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    電子元器件傳送臺、特性測定裝置、分選裝置以及編帶裝置制造方法及圖紙

    技術編號:15449561 閱讀:220 留言:0更新日期:2017-05-31 11:13
    本發明專利技術提供一種外緣部的溫度偏差較小并且慣性矩(轉動慣量)較小的電子元器件傳送臺。該電子元器件傳送臺呈圓盤狀,包括形成安裝機構的中央部(2)、形成多個凹部(未圖示)的外緣部(5)、以及在中央部(2)和外緣部(5)之間的中間部(7),在各凹部分別收納一個電子元器件(未圖示),并且通過旋轉來傳送電子元器件,在中間部(5)形成貫通表面主面和背面主面的多個鏤空部(8),在俯視時,多個鏤空部(8)分開配置在直徑不同的多個同心圓上。

    Electronic component transmitting platform, characteristic measuring device, sorting device and taping device

    The present invention provides an electronic component transmitting platform with smaller temperature deviation and smaller inertia moment (inertia moment) at outer edge part. The electronic components transfer station is discoid, including the formation of the central part of the mounting mechanism (2), forming a plurality of recesses (not shown) of the outer peripheral part (5), and in the central part (2) and (5) the middle edge between the Department (7), in each recess for holding a respectively. An electronic component (not shown), and rotate to transfer electronic components, in the middle part (5) formed through the surface of the main surface and the back of the main surface of the plurality of hollow part (8), in view, a hollow part (8) separately configured in a plurality of concentric circles with different diameters.

    【技術實現步驟摘要】
    電子元器件傳送臺、特性測定裝置、分選裝置以及編帶裝置
    本專利技術涉及將電子元器件收納于形成在外緣部的凹部且圓周狀地傳送電子元器件的圓盤狀的電子元器件傳送臺,更詳細地涉及外緣部的溫度偏差較小并且旋轉軸的周向的慣性矩(轉動慣量)較小的電子元器件傳送臺。此外,在本申請文件中,關于慣性矩以及轉動慣量的術語全部是指電子元器件傳送臺的旋轉軸的周向的慣性矩以及轉動慣量。此外,本專利技術還涉及使用上述本專利技術的電子元器件傳送臺的電子元器件的特性測定裝置、分選裝置以及編帶裝置。
    技術介紹
    在電子元器件的特性測定裝置、電子元器件的分選裝置、電子元器件的編帶裝置等中,使用圓周狀地傳送電子元器件的圓盤狀的電子元器件傳送臺(以下,有時僅省略為“傳送臺”來記載)。例如,在專利文獻1(日本專利特開2003-300616號公報)中,公開了這樣的傳送臺。在圖16以及圖17中示出在專利文獻1中公開的傳送臺1000。其中,圖16是傳送臺1000的俯視圖。圖17是示出傳送臺1000安裝在傳送臺驅動裝置110上的狀態的主要部分剖視圖。傳送臺1000呈圓盤狀。在傳送臺1000的中央部102,形成在兩個主面間貫通的1個中心孔103和4個置位孔104作為安裝機構。在傳送臺1000的外緣部105,形成用于收納電子元器件的多個凹部(工件收納用凹部)106。傳送臺1000例如如圖17所示,安裝在傳送臺驅動機構110上使用。傳送臺驅動機構110具有圓盤狀的傳送臺安裝部(傳送臺緊固部)111和軸(凸部)112。傳送臺1000配置在傳送臺安裝部111上,軸112插通中心孔103。而且,經由圓盤墊圈113,螺栓114插通置位孔104,進而螺栓114緊固在傳送臺安裝部111上。如上所述地安裝在傳送臺驅動機構110上的傳送臺1000反復進行高速旋轉和停止,將電子元器件(工件)圓周狀地傳送。即,在傳送臺驅動機構110的軸112上連接有例如步進電機(未圖示)等的驅動源,通過控制驅動源,傳送臺100反復進行高速旋轉和停止。傳送臺驅動裝置110構成例如電子元器件的特性測定裝置的一部分。上述的特性測定裝置已在例如專利文獻2(日本專利特開2007-240158號公報)中被公開。專利文獻2的特性測定裝置用于測定熱敏電阻的電阻值。在專利文獻2的特性測定裝置中,傳送臺反復進行高速旋轉和停止。即,在將電子元器件收納于凹部時、以及在測定區域測定電子元器件的電氣特性時,傳送臺需要完全停止。而在完成電子元器件的收納以及電氣特性的測定時,為了收納下一個電子元件以及測定下一個電子元器件的電氣特性,傳送臺需要立即旋轉再接著停止。在特性測定裝置中,為了使傳送臺高速地旋轉、停止,減輕傳送臺的重量從而減小傳送臺的旋轉軸的周向的慣性矩(轉動慣量)是有效的。以往,為了減輕傳送臺重量,在傳送臺的中央部和外緣部之間的中間部設置貫通兩個主面的鏤空部。在圖18~圖20中示出三種現有的傳送臺1100~1300。圖18是示出沒有形成鏤空部的現有例1所涉及的傳送臺1100的俯視圖。圖19是示出形成了鏤空部108的現有例2所涉及的傳送臺1200的俯視圖。圖20是示出形成了鏤空部118的現有例3所涉及的傳送臺1300的俯視圖。現有例1所涉及的傳送臺1100如圖18所示,在中央部102形成1個中心孔103和4個置位孔104。傳送臺1100在外緣部105形成多個用于收納電子元器件的凹部。但是,在圖18中,為了方便觀察,省略凹部的圖示(在以下的附圖中也相同)。在傳送臺1100中,中間部107沒有形成鏤空部。其結果,傳送臺1100與后文說明的形成了鏤空部的傳送臺1200、1300相比,重量較大,轉動慣量較大。傳送臺1100的轉動慣量為5.10E-06(kg·m2)。傳送臺1100由于轉動慣量較大,因此從步進電機停止到完全停止為止的時間較長。因此,需要從步進電機停止到在測定區域開始測定電子元器件的電氣特性為止的等待時間。因而,使用傳送臺1100的特性測定裝置的測定效率變差。此外,在傳送臺完全停止前,即在傳送臺還在振動等期間,若開始測定電子元器件的電氣特性,則會產生電子元器件的電極被測定端子劃傷、或者測定誤差變大等問題。圖19所示的現有例2所涉及的傳送臺1200在中間部107形成8個扇形的鏤空部108。其結果,傳送臺1200與傳送臺1100相比,重量較小,轉動慣量較小。傳送臺1200的鏤空量(利用鏤空部減少的重量/沒有鏤空部減少重量時的重量)為48%。此外,傳送臺1200的轉動慣量為3.39E-06(kg·m2)。傳送臺1200的轉動慣量較小,從步進電機停止到完全停止為止的時間較短。因此,步進電機停止后,短時間內就能在測定區域開始測定電子元器件的電氣特性。因而,使用傳送臺1200的特性測定裝置的測定效率較高。此外,圖20所示的現有例3所涉及的傳送臺1300在中間部107形成8個圓形的鏤空部118。其結果,傳送臺1300也與傳送臺1200相同,與傳送臺1100相比,重量較小,轉動慣量較小。傳送臺1300的鏤空量為18%。此外,傳送臺1300的轉動慣量為4.36E-06(kg·m2)。傳送臺1300的轉動慣量較小,從步進電機停止到完全停止為止的時間較短。因此,步進電機停止,短時間內就能在測定區域開始測定電子元器件的電氣特性。因而,使用傳送臺1200的特性測定裝置的測定效率較高。現有技術文獻專利文獻專利文獻1日本專利特開2003-300616號公報專利文獻2日本專利特開2007-240158號公報
    技術實現思路
    專利技術所要解決的技術問題如上所述,為了減小傳送臺的旋轉軸的周向的慣性矩(轉動慣量),在傳送臺上形成鏤空部來減輕傳送臺的重量是有效的。然而,若在傳送臺上形成鏤空部,則會產生如下新的問題:傳送臺的外緣部的溫度會產生偏差。即,安裝傳送臺的驅動機構具備會產生熱量的步進電機等驅動源,從驅動源經由軸傳遞熱量至傳送臺的中央部,從而傳送臺的中央部變得溫度特別高。雖然傳送臺的中央部溫度變高也是個問題,但更大的問題是傳送臺的外緣部的溫度產生偏差。例如,在特性測定裝置中,測定NTC熱敏電阻或PTC熱敏電阻等熱敏電阻的電阻值。然而,熱敏電阻是以電阻值會隨溫度變化作為特征之一的電子元器件,若在形成有收納熱敏電阻的凹部的傳送臺的外緣部的溫度產生偏差,則不能正確地測定熱敏電阻的電阻值。即,被傳送臺傳送至測定區域的熱敏電阻由于傳送臺的外緣部的溫度偏差,每一個個體的溫度都不相同,從而不能正確地測定熱敏電阻的電阻值。圖18所示的現有例1所涉及的沒有形成鏤空部的傳送臺1100中,例如中央部102的溫度最高的部分的溫度為50℃時,外緣部105的溫度統一是31.4℃,沒有產生溫度偏差。而在現有例2所涉及的形成鏤空部108的傳送臺1200中,如圖21所示,中央部102的溫度最高的部分的溫度為50℃時,外緣部105的溫度的最大溫度MAX為28.248℃,最小溫度MIN為27.057℃,產生1.191℃的溫度差。此外,在現有例3所涉及的形成鏤空部118的傳送臺1300中,如圖22所示,中央部102的溫度最高的部分的溫度為50℃時,外緣部105的溫度的最大溫度MAX為29.315℃,最小溫度MIN為28.806℃,產生0.509℃的溫度差。如上所述,為了本文檔來自技高網
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    電子元器件傳送臺、特性測定裝置、分選裝置以及編帶裝置

    【技術保護點】
    一種電子元器件傳送臺,呈圓盤狀,包括:形成有安裝機構的中央部、形成有多個凹部的外緣部、以及在所述中央部和所述外緣部之間的中間部,在所述各凹部分別收納一個電子元器件,并且通過旋轉來傳送所述電子元器件,其特征在于,在所述中間部形成貫通表面主面和背面主面的多個鏤空部,在俯視時,多個所述鏤空部分開配置在直徑不同的多個同心圓上。

    【技術特征摘要】
    2015.07.29 JP 2015-150181;2016.06.04 JP 2016-112311.一種電子元器件傳送臺,呈圓盤狀,包括:形成有安裝機構的中央部、形成有多個凹部的外緣部、以及在所述中央部和所述外緣部之間的中間部,在所述各凹部分別收納一個電子元器件,并且通過旋轉來傳送所述電子元器件,其特征在于,在所述中間部形成貫通表面主面和背面主面的多個鏤空部,在俯視時,多個所述鏤空部分開配置在直徑不同的多個同心圓上。2.一種電子元器件傳送臺,呈圓盤狀,包括:形成有安裝機構的中央部、形成有多個凹部的外緣部、以及在所述中央部和所述外緣部之間的中間部,在所述各凹部分別收納一個電子元器件,并且通過旋轉來傳送所述電子元器件,其特征在于,在所述中間部形成貫通表面主面和背面主面的多個鏤空部,所述鏤空部分別是槽狀,在俯視時,多個所述槽狀的鏤空部分別從電子元器件傳送臺的中心向外緣呈輻射狀地配置。3.如權利要求1所述的電子元器件傳送臺,其特征在于,配置在至少一個所述同心圓上的多個所述鏤空部和配置在其他的至少一個所述同心圓上的多個所述鏤空部以電子元器件傳送臺的中心作為中心,在圓周方向上錯開配置,在從電子元器件傳送臺的中心觀察電子元器件傳送臺的外緣時,在電子元器件傳送臺的整個外緣形成至少1個所述鏤空部。4.如權利要求1或3所述的電子元器件傳送臺,其特征在于,所述鏤空部為槽狀,該槽狀的鏤空部沿著所述同心圓進行配置,通過形成所述槽狀的所述鏤空部,從而在所述中間部的各所述同心圓上形成連接梁。5.如權利要求4所述的電子元器件傳送臺,其特征在于,形成在各所述同心圓上的所述連接梁的個數從電子元器件傳送臺的中心側的所述同心圓起,向電子元器件傳送臺的外緣側的所述同心圓依次變多。6.如權利要求4或5所述的電子元器件傳送臺,其特征在于,形成在各...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:岡野慎介
    申請(專利權)人:株式會社村田制作所
    類型:發明
    國別省市:日本,JP

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