本實用新型專利技術提供一種可降低測試成本的金屬刀片針卡,包括第一探針、第二探針、第一金屬刀片、第二金屬刀片、印刷線路板和轉接件,轉接件上設置有第一金屬條和第二金屬條,第一探針通過第一金屬刀片連接第一金屬條,第二探針通過第二金屬刀片連接第二金屬條,印刷線路板與轉接件連接從而分別電路連接第一金屬條和第二金屬條。較佳地,第一金屬條和第二金屬條成八字形設置。轉接件為矩形板、等腰梯形板或三角翼形板。印刷線路板與轉接件卡接并焊接連接。本實用新型專利技術的可降低測試成本的金屬刀片針卡使得芯片測試的成本降低,設計巧妙,結構簡潔,使用方便,適于大規模推廣應用。
【技術實現步驟摘要】
本技術涉及探針卡制造
,特別涉及金屬刀片探針卡
,具體是指一種可降低測試成本的金屬刀片針卡。
技術介紹
在芯片測試中,有一類芯片的測試點位為2個,也就是說需要制作2針的探針卡來進行測試,請參見圖1所示,現有的制作方法為制作2根刀片針,每根刀片針的結構為一片金屬刀片2上焊接一根已經彎好的探針1,再將2根刀片針各自的金屬刀片2分別焊接到PCB板3上,由專業人員進行位置的矯正工作,兩根探針1的針尖相對位置符合要求即可。現有的金屬刀片探針在制作好針卡進行測試時,會遇到隨著測試數量的增加,探針1與探針1之間會出現高高低低的情況,由于探針1的針尖之間的間距很小,沒有專業技能的人無法調整探針1的高低,這時就需要將針卡寄回制作廠商進行維修,需要耗費運輸和維修的時間及維修的費用。由于這類芯片的數量非常多,測試損耗很快,為了避免影響測試進度,一般情況下一張在測試的針卡需要再準備幾張例如三張備卡隨時替換損壞的針卡。但是裝在測試機上的PCB板3加上焊接的電子元器件價格很貴,而兩根探針1之間的間距很小,之間的相對位置的調整需要在針卡廠商進行。因此,芯片測試的成本太高。因此,需要提供一種金屬刀片探針卡,其使得芯片測試的成本降低,且使用方便。
技術實現思路
為了克服上述現有技術中的缺點,本技術的一個目的在于提供一種可降低測試成本的金屬刀片針卡,其使得芯片測試的成本降低,適于大規模推廣應用。本技術的另一目的在于提供一種可降低測試成本的金屬刀片針卡,其設計巧妙,結構簡潔,使用方便,適于大規模推廣應用。為達到以上目的,本技術的可降低測試成本的金屬刀片針卡包括第一探針、第二探針、第一金屬刀片、第二金屬刀片和印刷線路板,其特點是,所述的可降低測試成本的金屬刀片針卡還包括轉接件,所述轉接件上設置有第一金屬條和第二金屬條,所述第一探針通過所述第一金屬刀片連接所述第一金屬條,所述第二探針通過所述第二金屬刀片連接所述第二金屬條,所述印刷線路板與所述轉接件連接從而分別電路連接所述第一金屬條和所述第二金屬條。較佳地,所述第一金屬刀片包括第一豎向部分和第一橫向部分,所述第一豎向部分連接所述第一橫向部分形成順時針旋轉90度的L形,所述第一探針安裝在所述第一豎向部分的下部,所述第一橫向部分的底面安設在所述第一金屬條上。較佳地,所述第一探針焊接在所述第一金屬刀片上,所述第一金屬刀片焊接在所述第一金屬條上。較佳地,所述第二金屬刀片包括第二豎向部分和第二橫向部分,所述第二豎向部分連接所述第二橫向部分形成順時針旋轉90度的L形,所述第二探針安裝在所述第二豎向部分的下部,所述第二橫向部分的底面安設在所述第二金屬條上。較佳地,所述第二探針焊接在所述第二金屬刀片上,所述第二金屬刀片焊接在所述第二金屬條上。較佳地,所述第一金屬條和所述第二金屬條成八字形設置。較佳地,所述轉接件為矩形板、等腰梯形板或三角翼形板。較佳地,所述印刷線路板與所述轉接件卡接并焊接連接。更佳地,所述印刷線路板具有卡部,所述轉接件具有卡槽,所述卡部卡接在所述卡槽中。更進一步地,所述印刷線路板包括第三豎向部分和第三橫向部分,所述第三豎向部分連接所述第三橫向部分形成順時針旋轉90度的L形,所述卡部位于所述第三豎向部分的下部。本技術的有益效果主要在于:1、本技術的可降低測試成本的金屬刀片針卡包括第一探針、第二探針、第一金屬刀片、第二金屬刀片、印刷線路板和轉接件,轉接件上設置有第一金屬條和第二金屬條,第一探針通過第一金屬刀片連接第一金屬條,第二探針通過第二金屬刀片連接第二金屬條,印刷線路板與轉接件連接從而分別電路連接第一金屬條和第二金屬條,由此,在探針損壞時僅需更換第一探針、第二探針、第一金屬刀片、第二金屬刀片和轉接件的組件,而無需備用印刷線路板,使得芯片測試的成本降低,適于大規模推廣應用。2、本技術的可降低測試成本的金屬刀片針卡包括第一探針、第二探針、第一金屬刀片、第二金屬刀片、印刷線路板和轉接件,轉接件上設置有第一金屬條和第二金屬條,第一探針通過第一金屬刀片連接第一金屬條,第二探針通過第二金屬刀片連接第二金屬條,印刷線路板與轉接件連接從而分別電路連接第一金屬條和第二金屬條,由此,在探針損壞時僅需更換第一探針、第二探針、第一金屬刀片、第二金屬刀片和轉接件的組件,設計巧妙,結構簡潔,使用方便,適于大規模推廣應用。本技術的這些和其它目的、特點和優勢,通過下述的詳細說明,附圖和權利要求得以充分體現,并可通過所附權利要求中特地指出的手段、裝置和它們的組合得以實現。附圖說明圖1是現有的金屬刀片探針卡的主視示意圖。圖2是本技術的可降低測試成本的金屬刀片針卡的一具體實施例的立體示意圖。圖3是圖2所示的具體實施例的轉接件的主視示意圖。圖4是圖2所示的具體實施例的印刷線路板的主視示意圖。(符號說明)1探針;2金屬刀片;3PCB板;4第一探針;5第二探針;6第一金屬刀片;61第一豎向部分;62第一橫向部分;7第二金屬刀片;71第二豎向部分;72第二橫向部分;8轉接件;9第一金屬條;10第二金屬條;11卡部;12卡槽;13印刷線路板;14第三豎向部分;15第三橫向部分。具體實施方式為了能夠更清楚地理解本技術的
技術實現思路
,特舉以下實施例詳細說明。請參見圖2-圖4所示,本技術的可降低測試成本的金屬刀片針卡包括第一探針4、第二探針5、第一金屬刀片6、第二金屬刀片7、印刷線路板13和轉接件8,所述轉接件8上設置有第一金屬條9和第二金屬條10,所述第一探針4通過所述第一金屬刀片6連接所述第一金屬條9,所述第二探針5通過所述第二金屬刀片7連接所述第二金屬條10,所述印刷線路板13與所述轉接件8連接從而分別電路連接所述第一金屬條9和所述第二金屬條10。需要說明的是,在所述印刷線路板13與所述轉接件8連接后可以分別電路連接所述第一金屬條9和所述第二金屬條10,表示機械連接部位同時也是電路連接部位。所述第一金屬刀片6可以具有任何合適的構成,請參見圖2所示,在本技術的一具體實施例中,所述第一金屬刀片6包括第一豎向部分61和第一橫向部分62,所述第一豎向部分61連接所述第一橫向部分62形成順時針旋轉90度的L形,所述第一探針4安裝在所述第一豎向部分61的下部,所述第一橫向部分62的底面安設在所述第一金屬條9上。所述第一探針4通過所述第一金屬刀片6連接所述第一金屬條9可以采用任何合適的結構,較佳地,所述第一探針4焊接在所述第一金屬刀片6上,所述第一金屬刀片6焊接在所述第一金屬條9上。在本技術的一具體實施例中,在所述第一探針4安裝在所述第一豎向部分61的下部以及所述第一橫向部分62的底面安設在所述第一金屬條9上的情況下,所述第一探針4焊接在所述第一豎向部分61的下部,所述第一橫向部分62的底面焊接在所述第一金屬條9上。所述第二金屬刀片7可以具有任何合適的構成,請參見圖2所示,在本技術的一具體實施例中,所述第二金屬刀片7包括第二豎向部分71和第二橫向部分72,所述第二豎向部分71連接所述第二橫向部分72形成順時針旋轉90度的L形,所述第二探針5安裝在所述第二豎向部分71的下部,所述第二橫向部分72的底面安設在所述第二金屬條10上。所述第二探針5通過所述第二金屬刀片7連接所述第二金本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種可降低測試成本的金屬刀片針卡,包括第一探針、第二探針、第一金屬刀片、第二金屬刀片和印刷線路板,其特征在于,所述的可降低測試成本的金屬刀片針卡還包括轉接件,所述轉接件上設置有第一金屬條和第二金屬條,所述第一探針通過所述第一金屬刀片連接所述第一金屬條,所述第二探針通過所述第二金屬刀片連接所述第二金屬條,所述印刷線路板與所述轉接件連接從而分別電路連接所述第一金屬條和所述第二金屬條。
【技術特征摘要】
1.一種可降低測試成本的金屬刀片針卡,包括第一探針、第二探針、第一金屬刀片、第二金屬刀片和印刷線路板,其特征在于,所述的可降低測試成本的金屬刀片針卡還包括轉接件,所述轉接件上設置有第一金屬條和第二金屬條,所述第一探針通過所述第一金屬刀片連接所述第一金屬條,所述第二探針通過所述第二金屬刀片連接所述第二金屬條,所述印刷線路板與所述轉接件連接從而分別電路連接所述第一金屬條和所述第二金屬條。2.如權利要求1所述的可降低測試成本的金屬刀片針卡,其特征在于,所述第一金屬刀片包括第一豎向部分和第一橫向部分,所述第一豎向部分連接所述第一橫向部分形成順時針旋轉90度的L形,所述第一探針安裝在所述第一豎向部分的下部,所述第一橫向部分的底面安設在所述第一金屬條上。3.如權利要求1所述的可降低測試成本的金屬刀片針卡,其特征在于,所述第一探針焊接在所述第一金屬刀片上,所述第一金屬刀片焊接在所述第一金屬條上。4.如權利要求1所述的可降低測試成本的金屬刀片針卡,其特征在于,所述第二金屬刀片包括第二豎向部分和第二橫向部分,所述第二豎向部分連接所述第二...
【專利技術屬性】
技術研發人員:王懿,饒鳳梅,
申請(專利權)人:上海依然半導體測試有限公司,
類型:新型
國別省市:上海;31
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