一種檢測裝置、方法及電子設備制造方法及圖紙

本發明專利技術提供一種檢測裝置，所述檢測裝置包括：發送模塊、接口模塊、及檢測模塊；發送模塊，用于確定需要檢測交流電容耦合信號電路的工作狀態時，將高電平狀態指示信息發送給接口模塊；在接口模塊的工作狀態轉化為高電平狀態的預設時間段后，將讀取狀態指示信息發送給接口模塊；接口模塊，用于收到高電平狀態指示信息時，根據高電平狀態指示信息將自身的工作狀態轉化為高電平狀態；收到讀取狀態指示信息時，根據讀取狀態指示信息將自身的工作狀態轉化為讀取狀態；檢測模塊，用于在接口模塊的工作狀態轉化為讀取狀態時，檢測接口模塊的工作電壓自開始降低至最后電壓為零的時間以作為延時值，根據延時值及對應的預定延時值確定交流電容耦合信號電路的工作狀態。本發明專利技術還提供一種檢測方法及電子設備。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種測控
，特別是涉及一種檢測裝置、方法及電子設備。
技術介紹
由于在高速信號中，Sink端的直流偏置電壓和source端的直流偏置電壓不一樣，故要采用交流電容耦合信號，所以SATA、PCIE、USB3.0等差分線通常都會串接0.1uf的電容。基于電容的特性，加入了0.1uf電容的線路，會隔斷整條交流電容耦合信號線路，普通檢測電路只能檢測交流電容耦合信號線路是否有短路，對于交流電容耦合信號線路中是否有缺件、錯件及開路的情況則無法檢測。
技術實現思路
鑒于以上所述現有技術的缺點，本專利技術的目的在于提供一種檢測裝置、方法及電子設備，用于解決現有技術中無法檢測交流電容耦合信號電路中是否有缺件、錯件及開路的問題。為實現上述目的及其他相關目的，本專利技術提供一種檢測裝置，包括一交流電容耦合信號電路，所述交流電容耦合信號電路包括一第一電容及一第一電阻，所述第一電容的一端與所述第一電阻的一端及所述檢測裝置連接，所述第一電容的另一端連接第一電源，所述第一電阻的另一端接地；所述檢測裝置包括：一發送模塊、一接口模塊、及一檢測模塊；其中，所述發送模塊，用于確定需要檢測所述交流電容耦合信號電路的一工作狀態時，將一高電平狀態指示信息發送給所述接口模塊；在所述接口模塊的一工作狀態轉化為一高電平狀態的一預設時間段后，將一讀取狀態指示信息發送給所述接口模塊；所述接口模塊，用于接收到所述高電平狀態指示信息時，根據所述高電平狀態指示信息將自身的所述工作狀態轉化為所述高電平狀態；接收到所述讀取狀態指示信息時，根據所述讀取狀態指示信息將自身的所述工作狀態轉化為一讀取狀態；所述檢測模塊，用于在所述接口模塊的所述工作狀態轉化為所述讀取狀態時，檢測所述接口模塊的一工作電壓自開始降低至最后電壓為零的時間以作為一延時值，根據所檢測的所述延時值及所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的一預定延時值確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態。優選地，所述檢測模塊具體用于：將所述延時值及所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的一第一延時值進行比較；若所述延時值小于或等于所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第一延時值，則確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為一開路狀態；否則，將所述延時值與所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的一第二延時值進行比較；若所述延時值與所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第二延時值相同，則確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為一正常狀態；若所述延時值與所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第二延時值不相同，則確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為一錯件或缺件狀態。優選地，所述檢測模塊具體用于：將所述延時值及所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第一延時值進行比較；若所述延時值小于或等于所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第一延時值，則確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為所述開路狀態；否則，計算所述延時值與所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第二延時值的差值；將所述差值與一閾值進行比較；若所述差值小于或等于所述閾值，則確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為所述正常狀態；若所述差值大于所述閾值，則確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為所述錯件或缺件狀態；其中，所述第一延時值小于所述第二延時值。優選地，所述檢測模塊，還用于在所述接口模塊的所述工作狀態轉化為所述讀取狀態后，且所述接口模塊的所述工作電壓自開始降低至最后電壓為接近零的情況下，確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為一短路狀態。基于上述裝置，本專利技術實施例提供了一種檢測方法，所述方法包括：所述發送模塊確定需要檢測所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態時，將所述高電平狀態指示信息發送給所述接口模塊；所述接口模塊根據所述高電平狀態指示信息將自身的所述工作狀態轉化為所述高電平狀態；所述發送模塊在所述接口模塊的所述工作狀態轉化為所述高電平狀態的所述預設時間段后，將所述讀取狀態指示信息發送給所述接口模塊；所述接口模塊根據所述讀取狀態指示信息將自身的所述工作狀態轉化為所述讀取狀態；所述檢測模塊在所述接口模塊的所述工作狀態轉化為所述讀取狀態時，檢測所述接口模塊的所述工作電壓自開始降低至最后電壓為零的時間以作為所述延時值，根據所檢測的所述延時值及所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述預定延時值確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態。優選地，所述根據所檢測的所述延時值及所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述預定延時值確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態，包括：將所述延時值及所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第一延時值進行比較；若所述延時值小于或等于所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第一延時值，則確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為所述開路狀態；否則，將所述延時值與所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第二延時值進行比較；若所述延時值與所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第二延時值相同，則確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為所述正常狀態；若所述延時值與所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第二延時值不相同，則確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為所述錯件或缺件狀態；其中，所述第一延時值小于所述第二延時值。優選地，所述根據所檢測的所述延時值及所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述預定延時值確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態，包括：將所述延時值及所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第一延時值進行比較；若所述延時值小于或等于所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第一延時值，則確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為所述開路狀態；否則，計算所述延時值與所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第二延時值的差值；將所述差值與所述閾值進行比較；若所述差值小于或等于所述閾值，則確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為所述正常狀態；若所述差值大于所述閾值，則確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為所述錯件或缺件狀態；其中，所述第一延時值小于所述第二延時值。優選地，所述方法還包括：所述檢測模塊在所述接口模塊的所述工作狀態轉化為所述讀取狀態后，且所述接口模塊的所述工作電壓自開始降低至最后電壓為接近零的情況下，確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為所述短路狀態。基于上述裝置，本專利技術實施例還提供了一種電子設備，所述電子設備包括：上述的檢測裝置。如上所述，本專利技術提供的檢測裝置、方法及電子設備，包括交流電容耦合信號電路，所述交流電容耦合信號電路包括第一電容及第一電阻，所述第一電容的一端與所述第一電阻的一端及所述檢測裝置連接，所述第一電容的另一端連接第一電源，所述第一電阻的另一端接地；所述檢測裝置包括：發送模塊、接口模塊、及檢測模塊；其中，所述發送模塊，用于確定需要檢測所述交流電容耦合信號電路的工作狀態時，將高電平狀態指示信息發送給所述接口模塊；在所述接口模塊的工作狀態轉化為高電平狀態的預設時間段后，將讀取狀態指示本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種檢測裝置，其特征在于，包括一交流電容耦合信號電路，所述交流電容耦合信號電路包括一第一電容及一第一電阻，所述第一電容的一端與所述第一電阻的一端及所述檢測裝置連接，所述第一電容的另一端連接第一電源，所述第一電阻的另一端接地；所述檢測裝置包括：一發送模塊、一接口模塊、及一檢測模塊；其中，所述發送模塊，用于確定需要檢測所述交流電容耦合信號電路的一工作狀態時，將一高電平狀態指示信息發送給所述接口模塊；在所述接口模塊的所述工作狀態轉化為所述高電平狀態的一預設時間段后，將一讀取狀態指示信息發送給所述接口模塊；所述接口模塊，用于接收到所述高電平狀態指示信息時，根據所述高電平狀態指示信息將自身的所述工作狀態轉化為所述高電平狀態；接收到所述讀取狀態指示信息時，根據所述讀取狀態指示信息將自身的所述工作狀態轉化為所述讀取狀態；所述檢測模塊，用于在所述接口模塊的所述工作狀態轉化為所述讀取狀態時，檢測所述接口模塊的一工作電壓自開始降低至最后電壓為零的時間以作為一延時值，根據所檢測的所述延時值及所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的一預定延時值確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態。

【技術特征摘要】
1.一種檢測裝置，其特征在于，包括一交流電容耦合信號電路，所述交流電容耦合信號電路包括一第一電容及一第一電阻，所述第一電容的一端與所述第一電阻的一端及所述檢測裝置連接，所述第一電容的另一端連接第一電源，所述第一電阻的另一端接地；所述檢測裝置包括：一發送模塊、一接口模塊、及一檢測模塊；其中，所述發送模塊，用于確定需要檢測所述交流電容耦合信號電路的一工作狀態時，將一高電平狀態指示信息發送給所述接口模塊；在所述接口模塊的所述工作狀態轉化為所述高電平狀態的一預設時間段后，將一讀取狀態指示信息發送給所述接口模塊；所述接口模塊，用于接收到所述高電平狀態指示信息時，根據所述高電平狀態指示信息將自身的所述工作狀態轉化為所述高電平狀態；接收到所述讀取狀態指示信息時，根據所述讀取狀態指示信息將自身的所述工作狀態轉化為所述讀取狀態；所述檢測模塊，用于在所述接口模塊的所述工作狀態轉化為所述讀取狀態時，檢測所述接口模塊的一工作電壓自開始降低至最后電壓為零的時間以作為一延時值，根據所檢測的所述延時值及所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的一預定延時值確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態。2.根據權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于：所述檢測模塊具體用于：將所述延時值及所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的一第一延時值進行比較；若所述延時值小于或等于所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第一延時值，則確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為一開路狀態；否則，將所述延時值與所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的一第二延時值進行比較；若所述延時值與所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第二延時值相同，則確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為一正常狀態；若所述延時值與所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第二延時值不相同，則確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為一錯件或缺件狀態。3.根據權利要求2所述的檢測裝置，其特征在于：所述檢測模塊具體用于：將所述延時值及所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第一延時值進行比較；若所述延時值小于或等于所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第一延時值，則確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為所述開路狀態；否則，計算所述延時值與所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態對應的所述第二延時值的一差值；將所述差值與一閾值進行比較；若所述差值小于或等于所述閾值，則確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為所述正常狀態；若所述差值大于所述閾值，則確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為所述錯件或缺件狀態；其中，所述第一延時值小于所述第二延時值。4.根據權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于：所述檢測模塊，還用于在所述接口模塊的所述工作狀態轉化為所述讀取狀態后，且所述接口模塊的所述工作電壓自開始降低至最后電壓為接近零的情況下，確定所述交流電容耦合信號電路的所述工作狀態為一短路狀態。5.一種基于權利要求1至4任一項所述檢測裝置實現的檢測方法...

【專利技術屬性】
技術研發人員：冉彥，
申請(專利權)人：英業達科技有限公司，英業達股份有限公司，
類型：發明
國別省市：上海;31