一種基于調制域分析儀的線性調頻測量方法技術

本發明專利技術提出了一種基于調制域分析儀的線性調頻測量方法，分為四個步驟：第(1)步，利用光標標定線性調頻分析范圍；第(2)步，判斷是否濾波，濾波按用戶設置進行不同階數濾波，否則直接進行第(3)步；第(3)步，為對濾波后的數據進行線性調頻的指標運算；第(4)步，將濾波后曲線顯示在界面中，如感覺濾波效果不合適，重新設置濾波階數，重新執行第(2)、第(3)、第(4)步。本發明專利技術的方法可以直接測量線性調頻的線性度指標，快捷方便；可對線性調頻信號在調制域分析儀中進行濾波，通過不斷調整階數，可進一步剔除測量誤差，找到最符合真實線性度曲線。

A linear frequency modulation measurement method based on modulation domain analyzer

The invention provides a linear frequency measurement method based on modulation domain analyzer, is divided into four steps: the first step (1), linear frequency analysis using the cursor calibration range; the (2) step, to determine whether the filter, filter according to user settings for different order filter, or directly (Article 3) step (3); the step index calculation for linear FM of the filtered data; (4) the step, the filtered curve display in the interface, such as the feeling of the filtering effect is not appropriate, re setting the filter order, re implementation of the (2), (3), 4 (No. step). The method of the invention can directly measure the linearity of the linear FM index, fast and convenient; filtering in modulation domain analyzer for LFM signal, by continuously adjusting the order, can further eliminate measurement errors, find the most realistic linearity curve.

【技術實現步驟摘要】
一種基于調制域分析儀的線性調頻測量方法
本專利技術涉及測試
，特別涉及一種基于調制域分析儀的線性調頻測量方法。
技術介紹
線性調頻作為信號的一種常見的調制手段，廣泛應用于多個領域，對其指標測試經常會采用實時頻譜儀，但隨著技術的發展，調頻帶寬越來越大，實時頻譜儀的帶寬進步速度遠小于信號產生帶寬的發展速度，因此，大帶寬的調制域分析儀變成了測量線性調頻的一種重要測量手段。調制域分析儀可以無死區測量頻率隨時間變化曲線，因此可直接觀測到線性調頻信號在調制域分析中，以線性進行變化，當如果要對線性調頻信號的線性度等指標進行標定時，需要將結果進行導出，再根據對應算法進行計算，得到結果?，F有調制域分析儀存在以下缺點：(1)無法直接獲取線性調頻性能指標，指標獲取步驟困難；(2)對測量誤差沒有對應的濾波修正算法。
技術實現思路
為解決上述現有技術中的不足，本專利技術提出一種基于調制域分析儀的線性調頻測量方法。本專利技術的技術方案是這樣實現的：一種基于調制域分析儀的線性調頻測量方法，分為四個步驟：第(1)步，利用光標標定線性調頻分析范圍；第(2)步，判斷是否濾波，濾波按用戶設置進行不同階數濾波，否則直接進行第(3)步；第(3)步，為對濾波后的數據進行線性調頻的指標運算；第(4)步，將濾波后曲線顯示在界面中，如感覺濾波效果不合適，重新設置濾波階數，重新執行第(2)、第(3)、第(4)步?？蛇x地，所述第(1)步具體如下：步驟(1.1)，利用調制域分析提供的兩條垂直光標，對分析區域進行標定；步驟(1.2)，利用光標位置，與結果數據的時間值找到分析數據在結果數組中的范圍；步驟(1.3)，將需要分析的結果數據提取，組成分析結果數組Analyze[]，數組包括光標范圍內的結果數據的時間值與頻率值?？蛇x地，所述第(2)步具體如下：步驟(2.1)，判斷是否進行濾波，不進行，直接跳轉到第(3)步，進行，繼續執行步驟(2.2)；步驟(2.2)，對Analyze[]中頻率值為Y，時間值為X，利用最小二乘法公式，求出線性方程式；步驟(2.3)，利用求出的線性方程式，將Analyze[]中的時間值帶入，求出理想頻率值數組與對應的Analyze[]中頻率值做差，求出差值數組Minus[]；步驟(2.4)，將差值數組向前向后各補1/2濾波階數個零，并計算出對應階數的FIR濾波系數，通過FIR濾波算法對其進行濾波，得到濾波后差值數組FirMinus[]；步驟(2.5)，對Analyze[]中頻率值進行補償，補償值為對應的FirMinus[]-Minus[]，并找到FirMinus[]中的最大值Max。可選地，所述第(3)步具體如下：步驟(3.1)，對Analyze[]進行統計分析，找到最大值與最小值；步驟(3.2)，計算最大值與最小值的差值，為線性調頻帶寬Band；步驟(3.3)，線性度值為Max/Band*100％。可選地，所述第(4)步具體如下：步驟(4.1)，將濾波后Analyze[]以與原有軌跡線不同顏色顯示在界面中，同時原有數據線不擦除；步驟(4.2)，觀測線性曲線與原有軌跡線關系，如濾波后曲線失真，減少濾波階數，重復執行第(2)步到第(4)步；如果結果符合要求，則結束測量。本專利技術的有益效果是：(1)可以直接測量線性調頻的線性度指標，快捷方便；(2)可對線性調頻信號在調制域分析儀中進行濾波，通過不斷調整階數，可進一步剔除測量誤差，找到最符合真實線性度曲線；(3)濾波后曲線與原始曲線同時顯示，方便用戶觀察濾波效果，也方便用戶動態調整濾波階數，找到更理想曲線。附圖說明為了更清楚地說明本專利技術實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本專利技術的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。圖1為本專利技術一種基于調制域分析儀的線性調頻測量方法的流程圖。具體實施方式下面將結合本專利技術實施例中的附圖，對本專利技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本專利技術一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒緦＠夹g中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本專利技術保護的范圍。本專利技術提出了一種基于調制域分析儀的線性調頻測量方法，在調制域分析儀的基礎上內嵌軟件，對線性調頻信號進行調制域內分析。如圖1所示，本專利技術分為四個步驟：第1步，利用光標標定線性調頻分析范圍；第2步，判斷是否濾波，濾波按用戶設置進行不同階數濾波，否則直接進行第三步；第3步，為對濾波后的數據進行線性調頻的指標運算；第4步，為將濾波后曲線以另一種顏色顯示在界面中，如感覺濾波效果不合適，可重新設置濾波階數，即重新執行第2、第3、第4步。下面對本專利技術的各個步驟進行詳細說明：第1步，分析范圍獲取，具體如下：步驟1.1，利用調制域分析提供的兩條垂直光標，對分析區域進行標定；步驟1.2，利用光標位置，與結果數據的時間值找到分析數據在結果數組中的范圍；步驟1.3，將需要分析的結果數據提取，組成分析結果數組Analyze[]，數組包括光標范圍內的結果數據的時間值與頻率值。第2步，線性濾波，具體如下：步驟2.1，判斷是否進行濾波，不進行，直接跳轉到第三步，進行，繼續執行步驟2.2；步驟2.2，對Analyze[]中頻率值為Y，時間值為X，利用最小二乘法公式，求出線性方程式；步驟2.3，利用求出的線性方程式，將Analyze[]中的時間值帶入，求出理想頻率值數組與對應的Analyze[]中頻率值做差，求出差值數組Minus[]-步驟2.4，將差值數組向前向后各補1/2濾波階數個零，并計算出對應階數的FIR濾波系數，通過FIR濾波算法對其進行濾波，得到濾波后差值數組FirMinus[]；步驟2.5，對Analyze[]中頻率值進行補償，補償值為對應的FirMinus[]-Minus[]，并找到FirMinus[]中的最大值Max；第3步，線性指標分析，具體如下：步驟3.1，對Analyze[]進行統計分析，找到最大值與最小值；步驟3.2，計算最大值與最小值的差值，為線性調頻帶寬Band；步驟3.3，線性度值為Max/Band*100％。第4步，濾波后曲線顯示，具體如下：步驟4.1，將濾波后Analyze[]以與原有軌跡線不同顏色顯示在界面中，同時原有數據線不擦除；步驟4.2，觀測線性曲線與原有軌跡線關系，如濾波后曲線失真，減少濾波階數，重復執行第2步到第4步；如果結果符合要求，則結束測量。本專利技術的方法可以直接測量線性調頻的線性度指標，快捷方便；可對線性調頻信號在調制域分析儀中進行濾波，通過不斷調整階數，可進一步剔除測量誤差，找到最符合真實線性度曲線；濾波后曲線與原始曲線同時顯示，方便用戶觀察濾波效果，也方便用戶動態調整濾波階數，找到更理想曲線。以上所述僅為本專利技術的較佳實施例而已，并不用以限制本專利技術，凡在本專利技術的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本專利技術的保護范圍之內。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種基于調制域分析儀的線性調頻測量方法，其特征在于，分為四個步驟：第(1)步，利用光標標定線性調頻分析范圍；第(2)步，判斷是否濾波，濾波按用戶設置進行不同階數濾波，否則直接進行第(3)步；第(3)步，為對濾波后的數據進行線性調頻的指標運算；第(4)步，將濾波后曲線顯示在界面中，如感覺濾波效果不合適，重新設置濾波階數，重新執行第(2)、第(3)、第(4)步。

【技術特征摘要】
1.一種基于調制域分析儀的線性調頻測量方法，其特征在于，分為四個步驟：第(1)步，利用光標標定線性調頻分析范圍；第(2)步，判斷是否濾波，濾波按用戶設置進行不同階數濾波，否則直接進行第(3)步；第(3)步，為對濾波后的數據進行線性調頻的指標運算；第(4)步，將濾波后曲線顯示在界面中，如感覺濾波效果不合適，重新設置濾波階數，重新執行第(2)、第(3)、第(4)步。2.如權利要求1所述的一種基于調制域分析儀的線性調頻測量方法，其特征在于，所述第(1)步具體如下：步驟(1.1)，利用調制域分析提供的兩條垂直光標，對分析區域進行標定；步驟(1.2)，利用光標位置，與結果數據的時間值找到分析數據在結果數組中的范圍；步驟(1.3)，將需要分析的結果數據提取，組成分析結果數組Analyze[]，數組包括光標范圍內的結果數據的時間值與頻率值。3.如權利要求1所述的一種基于調制域分析儀的線性調頻測量方法，其特征在于，所述第(2)步具體如下：步驟(2.1)，判斷是否進行濾波，不進行，直接跳轉到第(3)步，進行，繼續執行步驟(2.2)；步驟(2.2)，對Analyze[]中頻率值為Y，時間值為X，利用最小二乘法公式，求出線性方程式；步驟(2.3)，利用求出的線性方程式...

【專利技術屬性】
技術研發人員：丁建崠，李立功，朱偉，白軼榮，毛黎明，
申請(專利權)人：中國電子科技集團公司第四十一研究所，
類型：發明
國別省市：山東,37