一種電子模組的探針測試裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術涉及電子元器件的測試領域，尤其涉及一種電子模組的探針測試裝置。一種電子模組的探針測試裝置，該探針測試裝置包括底座、測試模塊和夾具模塊，所述的測試模塊和夾具模塊均設置在底座上，夾具模塊將電子模組固定在測試模塊進行測試，測試模塊包括測試座、第一電路板和第二電路板，所述的夾具模塊包括推動座、浮動座、下浮動板、上浮動板和絲桿步進電機。該裝置結構簡單，使用方便安全，避免人力做重復繁瑣的工作，提高產品UPH，增加產能，規避人為操作帶來的問題。本發明專利技術裝置測試樣品良率在99.5%左右，完全能夠滿足生產需求。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及電子元器件的測試領域，尤其涉及一種電子模組的探針測試裝置。
技術介紹
目前手機攝像模組在制造過程中，需要對每一個產品進行測試。測試時需要將產品的接口即Connector(公座/母座)通過連接器轉接到產品驅動電路板上，以實現對產品的測試功能。隨著科學技術的不斷發展與進步，產線自動化的需求也日益增加，工業4.0即將到來。在很多生產工藝過程中，不僅需要做到精確無誤，而且在生產效率上也要不斷提高。手工作業在精確度和效率提高上已無法滿足生產需求，自動探針測試夾具因此而生。自動上下料系統可以按照設定配比和流量控制各輸入物料的瞬時流量，從而達到各產品的生產質量和產量的目的，是實現生產過程自動化和智能化、企業的科學管理、安全穩定生產和節能降耗的重要技術手段。自動上下料系統在生產中的應用不僅提高了產品的質量和產量，而且大大降低了崗位工人的勞動強度。作為自動上下料系統至關重要的一部分，自動探針測試夾具顯得尤其的重要。因為它直接與手機模組的性能測試息息相關，自動探針測試夾具設計的合不合理，直接關系著手機模組的品質和性能，也關系著整個自動上下料系統的生產效率。中國技術（公開號CN204731001U、公開日2015.10.28）一種連接器探針測試夾具，包括：上蓋，與上蓋一端通過轉軸連接的底座，上蓋與底座另一端可分離連接；設于上蓋內表面上的浮動壓板、產品壓頭；設于底座內表面上的用于固定產品頭部的產品限位框，以及用于固定產品尾部的浮動針盤；設于底座內表面上的針盤薄片，與針盤薄片相連接且位于其上方的固定針盤，垂直設于固定針盤上的探針，浮動針盤位于固定針盤上方且二者相連接；實現待測產品與測試電路的轉接，無需人工插拔，提高了工作效率。
技術實現思路
為了解決上述的技術問題，本專利技術的目的是提供一種電子模組的探針測試裝置，該裝置結構簡單，使用方便安全，避免人力做重復繁瑣的工作，提高產品UPH，增加產能，規避人為操作帶來的問題。為了實現上述的目的，本專利技術采用了以下的技術方案：一種電子模組的探針測試裝置，該探針測試裝置包括底座、測試模塊和夾具模塊，所述的測試模塊和夾具模塊均設置在底座上，夾具模塊將電子模組固定在測試模塊進行測試，測試模塊包括測試座、第一電路板和第二電路板，所述的測試座上設置有模組固定口，并在測試座上還固定有第一插針固定座，第一插針固定座上設置第一插針，第一插針連接設置有下接觸點，下接觸點與第二電路板相連接；所述的夾具模塊包括推動座、浮動座、下浮動板、上浮動板和絲桿步進電機；所述的底座的兩側分別設置有導軌，所述的推動座為橋式結構設置在兩根導軌上，推動座的兩側分別設置有兩個導向孔，推動座的中部設置有推動塊，推動塊中部設置有螺孔，所述的絲桿步進電機的絲桿穿設在螺孔內；所述的浮動座為兩個，兩個浮動座分別設置在推動塊的兩側，浮動座底部設置有彈簧，浮動座的內側設置凸輪槽，所述的推動塊的兩側分別設置有凸出的導向桿，導向桿插設在凸輪槽內，凸輪槽由浮動座的下部向上延伸，凸輪槽上部為鎖緊槽；所述的下浮動板與兩個浮動座固定連接，下浮動板的兩側分別設置兩根導向柱，四根導向柱分別穿設在四個導向孔內；所述的上浮動板的后端固定設置在下浮動板上方，上浮動板的前端延伸覆蓋測試座，在上浮動板前端下部設置有第二插針固定座，第二插針固定座上設置第二插針，第二插針的下端能正對設置在模組固定口內的電子模組的電觸點，第二插針的上端連接的所述的第一電路板，第一電路板設置在上浮動板上，并在第一電路板上設置有與所述的第一插針上端相接觸連接的電觸點。作為進一步改進，所述的底座的一側設置有第一傳感器，并在推動座一側上設置有與第一傳感器相配合的第一感應塊；第一傳感器和第一感應塊配合感應推動座的起始位置。作為進一步改進，所述的底座的前部設置有第二傳感器，并在推動塊的前端設置有與第二傳感器相配合的第二感應塊；第二傳感器和第二感應塊配合感應推動座的末端位置。作為進一步改進，所述的測試座上設置有真空吸氣接口，所述的模組固定口底部設置有吸氣口通過氣路連接所述的真空吸氣接口。模組在擺放過程中，由于模組自身問題（頭重腳輕，頭部鏡座部分明顯重于尾部FPC部分），模組容易出現上翹現象。增加吸氣功能，用真空吸氣的方式吸住模組FPC部分，確保模組擺放平整，從而預防模組壓傷問題。作為進一步改進，所述的測試座上設置有吹氣接口，并在測試座上設置吹氣口，吹氣口通過氣路連接所述的吹氣接口。由于接觸模組的探針在夾具內部，維修和保養十分不便，采用定時吹氣的方式，可以吹除探針周圍的灰塵和污垢，確保探針處于清潔的狀態，延長探針使用壽命。作為進一步改進，所述的測試座上設置兩根定位柱，所述的上浮動板的前端設置有兩個與定位柱相適配的定位孔。作為進一步改進，所述的測試座上設置防呆凸起，防呆凸起與所述的上浮動板相配合。防呆凸起在傳感器失效的時候用于判斷上浮動板到位的情況。作為進一步改進，所述的底座的后端設置有電機座，所述的絲桿步進電機固定設置在電機座上；推動塊中部設置有“T”型口，“T”型口內固定設置有“T”型件，所述的螺孔設置在“T”型件內。作為進一步改進，所述的上浮動板的前部中間位置設置有安裝位，安裝位的上方設置所述的第一電路板，安裝位的下方設置所述的第二插針固定座。作為進一步改進，所述的模組固定口兩側分別設置有Mark點。為裝配工藝中所有的步驟提供共同的可測量點，保證裝配的每一個零件能夠精確的定位。它對模組擺放位置及其重要。黑白的鮮明顏色對比能夠確保CCD相機能夠清晰的分辨Mark點，為精確的找到指定位置提供保障。本專利技術由于采用了上述的技術方案，推動座的前后運動通過結構件轉化為浮動座垂直運動，確保自動夾具精確的壓合。該裝置結構簡單，使用方便安全，避免人力做重復繁瑣的工作，提高產品UPH，增加產能，規避人為操作帶來的問題。本專利技術裝置測試樣品良率在99.5%左右，完全能夠滿足生產需求。附圖說明圖1為本專利技術的結構示意圖。圖2為圖1的俯視圖。圖3為本專利技術去除上、下浮動板后的結構示意圖。圖4為圖3的俯視圖。圖5為絲桿步進電機、推動塊、推動座和浮動座的結構示意圖。圖6為絲桿步進電機、推動塊和浮動座的結構示意圖。圖7為上浮動板、測試座、第一電路板和第二電路板的結構示意圖。圖8為本專利技術使用過程的流程圖。具體實施方式下面結合附圖對本專利技術的具體實施方式做一個詳細的說明。如圖1、圖2所示的一種電子模組的探針測試裝置，該探針測試裝置包括底座1、測試模塊和夾具模塊，所述的測試模塊和夾具模塊均設置在底座1上，夾具模塊將電子模組固定在測試模塊進行測試。如圖1、圖7所示，所述的測試模塊包括測試座2、第一電路板3和第二電路板4，所述的測試座2上設置有模組固定口21，模組固定口21兩側分別設置有Mark點。并在測試座2上還固定有第一插針固定座22，第一插針固定座22上設置第一插針，第一插針連接設置有下接觸點，下接觸點與第二電路板4相連接。測試座2上設置有真空吸氣接口23和吹氣接口24，所述的模組固定口21底部設置有吸氣口通過氣路連接所述的真空吸氣接口23，并在測試座2上設置吹氣口，吹氣口通過氣路連接所述的吹氣接口24。如圖3、圖4、圖5、圖6所示，所述的夾具模塊包括推動座5、浮動座6、下浮動板7、上浮動板8和絲桿步進電機9。所述的底座本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種電子模組的探針測試裝置，該探針測試裝置包括底座（1）、測試模塊和夾具模塊，所述的測試模塊和夾具模塊均設置在底座（1）上，夾具模塊將電子模組固定在測試模塊進行測試，其特征在于：測試模塊包括測試座（2）、第一電路板（3）和第二電路板（4），所述的測試座（2）上設置有模組固定口（21），并在測試座（2）上還固定有第一插針固定座（22），第一插針固定座（22）上設置第一插針，第一插針連接設置有下接觸點，下接觸點與第二電路板（4）相連接；所述的夾具模塊包括推動座（5）、浮動座（6）、下浮動板（7）、上浮動板（8）和絲桿步進電機（9）；所述的底座（1）的兩側分別設置有導軌（10），所述的推動座（5）為橋式結構設置在兩根導軌（10）上，推動座（5）的兩側分別設置有兩個導向孔（51），推動座（5）的中部設置有推動塊（11），推動塊（11）中部設置有螺孔（13），所述的絲桿步進電機（9）的絲桿穿設在螺孔（13）內；所述的浮動座（6）為兩個，兩個浮動座（6）分別設置在推動塊（11）的兩側，浮動座（6）底部設置有彈簧，浮動座（6）的內側設置凸輪槽（61），所述的推動塊（11）的兩側分別設置有凸出的導向桿（12），導向桿（12）插設在凸輪槽（61）內，凸輪槽（61）由浮動座（6）的下部向上延伸，凸輪槽（61）上部為鎖緊槽（62）；所述的下浮動板（7）與兩個浮動座（6）固定連接，下浮動板（7）的兩側分別設置兩根導向柱（15），四根導向柱（15）分別穿設在四個導向孔（51）內；所述的上浮動板（8）的后端固定設置在下浮動板（7）上方，上浮動板（8）的前端延伸覆蓋測試座（2），在上浮動板（8）前端下部設置有第二插針固定座（82），第二插針固定座（82）上設置第二插針，第二插針的下端能正對設置在模組固定口（21）內的電子模組的電觸點，第二插針的上端連接的所述的第一電路板（3），第一電路板（3）設置在上浮動板（8）上，并在第一電路板（3）上設置有與所述的第一插針上端相接觸連接的電觸點。...

【技術特征摘要】
1.一種電子模組的探針測試裝置，該探針測試裝置包括底座（1）、測試模塊和夾具模塊，所述的測試模塊和夾具模塊均設置在底座（1）上，夾具模塊將電子模組固定在測試模塊進行測試，其特征在于：測試模塊包括測試座（2）、第一電路板（3）和第二電路板（4），所述的測試座（2）上設置有模組固定口（21），并在測試座（2）上還固定有第一插針固定座（22），第一插針固定座（22）上設置第一插針，第一插針連接設置有下接觸點，下接觸點與第二電路板（4）相連接；所述的夾具模塊包括推動座（5）、浮動座（6）、下浮動板（7）、上浮動板（8）和絲桿步進電機（9）；所述的底座（1）的兩側分別設置有導軌（10），所述的推動座（5）為橋式結構設置在兩根導軌（10）上，推動座（5）的兩側分別設置有兩個導向孔（51），推動座（5）的中部設置有推動塊（11），推動塊（11）中部設置有螺孔（13），所述的絲桿步進電機（9）的絲桿穿設在螺孔（13）內；所述的浮動座（6）為兩個，兩個浮動座（6）分別設置在推動塊（11）的兩側，浮動座（6）底部設置有彈簧，浮動座（6）的內側設置凸輪槽（61），所述的推動塊（11）的兩側分別設置有凸出的導向桿（12），導向桿（12）插設在凸輪槽（61）內，凸輪槽（61）由浮動座（6）的下部向上延伸，凸輪槽（61）上部為鎖緊槽（62）；所述的下浮動板（7）與兩個浮動座（6）固定連接，下浮動板（7）的兩側分別設置兩根導向柱（15），四根導向柱（15）分別穿設在四個導向孔（51）內；所述的上浮動板（8）的后端固定設置在下浮動板（7）上方，上浮動板（8）的前端延伸覆蓋測試座（2），在上浮動板（8）前端下部設置有第二插針固定座（82），第二插針固定座（82）上設置第二插針，第二插針的下端能正對設置在模組固定口（21）內的電子模組的電觸點，第二插針的上端連接的所述的第一電路板（3），第一電路板（3）設置在上浮動板（8）上，并在第一電路板（3）上設置有與所述的第一插針上端相接觸連接的電觸點。2.根據權利要求1所述的一種電子模組的探針測試裝置，其...

【專利技術屬性】
技術研發人員：王承雄，毛狄青，薛江亮，黃文光，邵登科，崔嘉輝，陳余天，
申請(專利權)人：寧波舜宇光電信息有限公司，
類型：發明
國別省市：浙江;33