電流檢測電路制造技術

本實用新型專利技術提供了一種電流檢測電路，用以檢測一待測產品的電流，其中，該電流檢測電路包括一運算放大器、一采樣單元、一調節單元及一測量單元，所述待測產品與采樣單元串聯并連接于一電壓源及地之間，所述運算放大器包括第一輸入端、第二輸入端、第一調節端及第二調節端，所述第一輸入端及第二輸入端連接于所述采樣單元的兩端，所述調節單元的兩端分別與所述第一調節端及第二調節端相連，以調節所述運算放大器的放大倍數，所述測量單元連接于所述運算放大器的輸出端。本實用新型專利技術可以方便、精確地檢測及計算出例如手表等精密電子或集成電路的微小電流信號，從而提高檢測精度及檢測效率。

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及一種電流檢測電路。
技術介紹
電流是國際量值體系中的一個重要參量，其與人類科學技術的發展密不可分，同時也是電子測量技術和儀器的基本研究對象。當電流信號的量值小到一定程度，比如微安級、毫安級、甚至皮安級的小電流時，對它的準確精測就變得非常復雜、困難。然而在精密電子測量、半導體集成電路測試、航空航天測控、新型納米材料研究以及生命科學發展所需的分析測試等領域，又要求必須對這種微弱的信號進行準確捕捉和測量。目前，測量小電流常用的方法包括取樣電阻法和運放反饋電流法。所述取樣電阻法是通過一測量設備來測量取樣電阻的電壓以獲取測量流經取樣電阻的電流，從而確定待測電子產品的微小電流，但通常取樣電阻與測量設備的輸入阻抗并聯，為了不影響測量準確度，測量設備的輸入阻抗需為取樣電阻的1000倍，例如：如果取樣電阻是1兆歐姆，那么測量設備的輸入阻抗需為1000兆歐姆。但這樣的測量設備難以制造，所以取樣電阻法往往會受后續測量設備性能的制約。基于上述取樣電阻方法的弊端，大多數人則會選擇運放反饋電流法來測量小電流。如圖1所示，現有技術中，通常在運算放大器U1的第一端連接一平衡電阻R'，在運算放大器U1第二端連接一待測產品，并接收一待測小電流Is，該運算放大器U1的輸出端與運算放大器U1第二端之間連接一反饋電阻Rf，通過計算運算放大器U1的輸出電壓來計算待測產品的電流。運算放大器U1理想狀態下，輸出端輸出的電壓Uo計算如下：Uo＝-Rf*Is。然而，由于運算放大器U1本身不可能處于理想狀態，在運算放大器U1的第一端和第二端往往會分別存在偏置電流Ib-及Ib+，這會影響小電流的測量結果，使得實際測量結果與理論不一致。因此，運算放大器U1輸出端的實際電壓U'o如下：U'o＝-Is*Rf+(Ib+)*R'+(Ib-)*Rf，即運算放大器U1輸出端的誤差電壓△Uo如下：△Uo＝U'o-Uo＝(Ib+)*R'+(Ib-)*Rf。從而，導致小電流測量不準確。因此，基于上述取樣電阻及有必要提出一種新的小電流檢測電路來克服上述缺陷。
技術實現思路
本技術需解決的技術問題在于提供一種測量準確小電流，且不會受測量設備性能所制約的電流檢測電路。一種電流檢測電路，用以檢測一待測產品的電流，其中，該電流檢測電路包括一運算放大器、一采樣單元、一調節單元及一測量單元，所述待測產品與采樣單元串聯并連接于一電壓源及地之間，所述運算放大器包括第一輸入端、第二輸入端、第一調節端及第二調節端，所述第一輸入端及第二輸入端連接于所述采樣單元的兩端，所述調節單元的兩端分別與所述第一調節端及第二調節端相連，以調節所述運算放大器的放大倍數，所述測量單元連接于所述運算放大器的輸出端。優選的，所述采樣單元包括一采樣電阻，所述采樣電阻的一端連接所述待測產品，所述采樣電阻的另一端接地。優選的，所述調節單元包括一調節電阻，所述調節電阻的一端連接運算放大器的第一調節端，另一端連接運算放大器的第二調節端。優選的，所述運算放大器的放大倍數與所述調節電阻的阻值成反比。優選的，所述測量單元為一電壓檢測設備，用以測量運算放大器輸出的電壓信號。優選的，所述采樣單元包括至少兩個電阻相互串聯而成。本技術通過調節單元調節運算放大器的放大倍數，從而可以方便、精確地檢測及計算出例如手表等精密電子或集成電路的微小電流信號，提高檢測精度及檢測效率。【附圖說明】圖1為現有技術中電流檢測電路的電路圖。圖2為本技術電流檢測電路與待測產品及測量設備相連的示意圖。圖3為本技術電流檢測電路的方框圖。圖4為本技術電流檢測電路的電路圖。【具體實施方式】下面結合附圖和實施方式對本技術作進一步說明。如圖2所示，為本技術較佳實施例的電流檢測電路10與一待測產品20相連的方框圖。該電流檢測電路10用以檢測待測產品20的電流。在本實施例中，該待測產品20為一電子手表，該電流檢測電路10用以測量電子手表的工作電流。當然，可以理解的是，該待測產品20也可為其他精密電子設備或集成電路。如圖3所示，所述電流檢測電路10包括一運算放大器U2、一采樣單元30、一調節單元50及一測量單元60。在本實施例中，所述測量單元60為一電壓檢測設備。運算放大器U2的同相輸入端通過所述待測產品20連接一第一電壓源VCC1，該運算放大器U2的同相輸入端還通過所述采樣單元30接地。所述待測產品20及采樣單元30串聯后連接于所述第一電壓源VCC1及地之間。所述運算放大器U2的反相輸入端通過采樣單元30及待測產品20連接所述第一電壓源VCC1所述調節單元50連接于所述運算放大器U2的第一調節端RG1及第二調節端RG2之間。所述運算放大器U2的電源引腳Vcc連接第二電壓源VCC2。所述運算放大器U2的電源引腳Vss連接所述電壓源VSS。所述運算放大器U2的參考引腳REF連接地信號GND。所述運算放大器U2的輸出端Vout連接所述測量單元60。所述測量單元60用以測量運算放大器U2的輸出端Vout的輸出電壓。一并參照圖4，在本實施例中，所述運算放大器U2的型號為AD620。所述采樣單元30為一采樣電阻Rs。所述調節單元50為一調節電阻Rg，用以調節運算放大器U2的放大倍數。所述采樣電阻Rs的一端連接所述待測產品20，另一端接地。所述調節電阻Rg連接于所述運算放大器U2的第一調節端RG1及第二調節端RG2之間。在本實施例中，所述取樣電阻Rs的電阻值為240Ω，所述調節電阻Rg的電阻值為100Ω，所述運算放大器U2的放大倍數G為500，運算放大器U2的輸出端Vout的輸出電壓為V1，假設，測量單元60測得所述輸出電壓V1為2.4V，那么待測產品20的電流Is的計算如下：Is＝(V1/Rs)/G＝(2.4/240)/500＝20uA。在本實施例中，所述放大倍數G與調節電阻Rg的阻值成反比。在其他實施例中，所述采樣單元30包括相互串聯的多個電阻。可以通過改變調節電阻Rg的電阻值來調整所述運算放大器U2的放大倍數。依據實際需要，通過調整調節單元50的電阻值來改變運算放大器U2的放大倍數，從而放大待測產品的微電流。綜上，通過調節單元50調節運算放大器U2的放大倍數，從而可以方便并精確地檢測出手表等精密電子或集成電路的微小電流，提高檢測效率。以上所述的僅是本技術的實施方式，在此應當指出，對于本領域的普通技術人員來說，在不脫離本技術創造構思的前提下，還可以做出改進，但這些均屬于本技術的保護范圍。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種電流檢測電路，用以檢測一待測產品的電流，其特征在于：該電流檢測電路包括一運算放大器、一采樣單元、一調節單元及一測量單元，所述待測產品與采樣單元串聯并連接于一電壓源及地之間，所述運算放大器包括第一輸入端、第二輸入端、第一調節端及第二調節端，所述第一輸入端及第二輸入端連接于所述采樣單元的兩端，所述調節單元的兩端分別與所述第一調節端及第二調節端相連，以調節所述運算放大器的放大倍數，所述測量單元連接于所述運算放大器的輸出端。

【技術特征摘要】
1.一種電流檢測電路，用以檢測一待測產品的電流，其特征在于：
該電流檢測電路包括一運算放大器、一采樣單元、一調節單元及一測量單
元，所述待測產品與采樣單元串聯并連接于一電壓源及地之間，所述運算
放大器包括第一輸入端、第二輸入端、第一調節端及第二調節端，所述第
一輸入端及第二輸入端連接于所述采樣單元的兩端，所述調節單元的兩端
分別與所述第一調節端及第二調節端相連，以調節所述運算放大器的放大
倍數，所述測量單元連接于所述運算放大器的輸出端。
2.根據權利要求1所述的電流檢測電路，其特征在于：所述采樣單
元包括一采樣電阻，所述采樣電阻的一端連接所述待測產品，所述采樣電
阻的另一端接地。
3.根據權利要求2所述的電流檢測電路，其特征在于：所述調節單
元包括一調節電阻，所述調節電阻的一端連接運算放大器的第一調節端，
另一端連接運算放大器...

【專利技術屬性】
技術研發人員：孫宇航，唐桐升，孫軼群，
申請(專利權)人：深圳市盛德金科技有限公司，
類型：新型
國別省市：廣東;44