檢測壓接質量的方法、裝置及系統制造方法及圖紙

本發明專利技術公開了一種檢測壓接質量的方法、裝置及系統。其中，該方法包括：發射超聲波至待檢測的壓接型金具的預定部位；獲取預定部位的超聲波的反射圖譜，其中，反射圖譜用于記錄超聲波的反射波形；將反射圖譜與對應的預設標準反射圖譜進行比對，得到比對結果；根據比對結果確定壓接型金具的壓接質量是否合格。本發明專利技術解決了相關技術中無法對運行中的壓接型金具進行非破壞性壓接質量檢測的技術問題。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及質量檢測領域，具體而言，涉及一種檢測壓接質量的方法、裝置及系統。
技術介紹
運行中的架空輸電線路出現掉線等線路事故，嚴重危害電網的安全運行，甚至造成難以預估的電網、人身事故，產生非常惡劣的社會影響，開展導線壓接質量檢測工作具有重要意義。目前輸電線路工程中，對壓接型金具的壓接質量檢測方法為壓接后進行外觀尺寸檢測和握力試驗，其中，外觀尺寸檢測無法檢測出金具內部的壓接狀態，無法直觀判斷金具的壓接質量。握力試驗是一種在試驗室進行的破壞性檢測方法，是一種抽查試驗，無法代表線路實際運行中金具的壓接狀態，還會造成金具和導線的損耗。上述檢測方法無法對施工現場壓接完成后的金具內部壓接狀態進行非破壞性的檢查與抽檢，更無法對高空中掛線后的壓接型金具進行壓接質量檢驗。因此無法從根本上排除此類壓接質量不合格所造成的重大事故的隱患。針對上述相關技術中無法對運行中的壓接型金具進行非破壞性壓接質量檢測的問題，目前尚未提出有效的解決方案。
技術實現思路
本專利技術實施例提供了一種檢測壓接質量的方法、裝置及系統，以至少解決相關技術中無法對運行中的壓接型金具進行非破壞性壓接質量檢測的技術問題。根據本專利技術實施例的一個方面，提供了一種檢測壓接質量的方法，包括：發射超聲波至待檢測的壓接型金具的預定部位；獲取預定部位的超聲波的反射圖譜，其中，反射圖譜用于記錄超聲波的反射波形；將反射圖譜與對應的預設標準反射圖譜進行比對，得到比對結果；根據比對結果確定壓接型金具的壓接質量是否合格。進一步地，獲取預定部位的超聲波的反射圖譜，包括：在預定部位存在空氣間隙的情況下，獲取預定部位的超聲波的全反射圖譜；在預定部位不存在空氣間隙的情況下，獲取預定部位的超聲波的部分反射圖譜。進一步地，將反射圖譜與對應的預設標準反射圖譜進行比對，包括：在獲取到預定部位的超聲波的全反射圖譜的情況下，將全反射圖譜與預設不合格的標準反射圖譜進行比對；在獲取到預定部位的超聲波的部分反射圖譜的情況下，將部分反射圖譜與預設合格的標準反射圖譜進行比對。進一步地，根據比對結果確定壓接型金具的壓接質量是否合格，包括：若比對結果為全反射圖譜與預設不合格的標準反射圖譜一致，確定壓接型金具的壓接質量不合格；若比對結果為部分反射圖譜與預設合格的標準反射圖譜一致，確定壓接型金具的壓接質量合格。進一步地，確定壓接型金具的壓接質量合格，包括：在預定長度范圍內繼續發射超聲波至壓接型金具的至少兩個檢測面，得到至少兩個檢測面的超聲波的反射圖譜；比對反射圖譜與預設合格的標準反射圖譜，得到比對結果；若比對結果一致，確定壓接型金具的壓接質量合格。進一步地，確定壓接型金具的壓接質量不合格，包括：在預定長度范圍內繼續發射超聲波至壓接型金具的至少兩個檢測面，得到至少兩個檢測面的超聲波的反射圖譜；比對反射圖譜與預設不合格的標準反射圖譜，得到比對結果；若比對結果一致，確定壓接型金具的壓接質量不合格。進一步地，確定壓接型金具的壓接質量不合格之后，包括：若檢測到反射圖譜與預設合格的標準反射圖譜一致，記錄反射圖譜發生變化的位置；根據反射圖譜發生變化的位置，確定壓接型金具的壓接深度。進一步地，發射超聲波至待檢測的壓接型金具的預定部位之前，還包括：調整反射圖譜中全反射波形的增益至預設值。根據本專利技術實施例的另一方面，還提供了一種檢測壓接質量的裝置，包括：發射模塊，用于發射超聲波至待檢測的壓接型金具的預定部位；獲取模塊，用于獲取預定部位的超聲波的反射圖譜，其中，反射圖譜用于記錄超聲波的反射波形；比對模塊，用于將反射圖譜與對應的預設標準反射圖譜進行比對，得到比對結果；確定模塊，用于根據比對結果確定壓接型金具的壓接質量是否合格。進一步地，獲取模塊包括：第一獲取子模塊，用于在預定部位存在空氣間隙的情況下，獲取預定部位的超聲波的全反射圖譜；第二獲取子模塊，用于在預定部位不存在空氣間隙的情況下，獲取預定部位的超聲波的部分反射圖譜。進一步地，比對模塊包括：第一比對子模塊，用于在獲取到預定部位的超聲波的全反射圖譜的情況下，將全反射圖譜與預設不合格的標準反射圖譜進行比對；第二比對子模塊，用于在獲取到預定部位的超聲波的部分反射圖譜的情況下，將部分反射圖譜與預設合格的標準反射圖譜進行比對。進一步地，第一確定模塊，包括：第一確定子模塊，用于若比對結果為全反射圖譜與預設不合格的標準反射圖譜一致，確定壓接型金具的壓接質量不合格；第二確定子模塊，用于若比對結果為部分反射圖譜與預設合格的標準反射圖譜一致，確定壓接型金具的壓接質量合格。進一步地，第一確定子模塊，包括：第一發射單元，用于在預定長度范圍內繼續發射超聲波至壓接型金具的至少兩個檢測面，得到至少兩個檢測面的超聲波的反射圖譜；第一比對單元，用于比對反射圖譜與預設合格的標準反射圖譜，得到比對結果；第一確定單元，用于若比對結果一致，確定壓接型金具的壓接質量合格。進一步地，第二確定子模塊，包括：第一發射單元，用于在預定長度范圍內繼續發射超聲波至壓接型金具的至少兩個檢測面，得到至少兩個檢測面的超聲波的反射圖譜；第一比對單元，用于比對反射圖譜與預設不合格的標準反射圖譜，得到比對結果；第一確定單元，用于若比對結果一致，確定壓接型金具的壓接質量不合格。進一步地，上述裝置還包括：記錄模塊，用于若檢測到反射圖譜與預設合格的標準反射圖譜一致，記錄反射圖譜發生變化的位置；第二確定模塊，用于根據反射圖譜發生變化的位置，確定壓接型金具的壓接深度。進一步地，上述裝置還包括：調整模塊，用于調整反射圖譜中全反射波形的增益至預設值。根據本專利技術實施例的另一方面，還提供了一種檢測壓接質量的系統，包括：至少一個壓接型金具；至少一個超聲波探測儀，用于探測至少一個壓接型金具的壓接質量是否合格。進一步地，超聲波探測儀包括：探測頭，與超聲波探測儀連接，用于發送超聲波至壓接型金具的預定區域內；處理器，位于超聲波探測儀內，用于接收并處理超聲波的反射波；顯示屏，與處理器連接，用于顯示超聲波的反射圖譜。在本專利技術實施例中，采用超聲波探測的方式，通過發射超聲波至待檢測的壓接型金具的預定部位；獲取預定部位的超聲波的反射圖譜，其中，反射圖譜用于記錄超聲波的反射波形；將反射圖譜與對應的預設標準反射圖譜進行比對，得到比對結果；根據比對結果確定待檢測的壓接型金具的壓接質量是否合格，達到了檢測壓接型金具壓接質量是否合格的目的，從而實現了提高壓接型金具的質量檢測準確率的技術效果，進而解決了相關技術中無法對運行中的壓接型金具進行非破壞性壓接質量檢測的技術問題。附圖說明此處所說明的附圖用來提供對本專利技術的進一步理解，構成本申請的一部分，本專利技術的示意性實施例及其說明用于解釋本專利技術，并不構成對本專利技術的不當限定。在附圖中：圖1是根據本專利技術實施例的一種檢測壓接質量的方法流程圖；圖2是根據本專利技術實施例的一種可選的超聲波檢測壓接金具示意圖；圖3(a)是根據本專利技術實施例的另一種可選的超聲波檢測方向示意圖；圖3(b)是根據本專利技術實施例的另一種可選的壓接橫截面示意圖；圖4是根據本專利技術實施例的一種檢測壓接質量的裝置示意圖；以及圖5是根據本專利技術實施例的一種可選的檢測壓接質量的裝置示意圖。具體實施方式為了使本
的人員更好地理解本專利技術方案，下面將結合本專利技術實施例中的附圖，對本專利技術實施例中的技術方案進行清楚本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種檢測壓接質量的方法，其特征在于，包括：發射超聲波至待檢測的壓接型金具的預定部位；獲取所述預定部位的超聲波的反射圖譜，其中，所述反射圖譜用于記錄所述超聲波的反射波形；將所述反射圖譜與對應的預設標準反射圖譜進行比對，得到比對結果；根據所述比對結果確定所述壓接型金具的壓接質量是否合格。

【技術特征摘要】
1.一種檢測壓接質量的方法，其特征在于，包括：發射超聲波至待檢測的壓接型金具的預定部位；獲取所述預定部位的超聲波的反射圖譜，其中，所述反射圖譜用于記錄所述超聲波的反射波形；將所述反射圖譜與對應的預設標準反射圖譜進行比對，得到比對結果；根據所述比對結果確定所述壓接型金具的壓接質量是否合格。2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，獲取所述預定部位的超聲波的反射圖譜，包括：在所述預定部位存在空氣間隙的情況下，獲取所述預定部位的超聲波的全反射圖譜；在所述預定部位不存在空氣間隙的情況下，獲取所述預定部位的超聲波的部分反射圖譜。3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，將所述反射圖譜與對應的預設標準反射圖譜進行比對，包括：在獲取到所述預定部位的超聲波的全反射圖譜的情況下，將所述全反射圖譜與預設不合格的標準反射圖譜進行比對；在獲取到所述預定部位的超聲波的部分反射圖譜的情況下，將所述部分反射圖譜與預設合格的標準反射圖譜進行比對。4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述比對結果確定所述壓接型金具的壓接質量是否合格，包括：若所述比對結果為所述全反射圖譜與預設不合格的標準反射圖譜一致，確定所述壓接型金具的壓接質量不合格；若所述比對結果為所述部分反射圖譜與預設合格的標準反射圖譜一致，確定所述壓接型金具的壓接質量合格。5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，確定所述壓接型金具的壓接質量合格，包括：在預定長度范圍內繼續發射超聲波至所述壓接型金具的至少兩個檢測面，得到所述至少兩個檢測面的超聲波的反射圖譜；比對所述反射圖譜與所述預設合格的標準反射圖譜，得到比對結果；若所述比對結果一致，確定所述壓接型金具的壓接質量合格。6.根據權利...

【專利技術屬性】
技術研發人員：李春生，周愷，蔡瀛淼，王謙，張祎果，葉寬，楊亮，
申請(專利權)人：國網北京市電力公司，國家電網公司，
類型：發明
國別省市：北京;11