本實(shí)用新型專利技術(shù)涉及一種電路板測試治具及電路板測試系統(tǒng)。電路板測試治具包括治具底箱、升降組件、產(chǎn)品載板、探針組件及主控模塊。升降組件用于向下按壓產(chǎn)品載板。產(chǎn)品載板位于探針組件的上方并與探針組件彈性連接，且產(chǎn)品載板用于放置待測電路板并設(shè)有與待測電路板中測試點(diǎn)對應(yīng)的若干第一探針孔。探針組件包括探針。探針的第一端與主控模塊電連接，探針的第二端用于在產(chǎn)品載板被壓下后穿過第一探針孔以接觸測試點(diǎn)。主控模塊用于通過探針接收并處理待測電路板的測試數(shù)據(jù)。該電路板測試治具及電路板測試系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)機(jī)械化檢測電路板的質(zhì)量，克服了傳統(tǒng)檢測方法利用人眼來檢測螺母線圈電路板質(zhì)量的問題。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本技術(shù)涉及電路板測試
，特別是涉及一種電路板測試治具及電路板測試系統(tǒng)。
技術(shù)介紹
電路板，是電子產(chǎn)品的重要部件之一，其具有可靠性高、一致性好、機(jī)械強(qiáng)度高、重量輕、體積小、易于標(biāo)準(zhǔn)化等優(yōu)點(diǎn)，已經(jīng)廣泛應(yīng)用于電子手表、計算器、計算機(jī)、通信設(shè)備、電子雷達(dá)系統(tǒng)等電子產(chǎn)品。因此在電子產(chǎn)品的研制過程中，影響電子產(chǎn)品質(zhì)量的最基本因素之一是電路板的設(shè)計和制造。在傳統(tǒng)的螺母線圈電路板檢測方法中，通常都是通過放大鏡目檢螺母線圈電路板上的螺母線圈之間是否有短路、開路現(xiàn)象，然后判斷螺母線圈電路板的質(zhì)量優(yōu)劣。例如若進(jìn)行螺母線圈的通斷檢查和Q值的大小判斷時，可先利用萬用表電阻檔測量螺母線圈電路板的直流電阻，再與原設(shè)定阻值或標(biāo)稱阻值相比較。若所測阻值比原設(shè)定阻值或標(biāo)稱阻值增大許多，甚至指針不動(阻值趨向無窮大X)即可判斷螺母線圈電路板斷線；若所測阻值極小，則判定是嚴(yán)重短路，從而判定此螺母線圈電路板質(zhì)量差無法使用；若所測阻值與原設(shè)定阻值或標(biāo)稱阻值相差不大，則可判定此螺母線圈電路板質(zhì)量為優(yōu)。然而上述傳統(tǒng)的檢測方法雖可施行，但是該方法由于是利用人的肉眼來檢驗(yàn)螺母線圈電路板中元器件電路的開路、短路等情況，因此檢測效率低，勞動強(qiáng)度大，誤檢率也高，不利于工廠大批量生產(chǎn)及品質(zhì)檢測。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
基于此，有必要針對如何克服傳統(tǒng)檢測方法利用人眼來檢測螺母線圈電路板質(zhì)量的問題，提供一種電路板測試治具及電路板測試系統(tǒng)。一種電路板測試治具，包括治具底箱、升降組件、產(chǎn)品載板、探針組件及主控模塊；其中，所述升降組件安裝于治具底箱上方并與治具底箱連接，所述產(chǎn)品載板、探針組件及主控模塊安裝于治具底箱；所述升降組件用于向下按壓產(chǎn)品載板；所述產(chǎn)品載板位于探針組件的上方并與探針組件彈性連接，且所述產(chǎn)品載板用于放置待測電路板并設(shè)有與待測電路板中測試點(diǎn)對應(yīng)的若干第一探針孔；所述探針組件包括探針；所述探針的第一端與主控模塊電連接，所述探針的第二端用于在所述產(chǎn)品載板被壓下后穿過第一探針孔以接觸所述測試點(diǎn)；所述主控模塊用于通過探針接收并處理待測電路板的測試數(shù)據(jù)。在其中一個實(shí)施例中，所述升降組件包括升降機(jī)構(gòu)、壓板及安裝于所述治具底箱上的固定板；所述升降機(jī)構(gòu)安裝于固定板上，并用于帶動所述壓板上下移動；所述壓板安裝于升降機(jī)構(gòu)中能夠移動的結(jié)構(gòu)底部，且所述壓板位于產(chǎn)品載板的上方。在其中一個實(shí)施例中，所述升降組件在所述壓板的兩端分別設(shè)有滑動固定柱及滑動棒；所述滑動固定柱用于將滑動棒固定于所述固定板上；所述兩個滑動棒分別穿過壓板的兩端，且所述壓板在升降機(jī)構(gòu)的帶動下沿滑棒上下移動。在其中一個實(shí)施例中，所述升降機(jī)構(gòu)為大夾手升降機(jī)構(gòu)。在其中一個實(shí)施例中，所述產(chǎn)品載板設(shè)有用于對待測電路板進(jìn)行定位的凹槽。在其中一個實(shí)施例中，所述探針組件還包括探針載板，且所述探針載板設(shè)有用于放置探針的若干第二探針孔。在其中一個實(shí)施例中，所述產(chǎn)品載板與探針組件通過設(shè)有彈簧的定位柱連接。在其中一個實(shí)施例中，所述主控模塊包括相互連接的信號轉(zhuǎn)接板和主控板；所述信號轉(zhuǎn)接板與所述探針的第一端連接，且所述信號轉(zhuǎn)接板用于通過探針接收待測電路板的測試數(shù)據(jù)，并將所述測試數(shù)據(jù)發(fā)送至主控板；所述主控板，用于處理所述測試數(shù)據(jù)。在其中一個實(shí)施例中，所述電路板測試治具還包括相連接的交流輸入模塊和直流電源模塊；所述直流電源模塊，用于將交流輸入模塊輸出的交流電轉(zhuǎn)換為直流電并向所述主控模塊供電。一種電路板測試系統(tǒng)，包括PC端和上述電路板測試治具，且所述電路板測試治具設(shè)有接口并通過所述接口與PC端通信。上述電路板測試治具及電路板測試系統(tǒng)具有的有益效果為：在該電路板測試治具及電路板測試系統(tǒng)中，升降組件用于向下按壓產(chǎn)品載板。產(chǎn)品載板位于探針組件的上方并與探針組件彈性連接，且產(chǎn)品載板用于放置待測電路板并設(shè)有與待測電路板測試點(diǎn)對應(yīng)的若干第一探針孔。因此當(dāng)升降組件向下按壓產(chǎn)品載板后，產(chǎn)品載板向探針組件移動，直至探針的第二端穿過第一探針孔并接觸到待測電路板的測試點(diǎn)。由于探針的第一端與主控模塊電連接，故探針即可將待測電路板的測試數(shù)據(jù)發(fā)送至主控模塊，進(jìn)而由主控模塊進(jìn)行處理，從而能夠檢測待測電路板的質(zhì)量優(yōu)劣。因此，該電路板測試治具及電路板測試系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)機(jī)械化檢測電路板的質(zhì)量，克服了傳統(tǒng)檢測方法利用人眼來檢測螺母線圈電路板質(zhì)量的問題，從而簡化了人工操作，提高了檢測精度和效率，更利于工廠大批量生產(chǎn)及品質(zhì)檢測。附圖說明圖1為一實(shí)施例提供的電路板測試治具的正視示意圖；圖2為圖1所示實(shí)施例的電路板測試治具的左視示意圖；圖3為圖1所示實(shí)施例的電路板測試治具的俯視示意圖；圖4為圖1所示實(shí)施例的電路板測試治具的電路圖。具體實(shí)施方式為了便于理解本技術(shù)，下面將參照相關(guān)附圖對本技術(shù)進(jìn)行更全面的描述。附圖中給出了本技術(shù)的較佳實(shí)施例。但是，本技術(shù)可以以許多不同的形式來實(shí)現(xiàn)，并不限于本文所描述的實(shí)施例。相反地，提供這些實(shí)施例的目的是使對本技術(shù)的公開內(nèi)容的理解更加透徹全面。除非另有定義，本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語與屬于技術(shù)的
的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中在技術(shù)的說明書中所使用的術(shù)語只是為了描述具體的實(shí)施例的目的，不是旨在限制本技術(shù)。本文所使用的術(shù)語“和/或”包括一個或多個相關(guān)的所列項(xiàng)目的任意的和所有的組合。如圖1至圖3所示，本實(shí)施例提供的電路板測試治具包括：治具底箱90、升降組件、產(chǎn)品載板20、探針組件及主控模塊。其中，升降組件安裝于治具底箱90上方并與治具底箱90連接。產(chǎn)品載板20、探針組件及主控模塊安裝于治具底箱90。升降組件能夠上下移動，并用于向下按壓產(chǎn)品載板20。產(chǎn)品載板20位于探針組件的上方并與探針組件彈性連接。具體的，產(chǎn)品載板20與探針組件通過設(shè)有彈簧的定位柱連接，從而能夠保證兩者處于平衡狀態(tài)。當(dāng)然，產(chǎn)品載板20與探針組件也可采用其他方式連接，只要兩者之間能夠彈性連接并保持平衡即可。同時，產(chǎn)品載板20用于放置待測電路板22并設(shè)有與待測電路板22中的測試點(diǎn)對應(yīng)的若干第一探針孔。待測電路板22則放置于這些第一探針孔的上方。探針組件安裝于治具底箱90的表面。探針組件包括探針，且探針的排列方式根據(jù)被測電路板的gerber文件設(shè)置。探針的第一端與主控模塊電連接，例如探針的第一端與主控模塊通過線纜連接。探針的第二端用于在產(chǎn)品載板20被壓下后穿過第一探針孔以接觸測試點(diǎn)。因此，探針的第二端至少需露出探針組件的表面，以便在產(chǎn)品載板20被壓下后穿過第一探針孔從而接觸測試點(diǎn)。主控模塊安裝于治具底箱90的內(nèi)部，且主控模塊用于通過探針接收并處理待測電路板22的測試數(shù)據(jù)。因此對于上述電路板測試治具，當(dāng)升降組件向下按壓產(chǎn)品載板20后，產(chǎn)品載板20向探針組件移動，直至探針的第二端穿過第一探針孔并接觸到待測電路板22的測試點(diǎn)。由于探針的第一端與主控模塊電連接，故探針即可將待測電路板22的測試數(shù)據(jù)發(fā)送至主控模塊，進(jìn)而由主控模塊進(jìn)行處理，從而能夠檢測待測電路板22的質(zhì)量優(yōu)劣。因此，該電路板測試治具能夠?qū)崿F(xiàn)機(jī)械化檢測電路板的質(zhì)量，克服了傳統(tǒng)檢測方法利用人眼來檢測螺母線圈電路板質(zhì)量的問題，從而簡化了人工操作并降低了對技術(shù)人員的技術(shù)和素質(zhì)要求，提高了檢測精度和效率，更利于工廠大批量生產(chǎn)及品質(zhì)檢測。具體的，如圖2所示，上述升本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種電路板測試治具，其特征在于，包括治具底箱、升降組件、產(chǎn)品載板、探針組件及主控模塊；其中，所述升降組件安裝于治具底箱上方并與治具底箱連接，所述產(chǎn)品載板、探針組件及主控模塊安裝于治具底箱；所述升降組件用于向下按壓產(chǎn)品載板；所述產(chǎn)品載板位于探針組件的上方并與探針組件彈性連接，且所述產(chǎn)品載板用于放置待測電路板并設(shè)有與待測電路板中測試點(diǎn)對應(yīng)的若干第一探針孔；所述探針組件包括探針；所述探針的第一端與主控模塊電連接，所述探針的第二端用于在所述產(chǎn)品載板被壓下后穿過第一探針孔以接觸所述測試點(diǎn)；所述主控模塊用于通過探針接收并處理待測電路板的測試數(shù)據(jù)。
【技術(shù)特征摘要】
1.一種電路板測試治具，其特征在于，包括治具底箱、升降組件、產(chǎn)品載板、探針組件及主控模塊；其中，所述升降組件安裝于治具底箱上方并與治具底箱連接，所述產(chǎn)品載板、探針組件及主控模塊安裝于治具底箱；所述升降組件用于向下按壓產(chǎn)品載板；所述產(chǎn)品載板位于探針組件的上方并與探針組件彈性連接，且所述產(chǎn)品載板用于放置待測電路板并設(shè)有與待測電路板中測試點(diǎn)對應(yīng)的若干第一探針孔；所述探針組件包括探針；所述探針的第一端與主控模塊電連接，所述探針的第二端用于在所述產(chǎn)品載板被壓下后穿過第一探針孔以接觸所述測試點(diǎn)；所述主控模塊用于通過探針接收并處理待測電路板的測試數(shù)據(jù)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板測試治具，其特征在于，所述升降組件包括升降機(jī)構(gòu)、壓板及安裝于所述治具底箱上的固定板；所述升降機(jī)構(gòu)安裝于固定板上，并用于帶動所述壓板上下移動；所述壓板安裝于升降機(jī)構(gòu)中能夠移動的結(jié)構(gòu)底部，且所述壓板位于產(chǎn)品載板的上方。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電路板測試治具，其特征在于，所述升降組件在所述壓板的兩端分別設(shè)有滑動固定柱及滑動棒；所述滑動固定柱用于將滑動棒固定于所述固定板上；所述兩個滑動棒分別穿過壓板的兩端，且所述壓板在升降機(jī)構(gòu)的帶動下沿滑棒上下移動。4....
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：張立國，
申請(專利權(quán))人：深圳市科美集成電路有限公司，
類型：新型
國別省市：廣東;44
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