手持式熒光計制造技術

本發明專利技術公開了一種用于測量樣本熒光的熒光計，所述熒光計包括激發源，所述激發源用于沿著第一光束路徑激發電磁輻射，以引發樣本中的熒光。激發濾波器將電磁輻射從激發源朝向樣本傳遞。激發濾波器保持件支撐激發濾波器并且限定了用于使得電磁輻射從激發源通過的孔。孔定位成相對于第一光束路徑非對稱，使得孔允許第一光束路徑中的電磁輻射的不對稱部分朝向樣本通過，而激發濾波器保持件阻擋第一光束路徑中的電磁輻射的對應不對稱部分。阻擋第一光束路徑中的電磁輻射的對應不對稱部分通過減小了從發射器模塊直接定向到檢測器模塊的電磁輻射量。

Hand held fluorescence meter

The present invention discloses a fluorescence meter for measuring the fluorescence of a sample, comprising a source of excitation for stimulating electromagnetic radiation along a first beam path to initiate fluorescence in a sample. The excitation filter transfers electromagnetic radiation from the excitation source to the sample. The excitation filter holder supports the excitation filter and defines apertures for enabling electromagnetic radiation to pass through the excitation source. Hole position relative to the first beam path of non symmetrical, asymmetrical part of making hole allows the first beam of electromagnetic radiation in the path toward the sample through, and stimulate the corresponding asymmetric piece barrier filter maintains electromagnetic radiation beam path in the first part. The corresponding asymmetric portion of the electromagnetic radiation in the first beam path is blocked by reducing the amount of electromagnetic radiation directly directed to the detector module from the transmitter module.

【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】手持式熒光計
本公開整體涉及用于測量溶液中化學物質的濃度的系統和方法。更加特別地，本公開涉及包含測量溶液中化學物質的濃度的熒光計的系統和方法。
技術介紹
諸如飯店、旅館、食品飲料廠、醫院等的公共設施中的清潔操作通常使用具有消毒、殺菌和/或抗菌性能的清潔產品。在一些情況中，清潔產品可以與一些細菌孢子中的特定化學化合物(例如，吡啶二羧酸)相互作用，以破壞細菌。可替代地，可以將特定化學化合物添加到清潔產品中，以提高清潔產品的化學穩定性和/或延長保質期。例如，可將吡啶二羧酸添加到特定的清潔產品中，以提高它們的耐熱性，從而降低清潔產品在暴露于熱量中時的降解率以及延長這些清潔產品在具有溫暖氣候的區域中的使用。可以在多種情形下測量吡啶二羧酸的濃度。例如，規章標準要求在公共設施中細菌孢子的濃度不超過給定值。通過測量吡啶二羧酸的濃度，則可以確定細菌孢子的濃度符合任何規章標準。在另一個示例中，可能需要保持吡啶二羧酸的特定濃度，以提高清潔產品的穩定性。因為吡啶二羧酸在由特定波長的電磁輻射激發時呈現熒光，所以可通過測量溶液的熒光而測量溶液中吡啶二羧酸的濃度。由溶液發射的熒光強度可以取決于溶液中吡啶二羧酸的濃度。例如，由溶液發射的熒光強度可以與吡啶二羧酸的濃度成正比。通過測量由吡啶二羧酸發射的熒光強度，因此可確定吡啶二羧酸的濃度。用于測量樣本的熒光的熒光計是眾所周知的。在都受讓給EcolabInc.,St.Paul，MN的美國專利No.8,269,193和美國專利No.8,352,207中公開了用于測量熒光的示例性熒光計，這兩項專利中的每一項公開的全部內容在此通過引用的方式并入本文。熒光計通常具有：電磁輻射源，所述電磁輻射源可激發樣本(例如，未知濃度的吡啶二羧酸溶液)；和檢測器，所述檢測器適于測量由電磁輻射發射的熒光強度。在很多情形中，溶液(例如，清潔溶液)中受關注物質(例如，吡啶二羧酸)的濃度可以非常低。例如，規章要求可以要求在目標區域(例如，醫療機構、食品飲料生產和包裝廠)中僅僅存在最小水平的受關注物質(例如，細菌)。在這些情況中，由受關注物質發射的熒光強度可以與受關注物質的濃度成比例。低濃度(例如，大約為每十億中數百份)可以導致減小所發射的熒光的強度。例如，熒光可以針對濃度降低而成正比減小(或者通過稀釋受關注物質)。通常，本領域中已知的熒光計不能以高準確度和敏感度測量這種低水平熒光。
技術實現思路
本專利技術的特定實施例包括一種用于測量樣本的熒光的熒光計。熒光計可包括殼體、由殼體支撐的控制器以及傳感器頭。傳感器頭可包括發射器模塊和檢測器模塊，所述發射器模塊和所述檢測器模塊操作地聯接到控制器。發射器模塊可包括激發源，所述激發源構造成發射一個或多個波長的電磁輻射，以引發樣本中的熒光。可沿著第一光束路徑引導電磁輻射的發射。傳感器頭可包括激發濾波器，所述激發濾波器用于將第一波長范圍內的電磁輻射朝向樣本傳遞。激發濾波器可由激發濾波器保持件支撐。激發濾波器保持件可限定使得電磁輻射通過的孔。激發濾波器保持件可支撐激發濾波器，使得激發濾波器允許濾波后的電磁輻射通過孔并且朝向樣本，使得第一光束路徑限定了從激發源至激發濾波器、經由孔且朝向樣本的電磁輻射軌跡。檢測器模塊可檢測由樣本發射的熒光。熒光計顯示了基于所測量的熒光由控制器確定的樣本中物質的濃度。在一些實施例中，熒光計包括第一聚焦設備和第二聚焦設備。第一聚焦設備和第二聚焦設備能夠可容納在殼體中、在傳感器頭附近。第一聚焦設備可引導源自激發源并且由激發濾波器朝向樣本傳遞的電磁輻射。第二聚焦設備可將源自樣本的熒光朝向檢測器模塊引導。在一些實施例中，孔可定位成相對于第一光束路徑不對稱，以致使孔使得第一光束路徑中的電磁輻射的不對稱部分通過而激發濾波器保持件阻擋第一光束路徑中的電磁輻射的對應不對稱部分通過。阻擋第一光束路徑中的電磁輻射的對應不對稱部分通過可減小從發射器模塊直接定向到檢測器模塊的電磁輻射量。在一些實施例中，孔具有半圓形截面。在一些實施例中，通過阻塞圓形開口的至少一部分而形成所述孔。在一些實施例中，孔成形為防止通過第一聚焦設備的電磁輻射朝向第二聚焦設備引導。在附圖中示出并且在以下描述中陳述了本專利技術的一個或多個實施例的細節。根據說明書和附圖以及根據權利要求書，其它特征、目的和優勢將變得顯而易見。附圖說明以下附圖圖解了本專利技術的特定實施例并且因此并不限制本專利技術的范圍。不需要按照比例(除非有說明)繪制附圖并且所述附圖旨在結合以下詳細描述中的解釋一起使用。在下文中將結合附圖描述本專利技術的實施例，附圖中，相同的附圖標記表示相同元件。圖1是根據本專利技術的一個實施例的熒光計的透視圖；圖2是圖1的熒光計的分解透視圖；圖3是根據本專利技術的一個實施例的熒光計的傳感器頭的透視圖；圖4是圖3的傳感器頭沿著截面A-A剖切的前視剖面圖；圖5是圖3的傳感器頭的分解透視圖；圖6是根據本專利技術的一個實施例的熒光計的發射器模塊的透視圖；圖7是圖6的發射器模塊的分解透視圖；圖8是根據本專利技術的一個實施例的熒光計的檢測器模塊的透視圖；圖9是根據本專利技術的一個實施例的熒光計的激發和熒光發射光譜的曲線圖；圖10A是示出了根據本專利技術的一個實施例的激發和發射濾波器的透射譜和激發和熒光發射光譜的曲線圖；圖10B是示出了根據本專利技術的一個實施例的激發和發射濾波器的透射譜和激發和熒光發射光譜的曲線圖；圖11是根據本專利技術的一個實施例的圖3的發射器模塊的一部分的透視圖；圖12A至圖12D是根據本專利技術的各個實施例的發射器模塊的一部分的前視圖；圖13是根據本專利技術的另一個實施例的發射器模塊的側視圖。具體實施方式以下詳細描述本質上為是示例性的而并不旨在以任何方式限制本專利技術的范圍、適用性或者構造。而是，以下描述提供了用于實施本專利技術的示例性實施例的一些實際闡釋。對于本專利
中的普通技術人員而言已知的是，為選定元件和所有其它元件提供了構造、材料、尺寸和制造處理的示例。本領域技術人員將認識到所述示例中的很多示例具有多種適當的替代方案。圖1和圖2分別是根據本專利技術的一些實施例的熒光計100的透視圖和分解視圖。熒光計100可用于測量由特定樣本發射的熒光。而且，熒光計100可便于基于所測量的熒光來確定溶液中特定樣本的濃度。這些實施例可用于測量由樣本(諸如吡啶二羧酸)和其它化學物質(例如，在清潔產品中發現的化學物質)發射的熒光的強度。基于所測量的發射熒光的強度，可確定溶液(例如，消毒劑、殺毒液、清潔劑等)中的吡啶二羧酸的濃度。通常，熒光計100可測量由具有受關注物質(例如，吡啶二羧酸)的樣本(例如，化學溶液，諸如，抗菌劑或清潔產品)發射的熒光的強度。熒光計100可計算樣本中物質的濃度，并且向用戶顯示所確定的濃度。然后用戶可基于所確定的濃度來實施任何期望的行為，諸如，例如，添加更多物質以增加物質的濃度。如果熒光計100確定濃度低于或者大于閾值濃度，則用戶能夠可分配更多或更少的物質。另外，熒光計100可以操作地聯接到外部產品傳感器(out-of-productsensor)。在特定實施例中，當物質濃度低于預定閾值時，由物質發射的熒光可以具有更低的強度。此時，外部產品傳感器可警告用戶物質濃度已經達到預定閾值以下。信號可以是視頻信號、音頻信號或者本領域中已知的任何其它類型的信號。因此，本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種用于測量樣本的熒光的熒光計，所述樣本包括吡啶二羧酸，所述熒光計包括：殼體；控制器，所述控制器由所述殼體支撐，所述控制器構造成基于檢測到的熒光發射來確定樣本中物質的濃度；和傳感器頭，所述傳感器頭包括：發射器模塊，所述發射器模塊操作地聯接到所述控制器并且包括：激發源，所述激發源構造成發射一個或多個波長的電磁輻射，以引發所述樣本中的熒光，所述電磁輻射的發射沿著第一光束路徑被引導；激發濾波器，所述激發濾波器構造成將處于第一波長范圍內的電磁輻射朝向所述樣本傳遞；和激發濾波器保持件，所述激發濾波器保持件由所述殼體支撐并且限定了用于電磁輻射通過的孔，所述激發濾波器保持件適于支撐所述激發濾波器，使得所述激發濾波器將由所述激發源發射的電磁輻射濾波成處于所述第一波長范圍內并且允許濾波后的所述電磁輻射通過所述孔并且朝向所述樣本，使得所述第一光束路徑限定了從所述激發源至所述激發濾波器、經由所述孔且朝向所述樣本的軌跡；和檢測器模塊，所述檢測器模塊操作地連接到所述控制器，所述檢測器模塊構造成檢測由樣本發射的熒光，其中，所述熒光計顯示由所述控制器確定的所述樣本中物質的濃度，所述孔定位成相對于所述第一光束路徑非對稱，從而所述孔使得所述第一光束路徑中的所述電磁輻射的非對稱部分通過而激發濾波器保持件阻擋所述第一光束路徑中的所述電磁輻射的對應非對稱部分通過，阻擋所述第一光束路徑中的所述電磁輻射的對應非對稱部分通過減小了從所述發射器模塊直接定向到所述檢測器模塊的電磁輻射量。...

【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】2014.08.12 US 14/457,5731.一種用于測量樣本的熒光的熒光計，所述樣本包括吡啶二羧酸，所述熒光計包括：殼體；控制器，所述控制器由所述殼體支撐，所述控制器構造成基于檢測到的熒光發射來確定樣本中物質的濃度；和傳感器頭，所述傳感器頭包括：發射器模塊，所述發射器模塊操作地聯接到所述控制器并且包括：激發源，所述激發源構造成發射一個或多個波長的電磁輻射，以引發所述樣本中的熒光，所述電磁輻射的發射沿著第一光束路徑被引導；激發濾波器，所述激發濾波器構造成將處于第一波長范圍內的電磁輻射朝向所述樣本傳遞；和激發濾波器保持件，所述激發濾波器保持件由所述殼體支撐并且限定了用于電磁輻射通過的孔，所述激發濾波器保持件適于支撐所述激發濾波器，使得所述激發濾波器將由所述激發源發射的電磁輻射濾波成處于所述第一波長范圍內并且允許濾波后的所述電磁輻射通過所述孔并且朝向所述樣本，使得所述第一光束路徑限定了從所述激發源至所述激發濾波器、經由所述孔且朝向所述樣本的軌跡；和檢測器模塊，所述檢測器模塊操作地連接到所述控制器，所述檢測器模塊構造成檢測由樣本發射的熒光，其中，所述熒光計顯示由所述控制器確定的所述樣本中物質的濃度，所述孔定位成相對于所述第一光束路徑非對稱，從而所述孔使得所述第一光束路徑中的所述電磁輻射的非對稱部分通過而激發濾波器保持件阻擋所述第一光束路徑中的所述電磁輻射的對應非對稱部分通過，阻擋所述第一光束路徑中的所述電磁輻射的對應非對稱部分通過減小了從所述發射器模塊直接定向到所述檢測器模塊的電磁輻射量。2.根據權利要求1所述的熒光計，還包括第一聚焦設備和第二聚焦設備，所述第一聚焦設備和所述第二聚焦設備容納在所述殼體中，所述第一聚焦設備適于將源自所述激發源并且由所述激發濾波器傳遞的電磁輻射朝向所述樣本引導，并且所述第二聚焦設備適于將源自所述樣本的熒光朝向所述檢測器模塊引導。3.根據權利要求2所述的熒光計，其中，所述孔具有半圓形橫截面。4.根據權利要求2所述的熒光計，其中，所述孔成形為防止通過所述第一聚集設備的電磁輻射朝向所述第二聚焦設備引導。5.根據權利要求1所述的熒光計，其中，所述孔通過阻塞圓形開口的至少一部分而形成。6.根據權利要求1所述的熒光計，還包括由所述發射器模塊支撐的基準光電探測器，所述基準光電探測器構造成用于測量代表由所述激發源發射的電磁輻射的基準信號。7.根據權利要求6所述的熒光計，還包括衰減器，所述衰減器阻擋所述基準光...

【專利技術屬性】
技術研發人員：E·托克圖夫，A·斯柯達，A·菲利普晨柯，J·W·伯德烏克，J·S·瓦倫斯坦，A·巴肯，S·福布什，J·哈奇森，
申請(專利權)人：藝康美國股份有限公司，
類型：發明
國別省市：美國,US