利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法制造方法及圖紙

本發(fā)明專利技術(shù)涉及利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法，包含：一料位量測(cè)裝置的一探棒插入一容器；該料位量測(cè)裝置發(fā)射一電磁波訊號(hào)；當(dāng)該電磁波訊號(hào)接觸一物料的一表面時(shí)，產(chǎn)生一第一反射訊號(hào)；當(dāng)該電磁波訊號(hào)接觸該探棒的一底端時(shí)，產(chǎn)生一第二反射訊號(hào)；一料位感測(cè)電路藉由該第一反射訊號(hào)及該第二反射訊號(hào)分別算出一第一走時(shí)差值及一第二走時(shí)差值；該料位感測(cè)電路藉由該第一走時(shí)差值、該第二走時(shí)差值及一預(yù)設(shè)空桶走時(shí)差值分別算出一第一料位高度及一第二料位高度；藉由該第一料位高度及該第二料位高度算出一第三料位高度以顯示在一顯示單元。本發(fā)明專利技術(shù)能提高料位量測(cè)裝置的精確度，選取誤差低的量測(cè)數(shù)據(jù)給使用者參考。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

本專利技術(shù)有關(guān)于一種量測(cè)料位高度的方法，特別是一種利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法。
技術(shù)介紹
目前，料位量測(cè)裝置，例如時(shí)域反射雷達(dá)感測(cè)器，被廣泛地運(yùn)用于料位量測(cè)；然而，有很多因素會(huì)影響料位量測(cè)裝置的精確度，例如物料的介電系數(shù)。因此，料位量測(cè)裝置被安裝好之后，料位的高度并沒有被料位量測(cè)裝置準(zhǔn)確地測(cè)量，如此對(duì)使用者來說非常地不方便。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
為改善上述公知技術(shù)的缺點(diǎn)，本專利技術(shù)的目的在于提供一種利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法。為達(dá)成本專利技術(shù)的上述目的，本專利技術(shù)的一種利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法，包含：將一料位量測(cè)裝置的一探棒插入一容器的一物料內(nèi)；該料位量測(cè)裝置發(fā)射一電磁波訊號(hào)，該電磁波訊號(hào)沿該探棒表面往該物料方向傳遞；當(dāng)該電磁波訊號(hào)接觸該物料的一表面時(shí)產(chǎn)生一第一反射訊號(hào)；該第一反射訊號(hào)沿該探棒回傳至該料位量測(cè)裝置的一料位感測(cè)電路；當(dāng)該電磁波訊號(hào)接觸該探棒的一底端時(shí)產(chǎn)生一第二反射訊號(hào)；該第二反射訊號(hào)沿該探棒回傳至該料位感測(cè)電路；該料位感測(cè)電路利用該第一反射訊號(hào)計(jì)算出一第一走時(shí)差值；該料位感測(cè)電路利用該第二反射訊號(hào)計(jì)算出一第二走時(shí)差值；該料位感測(cè)電路利用該第一走時(shí)差值計(jì)算出一第一料位高度；該料位感測(cè)電路利用該第二走時(shí)差值及該料位感測(cè)電路的一預(yù)設(shè)空桶走時(shí)差值計(jì)算出一第二料位高度；該料位感測(cè)電路利用該第一料位高度及該第二料位高度計(jì)算出一第三料位高度；及該料位感測(cè)電路計(jì)算出該第三料位高度后，該料位感測(cè)電路傳送該第三料位高度至一顯示單元進(jìn)行顯示。再者，在一具體實(shí)施例，如上述所述的利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法，其中該第三料位高度為該第一料位高度加上該第二料位高度的平均值。再者，在一具體實(shí)施例，如上述所述的利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法，其中該第一料位高度等于該探棒的長(zhǎng)度減去一第一空氣高度；該第一空氣高度等于該第一走時(shí)差值與一空氣波速的乘積再除以二。再者，在一具體實(shí)施例，如上述所述的利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法，其中一第三走時(shí)差值等于該第二走時(shí)差值與該預(yù)設(shè)空桶走時(shí)差值的差值。再者，在一具體實(shí)施例，如上述所述的利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法，其中該第二料位高度等于該第三走時(shí)差值與一波速值的乘積；該波速值等于該空氣波速與一物料波速的乘積再除以兩倍的該空氣波速與該物料波速的差值。再者，在一具體實(shí)施例，如上述所述的利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法，更包含發(fā)射多個(gè)該電磁波訊號(hào)進(jìn)行多次量測(cè)，其中該些電磁波訊號(hào)之間具有固定間隔發(fā)射時(shí)間；該料位感測(cè)電路利用該些電磁波訊號(hào)得到該些第一料位高度及該些第二料位高度；該料位感測(cè)電路將當(dāng)次量測(cè)的該第一料位高度與該第二料位高度與前一次量測(cè)的該第三料位高度分別進(jìn)行比較以得到兩個(gè)比較結(jié)果；如果該些比較結(jié)果的其中之一大于一預(yù)設(shè)值，則將該些比較結(jié)果中不大于該預(yù)設(shè)值的該第一料位高度或該第二料位高度當(dāng)作該第三料位高度，該料位感測(cè)電路將該第三料位高度顯示在該顯示單元。再者，在一具體實(shí)施例，如上述所述的利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法，其中如果該些比較結(jié)果皆大于該預(yù)設(shè)值，則將當(dāng)次量測(cè)的該第一料位高度及該第二料位高度進(jìn)行計(jì)算后以得到該第三料位高度；該料位感測(cè)電路將該第三料位高度顯示在該顯示單元。本專利技術(shù)的功效在于用不同方式量測(cè)并計(jì)算物料的高度，以提高料位量測(cè)裝置的精確度，選取誤差低的量測(cè)數(shù)據(jù)給使用者參考。以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本專利技術(shù)進(jìn)行詳細(xì)描述，但不作為對(duì)本專利技術(shù)的限定。附圖說明圖1為本專利技術(shù)的利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法流程圖。圖2a為利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法的一部分示意圖。圖2b為利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法的另一部分示意圖。其中，附圖標(biāo)記10料位量測(cè)裝置12料位感測(cè)電路14探棒16擴(kuò)時(shí)電路20容器30物料40顯示單元Lt探棒長(zhǎng)度Lm物料高度S02～S24步驟t1第一走時(shí)差值t2第二走時(shí)差值t3預(yù)設(shè)空桶走時(shí)差值t01第一時(shí)間t02第二時(shí)間具體實(shí)施方式下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本專利技術(shù)技術(shù)方案進(jìn)行詳細(xì)的描述，以更進(jìn)一步了解本專利技術(shù)的目的、方案及功效，但并非作為本專利技術(shù)所附權(quán)利要求保護(hù)范圍的限制。請(qǐng)參考圖1，其為本專利技術(shù)的利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法流程圖。并請(qǐng)同時(shí)參考圖2a，其為利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法的一部分示意圖；并請(qǐng)同時(shí)參考圖2b，其為利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法的另一部分示意圖。一種利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法，包含：步驟S02：將一料位量測(cè)裝置10的一探棒14插入一容器20的一物料30內(nèi)。步驟S04：該料位量測(cè)裝置10發(fā)射一電磁波訊號(hào)(即，偵測(cè)訊號(hào))，該電磁波訊號(hào)沿該探棒14表面往該物料30方向傳遞。步驟S06：當(dāng)該電磁波訊號(hào)接觸該物料30的一表面時(shí)產(chǎn)生一第一反射訊號(hào)。步驟S08：該第一反射訊號(hào)沿該探棒14回傳至該料位量測(cè)裝置10的一料位感測(cè)電路12。步驟S10：當(dāng)該電磁波訊號(hào)接觸該探棒14底端時(shí)產(chǎn)生一第二反射訊號(hào)。步驟S12：該第二反射訊號(hào)沿該探棒14回傳至該料位感測(cè)電路12。步驟S14：該料位感測(cè)電路12利用該第一反射訊號(hào)計(jì)算出一第一走時(shí)差值t1(容后詳述)。步驟S16：該料位感測(cè)電路12利用該第二反射訊號(hào)計(jì)算出一第二走時(shí)差值t2(容后詳述)。步驟S18：該料位感測(cè)電路12利用該第一走時(shí)差值t1計(jì)算出一第一料位高度(容后詳述)。步驟S20：該料位感測(cè)電路12利用該第二走時(shí)差值t2及該料位感測(cè)電路12的一預(yù)設(shè)空桶走時(shí)差值t3計(jì)算出一第二料位高度(容后詳述)。步驟S22：該料位感測(cè)電路12利用該第一料位高度及該第二料位高度計(jì)算出一第三料位高度(容后詳述)。步驟S24：該料位感測(cè)電路12計(jì)算出該第三料位高度后，該料位感測(cè)電路12傳送該第三料位高度至一顯示單元40進(jìn)行顯示。再者，該電磁波訊號(hào)接觸該物料30的該表面后，一部分的該電磁波訊號(hào)自該物料30的該表面反射以產(chǎn)生該第一反射訊號(hào)，其余的該電磁波訊號(hào)穿透該物料30沿該探棒14表面?zhèn)鬟f，直到接觸該探棒底端，接著其余的該電磁波訊號(hào)自該探棒14底端反射以產(chǎn)生該第二反射訊號(hào)。以下內(nèi)容將詳細(xì)敘述上述的步驟S14；請(qǐng)?jiān)俅螀⒖紙D1及圖2a。Lm表示該物料30的物料高度；Lt表示該探棒14的探棒長(zhǎng)度(亦即，該容器20的深度)；Lt-Lm等于該容器20的空氣高度。該第一走時(shí)差值t1等于二倍的一第一時(shí)間t01；該第一時(shí)間t01等于該空氣高度Lt-Lm除以一空氣波速Vair，該空氣波速Vair為一常數(shù)c，即該電磁波訊號(hào)沿該探棒14且通過介質(zhì)為空氣時(shí)的速度。上述內(nèi)容可以以下列公式表達(dá)：t1＝t01+t01＝[(Lt-Lm)/Vair]+[(Lt-Lm)/Vair]＝2*(Lt-Lm)/Vair以下內(nèi)容將詳細(xì)敘述上述的步驟S16；請(qǐng)?jiān)俅螀⒖紙D1及圖2a。該第二走時(shí)差值t2等于該第一走時(shí)差值t1加上二倍的一第二時(shí)間t02；該第二時(shí)間t02等于該物料高度Lm除以一物料波速Vm，該物料波速Vm等于該常數(shù)c除以該物料30的一介電系數(shù)ε的平方根，即該電磁波訊號(hào)沿該探棒14且通過該物料30時(shí)的速度。上述內(nèi)容可以以下列公式表達(dá)：t2＝t01+t01+t02+t02＝[2(Lt–Lm)/Vair]+(2*Lm/Vm)以下內(nèi)容將詳細(xì)敘述上述的步驟S18；由該第一走本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法，其特征在于，包含：a.將一料位量測(cè)裝置的一探棒插入一容器的一物料內(nèi)；b.該料位量測(cè)裝置發(fā)射一電磁波訊號(hào)，該電磁波訊號(hào)沿該探棒表面往該物料方向傳遞；c.當(dāng)該電磁波訊號(hào)接觸該物料的一表面時(shí)產(chǎn)生一第一反射訊號(hào)；d.該第一反射訊號(hào)沿該探棒回傳至該料位量測(cè)裝置的一料位感測(cè)電路；e.當(dāng)該電磁波訊號(hào)接觸該探棒的一底端時(shí)產(chǎn)生一第二反射訊號(hào)；f.該第二反射訊號(hào)沿該探棒回傳至該料位感測(cè)電路；g.該料位感測(cè)電路利用該第一反射訊號(hào)計(jì)算出一第一走時(shí)差值；h.該料位感測(cè)電路利用該第二反射訊號(hào)計(jì)算出一第二走時(shí)差值；i.該料位感測(cè)電路利用該第一走時(shí)差值計(jì)算出一第一料位高度；j.該料位感測(cè)電路利用該第二走時(shí)差值及該料位感測(cè)電路的一預(yù)設(shè)空桶走時(shí)差值計(jì)算出一第二料位高度；k.該料位感測(cè)電路利用該第一料位高度及該第二料位高度計(jì)算出一第三料位高度；及l(fā).該料位感測(cè)電路計(jì)算出該第三料位高度后，該料位感測(cè)電路傳送該第三料位高度至一顯示單元進(jìn)行顯示。

【技術(shù)特征摘要】
1.一種利用料位量測(cè)裝置量測(cè)料位高度的方法，其特征在于，包含：a.將一料位量測(cè)裝置的一探棒插入一容器的一物料內(nèi)；b.該料位量測(cè)裝置發(fā)射一電磁波訊號(hào)，該電磁波訊號(hào)沿該探棒表面往該物料方向傳遞；c.當(dāng)該電磁波訊號(hào)接觸該物料的一表面時(shí)產(chǎn)生一第一反射訊號(hào)；d.該第一反射訊號(hào)沿該探棒回傳至該料位量測(cè)裝置的一料位感測(cè)電路；e.當(dāng)該電磁波訊號(hào)接觸該探棒的一底端時(shí)產(chǎn)生一第二反射訊號(hào)；f.該第二反射訊號(hào)沿該探棒回傳至該料位感測(cè)電路；g.該料位感測(cè)電路利用該第一反射訊號(hào)計(jì)算出一第一走時(shí)差值；h.該料位感測(cè)電路利用該第二反射訊號(hào)計(jì)算出一第二走時(shí)差值；i.該料位感測(cè)電路利用該第一走時(shí)差值計(jì)算出一第一料位高度；j.該料位感測(cè)電路利用該第二走時(shí)差值及該料位感測(cè)電路的一預(yù)設(shè)空桶走時(shí)差值計(jì)算出一第二料位高度；k.該料位感測(cè)電路利用該第一料位高度及該第二料位高度計(jì)算出一第三料位高度；及l(fā).該料位感測(cè)電路計(jì)算出該第三料位高度后，該料位感測(cè)電路傳送該第三料位高度至一顯示單元進(jìn)行顯示。2.如權(quán)利要求1所述的料位高度的量測(cè)方法，其特征在于，該第三料位高度為該第一料位高度加上該第二料位高度的平均值。3.如權(quán)利要求1所述的料位高度的量測(cè)方法，其中該第一料位高度等于該探棒的長(zhǎng)度減去一第一空氣高度；該第...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：張良琪，黃軍翰，林益助，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：桓達(dá)科技股份有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：中國(guó)臺(tái)灣;71