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    火山巖中活性SiO2含量的測定方法技術

    技術編號:15070701 閱讀:230 留言:0更新日期:2017-04-06 17:36
    本發明專利技術公開了一種火山巖中活性SiO2含量的測定方法,包括以下步驟:由化學分析測定火山巖中全SiO2含量;用火山巖粉末X光衍射分析(XRD);在XRD圖譜中選取石英(2θ=67°—69°)獨立衍射峰的數據分析,計算衍射背景線以上的晶相面積與衍射峰線以下的全部物相面積之百分率即為SiO2晶相百分率;用差減法得到非晶相SiO2比例;利用公式活性SiO2含量=(全SiO2含量)*(非晶態SiO2比例),即得。本發明專利技術方法不受粉末顆粒細度等諸多外界因素的影響,只由材料內在要素成分和非晶質含量所決定,更加科學合理、精確、簡捷、方便;適用于評判火山巖或其它火山灰質材料如礦渣等用作輔助膠凝材料的質量優劣。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術涉及一種測試火山巖中活性SiO2含量的方法,屬材料科學與工程一級學科無機非金屬材料二級學科膠凝材料

    技術介紹
    火山巖是由于火山噴發至地球表面經急劇冷卻而成的含玻璃質、晶體等多相巖石,因其具有較好的火山灰活性而廣泛用作水泥基材料中輔助膠凝材料(即水泥的混合材料和砂漿或混凝土的礦物摻合料),在此輔助膠凝材料的質量主要取決于火山巖中活性SiO2含量和活性Al2O3含量,所以測試火山巖中活性SiO2含量和活性Al2O3含量對于評判火山巖用作輔助膠凝材料的質量優劣有著關鍵作用。現行大多測算活性SiO2含量的方法都受到粉末顆粒細度的影響導致評判結果差異,如采用酸處理可溶物溶出實驗方法測定活性SiO2含量等。目前尚未有普遍接受的測試火山巖中活性SiO2含量方法。
    技術實現思路
    本專利技術的目的是解決測試火山巖中活性SiO2含量時存在的受到粉末顆粒細度的影響等問題,提供一種測試火山巖中活性SiO2含量方法,通過本專利技術技術方案可以精確、簡捷地測試火山巖中活性Al2O3含量以有助于評判火山巖用作輔助膠凝材料的質量優劣。本專利技術所述的測試火山巖中活性SiO2含量方法的流程如下:1、由化學分析測定火山巖中全SiO2含量;2、用火山巖粉末X光衍射分析(XRD);3、在XRD圖譜中選取石英(2θ=67°—69°)獨立衍射峰的數據分析,計算衍射背景線以上的晶相面積與衍射峰線以下的全部物相面積之百分率即為SiO2晶相百分率;4、用差減法得到非晶相SiO2比例,再計算:活性SiO2含量=(全SiO2含量)*(非晶態SiO2比例)。本專利技術是從材料性能本質(成分和結構)來考慮的測試方法,與現有方法技術比較結果不受粉末顆粒細度等諸多外界因素的影響,只由材料內在要素成分和非晶質含量所決定,更加科學合理、精確、簡捷、方便。本專利技術測試火山巖中活性SiO2含量適用于評判火山巖用作輔助膠凝材料的質量優劣,同時可推廣應用其它火山灰質材料如礦渣等評判其用作輔助膠凝材料的質量優劣。附圖說明圖1為本專利技術方法實施例1火山巖粉末X射線圖譜分析圖(XRD)。圖2為本專利技術方法實施例2火山巖粉末X射線圖譜分析圖(XRD)。具體實施方式以下結合實施例并對照附圖對本專利技術方法進行詳細說明。實施例1:選取江西省安遠縣蔡坊鄉凝灰巖:先由化學分析測定火山巖中全SiO2含量為73.98%(WT);用火山巖粉末XRD見圖1所示;在XRD圖譜中選取石英(2θ=67°—69°)獨立衍射峰的數據分析,采用MDIJade軟件或面積積分計算,可得衍射背景線以上的晶相面積與衍射峰線以下的全部物相面積之百分率48%,即為SiO2晶相百分率48%,再用差減法得到非晶相SiO2比例52%;計算:活性SiO2含量=(全SiO2含量73.98%)*(非晶態SiO2比例52%)=38.5%。實施例2:選取江西省東鄉縣銅礦熔結凝灰巖:化學分析測定該火山巖中全SiO2含量68.33%(WT);用火山巖粉末XRD見圖2所示;在XRD圖譜中選取石英(2θ=67°—69°)獨立衍射峰的數據分析,采用MDIJade軟件或面積積分計算(也可其它方法),可得衍射背景線以上的晶相面積與衍射峰線以下的全部物相面積之百分率33%,即為SiO2晶相百分率33%,再用差減法得到非晶相SiO2比例67%;計算:活性SiO2含量=(全SiO2含量68.33%)*(非晶態SiO2比例67%)=45.8%。本文檔來自技高網...

    【技術保護點】
    一種火山巖中活性SiO2含量的測定方法,其特征在于:包括以下步驟:1.1由化學分析測定火山巖中全SiO2含量?;1.2、用火山巖粉末X光衍射分析(XRD);1.3、在XRD圖譜中選取石英(2θ=67°—69°)獨立衍射峰的數據分析,計算衍射背景線以上的晶相面積與衍射峰線以下的全部物相面積之百分率即為SiO2晶相百分率;1.4、用差減法得到非晶相SiO2比例?;1.5、計算活性SiO2含量:利用公式活性SiO2含量?=(全SiO2含量)*(非晶態SiO2比例),即得。

    【技術特征摘要】
    1.一種火山巖中活性SiO2含量的測定方法,其特征在于:包括以下步驟:
    1.1由化學分析測定火山巖中全SiO2含量;
    1.2、用火山巖粉末X光衍射分析(XRD);
    1.3、在XRD圖譜中選取石英(2θ=67°—69°)獨立衍射峰的數據分析,計算衍射...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:喻樂華
    申請(專利權)人:喻樂華
    類型:發明
    國別省市:江西;36

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