一種磁通量3D測試平臺制造技術

本實用新型專利技術公開并提供了一種結構合理、測量方便、測量精度高的采用X/Y/Z三軸立體移動的磁通量3D測試平臺。本實用新型專利技術包括底板（1）以及分別設置在所述底板（1）上的產品固定臺（2）、產品A側X/Z軸測試機構以及產品B側X/Y/Z軸測試機構，所述產品固定臺（2）設置在所述底板（1）的中央，所述產品A側X/Z軸測試機構以及所述產品B側X/Y/Z軸測試機構分別設置在所述產品固定臺（2）的左右兩側，所述產品A側X/Z軸測試機構以及所述產品B側X/Y/Z軸測試機構分別與外部控制器相連接。本實用新型專利技術適用于電子產品外殼的磁通量檢測。

【技術實現步驟摘要】
一種磁通量3D測試平臺
本技術涉及一種磁通量3D測試平臺。
技術介紹
隨著技術的發展，電與磁的結合在電子消費品中越來越普遍。而該類電子產品的磁通量的分布通常都是在產品的兩側沿輪廓線分別分布有個和個不同規格的磁體含磁極方向不同及磁量大小不同。因此該類電子產品的磁通量的測量要求在離產品表面圓弧面指定距離0.1mm±0.3mm垂直于磁體表面針對電子產品的外殼內嵌的磁體的磁通量進行準確的、立體的測量。但目前針對于電子產品磁通量的測量都是采用單極測量法，而磁通量是個矢量，磁力線的分布是發散的，因此單極測量并不能反影出磁通量的真實情況；磁通量是跟位置有關的，傳統的方式很難實現0.1mm±0.3mm垂直于磁體表面的位置要求；同時，傳統的方式是以產品的表面為基準，采用接觸式機械運動的方式來保證測量距離，其控制精度不高且容易損傷產品的表面。
技術實現思路
本技術所要解決的技術問題是克服現有技術的不足，提供一種結構合理、測量方便、測量精度高的采用X/Y/Z三軸立體移動的磁通量3D測試平臺。本技術所采用的技術方案是：本技術包括底板以及分別設置在所述底板上的產品固定臺、產品A側X/Z軸測試機構以及產品B側X/Y/Z軸測試機構，所述產品固定臺設置在所述底板的中央，所述產品A側X/Z軸測試機構以及所述產品B側X/Y/Z軸測試機構分別設置在所述產品固定臺的左右兩側，所述產品A側X/Z軸測試機構以及所述產品B側X/Y/Z軸測試機構分別與外部控制器相連接。所述A側X/Z軸測試機構包括第一X軸導軌、第一X軸滑塊、第一Z軸升降軌、第一Z軸升降塊、A側磁感應探頭、第一CCD相機以及第一光源發射燈，所述第一X軸導軌固定設置在所述底板上并置于所述產品固定臺的左側，所述第一X軸滑塊活動適配設置在所述第一X軸導軌上，所述第一Z軸升降軌固定設置在所述第一X軸滑塊上，所述第一Z軸升降塊活動適配設置在所述第一Z軸升降軌上，所述A側磁感應探頭、所述第一CCD相機以及所述第一光源發射燈分別固定設置在所述第一Z軸升降塊上，所述A側磁感應探頭以及所述第一CCD相機分別與外部控制器相連接。所述A側磁感應探頭固定設置在所述第一Z軸升降塊的前端面上，所述第一CCD相機以及所述第一光源發射燈分別固定設置在所述第一Z軸升降塊的后端面上，所述第一光源發射燈置于所述第一CCD相機的鏡頭的前方。所述第一X軸導軌的尾端設置有第一X軸伺服電機，所述第一X軸伺服電機的輸出端通過傳動鏈與所述第一X軸滑塊相連接，所述第一Z軸升降軌的頂端設置有第一Z軸伺服電機，所述第一Z軸伺服電機的輸出端通過傳動鏈與所述第一Z軸升降塊相連接。產品B側X/Y/Z軸測試機構包括第二X軸導軌、第二X軸滑塊、第二Z軸升降軌、第三Z軸升降軌、第二CCD相機、第二光源發射燈、Y軸導軌、激光位移傳感器以及B側磁感應探頭，所述第二X軸導軌固定設置在所述底板上并置于所述產品固定臺的右側，所述第二X軸滑塊活動適配設置在所述第二X軸導軌上，所述第二Z軸升降軌以及所述第三Z軸升降軌分別固定設置在所述第二X軸滑塊上，所述第二CCD相機以及所述第二光源發射燈分別活動設置在所述第二Z軸升降軌上，所述Y軸導軌以及所述激光位移傳感器分別活動設置在所述第三Z軸升降軌上，所述B側磁感應探頭活動設置在所述Y軸導軌上。所述第二Z軸升降軌上活動設置有第二Z軸升降塊，所述第二CCD相機以及所述第二光源發射燈分別固定設置在所述第二Z軸升降塊上，所述第二光源發射燈置于所述第二CCD相機鏡頭的前方。所述第三Z軸升降軌上活動設置有第三Z軸升降塊，所述Y軸導軌以及所述激光位移傳感器分別固定設置在所述第三Z軸升降塊上，所述Y軸導軌上活動設置有Y軸活動塊，所述B側磁感應探頭固定設置在所述Y軸活動塊上。所述第二X軸導軌的尾端上設置有第二X軸伺服電機，所述第二X軸伺服電機的輸出端通過傳動鏈與所述第二X軸滑塊相連接。所述第二Z軸升降軌的頂端設置有第二Z軸伺服電機，所述第二Z軸伺服電機的輸出端通過傳動鏈與所述第二Z軸升降塊相連接，所述第二CCD相機以及所述第二Z軸伺服電機分別與外部控制器相連接。所述第三Z軸升降軌的頂端設置有第三Z軸伺服電機，所述第三Z軸伺服電機的輸出端通過傳動鏈與所述第三Z軸升降塊相連接，所述Y軸導軌的尾端上設置有Y軸伺服電機，所述Y軸伺服電機的輸出端通過傳動鏈與所述Y軸活動塊相連接，所述第三Z軸伺服電機、所述Y軸伺服電機、所述激光位移傳感器以及所述B側磁感應探頭分別與外部控制器相連接。本技術的有益效果是：在本技術中，由于分別設置有產品A側X/Z軸測試機構以及產品B側X/Y/Z軸測試機構，所以能夠對待測產品的多個側邊進行基于X/Y/Z的立體磁通量檢測；又由于采用了CCD成像系統來捕捉距離，配合激光位移傳感器使用，能夠實現精確的測量位置的控制，同時，還采用了非接觸式測距方式配合精密的伺服系統來控制測量距離的準確性及穩定性。附圖說明圖1是本技術的整體結構示意圖；圖2是本技術的產品A側X/Z軸測試機構的結構示意圖；圖3是本技術的產品B側X/Y/Z軸測試機構的結構示意圖。具體實施方式如圖1、圖2、圖3所示，本技術包括底板1以及分別設置在所述底板1上的產品固定臺2、產品A側X/Z軸測試機構以及產品B側X/Y/Z軸測試機構，所述產品固定臺2設置在所述底板1的中央，所述產品A側X/Z軸測試機構以及所述產品B側X/Y/Z軸測試機構分別設置在所述產品固定臺2的左右兩側，所述產品A側X/Z軸測試機構以及所述產品B側X/Y/Z軸測試機構分別與外部控制器相連接。所述A側X/Z軸測試機構包括第一X軸導軌31、第一X軸滑塊32、第一Z軸升降軌33、第一Z軸升降塊34、A側磁感應探頭35、第一CCD相機36以及第一光源發射燈37，所述第一X軸導軌31固定設置在所述底板1上并置于所述產品固定臺2的左側，所述第一X軸滑塊32活動適配設置在所述第一X軸導軌31上，所述第一Z軸升降軌33固定設置在所述第一X軸滑塊32上，所述第一Z軸升降塊34活動適配設置在所述第一Z軸升降軌33上，所述A側磁感應探頭35、所述第一CCD相機36以及所述第一光源發射燈37分別固定設置在所述第一Z軸升降塊34上，所述A側磁感應探頭35以及所述第一CCD相機36分別與外部控制器相連接。所述A側磁感應探頭35固定設置在所述第一Z軸升降塊34的前端面上，所述第一CCD相機36以及所述第一光源發射燈37分別固定設置在所述第一Z軸升降塊34的后端面上，所述第一光源發射燈37置于所述第一CCD相機36的鏡頭的前方。所述第一X軸導軌31的尾端設置有第一X軸伺服電機38，所述第一X軸伺服電機38的輸出端通過傳動鏈與所述第一X軸滑塊32相連接，所述第一Z軸升降軌33的頂端設置有第一Z軸伺服電機39，所述第一Z軸伺服電機39的輸出端通過傳動鏈與所述第一Z軸升降塊34相連接。檢測時，所述第一CCD相機36拍下所述A側磁感應探頭35所對準產品的位置，外部控制器對該位置進行分析并發出調整指令，進而控制并啟動所述第一X軸伺服電機38以及所述第一Z軸伺服電機39，使所述A側磁感應探頭35到達最佳的檢測位置。在檢測過程中，重復進行上述動作，進而使所述A側磁感應探頭35能夠對產品該檢測側進行立本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種磁通量3D測試平臺，其特征在于：它包括底板（1）以及分別設置在所述底板（1）上的產品固定臺（2）、產品A側X/Z軸測試機構以及產品B側X/Y/Z軸測試機構，所述產品固定臺（2）設置在所述底板（1）的中央，所述產品A側X/Z軸測試機構以及所述產品B側X/Y/Z軸測試機構分別設置在所述產品固定臺（2）的左右兩側，所述產品A側X/Z軸測試機構以及所述產品B側X/Y/Z軸測試機構分別與外部控制器相連接。

【技術特征摘要】
1.一種磁通量3D測試平臺，其特征在于：它包括底板（1）以及分別設置在所述底板（1）上的產品固定臺（2）、產品A側X/Z軸測試機構以及產品B側X/Y/Z軸測試機構，所述產品固定臺（2）設置在所述底板（1）的中央，所述產品A側X/Z軸測試機構以及所述產品B側X/Y/Z軸測試機構分別設置在所述產品固定臺（2）的左右兩側，所述產品A側X/Z軸測試機構以及所述產品B側X/Y/Z軸測試機構分別與外部控制器相連接。2.根據權利要求1所述的一種磁通量3D測試平臺，其特征在于：所述A側X/Z軸測試機構包括第一X軸導軌（31）、第一X軸滑塊（32）、第一Z軸升降軌（33）、第一Z軸升降塊（34）、A側磁感應探頭（35）、第一CCD相機（36）以及第一光源發射燈（37），所述第一X軸導軌（31）固定設置在所述底板（1）上并置于所述產品固定臺（2）的左側，所述第一X軸滑塊（32）活動適配設置在所述第一X軸導軌（31）上，所述第一Z軸升降軌（33）固定設置在所述第一X軸滑塊（32）上，所述第一Z軸升降塊（34）活動適配設置在所述第一Z軸升降軌（33）上，所述A側磁感應探頭（35）、所述第一CCD相機（36）以及所述第一光源發射燈（37）分別固定設置在所述第一Z軸升降塊（34）上，所述A側磁感應探頭（35）以及所述第一CCD相機（36）分別與外部控制器相連接。3.根據權利要求2所述的一種磁通量3D測試平臺，其特征在于：所述A側磁感應探頭（35）固定設置在所述第一Z軸升降塊（34）的前端面上，所述第一CCD相機（36）以及所述第一光源發射燈（37）分別固定設置在所述第一Z軸升降塊（34）的后端面上，所述第一光源發射燈（37）置于所述第一CCD相機（36）的鏡頭的前方。4.根據權利要求2所述的一種磁通量3D測試平臺，其特征在于：所述第一X軸導軌（31）的尾端設置有第一X軸伺服電機（38），所述第一X軸伺服電機（38）的輸出端通過傳動鏈與所述第一X軸滑塊（32）相連接，所述第一Z軸升降軌（33）的頂端設置有第一Z軸伺服電機（39），所述第一Z軸伺服電機（39）的輸出端通過傳動鏈與所述第一Z軸升降塊（34）相連接。5.根據權利要求1所述的一種磁通量3D測試平臺，其特征在于：產品B側X/Y/Z軸測試機構包括第二X軸導軌（41）、第二X軸滑塊（42）、第二Z軸升降軌（43）、第三Z軸升降軌（44）、第二CCD相機（45）、第二光源發射燈（46）、Y軸導軌（47）、激光位移傳感器...

【專利技術屬性】
技術研發人員：蔣海雄，
申請(專利權)人：珠海市運泰利自動化設備有限公司，
類型：新型
國別省市：廣東,44