環(huán)件檢測裝置制造方法及圖紙

本實用新型專利技術提供了一種環(huán)件檢測裝置，屬于工程設備技術領域，包括測量機構、回轉機構以及定位機構，所述定位機構包括水平設置的底座，所述底座上安裝有定位平臺，所述定位平臺可相對于所述底座沿X軸以及Y軸滑動；所述回轉機構安裝于所述定位平臺，所述測量機構安裝于所述回轉機構，所述測量機構的測量端沿所述回轉機構的徑向方向與所述回轉機構間隔設置，所述回轉機構可繞其軸線相對于所述定位平臺轉動，令所述測量機構同步轉動。該檢測裝置用于檢測環(huán)件的表面缺陷時操作方便，且檢測得到的數據精確度高，便于后續(xù)工件的整形與再加工，使工件的產品合格率上升。

Ring detection device

The utility model provides a ring detection device, which belongs to the technical field of engineering equipment, including measuring mechanism, slewing mechanism and a positioning mechanism, the positioning mechanism comprises a base arranged horizontally, wherein the base is provided with a positioning platform, the positioning platform relative to the base along the X axis and Y axis sliding; the rotating mechanism is arranged on the positioning platform, the measuring mechanism is arranged in the radial direction of the rotating mechanism, the rotating mechanism of the measuring end of the measuring mechanism and the rotary mechanism arranged at intervals, the rotating mechanism may be relative to the positioning platform to rotate around its axis, so the measurement synchronous rotation mechanism. The detection device is convenient to operate when detecting the surface defects of the ring, and the detected data has high accuracy, which is convenient for the subsequent work piece shaping and re processing, so that the qualified rate of the products is increased.

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及工程設備
，具體而言，涉及一種環(huán)件檢測裝置。
技術介紹
目前，市面上對于環(huán)件毛坯內徑、外徑以及斷面尺寸缺陷的檢測工具很多，但是多數測量工具判斷不正確，且只能進行局部的測量，對于大型的測量在時間和人力上需要投入較高的成本，且測量得到的精度低。專利技術人在研究中發(fā)現，現有技術中的環(huán)件測量裝置至少存在如下缺點：其一、現有的測量工具采用水平儀或者其他測量儀器進行環(huán)件表面缺陷的測量，測量精度低，且測量費時費力，成本高；其二、現有技術對環(huán)件進行測量時，需要分別采用不同的工具對環(huán)件的質量進行測量，測量的效率低，浪費人力物力。
技術實現思路
本技術的目的在于提供一種環(huán)件檢測裝置，以改善現有技術的環(huán)件測量設備結構單一、測量精度低以及操作不便的問題。本技術是這樣實現的：基于上述目的，本技術提供了一種環(huán)件檢測裝置，包括測量機構、回轉機構以及定位機構，其中：所述定位機構包括水平設置的底座，所述底座上安裝有定位平臺，所述定位平臺可相對于所述底座沿X軸以及Y軸滑動；所述回轉機構安裝于所述定位平臺，所述測量機構安裝于所述回轉機構，所述測量機構的測量端沿所述回轉機構的徑向方向與所述回轉機構間隔設置，所述回轉機構可繞其軸線相對于所述定位平臺轉動，令所述測量機構同步轉動。優(yōu)選的，所述定位機構包括X軸調節(jié)組件以及Y軸調節(jié)組件，所述定位平臺通過所述X軸調節(jié)組件以及所述Y軸調節(jié)組件安裝于所述底座。優(yōu)選的，所述回轉機構包括轉軸以及軸套，所述軸套套設在所述轉軸上，所述轉軸安裝于所述定位平臺，所述轉軸的軸線垂直于所述底座的板面；所述測量機構安裝于所述軸套上。優(yōu)選的，所述回轉機構還包括滑移套，所述滑移套套設在所述轉軸上，所述軸套套設在所述滑移套上，且所述軸套與所述滑移套固定連接；所述轉軸轉動連接于所述定位平臺，所述轉軸與所述定位平臺的轉動軸線與所述轉軸的軸線共線，所述滑移套與所述轉軸通過螺紋連接，所述轉軸相對于所述定位平臺轉動令所述軸套沿所述轉軸的軸線方向往復滑動，帶動所述測量機構同步移動。優(yōu)選的，所述滑移套的一端伸出所述軸套的靠近所述定位平臺的端部，且所述滑移套的周面設置有限位部，所述限位部沿所述滑移套的徑向方向向外凸出所述滑移套的周面，所述限位部的端面與所述軸套的端面貼合。優(yōu)選的，所述回轉機構還包括固定套，所述固定套套設于所述轉軸上，所述軸套套設在所述固定套上，所述軸套與所述固定套固定連接，所述固定套可相對于所述轉軸沿其軸線方向轉動；所述固定套與所述軸套沿所述轉軸的軸線方向間隔設置。優(yōu)選的，所述測量裝置包括尺桿、劃針組件以及滑移座，所述尺桿上設置有刻度線，所述尺桿固定連接于所述軸套，且所述尺桿的長度方向垂直于所述轉軸的軸線方向；所述滑移座滑動連接于所述尺桿，所述滑移座可相對于所述尺桿沿所述尺桿的長度方向往復滑動；所述劃針組件包括劃針主體以及彈性裝置，所述劃針主體上設置有刻度線，所述劃針主體通過所述彈性裝置連接于所述滑移座，所述彈性裝置具有令所述劃針主體具有朝向待測環(huán)件的運動趨勢。優(yōu)選的，所述測量裝置還包括微調滑座，所述微調滑座滑動連接于所述尺桿，且所述微調滑座與所述滑移座通過微調絲桿連接。優(yōu)選的，所述測量機構還包括加長桿，所述加長桿垂直于所述尺桿，所述加長桿與所述滑移座連接，所述劃針主體通過所述彈性裝置安裝于所述加長桿，所述劃針主體的軸線平行于所述尺桿的軸線。優(yōu)選的，還包括輔助支撐桿，所述輔助支撐桿支撐于所述回轉機構以及所述測量機構之間。本技術的有益效果是：綜上所述，本技術實施例提供了一種環(huán)件檢測裝置，該檢測裝置結構簡單合理，加工制造方便，制造成本低，便于生產；同時，該檢測裝置用于檢測環(huán)件的表面缺陷時操作方便，且檢測得到的數據精確度高，便于后續(xù)工件的整形與再加工，使工件的產品合格率上升。具體如下：該環(huán)件檢測裝置包括測量機構、回轉機構以及定位機構，測量機構與回轉機構連接，回轉機構可在水平面內轉動，進而帶動測量機構轉動，實現環(huán)件的表面在周面方向的檢測。回轉機構安裝于定位機構，回轉機構的位置牢固可靠，在轉動過程中，其軸線位置不會發(fā)生變動，保證轉動時繞同一個圓的閉合曲線轉動，進而確保了檢測得到的數據是工件的圓周方向數據，檢測精度高。同時，定位機構具有活動的定位平臺，在檢測環(huán)件時，先將環(huán)件的中心與定位平臺的中心重合，即調整定位平臺在X軸以及Y軸的位置，使兩個中心重合，保證測量機構轉動過程中得到的圓與環(huán)件為同心圓，環(huán)件的檢測數據更加精確。附圖說明為了更清楚地說明本技術實施例的技術方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，應當理解，以下附圖僅示出了本技術的某些實施例，因此不應被看作是對范圍的限定，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他相關的附圖。圖1為本技術提供的環(huán)件檢測裝置實施例一的結構圖；圖2為圖1中A的局部放大圖；圖3為圖1中B的局部放大圖；圖4為本技術提供的環(huán)件檢測裝置實施例一的劃針組件與滑移座的配合示意圖；圖5為本技術提供的環(huán)件檢測裝置實施例二的結構圖。附圖標記匯總：測量機構100，回轉機構200，定位機構300，底座101，定位平臺102，X軸調節(jié)組件103，Y軸調節(jié)組件104，輔助支撐桿105，轉軸201，軸套202，滑移套203，限位部204，固定套205，鎖緊螺釘206，尺桿301，劃針主體302，彈性裝置303，滑移座304，微調滑座305，微調絲桿306，加長桿401。具體實施方式目前，市面上對于環(huán)件毛坯內徑、外徑以及斷面尺寸缺陷的檢測工具很多，但是多數測量工具判斷不正確，且只能進行局部的測量，對于大型的測量在時間和人力上需要投入較高的成本，且測量得到的精度低。鑒于此，本技術的設計者設計了一種環(huán)件檢測裝置，該裝置結構簡單合理，便于加工制造，且操作方便，通過轉動測量機構，測量機構與回轉機構相連接，回轉機構與定位平臺轉動連接，因此，測量機構能夠繞定位平臺轉動，在轉動過程中，測量機構得到了環(huán)件的表面的周向數據或者斷面的數據，便于對工件進行維修和再加工，保證工件的質量。為使本技術實施例的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結合本技術實施例中的附圖，對本技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本技術一部分實施例，而不是全部的實施例。通常在此處附圖中描述和示出的本技術實施例的組件可以以各種不同的配置來布置和設計。因此，以下對在附圖中提供的本技術的實施例的詳細描述并非旨在限制要求保護的本技術的范圍，而是僅僅表示本技術的選定實施例。基于本技術中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本技術保護的范圍。應注意到：相似的標號和字母在下面的附圖中表示類似項，因此，一旦某一項在一個附圖中被定義，則在隨后的附圖中不需要對其進行進一步定義和解釋。在本技術的描述中，需要理解的是，術語“中心”、“縱向”、“橫向”、“長度”、“寬度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“頂”、“底”“內”、“外”、“順時針”、“逆時針”等指示的方位或位置關系為基于附圖所示的本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種環(huán)件檢測裝置，其特征在于，包括測量機構、回轉機構以及定位機構，其中：所述定位機構包括水平設置的底座，所述底座上安裝有定位平臺，所述定位平臺可相對于所述底座沿X軸以及Y軸滑動；所述回轉機構安裝于所述定位平臺，所述測量機構安裝于所述回轉機構，所述測量機構的測量端沿所述回轉機構的徑向方向與所述回轉機構間隔設置，所述回轉機構可繞其軸線相對于所述定位平臺轉動，令所述測量機構同步轉動。

【技術特征摘要】
1.一種環(huán)件檢測裝置，其特征在于，包括測量機構、回轉機構以及定位機構，其中：所述定位機構包括水平設置的底座，所述底座上安裝有定位平臺，所述定位平臺可相對于所述底座沿X軸以及Y軸滑動；所述回轉機構安裝于所述定位平臺，所述測量機構安裝于所述回轉機構，所述測量機構的測量端沿所述回轉機構的徑向方向與所述回轉機構間隔設置，所述回轉機構可繞其軸線相對于所述定位平臺轉動，令所述測量機構同步轉動。2.根據權利要求1所述的環(huán)件檢測裝置，其特征在于，所述定位機構包括X軸調節(jié)組件以及Y軸調節(jié)組件，所述定位平臺通過所述X軸調節(jié)組件以及所述Y軸調節(jié)組件安裝于所述底座。3.根據權利要求2所述的環(huán)件檢測裝置，其特征在于，所述回轉機構包括轉軸以及軸套，所述軸套套設在所述轉軸上，所述轉軸安裝于所述定位平臺，所述轉軸的軸線垂直于所述底座的板面；所述測量機構安裝于所述軸套上。4.根據權利要求3所述的環(huán)件檢測裝置，其特征在于，所述回轉機構還包括滑移套，所述滑移套套設在所述轉軸上，所述軸套套設在所述滑移套上，且所述軸套與所述滑移套固定連接；所述轉軸轉動連接于所述定位平臺，所述轉軸與所述定位平臺的轉動軸線與所述轉軸的軸線共線，所述滑移套與所述轉軸通過螺紋連接，所述轉軸相對于所述定位平臺轉動令所述軸套沿所述轉軸的軸線方向往復滑動，帶動所述測量機構同步移動。5.根據權利要求4所述的環(huán)件檢測裝置，其特征在于，所述滑移套的一端伸出所述軸套的靠近所述定位平臺的端部，且所述滑移套的周面設置有限位部，所述限位部沿所述滑移...

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：閆志偉，陳玉平，常貴平，智偉平，高惠敏，王林偉，
申請(專利權)人：山西雙環(huán)重工集團有限公司，
類型：新型
國別省市：山西;14