連接有與所述壓頭8一一對應的螺桿9，所述螺桿9的下端置于所對應的壓頭8上，所述稱重傳感器5均與計算機系統連接，稱重傳感器5將測量得到的信號傳給計算機系統。本專利技術質量質心測試臺，其中所述稱重傳感器5設為六個，所述壓頭8和螺桿9也均設為六個，六個所述稱重傳感器5分別為第一稱重傳感器、第二稱重傳感器、第三稱重傳感器、第四稱重傳感器、第五稱重傳感器和第六稱重傳感器，所述第一稱重傳感器、第二稱重傳感器和第三稱重傳感器為主傳感器系統，所述第四稱重傳感器、第五稱重傳感器和第六稱重傳感器為備傳感器系統，主傳感器系統對應的螺桿9伸出質心盤2的長度大于備傳感器系統對應的螺桿9伸出質心盤2的長度，所述第一稱重傳感器、第二稱重傳感器和第三稱重傳感器沿所述質心盤2的圓周均勻布置，所述第四稱重傳感器、第五稱重傳感器和第六稱重傳感器沿所述質心盤2的圓周均勻布置。上述稱重傳感器5布置在底座1上的具體方式如下：在底座1的上側面設有3個固定塊6，每個固定塊6上設有一個主傳感器系統中的稱重傳感器5和一個備傳感器系統中的稱重傳感器5，在本實施例中，第一稱重傳感器和第四稱重傳感器、第二稱重傳感器和第五稱重傳感器、第三稱重傳感器和第六稱重傳感器分別兩兩設在3個固定塊6上。所述稱重傳感器5包括稱重儀表和傳感器件，所述傳感器件將稱重儀表所測得的質量轉化為電信號并傳給計算機系統。如圖4所示，所述計算機系統包括主計算機系統和備計算機系統，所述主傳感器系統分別與主計算機系統和備計算機系統連接，所述主傳感器系統將測量得到的信號傳給主計算機系統和備計算機系統，所述備傳感器系統與主計算機系統和備計算機系統連接，備傳感器系統將測量得到的信號傳給主計算機系統和備計算機系統。如圖5所示，主傳感器系統包括3個稱重傳感器、3個電源適配器以及1個直流電源，其中稱重傳感器5包括稱重儀表和傳感器件，因此3個稱重傳感器包括3個傳感器件和3個稱重儀表，3個傳感器件分別為第一傳感器件、第二傳感器件和第三傳感器件，3個稱重儀表分別為第一稱重儀表、第二稱重儀表和第三稱重儀表，3個電源適配器分別為第一電源適配器、第二電源適配器和第三電源適配器。主計算機系統包括1個工控機、1個顯示器和1個打印機，直流電源分別通過3個電源適配器為3個稱重傳感器供電本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種質量質心測試臺，其特征在于：包括質心盤(2)和底座(1)，所述質心盤設在底座的上方，所述底座上設有至少三個稱重傳感器(5)，每個稱重傳感器上均設有壓頭(8)，所述質心盤上螺紋連接有與所述壓頭一一對應的螺桿(9)，所述螺桿的下端置于所對應的壓頭上，所述稱重傳感器均與計算機系統連接，稱重傳感器將測量得到的信號傳給計算機系統。

【技術特征摘要】
1.一種質量質心測試臺，其特征在于：包括質心盤(2)和底座(1)，所述質心盤設在底座的上方，所述底座上設有至少三個稱重傳感器(5)，每個稱重傳感器上均設有壓頭(8)，所述質心盤上螺紋連接有與所述壓頭一一對應的螺桿(9)，所述螺桿的下端置于所對應的壓頭上，所述稱重傳感器均與計算機系統連接，稱重傳感器將測量得到的信號傳給計算機系統。2.根據權利要求1所述的質量質心測試臺，其特征在于：所述稱重傳感器(5)設為六個，所述壓頭(8)和螺桿(9)也均設為六個，六個所述稱重傳感器分別為第一稱重傳感器、第二稱重傳感器、第三稱重傳感器、第四稱重傳感器、第五稱重傳感器和第六稱重傳感器，所述第一稱重傳感器、第二稱重傳感器和第三稱重傳感器為主傳感器系統，所述第四稱重傳感器、第五稱重傳感器和第六稱重傳感器為備傳感器系統，主傳感器系統對應的螺桿(9)伸出質心盤(2)的長度大于備傳感器系統對應的螺桿伸出質心盤的長度，所述第一稱重傳感器、第二稱重傳感器和第三稱重傳感器沿所述質心盤的圓周均勻布置，所述第四稱重傳感器、第五稱重傳感器和第六稱重傳感器沿所述質心盤的圓周均勻布置，所述計算機系統包括主計算機系統和備計算機系統，所述主傳感器系統分別與主計算機系統和備計算機系統連接，所述主傳感器系統將測量得到的信號傳給主計算機系統和備計算機系統，所述備傳感器系統與主計算機系統和備計算機...

【專利技術屬性】
技術研發人員：何利，郭巍，謝業波，丁保民，于軍，王南，張國棟，趙立喬，
申請(專利權)人：北京航天發射技術研究所，中國運載火箭技術研究院，
類型：發明
國別省市：北京;11