一種光模塊性能參數調試方法及系統技術方案

本發明專利技術公開了一種光模塊性能參數調試方法及系統，方法包括:在光模塊進行至少一個性能參數的調試時，根據性能參數的類型對同一物料號的多個光模塊的同一類型的性能參數對應的相同寄存器的設定值進行分組；當每一組內的所述設定值的數量達到預定閾值時，將該組內的所有設定值統計計算出一個初步設定值；其中每組內的所有設定值滿足正態分布規律；當下一個光模塊進行對應的性能參數調試時，直接將計算出來的所述初步設定值寫入到該光模塊內的對應寄存器中，之后通過儀器讀取該光模塊工作時對應的性能參數，如果儀器讀取的性能參數的值滿足光模塊設計要求的數值或數值范圍，則完成該下一光模塊的調試。本發明專利技術節約了調試時間，提高光模塊生產效率。

Method and system for debugging performance parameter of optical module

The invention discloses a debugging method of optical module performance parameters and system debugging method comprises: at least one performance parameter in the optical module, according to the performance parameters of the same type of type of performance parameters of a plurality of optical modules on the same material number corresponding to the same register set value of the group; when the number of each group within the set value reaches a predetermined threshold, the group of all the set value statistics to calculate an initial set value; each group in all settings to meet the normal distribution; the next optical module for debugging the performance parameters, direct calculation out of the initial set value written to the corresponding register of the light in the module, after reading the corresponding performance parameters of optical modules through the instrument, if the performance parameters of the instrument to read the value to meet the light The numerical or numerical range of the module design is required to complete the debugging of the next optical module. The invention saves debugging time and improves the production efficiency of the optical module.

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及光模塊測試領域，特別涉及一種光模塊性能參數調試方法及系統。
技術介紹
光模塊的性能參數(比如光功率、消光比等)的基本調試方法是，設定一個初值到光模塊內對應影響該性能參數的寄存器中，然后通過外部儀器讀取光模塊工作時該性能參數的值，如此反復直到通過外部儀器讀取到的該性能參數的值滿足SPEC需求，即光模塊設計要求的數值或數值范圍，即完成該新能參數的調試。目前的光模塊性能參數的調試方法大致有步進法和二分法，具體介紹如下：步進法：設定一個初值，一個步進長度值，一個越界值。在開始調試的時候將初值(X)寫入光模塊，然后通過儀器讀取對應調試的性能參數值，如果值不滿足SPEC，那么X＝X+步長值(S)，再將X寫入光模塊，再通過儀器讀取，以此反復，直到性能參數滿足SPEC或X>＝越界值，停止調試。二分法：設定一個最小值MIN、一個最大值MAX、最大二分次數。在開始調試的時候將初值X＝(MIN+MAX)/2寫入光模塊，然后通過儀器讀取對應調試的性能參數值Y，如果Y值不滿足SPEC，通過二分計算，如果參數是單調增，那么Y大于SPEC，則(X1＝(X+MIN)/2，再將X1寫入模塊，讀取Y，如果Y小于SPEC則X1＝(X+MAX)/2。第三次分，邊界則變成了X和X1，以此再分，通過儀器讀取，以此反復，直到性能參數滿足SPEC或無法進行二分或大于最大二分次數，停止調試。專利技術人研究發現，在光模塊生產過程中，同一批次(即物料號相同)的多個光模塊的內部器件性能是滿足正態分布規律的，由于光模塊內的器件性能滿足正態分布，那么光模塊滿足SPEC的性能參數對應的調試寄存器的設定值也是滿足正態分布的，在這種情況下，當進行同一物料號的多個光模塊的性能參數調試時，若依然采用上述方法會導致調試時間增加，降低光模塊生產效率。
技術實現思路
本專利技術的目的在于克服現有技術中所存在的上述不足，提供一種光模塊性能參數調試方法及系統，旨在節約光模塊調試時間，提高光模塊生產效率。為了實現上述專利技術目的，本專利技術采用的技術方案是：一種光模塊性能參數調試方法，包括如下步驟：S1、在光模塊進行至少一個性能參數的調試時，根據性能參數的類型對同一物料號的多個光模塊的同一類型的性能參數對應的相同寄存器的設定值進行分組；S2、當每一組內的所述設定值的數量達到預定閾值時，將該組內的所有設定值統計計算出一個初步設定值；其中每組內的所有設定值滿足正態分布規律；S3、當下一個光模塊進行對應的性能參數調試時，直接將計算出來的所述初步設定值寫入到該光模塊內的對應寄存器中，之后通過儀器讀取該光模塊工作時對應的性能參數，如果儀器讀取的性能參數的值滿足光模塊設計要求的數值或數值范圍，則完成該下一光模塊的調試。優選的，該方法還包括：如果儀器讀取的性能參數的值不滿足光模塊設計要求的數值或數值范圍，則將所述初步設定值進行增大或減小的微調；將微調之后的設定值寫入到該光模塊內的對應寄存器中，之后通過儀器讀取該光模塊工作時對應的性能參數，如果儀器讀取的性能參數的值滿足光模塊設計要求的數值或數值范圍，則完成該下一光模塊的調試。優選的，所述預定閾值不小于50。優選的，所述步驟S2中將該組內的所有設定值統計計算出一個設定值，具體為：確定計算范圍RANGE：(樣本的平均值-樣本的均方根值，樣本的平均值+樣本的均方根值)；基于所述計算范圍使用預定次數的二分法計算所述初步設定值。優選的，至少一個性能參數為滿足區間線性度的線性參數。本專利技術實施例還提供一種光模塊性能參數調試系統，包括：參數分組單元，用于在光模塊進行至少一個性能參數的調試時，根據性能參數的類型對同一物料號的多個光模塊的同一類型的性能參數對應的相同寄存器的設定值進行分組；設定值計算單元，用于當每一組內的所述設定值的數量達到預定閾值時，將該組內的所有設定值統計計算出一個初步設定值；其中每組內的所有設定值滿足正態分布規律；判斷調試單元，用于當下一個光模塊進行對應的性能參數調試時，直接將計算出來的所述初步設定值寫入到該光模塊內的對應寄存器中，之后通過儀器讀取該光模塊工作時對應的性能參數，如果儀器讀取的性能參數的值滿足光模塊設計要求的數值或數值范圍，則完成該下一光模塊的調試。優選的，所述判斷調試單元還用于：如果儀器讀取的性能參數的值不滿足光模塊設計要求的數值或數值范圍，則將所述初步設定值進行增大或減小的微調；將微調之后的設定值寫入到該光模塊內的對應寄存器中，之后通過儀器讀取該光模塊工作時對應的性能參數，如果儀器讀取的性能參數的值滿足光模塊設計要求的數值或數值范圍，則完成該下一光模塊的調試。優選的，所述預定閾值不小于50。優選的，所述設定值計算單元將該組內的所有設定值統計計算出一個設定值具體為：確定計算范圍RANGE：(樣本的平均值-樣本的均方根值，樣本的平均值+樣本的均方根值)；基于所述計算范圍使用預定次數的二分法計算所述初步設定值。優選的，至少一個性能參數為滿足區間線性度的線性參數。與現有技術相比，本專利技術的有益效果：本專利技術在光模塊進行性能參數的調試時，根據性能參數的類型對同一物料號的多個光模塊的同一類型的性能參數對應的相同寄存器的設定值進行分組，當每一組內的所述設定值的數量達到預定閾值時，將該組內的所有設定值統計計算出一個初步設定值，當下一個光模塊進行對應的性能參數調試時，直接將計算出來的所述初步設定值寫入到該光模塊內的對應寄存器中，之后通過儀器讀取該光模塊工作時對應的性能參數，如果儀器讀取的性能參數的值滿足光模塊設計要求的數值或數值范圍，則完成該下一光模塊的調試。本專利技術與傳統的方法相比，節約了調試時間，提高了光模塊生產效率。附圖說明圖1是本專利技術光模塊性能參數調試方法流程圖；圖2是本專利技術光模塊性能參數調試系統示意圖。具體實施方式下面結合具體實施方式對本專利技術作進一步的詳細描述。但不應將此理解為本專利技術上述主題的范圍僅限于以下的實施例，凡基于本
技術實現思路
所實現的技術均屬于本專利技術的范圍。如圖1所示的光模塊性能參數調試方法，包括如下步驟：S1、在光模塊進行至少一個性能參數的調試時，根據性能參數的類型對同一物料號的多個光模塊的同一類型的性能參數對應的相同寄存器的設定值進行分組。具體的，所述至少一個性能參數為滿足區間線性度的線性參數。本專利技術方法的被調參數是線性的，基于這個原則對光模塊的所有性能參數都適用該方法(比如光功率，消光比參數等)，同時光模塊的部分性能參數真值測試也適合該方法。本本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種光模塊性能參數調試方法，其特征在于，包括如下步驟：S1、在光模塊進行至少一個性能參數的調試時，根據性能參數的類型對同一物料號的多個光模塊的同一類型的性能參數對應的相同寄存器的設定值進行分組；S2、當每一組內的所述設定值的數量達到預定閾值時，將該組內的所有設定值統計計算出一個初步設定值；其中每組內的所有設定值滿足正態分布規律；S3、當下一個光模塊進行對應的性能參數調試時，直接將計算出來的所述初步設定值寫入到該光模塊內的對應寄存器中，之后通過儀器讀取該光模塊工作時對應的性能參數，如果儀器讀取的性能參數的值滿足光模塊設計要求的數值或數值范圍，則完成該下一光模塊的調試。

【技術特征摘要】
1.一種光模塊性能參數調試方法，其特征在于，包括如下步驟：
S1、在光模塊進行至少一個性能參數的調試時，根據性能參數的類型對同
一物料號的多個光模塊的同一類型的性能參數對應的相同寄存器的設定值進行
分組；
S2、當每一組內的所述設定值的數量達到預定閾值時，將該組內的所有設
定值統計計算出一個初步設定值；其中每組內的所有設定值滿足正態分布規
律；
S3、當下一個光模塊進行對應的性能參數調試時，直接將計算出來的所述
初步設定值寫入到該光模塊內的對應寄存器中，之后通過儀器讀取該光模塊工
作時對應的性能參數，如果儀器讀取的性能參數的值滿足光模塊設計要求的數
值或數值范圍，則完成該下一光模塊的調試。
2.根據權利要求1所述的光模塊性能參數調試方法，其特征在于，還包
括：
如果儀器讀取的性能參數的值不滿足光模塊設計要求的數值或數值范圍，
則將所述初步設定值進行增大或減小的微調；
將微調之后的設定值寫入到該光模塊內的對應寄存器中，之后通過儀器讀
取該光模塊工作時對應的性能參數，如果儀器讀取的性能參數的值滿足光模塊
設計要求的數值或數值范圍，則完成該下一光模塊的調試。
3.根據權利要求1或2所述的光模塊性能參數調試方法，其特征在于，
所述預定閾值不小于50。
4.根據權利要求3所述的光模塊性能參數調試方法，其特征在于，所述
步驟S2中將該組內的所有設定值統計計算出一個設定值，具體為：
確定計算范圍RANGE：(樣本的平均值-樣本的均方根值，樣本的平均值+樣
本的均方根值)；
基于所述計算范圍使用預定次數的二分法計算所述初步設定值。
5.根據權利要求4所述的光模塊性能參數調試方法，其特征在于，至少
一個性能參數為滿足區間線性度的線性參數。
6.一種光模塊性能參數調試系統...

【專利技術屬性】
技術研發人員：代輝，曾海峰，陳小鵬，
申請(專利權)人：索爾思光電成都有限公司，
類型：發明
國別省市：四川;51