The invention discloses a testing method of evaluation system of a phased array system and performance evaluation system, including the first tower, set in the first position of the place; second tower, setting second position surface and the first position in the different, the first position and the second position at a predetermined distance value; radiation antenna is mounted at the top of the first tower; the two set in the radar transponder simulator, which is adjacent to the first position in the third position, and through the connecting cable and the radiation antenna connection; turntable is arranged at the top of the second tower, installed for carrying the simulation environmental testing machine among them, the simulation environment, the installed test machine is arranged in the phased array system and signal processing equipment; testing instrument, control line through the turntable and the turntable. Answer.
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及雷達
，特別涉及一種相控陣系統的測評系統及性能測試方法。
技術介紹
由于相控陣天線具有波束快速電掃，波束形狀捷變、天線與飛機平臺共形、多波束形成等優點，近年來得到快速發展，特別是在機載二次雷達領域逐步運用。相控陣天線一般與波束控制器組成相控陣系統，然后與后端接收/信號處理設備配合使用，連接框圖如圖1所示。在具體使用過程中，通常利用相控陣系統的∑/△(和/差)方向圖的幅度相位特性制作OBA表(Off-BoresightAngle)，從而在一次詢問/應答過程中便能測出目標所在角度，其中，相控陣天線在空間形成的∑/△方向圖如圖2所示。一般相控陣系統在進行裝機試飛之前，需要對∑/△方向圖進行測試，并生成OBA表下載到接收/信號處理設備中，需要完成單脈沖測角性能評估，以及完成波束調度、方位覆蓋、角度分辨力等系統性能評估。目前機載二次雷達相控陣系統的性能評估在微波暗室進行，如圖3所示，相控陣天線和波束控制器安裝在轉臺上，由電源對波束控制器進行供電，計算機對波束控制器進行控制。方向圖測試系統通過輻射天線向相控陣系統輻射信號，波束控制器將接收到的∑/△信號送方向圖測試系統，由方向圖測試系統根據轉臺角度和∑/△信號即可繪制出∑/△方向圖。但是相控陣系統通常受裝機環境影響較大，裝機后∑/△方向圖與微波暗室測試的∑/△方向圖有一定的差異，如果∑/△方向圖差異不加以修正，將對單脈沖測角等產生一定影響。因此需要將相控陣天線裝入模擬裝機環境進行測試，但是微波暗室較小，轉臺承受重量不足，無法將體積大、重量重的裝機環境模型安裝到微波暗室的轉臺上進行測試。可見，現有技...
【技術保護點】
一種相控陣系統的測評系統，包括：第一塔臺，設置在放置面的第一位置；第二塔臺，設置在所述放置面的與所述第一位置不同的第二位置，所述第一位置與所述第二位置相距一預設距離值；輻射天線，架設在所述第一塔臺的頂部；二次雷達應答模擬器，設置在與所述第一位置相鄰的第三位置上，并通過連接線將與所述輻射天線連接；轉臺，設置在所述第二塔臺的頂部，用于承載模擬裝機環境測試機，其中，所述模擬裝機環境測試機中設置有相控陣系統以及信號處理設備；測試儀，通過所述轉臺的控制線與所述轉臺連接。
【技術特征摘要】
1.一種相控陣系統的測評系統，包括：第一塔臺，設置在放置面的第一位置；第二塔臺，設置在所述放置面的與所述第一位置不同的第二位置，所述第一位置與所述第二位置相距一預設距離值；輻射天線，架設在所述第一塔臺的頂部；二次雷達應答模擬器，設置在與所述第一位置相鄰的第三位置上，并通過連接線將與所述輻射天線連接；轉臺，設置在所述第二塔臺的頂部，用于承載模擬裝機環境測試機，其中，所述模擬裝機環境測試機中設置有相控陣系統以及信號處理設備；測試儀，通過所述轉臺的控制線與所述轉臺連接。2.如權利要求1所述的系統，其特征在于，所述轉臺還包括轉臺匯流環，用于將所述信號處理設備的設備電纜通過所述轉臺匯流環后連接至所述測試儀。3.如權利要求2所述的系統，其特征在于，所述測試儀包括轉臺控制接口、接收/信號處理接口、測試邏輯與信號處理模塊、數據庫以及顯示與操作界面，其中，所述轉臺控制接口用于與所述轉臺進行通信，所述接收/信號處理接口負責用于與所述信號處理設備進行通信，所述測試邏輯與信號處理模塊用于根據用戶在所述顯示與操作界面上的操作產生測試邏輯，并通過所述轉臺控制接口及所述接收/信號處理接口控制所述轉臺和所述信號處理設備，完成對所述相控陣系統的性能測試，并將測試數據存儲在數據庫中以及顯示在所述顯示與操作界面上。4.如權利要求3所述的系統，其特征在于，所述系統還包括支架，設置在所述第一塔臺的頂部，用于架設所述輻射天線。5.一種相控陣系統的的性能測試方法，應用于如權利要求1中所述的測評系統中，包括：測試儀發送第一啟動指令至信號處理設備；所述信號處理設備在接收到所述第一啟動指令后，向相控陣系統發送第一詢問信號；二次雷達應答模擬器在接收到所述第一詢問信號后發射第一應答信號；所述相控陣系統在接收到所述第一應答信號后，將所述第一應答信號轉換為第一∑/△信號，并將所述第一∑/△信號發送至所述信號處理設備；所述信號處理設備獲取所述第一∑/△信號的第一幅度值及第一相位值，并將所述第一幅度值及所述第一相位值發送至所述測試儀，以使所述測試儀基于當前測試角度、所述第一幅度值及所述第一相位值，獲取所述相控陣系統的性能參數。6.如權利要求5所述的方法，其特征在于，所述性能參數包括∑/△方向圖和/或波束調度性能參數和/或方位覆蓋性能參數和/或角度分辨力性能參數。7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，在所述測試儀發送第一啟動指令至信號處理設備之前，所述方法還包括：所述測試儀發送第一波束調度指令至信號處理設備，其中，所述第一波束調度指令用于控制所述詢問信號的波束方向；所述信號處理設備通過所述相控陣系統，將所述波束方向調整至與所述第一波束調度指令對應的第一波束方向；所述測試儀發送第一轉臺調度指令至轉臺，以使所述轉臺將當前測試角度調整至于所述第一轉臺調度指令對應的第一角度。8.如權利要求7所述的方法，其特征在于，在所述信號處理設備獲取所述∑/△信號的幅度值及相位值，并將所述幅度值及所述相位值發送至所述測試儀之后，所述方法還包括：所述測試儀在接收到所述第一幅度值及所述第一相位值后，發送第二轉臺調度指令至所述轉臺，以使所述轉臺將所述當前測試角度由所述第一角度調整至與所述第二轉臺調度指令對應的第二角度。9.如權利要求8所述的方法，其特征在于，在所述發送第二轉臺調度指令至所述轉臺之后，所述方法還包括：所述測試儀發送第二啟動指令至所述信號處理設備；所述信號處理設備在接收到所述第二啟動指令后，向所述相控陣系統發送第二詢問信號；所述二次雷達應答模擬器在接收到所述第二詢問信號后發射第二應答信號；所述相控陣系統在接收到所述第二應答信號后，將所述第二應答信號轉換為第二∑/△信號，并將所述第二∑/△信號發送至所述信號處理設備；所述信號處理設備獲取所述第二∑/△信號的第二幅度值及第二相位值，并將所述第二幅度值及所述第二相位值發送至所述測試儀。10.如權利要求9所述的方法，其特征在于，在所述信號處理設備獲...
【專利技術屬性】
技術研發人員：楊先超，白寰，郭玲，
申請(專利權)人：四川九洲電器集團有限責任公司，
類型：發明
國別省市：四川;51
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