一種提高開關(guān)電源自動化測試效率的裝置和編程方法制造方法及圖紙

本發(fā)明專利技術(shù)公開了一種提高開關(guān)電源自動化測試效率的裝置和編程方法，所述裝置包括兩個開關(guān)電源，每個開關(guān)電源的測試設(shè)備包括示波器、直流電源、電子負(fù)載儀，每套示波器、直流電源、電子負(fù)載儀之間采用GPIB連接線互聯(lián)，并通過GPIB-USB-HS與PC相連。本發(fā)明專利技術(shù)方法只需在自動化測試的基礎(chǔ)上，通過GPIB互聯(lián)將測試裝置擴展為可供兩個開關(guān)電源同時自動化測試的裝置。節(jié)省測試時間，提高研發(fā)人員的效率。只需在軟件層面，將測試VI劃分為兩個子VI，分別負(fù)責(zé)控制兩個開關(guān)電源的測試，每個子VI由調(diào)用預(yù)先寫好的各個測試項目的子VI，因此并不會導(dǎo)致程序的復(fù)雜度增加太多。

【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】

本專利技術(shù)涉及開關(guān)電源測試
，具體涉及一種提高開關(guān)電源自動化測試效率的裝置和LabVIEW編程方法，具體地說是搭建一個能滿足兩個開關(guān)電源同時進行自動化測試的裝置，以及提出一種控制該裝置實現(xiàn)的LabVIEW編程方法。以得到更高效率的測試裝置。
技術(shù)介紹
隨著服務(wù)器和PC行業(yè)的飛速發(fā)展，對其關(guān)鍵組成部件開關(guān)電源提出了更高的要求，在服務(wù)器的研發(fā)過程中，傳統(tǒng)的電源測試是一項繁雜、費時且又不能省去的一個重要環(huán)節(jié)。如何提高測試效率、縮短開發(fā)周期、降低系統(tǒng)成本、滿足日益更新的測試需求，是各大廠商提升自身產(chǎn)品競爭力的有效手段之一。
技術(shù)實現(xiàn)思路
本專利技術(shù)要解決的技術(shù)問題是：針對上述問題，本專利技術(shù)提出一種提高開關(guān)電源自動化測試效率的裝置和LabVIEW編程方法，一種提高測試效率、縮短研發(fā)周期的兩個開關(guān)電源同時進行自動化測試的裝置和方法。本專利技術(shù)所采用的技術(shù)方案為：一種提高開關(guān)電源自動化測試效率的裝置，所述裝置包括兩個開關(guān)電源，每個開關(guān)電源的測試設(shè)備包括示波器、直流電源、電子負(fù)載儀，每套示波器、直流電源、電子負(fù)載儀之間采用GPIB連接線互聯(lián)，并通過GPIB-USB-HS與PC相連，形成一套功能強大的測試設(shè)備，該裝置能夠同時進行兩個開關(guān)電源的測試；直流電源負(fù)責(zé)提供輸入電壓，利用電源線與開關(guān)電源的輸入相連；電子負(fù)載儀負(fù)責(zé)提供靜態(tài)/動態(tài)負(fù)載拉載，由負(fù)載線與開關(guān)電源的輸出相連；示波器通過探棒與各個測試點相連；每個測試設(shè)備都擁有自己的GPIB地址，供LabVIEW控制。所述電子負(fù)載儀采用多通道輸出電子負(fù)載儀，兩套測試設(shè)備共用一臺電子負(fù)載儀。一種提高開關(guān)電源自動化測試效率的編程方法，所述方法將整個程序劃分為兩個子模塊，每一個模塊分別負(fù)責(zé)一個開關(guān)電源的測試，通過LabVIEW編程，分別編寫開關(guān)電源每個測試項目的子VI，包括Ripple（波動）、Transient（瞬態(tài)）、Vds（漏極電壓）、Deadtime（停歇時間）、Overshoot（過沖）以及Undershoot（負(fù)尖峰）的子VI；同時每一個模塊分別調(diào)用Ripple（波動）、Transient（瞬態(tài)）、Vds（漏極電壓）、Deadtime（停歇時間）、Overshoot（過沖）以及Undershoot（負(fù)尖峰）的子VI，以進行相關(guān)項的測試。程序的編寫工作量，較單個電源測試VI，并不會增加多少，從而增加程序的效率。子VI是供其他VI使用的VI，與子程序類似。子VI是層次化和模塊化VI的關(guān)鍵組件，它能使VI易于調(diào)試和維護。使用子VI是一種有效的編程技術(shù)，因為它允許在不同的場合重復(fù)使用相同的代碼。本專利技術(shù)的有益效果為：本專利技術(shù)方法只需在自動化測試的基礎(chǔ)上，通過GPIB互聯(lián)將測試裝置擴展為可供兩個開關(guān)電源同時自動化測試的裝置。節(jié)省測試時間，提高研發(fā)人員的效率。只需在軟件層面，將測試VI劃分為兩個子VI，分別負(fù)責(zé)控制兩個開關(guān)電源的測試，每個子VI由調(diào)用預(yù)先寫好的各個測試項目的子VI，因此并不會導(dǎo)致程序的復(fù)雜度增加太多。附圖說明圖1為本專利技術(shù)測試裝置互連示意圖；圖2為LabVIEW編程框圖。具體實施方式下面結(jié)合說明書附圖，根據(jù)具體實施方式對本專利技術(shù)進一步說明：實施例1：如圖1所示，一種提高開關(guān)電源自動化測試效率的裝置和編程方法，所述裝置包括兩個開關(guān)電源，每個開關(guān)電源的測試設(shè)備包括示波器、直流電源、電子負(fù)載儀，每套示波器、直流電源、電子負(fù)載儀之間采用GPIB連接線互聯(lián)，并通過GPIB-USB-HS與PC相連，形成一套功能強大的測試設(shè)備，該裝置能夠同時進行兩個開關(guān)電源的測試；直流電源負(fù)責(zé)提供輸入電壓，利用電源線與開關(guān)電源的輸入相連；電子負(fù)載儀負(fù)責(zé)提供靜態(tài)/動態(tài)負(fù)載拉載，由負(fù)載線與開關(guān)電源的輸出相連；示波器通過探棒與各個測試點相連；本實施例采用的示波器是四通道，可以偵測多個測試點；每個測試設(shè)備都擁有自己的GPIB地址，供LabVIEW控制。實施例2在實施例1的基礎(chǔ)上，本實施例所述電子負(fù)載儀采用多通道輸出電子負(fù)載儀，兩套測試設(shè)備共用一臺電子負(fù)載儀。實施例3如圖2所示，基于實施例1或2的一種提高開關(guān)電源自動化測試效率的編程方法，所述方法將整個程序劃分為兩個子模塊，每一個模塊分別負(fù)責(zé)一個開關(guān)電源的測試，通過LabVIEW編程，分別編寫開關(guān)電源每個測試項目的子VI，包括Ripple（波動）、Transient（瞬態(tài)）、Vds（漏極電壓）、Deadtime（停歇時間）、Overshoot（過沖）以及Undershoot（負(fù)尖峰）的子VI；同時每一個模塊分別調(diào)用Ripple（波動）、Transient（瞬態(tài)）、Vds（漏極電壓）、Deadtime（停歇時間）、Overshoot（過沖）以及Undershoot（負(fù)尖峰）的子VI，以進行相關(guān)項的測試。程序的編寫工作量，較單個電源測試VI，并不會增加多少，從而增加程序的效率。上實施方式僅用于說明本專利技術(shù)，而并非對本專利技術(shù)的限制，有關(guān)
的普通技術(shù)人員，在不脫離本專利技術(shù)的精神和范圍的情況下，還可以做出各種變化和變型，因此所有等同的技術(shù)方案也屬于本專利技術(shù)的范疇，本專利技術(shù)的專利保護范圍應(yīng)由權(quán)利要求限定。本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護點】
一種提高開關(guān)電源自動化測試效率的裝置，其特征在于：所述裝置包括兩個開關(guān)電源，每個開關(guān)電源的測試設(shè)備包括示波器、直流電源、電子負(fù)載儀，每套示波器、直流電源、電子負(fù)載儀之間采用GPIB連接線互聯(lián)，并通過GPIB?USB?HS與PC相連；直流電源負(fù)責(zé)提供輸入電壓，利用電源線與開關(guān)電源的輸入相連；電子負(fù)載儀負(fù)責(zé)提供靜態(tài)/動態(tài)負(fù)載拉載，由負(fù)載線與開關(guān)電源的輸出相連；示波器通過探棒與各個測試點相連；每個測試設(shè)備都擁有自己的GPIB地址，供LabVIEW控制。

【技術(shù)特征摘要】
1.一種提高開關(guān)電源自動化測試效率的裝置，其特征在于：所述裝置包括兩個開關(guān)電源，每個開關(guān)電源的測試設(shè)備包括示波器、直流電源、電子負(fù)載儀，每套示波器、直流電源、電子負(fù)載儀之間采用GPIB連接線互聯(lián)，并通過GPIB-USB-HS與PC相連；
直流電源負(fù)責(zé)提供輸入電壓，利用電源線與開關(guān)電源的輸入相連；
電子負(fù)載儀負(fù)責(zé)提供靜態(tài)/動態(tài)負(fù)載拉載，由負(fù)載線與開關(guān)電源的輸出相連；
示波器通過探棒與各個測試點相連；
每個測試設(shè)備都擁有自己的GPIB地址，供LabVIEW控制。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：茍昌華，
申請(專利權(quán))人：浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：山東;37