一種顯示模組的測試設備和測試方法技術

一種顯示模組的測試設備和測試方法。所述顯示模組的測試設備包括測試模塊、自適應模塊和橋接轉換器，測試模塊用于向自適應模塊發送測試信號和要求極性信息，所述要求極性信息指示橋接轉換器所要求的時序控制信號極性；自適應模塊用于從測試模塊接收測試信號和要求極性信息，使測試信號中的時序控制信號的極性適應要求極性信息中指示的橋接轉換器所要求的時序控制信號極性，并將經過極性適應的測試信號發送至橋接轉換器；橋接轉換器用于從自適應模塊接收經過極性適應的測試信號，對接收到的經過極性適應的測試信號進行橋接轉換并發送給顯示模組。可以避免由于測試設備生成的測試信號不符合測試設備的橋接轉換接口的要求而導致測試異常。

Test equipment and test method for display module

Test equipment and test method for display module. The display includes a test module, adaptive module and bridge converter test equipment module, test module for testing signal and sent to the requirements of adaptive module polarity information, the timing control signal polarity information indicating bridge converter required polarity; self adaptation module is used for receiving a test signal and polarity information from test module, timing control signal indicating the polarity information of bridge converter in the required polarity the timing test signal in the control signal and the test signal to meet the polarity is sent to the bridge converter; bridge converter for receiving from the adaptive module after the test signal polarity to the reception the test signal polarity for conversion and sent to the display module. It can be avoided that the test signal generated by the test equipment does not conform to the requirements of the bridge switching interface of the test equipment.

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及顯示模組測試
，更具體地，涉及一種顯示模組的測試設備和測試方法。
技術介紹
目前人們對移動設備、便攜式設備的顯示效果的要求越來越高，顯示模組在不斷改進以滿足人們日益增長的需求。在顯示模組的生產過程中需要對顯示模組進行測試，例如對顯示屏進行點燈測試。這要求用于測試顯示模組的測試設備具有與顯示模組相對應的橋接轉換接口，例如，MIPI橋接轉換器，以便向顯示模組輸出對應的測試信號。然而在測試過程中，如果測試設備生成的測試信號不符合測試設備的橋接轉換接口的要求，將會導致橋接轉換接口配置不正確，最終導致點燈異常或者無法點亮。
技術實現思路
本專利技術的實施例提供了顯示模組的測試設備和測試方法，以避免由于測試設備生成的測試信號不符合測試設備的橋接轉換接口的要求而導致測試異常。本專利技術的一方面提供了一種顯示模組的測試設備，包括：測試模塊、自適應模塊和橋接轉換器，所述測試模塊用于向所述自適應模塊發送測試信號和要求極性信息，所述要求極性信息指示所述橋接轉換器所要求的時序控制信號極性；所述自適應模塊用于從所述測試模塊接收所述測試信號和所述要求極性信息，使所述測試信號中的時序控制信號的極性適應所述要求極性信息中指示的橋接轉換器所要求的時序控制信號極性，并將經過極性適應的測試信號發送至所述橋接轉換器；所述橋接轉換器用于從所述自適應模塊接收所述經過極性適應的測試信號，對接收到的所述經過極性適應的測試信號進行橋接轉換并發送給所述顯示模組。在一些實施例中，所述自適應模塊包括確定單元、比較單元和取反處理單元，所述確定單元用于從所述測試模塊接收所述測試信號和所述要求極性信息，確定從所述測試信號中的時序信號的極性并生成對所述測試信號中的時序信號的極性加以指示的信號極性信息，將所述測試信號、所述要求極性信息和所述信號極性信息發送至所述比較單元；所述比較單元用于將所述要求極性信息與所述信號極性信息相比較，以確定所述測試信號中的時序信號的極性是否與所述橋接轉換器所要求的時序控制信號極性一致，如果是，則將所述測試信號發送至所述橋接轉換器，否則將所述測試信號發送至所述取反處理單元；所述取反處理單元用于將所述測試信號中的時序控制信號取反處理并將經過取反處理的測試信號發送至所述橋接轉換器。在一些實施例中，所述測試信號中的時序控制信號的極性是根據所述測試信號中的時序控制信號的占空比來確定的。在一些實施例中，所述測試模塊包括信號源、信號轉換器和處理器，所述信號源用于生成所述測試信號；所述信號轉換器用于將所述信號源生成的所述測試信號轉換成晶體管-晶體管邏輯(Transistor-TransistorLogic，TTL)信號并發送至所述自適應模塊；以及所述處理器用于初始化配置所述橋接轉換器，根據所述橋接轉換器的初始化配置信息來確定所述橋接轉換器所要求的時序控制信號極性，生成對所述橋接轉換器所要求的時序控制信號極性加以指示的要求極性信息并發送至所述自適應模塊。在一些實施例中，所述要求極性信息是通過串口通信被發送至所述自適應模塊的。在一些實施例中，所述橋接轉換器為移動產業處理器接口(MobileIndustryProcessorInterface，MIPI)橋接芯片。本專利技術的另一方面提供了一種顯示模組的測試方法，包括：使測試信號中的時序控制信號的極性適應顯示模組的測試設備的橋接轉換器所要求的時序控制信號極性；以及利用所述橋接轉換器對經過極性適應的測試信號進行橋接轉換并發送給所述顯示模組。在一些實施例中，所述使測試信號中的時序控制信號的極性適應所述顯示模組的測試設備的所述橋接轉換器所要求的時序控制信號極性包括：確定所述測試信號中的時序信號的極性；以及確定所述測試信號中的時序信號的極性是否與所述橋接轉換器所要求的時序控制信號極性一致，如果是，則將所述測試信號發送至所述橋接轉換器，否則將所述測試信號中的時序控制信號取反處理并將經過取反處理的測試信號發送至所述橋接轉換器。在一些實施例中，所述測試信號中的時序控制信號的極性是根據所述測試信號中的時序控制信號的占空比來確定的。在一些實施例中，在所述使測試信號中的時序控制信號的極性適應所述顯示模組的測試設備的所述橋接轉換器所要求的時序控制信號極性之前，還包括：生成測試信號，并將生成的測試信號轉換成晶體管-晶體管邏輯TTL信號；以及初始化配置所述橋接轉換器，并根據所述橋接轉換器的初始化配置信息來確定所述橋接轉換器所要求的時序控制信號極性。附圖說明為了更清楚地說明本專利技術實施例的技術方案，下面將對實施例的附圖作簡單介紹，顯而易見地，下面的描述中的附圖僅涉及本專利技術的一些實施例，而非對本專利技術的限制。圖1示出了根據本專利技術的實施例的顯示模組的測試設備的圖。圖2示出了根據本專利技術的實施例的顯示模組的測試方法的圖。圖3示出了根據本專利技術的實施例的顯示模組的測試設備的框圖。圖4示出了根據本專利技術的實施例的顯示模組的測試方法的流程圖。圖5a和5b示出了測試信號的示例的時序圖。具體實施方式為使本專利技術實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本專利技術實施例的附圖，對本專利技術實施例的技術方案進行清楚、完整的描述。顯然所描述的實施例是本專利技術的一部分實施例，而不是全部的實施例。基于所描述的本專利技術的實施例，本領域普通技術人員在無需創造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本專利技術保護的范圍。圖1示出了根據本專利技術的實施例的顯示模組的測試設備100的圖。本實施例中所述的顯示模組包括但不限于諸如液晶屏之類的顯示屏、集成在觸摸屏中的顯示屏部分等等。如圖1所示，顯示模組的測試設備100包括測試模塊110、自適應模塊120和橋接轉換器130。測試模塊110用于向自適應模塊120發送測試信號和要求極性信息，要求極性信息用于指示橋接轉換器130所要求的時序控制信號極性。測試信號可以包括數據使能(DataEnable，DE)信號、同步(Synchronization，SYNC)信號和紅綠藍(RedGreenBlue，RGB)數據，測試信號中的時序控制信號可以包括DE信號和SYNC信號。在一些實施例中，要求極性信息可以通過串口通信被發送至自適應模塊120。自適應模塊120用于從測試模塊110接收測試信號和要求極性信息，使測試信號中的時序控制信號的極性適應要求極性信息中指示橋接轉換器130所要求的時序控制信號極性，并將經過極性適應的測試信號發送至橋接轉換器130。在一些實施例中，測試信號中的時序控制信號的極性可以是根據測試信號中的時序控制信號的占空比來確定的。橋接轉換器130用于從自適應模塊120接收經過極性適應的測試信號，對接收到的經過極性適應的測試信號進行橋接轉換并發送給所述顯示模組。在一些實施例中，橋接轉換器130可以為MIPI橋接芯片，例如SSD2828或SSD2858等。通常，MIPI橋接芯片對于測試信號中的RGB數據沒有極性要求，但對于DE和SYNC信號的極性要求較為嚴格，當經過轉換的傳輸到MIPI橋接芯片的DE和SYNC信號極性與MIPI橋接芯片要求的不同時會導致MIPI橋接芯片配置不正確，最終導致點燈異常或者無法點亮。本專利技術的實施例通過使測試信號中的時序控制信號的極性適應測試設備的橋接轉換器所要求的時序控制信號極性，避免了由于測試設備生成的測試信本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種顯示模組的測試設備，包括：測試模塊、自適應模塊和橋接轉換器，所述測試模塊用于向所述自適應模塊發送測試信號和要求極性信息，所述要求極性信息指示所述橋接轉換器所要求的時序控制信號極性；所述自適應模塊用于從所述測試模塊接收所述測試信號和所述要求極性信息，使所述測試信號中的時序控制信號的極性適應所述要求極性信息中指示的橋接轉換器所要求的時序控制信號極性，并將經過極性適應的測試信號發送至所述橋接轉換器；所述橋接轉換器用于從所述自適應模塊接收所述經過極性適應的測試信號，對接收到的所述經過極性適應的測試信號進行橋接轉換并發送給所述顯示模組。

【技術特征摘要】
1.一種顯示模組的測試設備，包括：測試模塊、自適應模塊和橋接轉換器，所述測試模塊用于向所述自適應模塊發送測試信號和要求極性信息，所述要求極性信息指示所述橋接轉換器所要求的時序控制信號極性；所述自適應模塊用于從所述測試模塊接收所述測試信號和所述要求極性信息，使所述測試信號中的時序控制信號的極性適應所述要求極性信息中指示的橋接轉換器所要求的時序控制信號極性，并將經過極性適應的測試信號發送至所述橋接轉換器；所述橋接轉換器用于從所述自適應模塊接收所述經過極性適應的測試信號，對接收到的所述經過極性適應的測試信號進行橋接轉換并發送給所述顯示模組。2.根據權利要求1所述的顯示模組的測試設備，其中，所述自適應模塊包括確定單元、比較單元和取反處理單元，所述確定單元用于從所述測試模塊接收所述測試信號和所述要求極性信息，確定從所述測試信號中的時序信號的極性并生成對所述測試信號中的時序信號的極性加以指示的信號極性信息，將所述測試信號、所述要求極性信息和所述信號極性信息發送至所述比較單元；所述比較單元用于將所述要求極性信息與所述信號極性信息相比較，以確定所述測試信號中的時序信號的極性是否與所述橋接轉換器所要求的時序控制信號極性一致，如果是，則將所述測試信號發送至所述橋接轉換器，否則將所述測試信號發送至所述取反處理單元；所述取反處理單元用于將所述測試信號中的時序控制信號取反處理并將經過取反處理的測試信號發送至所述橋接轉換器。3.根據權利要求2所述的顯示模組的測試設備，其中，所述測試信號中的時序控制信號的極性是根據所述測試信號中的時序控制信號的占空比來確定的。4.根據權利要求1所述的顯示模組的測試設備，其中，所述測試模塊包括信號源、信號轉換器和處理器，所述信號源用于生成所述測試信號；所述信號轉換器用于將所述信號源生成的所述測試信號轉換成晶體管-晶體管邏輯TTL信號并...

【專利技術屬性】
技術研發人員：馬志鵬，趙麟瑄，陶子英，
申請(專利權)人：昆山龍騰光電有限公司，
類型：發明
國別省市：江蘇;32