一種OGS觸摸屏的ITO走線反光檢查方法技術
ITO line reflection checking method for OGS touch screen
The invention discloses a touch screen OGS ITO line reflective inspection method, in the ITO line of adjacent line blank hollow rectangular array is provided, in order to eliminate the reflective inspection ITO go line shadow, then check the reflection. The invention can eliminate the shadow of the line, improve the quality of the OGS touch screen, and improve the reliability of the inspection.
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及OGS觸摸屏檢測方法領域，具體是一種OGS觸摸屏的ITO走線反光檢查方法。
技術介紹
OGS觸摸屏中ITO走線中，由于ITO走線整體面積較大，線路之間空白較多，因此在點亮OGS觸摸屏時易出現線路陰影。同時，在對OGS觸摸屏的ITO走線進行反光檢查時，也會由于相對的原因出現線路陰影，影響產品的整體品質和檢查效果。
技術實現思路
本專利技術的目的是提供一種OGS觸摸屏的ITO走線反光檢查方法，以解決現有技術OGS觸摸屏ITO走線線路陰影導致的問題。為了達到上述目的，本專利技術所采用的技術方案為：一種OGS觸摸屏的ITO走線反光檢查方法，其特征在于：在ITO走線相鄰線路之間空白處、每個線路內部空白處分別設置空心長方形陣列，利用空心長方形陣列減小ITO走線面積，以消除反光檢查時ITO走線線路影子，然后再進行反光檢查。所述的一種OGS觸摸屏的ITO走線反光檢查方法，其特征在于：相鄰線路之間空白處設置的空心長方形陣列為多行多列空心長方形陣列。所述的一種OGS觸摸屏的ITO走線反光檢查方法，其特征在于：線路內部空白處的空心長方形陣列為單列多行空心長方形陣列。本專利技術在相鄰線路空白處和每個線路內部空白處，分別設置空心長方形陣列，利用空心長方形陣列占據ITO走線空白處，以減小ITO走線面積，從而可消除線路的陰影，提高了OGS觸摸屏的品質，并提高了檢查可靠性。附圖說明圖1為本專利技術原理示意圖。具體實施方式如圖1所示，一種OGS觸摸屏的ITO走線反光檢查方法，在ITO走線相鄰線路1之間空白處、每個線路1內部空白處分別設置空心長方形陣列2，利用空心長方形陣列2減小...
【技術保護點】
一種OGS觸摸屏的ITO走線反光檢查方法，其特征在于：在ITO走線相鄰線路之間空白處、每個線路內部空白處分別設置空心長方形陣列，利用空心長方形陣列減小ITO走線面積，以消除反光檢查時ITO走線線路影子，然后再進行反光檢查。
【技術特征摘要】
1.一種OGS觸摸屏的ITO走線反光檢查方法，其特征在于：在ITO走線相鄰線路之間空白處、每個線路內部空白處分別設置空心長方形陣列，利用空心長方形陣列減小ITO走線面積，以消除反光檢查時ITO走線線路影子，然后再進行反光檢查。2.根據權利要求1所述的...
【專利技術屬性】
技術研發人員：肖新煌，林鐘泉，
申請(專利權)人：晟光科技股份有限公司，
類型：發明
國別省市：安徽;34
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