一種無線設備測試系統技術方案

一種無線設備測試系統，包括以45°間隔的呈圓環狀圍繞屏蔽殼體內壁排列的8個復用的雙極化探頭天線以及沿同一圓環排列的3個SISO測試用的雙極化探頭天線，且SISO測試用的雙極化探頭天線的分布方式使得這些雙極化探頭天線構成在一個圓環上按照15°的邏輯間隔分布的11個天線序列，從而，本測試系統中實現了對部分天線復用，即一定數量的天線既用于SISO測試，又用于MIMO測試，相比傳統測試系統，本實用新型專利技術可使用較少的天線且兼顧多種測試，不必增設天線支撐環，且可采用較小尺寸的暗室來實現良好的測量精度。

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及通信領域，具體涉及一種無線設備測試系統。
技術介紹
無線通信技術是利用電磁波能夠在自由空間中傳播的特性，在兩點或多點之間通過空中(非有線)的方式進行信息傳遞和交換的技術。因此，天線作為發送和接收無線通信信息載體——電磁波的核心部件，其性能好壞直接決定了無線終端實現通訊的能力。傳統的通信系統使用單個發射天線和單個接收天線，稱之為SISO(Single-InputSingle-Output)系統，而MIMO(Multiple-InputMultiple-Output)系統包含多個發射天線和多個接收天線，它能充分利用空間資源，通過多個天線實現多發多收，在不增加頻譜資源和天線發射功率的情況下，可以成倍的提高系統信道容量和傳輸速率。無線終端空口(OTA，OverTheAir)測試是無線設備性能的一個重要測試項目。SISO終端的OTA測試方案，其模擬實現的受控環境即自由空間傳播環境，在自由空間傳播環境下，測試被測終端的收發性能，其主要的測試指標是TRP(總輻射功率)和TIS(總全向靈敏度)，采用的標準是CTIA或3GPP制定的。而MIMO終端的OTA測試，必須將信道模型在實驗室中進行真實的復現，模擬真實的無線傳播環境。目前MIMO測試方法主要包括三類:暗室多探頭法(MPAC,Multi-ProbeAnechoicChamber)，輻射兩階段法(RTS,RadiatedTwo-Stage)及混響室法。多探頭無反射暗室中，測量天線通常設于環狀支撐結構上，常規的SISO/MIMO暗室中，為了滿足既能兼顧多探頭SISO測試，又能實現MIMO測試，所需天線數量會很多，為了保證測試精度，需要保證天線之間間隔一定的距離，以將天線之間的耦合干擾控制在一定程度(例如-30dB)，通常在暗室中加設一個或多個天線支撐環，通常一個環上的天線用于SISO測試，另一個環上的天線用于MIMO測試，然而這樣做會加大系統復雜程度，增加的機械支撐結構同時也會增加測量干擾。若建造一個足夠大的暗室，也可以將所有天線設于一個支撐環上，同時保證天線與天線之間有足夠的距離，但此設計會極大地增加暗室的建造成本。
技術實現思路
本技術的主要目的在于克服現有技術的不足，提供一種無線設備測試系統,在同一硬件測試環境中，采用較少數量的天線，實現兼顧SISOOTA測試和MIMOOTA測試。為實現上述目的，本技術采用以下技術方案：一種無線設備測試系統，包括屏蔽殼體、安裝于所述屏蔽殼體內壁的測試天線、以及設于所述屏蔽殼體內中央位置的測試轉臺，所述測試天線包括以45°間隔的呈圓環狀圍繞所述屏蔽殼體內壁排列的8個復用的雙極化探頭天線、以及與所述8個復用的雙極化探頭天線沿同一圓環排列的3個SISO測試用的雙極化探頭天線，在所述3個SISO測試用的雙極化探頭天線中，SISO測試用的第一雙極化探頭天線與SISO測試用的第二雙極化探頭天線之間間隔90°，SISO測試用的第一雙極化探頭天線與SISO測試用的第二雙極化探頭天線分別與SISO測試用的第三雙極化探頭天線之間間隔135°，且SISO測試用的第一雙極化探頭天線與所述8個復用的雙極化探頭天線中的一個雙極化探頭天線之間間隔15°，從而8個復用的雙極化探頭天線和3個SISO測試用的雙極化探頭天線共同構成在一個圓環上按照15°的邏輯間隔分布的11個天線序列。進一步地：還包括與所述8個復用的雙極化探頭天線沿同一圓環排列的8個MIMO測試用的雙極化探頭天線，其中每個MIMO測試用的雙極化探頭天線與兩側相鄰的復用的雙極化探頭天線之間分別間隔22.5°。所述測試轉臺為在一個方向可轉動的單軸轉臺，其旋轉軸垂直于天線所在的平面。所述測試轉臺為在兩個方向可轉動的雙軸轉臺，其中一個旋轉軸垂直于天線所在的平面，另一個旋轉軸位于天線所在平面。所述屏蔽殼體內壁設置有吸波材料。所述屏蔽殼體為24邊等邊柱狀多邊體。所述8個復用的雙極化探頭天線和所述3個SISO測試用的雙極化探頭天線均設置在所述等邊柱狀多邊體中的對應邊的中間位置。所述屏蔽殼體為24邊等邊柱狀多邊體，所述8個復用的雙極化探頭天線和所述3個SISO測試用的雙極化探頭天線均設置在所述等邊柱狀多邊體中的對應邊的中間位置，所述8個MIMO測試用的雙極化探頭天線設置在所述等邊柱狀多邊體中的對應邊與邊的交接處。所述屏蔽殼體例如采用內切圓直徑為7米、高為3.6米的24邊等邊柱狀多邊體。本技術的有益效果：本技術的測試系統中，測試天線包括以45°間隔的呈圓環狀圍繞屏蔽殼體內壁排列的8個復用的雙極化探頭天線以及與8個復用的雙極化探頭天線沿同一圓環排列的3個SISO測試用的雙極化探頭天線，且SISO測試用的雙極化探頭天線的分布方式使得8個復用的雙極化探頭天線和3個SISO測試用的雙極化探頭天線共同構成在一個圓環上按照15°的邏輯間隔分布的11個天線序列，從而，本測試系統中實現了對部分天線復用，即一定數量的天線既用于SISO測試，又用于MIMO測試，相比傳統測試系統具有以下顯著優勢：1.可使用較少的天線且兼顧多種測試，包括基于暗室多探頭法的MIMOOTA測試，基于輻射兩階段法的MIMOOTA測試，基于大圓(GreatCircle)法的SISOOTA測試和基于錐切(ConicalCut)法的SISOOTA測試。2.不必增設天線支撐環(但本技術不排除設置天線支撐環)，也不用擴大暗室體積，相比傳統測試系統，本技術可采用較小尺寸的暗室來實現良好的測量精度。附圖說明圖1是本技術實施例暗室的外部結構立體圖；圖2-圖3是本技術實施例暗室的立體剖視圖，其中，為了清楚的展示暗室內部的測試轉臺和天線，圖3中未示出吸波材料；圖4是本技術實施例暗室的天線排布示意圖。具體實施方式以下對本技術的實施方式作詳細說明。應該強調的是，下述說明僅僅是示例性的，而不是為了限制本技術的范圍及其應用。參閱圖1至圖4，在一種實施例中，一種無線設備測試系統，包括形成暗室的屏蔽殼體600、安裝于屏蔽殼體600內壁的測試天線300、以及設于屏蔽殼體600內中央位置的測試轉臺400。測試轉臺400上用于放置待測的無線設備，如手機等無線終端。測試天線300包括以45°間隔的呈圓環狀圍繞屏蔽殼體600內壁排列的8個復用的雙極化探頭天線301-308、以及與8個復用的雙本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種無線設備測試系統，包括屏蔽殼體、安裝于所述屏蔽殼體內壁的測試天線、以及設于所述屏蔽殼體內中央位置的測試轉臺，其特征在于,所述測試天線包括以45°間隔的呈圓環狀圍繞所述屏蔽殼體內壁排列的8個復用的雙極化探頭天線、以及與所述8個復用的雙極化探頭天線沿同一圓環排列的3個SISO測試用的雙極化探頭天線，在所述3個SISO測試用的雙極化探頭天線中，SISO測試用的第一雙極化探頭天線與SISO測試用的第二雙極化探頭天線之間間隔90°，SISO測試用的第一雙極化探頭天線與SISO測試用的第二雙極化探頭天線分別與SISO測試用的第三雙極化探頭天線之間間隔135°，且SISO測試用的第一雙極化探頭天線與所述8個復用的雙極化探頭天線中的一個雙極化探頭天線之間間隔15°。

【技術特征摘要】
1.一種無線設備測試系統，包括屏蔽殼體、安裝于所述屏蔽殼體內
壁的測試天線、以及設于所述屏蔽殼體內中央位置的測試轉臺，其特征在
于,所述測試天線包括以45°間隔的呈圓環狀圍繞所述屏蔽殼體內壁排
列的8個復用的雙極化探頭天線、以及與所述8個復用的雙極化探頭天線
沿同一圓環排列的3個SISO測試用的雙極化探頭天線，在所述3個SISO
測試用的雙極化探頭天線中，SISO測試用的第一雙極化探頭天線與SISO
測試用的第二雙極化探頭天線之間間隔90°，SISO測試用的第一雙極化
探頭天線與SISO測試用的第二雙極化探頭天線分別與SISO測試用的第三
雙極化探頭天線之間間隔135°，且SISO測試用的第一雙極化探頭天線與
所述8個復用的雙極化探頭天線中的一個雙極化探頭天線之間間隔15°。
2.如權利要求1所述的無線設備測試系統，其特征在于,還包括與所
述8個復用的雙極化探頭天線沿同一圓環排列的8個MIMO測試用的雙極
化探頭天線，其中每個MIMO測試用的雙極化探頭天線與兩側相鄰的復用
的雙極化探頭天線之間分別間隔22.5°。
3.如權利要求1所述的無線設備...

【專利技術屬性】
技術研發人員：劉克峰，謝輝，劉列，鄭常勝，
申請(專利權)人：深圳市通用測試系統有限公司，
類型：新型
國別省市：廣東;44