The invention discloses a display panel and a method for testing the display panel, the display panel includes a display part of the display section for displaying a variety of colors including a plurality of sub pixels, and a plurality of data lines connected to the sub pixels; the first test, the first test for each department color of the sub pixels to the plurality of data lines in the (2K 1) data line provides a test signal, wherein K is an integer greater than 0; and the second test, the second test department for providing the test signal in the first test, the 2K to the plurality of data lines in the data line test signal in accordance with each color of the sub pixels, the polarity of the test signal provided by the second test portion of the polarity and provided by the first test of the test signal on the contrary .
【技術實現步驟摘要】
顯示面板及用于測試顯示面板的方法本申請要求2012年11月23日提交的韓國專利申請No.10-2012-0133434的優先權,在此援引該專利申請作為參考,如同在這里完全闡述一樣。
本專利技術的實施方式涉及一種顯示面板以及用于測試顯示面板是否正常操作的方法。
技術介紹
可通過包括顯示面板的照明測試工藝在內的各種工藝來制造諸如液晶顯示器(LCD)、有機照明二極管(OLED)、等離子體顯示面板(PDP)和電泳顯示器(EPD)這樣的顯示裝置。更詳細地說,在顯示裝置中包含的顯示面板上顯示圖像??赏ㄟ^向顯示面板提供預定的測試信號并測試顯示面板是否根據預定的測試信號正常操作,進行照明測試工藝。例如,圖1是圖解現有技術的顯示面板的示意圖,圖2是圖解當進行照明測試工藝時顯示面板的示意圖。參照圖1,現有技術的顯示面板10包括顯示部11和測試部12。顯示部11包括由多條柵極線GL1到GLn和多條數據線DL1到DLm限定的多個子像素SP,其中柵極線和數據線彼此交叉。多條數據線DL1到DLm還與測試部12連接。此外,測試部12向數據線DL1到DLm相對于公共電壓Vcom交替提供正極性(+)測試信號和負極性(-)測試信號。也就是說,測試部12向數據線DL1到DLm傳送從測試裝置提供的正極性(+)測試信號和負極性(-)測試信號,由此正極性(+)測試信號和負極性(-)測試信號被交替提供給數據線DL1到DLm。數據線DL1到DLm通過一條連接線還與測試部12連接。在測試部12向數據線DL1到DLm交替提供正極性(+)測試信號和負極性(-)測試信號時,根據現有技術的顯示面板10中包含的子像 ...
【技術保護點】
一種用于測試顯示面板的方法,所述顯示面板包括用于顯示第一顏色的多個第一子像素、用于顯示第二顏色的多個第二子像素以及用于顯示第三顏色的多個第三子像素,其中所述顯示面板還包括:第一測試焊盤,所述第一測試焊盤用于與測試裝置接觸以從所述測試裝置接收第一測試信號;第二測試焊盤,所述第二測試焊盤用于與所述測試裝置接觸以從所述測試裝置接收第二測試信號;第三測試焊盤,所述第三測試焊盤用于與所述測試裝置接觸以從所述測試裝置接收所述第一測試信號;第一連接線,所述第一連接線連接所述第一測試焊盤和與顯示第一顏色的第一子像素連接的多條第一數據線中的第(2K?1)條第一數據線;第二連接線,所述第二連接線連接所述第二測試焊盤和與顯示第二顏色的第二子像素連接的多條第二數據線中的第(2K?1)條第二數據線;以及第三連接線,所述第三連接線連接所述第三測試焊盤和與顯示第三顏色的第三子像素連接的多條第三數據線中的第(2K?1)條第三數據線,所述方法包括如下步驟:向與所述第一子像素連接的多條第一數據線中的第(2K?1)條第一數據線提供所述第一測試信號,其中K是大于0的整數;以及在向第(2K?1)條第一數據線提供所述第一測試信號 ...
【技術特征摘要】
2012.11.23 KR 10-2012-01334341.一種用于測試顯示面板的方法,所述顯示面板包括用于顯示第一顏色的多個第一子像素、用于顯示第二顏色的多個第二子像素以及用于顯示第三顏色的多個第三子像素,其中所述顯示面板還包括:第一測試焊盤,所述第一測試焊盤用于與測試裝置接觸以從所述測試裝置接收第一測試信號;第二測試焊盤,所述第二測試焊盤用于與所述測試裝置接觸以從所述測試裝置接收第二測試信號;第三測試焊盤,所述第三測試焊盤用于與所述測試裝置接觸以從所述測試裝置接收所述第一測試信號;第一連接線,所述第一連接線連接所述第一測試焊盤和與顯示第一顏色的第一子像素連接的多條第一數據線中的第(2K-1)條第一數據線;第二連接線,所述第二連接線連接所述第二測試焊盤和與顯示第二顏色的第二子像素連接的多條第二數據線中的第(2K-1)條第二數據線;以及第三連接線,所述第三連接線連接所述第三測試焊盤和與顯示第三顏色的第三子像素連接的多條第三數據線中的第(2K-1)條第三數據線,所述方法包括如下步驟:向與所述第一子像素連接的多條第一數據線中的第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號,其中K是大于0的整數;以及在向第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號時,向所述多條第一數據線中的第2K條第一數據線提供與所述第一測試信號具有相反極性的所述第二測試信號,以交替地照明與第(2K-1)條第一數據線連接的第一子像素和與第2K條第一數據線連接的第一子像素。2.根據權利要求1所述的方法,其中通過向與顯示紅色的第一子像素連接的第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號,執行向第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號的步驟。3.根據權利要求1所述的方法,還包括如下步驟:在向第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號時,向與所述第二子像素連接的多條第二數據線中的第(2K-1)條第二數據線提供所述第二測試信號;在向第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號時,向第2K條第二數據線提供所述第一測試信號,以交替地照明與第(2K-1)條第二數據線連接的第二子像素和與第2K條第二數據線連接的第二子像素;在向第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號時,向與所述第三子像素連接的多條第三數據線中的第(2K-1)條第三數據線提供所述第一測試信號;以及在向第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號時,向第2K條第三數據線提供所述第二測試信號,以交替地照明與第(2K-1)條第三數據線連接的第三子像素和與第2K條第三數據線連接的第三子像素。4.根據權利要求3所述的方法,其中向第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號的步驟包括:向與顯示紅色的第一子像素連接的第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號,其中向第(2K-1)條第二數據線提供所述第二測試信號的步驟包括:向與顯示綠色的第二子像素連接的第(2K-1)條第二數據線提供所述第二測試信號,以及其中向第(2K-1)條第三數據線提供所述第一測試信號的步驟包括:向與顯示藍色的第三子像素連接的第(2K-1)條第三數據線提供所述第一測試信號。5.根據權利要求1所述的方法,還包括:在改變所述測試信號的電壓之后,重復執行提供所述第一測試信號的步驟和提供所述第二測試信號的步驟。6.一種顯示面板,包括:顯示部,所述顯示部包括用于顯示多種顏色的多個子像素、以及與所述子像素連接的多條數據線;第一測試部,所述第一測試部用于按照所述子像素的每種顏色向所述多條數據線中的第(2K-1)條數據線提供測試信號,其中K是大于0的整數;以及第二測試部,所述...
【專利技術屬性】
技術研發人員:樸宰徹,樸濟炯,
申請(專利權)人:樂金顯示有限公司,
類型:發明
國別省市:韓國,KR
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