一種輪對低值電阻測試裝置制造方法及圖紙

本發(fā)明專利技術提供了一種輪對低值電阻測試裝置，包括精密恒流源、基準源、第一測量端子，第二測量端子、第三測量端子、第四測量端子、電壓放大模塊、濾波模塊、A/D轉換模塊、控制模塊和顯示模塊；第一測量端子、第二測量端子、第三測量端子和第四測量端子為測量端，分別連接精密恒流源和電壓放大模塊；電壓放大模塊的放大輸出端依次連接濾波模塊、A/D轉換模塊和控制模塊；基準源與A/D轉換模塊的基準電壓輸入端電連接A/D轉換模塊的信號輸出端與控制模塊的信號輸入端電連接。本發(fā)明專利技術所述的輪對低值電阻測試裝置，通過四端接線技術測量小電阻兩端電壓，有效減少了引線電阻對測量結果的影響，從而減小了測量誤差，提高了測量精度。

Low value resistance tester for wheel set

The invention provides a wheel low resistance test device, including a precision constant current source, reference source, the first measurement terminal, second measurement terminals, third measurement terminals, fourth measurement terminals, voltage amplifier module, filter module, A/D conversion module, control module and display module; the first terminal and the second terminal measurement and measurement third measurement terminals and fourth measurement terminals are respectively connected to the measuring end, precision constant current source and voltage amplifier module; output voltage amplification module connected to terminal filter module, A/D conversion module and a control module; the signal input end electrically connected reference voltage input terminal reference source and A/D conversion module, A/D conversion module connected with the signal output the end of the control module. The wheel the low resistance test device, through the four terminal measurement voltage across the small resistance, can effectively reduce the influence of lead wire resistance on the measurement results, so as to reduce the measurement error, improve the measurement accuracy.

【技術實現(xiàn)步驟摘要】
一種輪對低值電阻測試裝置
本專利技術屬于低值電阻測試
，尤其是涉及一種輪對低值電阻測試裝置。
技術介紹
高鐵、動車、城市軌道車輛在日常維護時，根據(jù)工藝的要求，需要對輪對間的接觸電阻進行測試，當接觸電阻高于十幾微歐時，判定為不合格，因此就需要使用低值電阻測試儀來測量，同時還需要保證精度≤2‰。電阻測量的基本原理非常簡單，即采用伏安法，以給定電流I通過電阻R，測量R兩端的電壓值U，根據(jù)歐姆定律R＝U/I即可得到電阻值，但是由于檢測電路中存在諸如導線電阻、接觸電勢和溫差電勢等的影響，若電阻值較大時，這些影響可以被忽略不計，但輪對電阻值極其微小，這些影響帶來的誤差絕對值甚至可能超過輪對電阻本身數(shù)個數(shù)量級，所以在測量時就應盡量降低乃至消除這些誤差，以較高精度測量處輪對電阻的電阻值。
技術實現(xiàn)思路
有鑒于此，本專利技術旨在提出一種輪對低值電阻測試裝置，以實現(xiàn)輪對電阻值的低誤差測量。為達到上述目的，本專利技術的技術方案是這樣實現(xiàn)的：一種輪對低值電阻測試裝置，包括精密恒流源、基準源、第一測量端子，第二測量端子、第三測量端子、第四測量端子、電壓放大模塊、濾波模塊、A/D轉換模塊、控制模塊和顯示模塊；所述第一測量端子和第二測量端子的一端分別與所述精密恒流源的輸入端和輸出端電連接；所述第三測量端子和第四測量端子的一端分別與所述電壓放大模塊的電壓輸入端電連接；所述電壓放大模塊的放大輸出端與所述濾波模塊的輸入端電連接；所述濾波模塊的輸出端與所述A/D轉換模塊的信號輸入端電連接；所述基準源與所述A/D轉換模塊的基準電壓輸入端電連接；所述A/D轉換模塊的信號輸出端與所述控制模塊的信號輸入端電連接；所述顯示模塊與所述控制模塊信號連接；所述精密恒流源、基準源、電壓放大模塊、濾波模塊和A/D轉換模塊的控制端分別與所述控制模塊信號連接。進一步的，所述第一測量端子，第二測量端子、第三測量端子和第四測量端子為測試夾。進一步的，所述輪對低值電阻測試裝置還包括一接地端子，所述精密恒流源、基準和控制模塊的接地端均與所述接地端子電連接，所述接地端子接地。進一步的，所述電壓放大模塊為二級放大器，第一級放大器為測量放大器，第二級放大器為運算放大器，所述第三測量端子和第四測量端子的一端分別與所述測量放大器的電壓輸入端電連接，所述測量放大器的放大輸出端與所述運算放大器的電壓輸入端電連接，所述運算放大器的放大輸出端與所述A/D轉換模塊的信號輸入端電連接。進一步的，所述控制模塊包括單片機，所述A/D轉換模塊的信號輸出端和顯示模塊均與所述單片機信號連接。進一步的，所述輪對低值電阻測試裝置還包括一鍵盤輸入模塊，所述鍵盤輸入模塊與所述控制模塊信號連接。進一步的，所述控制模塊還包括一主控單元，所述主控單元分別與所述精密恒流源、基準源、電壓放大模塊、濾波模塊和A/D轉換模塊的控制端信號連接，且該主控單元與所述單片機信號連接。進一步的，所述主控單元為PLC控制器。進一步的，所述輪對低值電阻測試裝置還包括存儲器，所述存儲器與所述控制模塊信號連接。進一步的，所述單片機上設有通信接口。進一步的，所述輪對低值電阻測試裝置還包括一打印機，所述打印機與所述控制模塊信號連接。相對于現(xiàn)有技術，本專利技術所述的輪對低值電阻測試裝置具有以下優(yōu)勢：(1)本專利技術所述的輪對低值電阻測試裝置，通過四端接線技術測量小電阻兩端電壓，有效減少了引線電阻對測量結果的影響，從而減小了測量誤差，提高了測量精度。(2)本專利技術所述的輪對低值電阻測試裝置，采用同一接地端子接地，避免了由于接地地點的不同造成接地端電位的不同，使得電路系統(tǒng)中形成較大電流并產生相當大的電壓降，進而引入地電位差噪聲及對微小電阻的測量精度產生較大影響。附圖說明構成本專利技術的一部分的附圖用來提供對本專利技術的進一步理解，本專利技術的示意性實施例及其說明用于解釋本專利技術，并不構成對本專利技術的不當限定。在附圖中：圖1為本專利技術實施例所述的輪對低值電阻測試裝置原理示意圖。附圖標記說明：1-精密恒流源；2-基準源；3-第一測量端子；4-第二測量端子；5-第三測量端子；6-第四測量端子；7-電壓放大模塊；71-測量放大器；72-運算放大器；8-濾波模塊；9-A/D轉換模塊；10-控制模塊；101-單片機；102-主控單元；11-顯示模塊；12-鍵盤輸入模塊；13-通信接口；14-存儲器；15-打印機；16-接地端子。具體實施方式需要說明的是，在不沖突的情況下，本專利技術中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。在本專利技術的描述中，需要理解的是，術語“中心”、“縱向”、“橫向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“頂”、“底”、“內”、“外”等指示的方位或位置關系為基于附圖所示的方位或位置關系，僅是為了便于描述本專利技術和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本專利技術的限制。此外，術語“第一”、“第二”等僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性或者隱含指明所指示的技術特征的數(shù)量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隱含地包括一個或者更多個該特征。在本專利技術的描述中，除非另有說明，“多個”的含義是兩個或兩個以上。在本專利技術的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規(guī)定和限定，術語“安裝”、“相連”、“連接”應做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接；可以是機械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內部的連通。對于本領域的普通技術人員而言，可以通過具體情況理解上述術語在本專利技術中的具體含義。下面將參考附圖并結合實施例來詳細說明本專利技術。如圖1所示，本專利技術包括精密恒流源1、基準源2、第一測量端子3，第二測量端子4、第三測量端子5、第四測量端子6、電壓放大模塊7、濾波模塊8、A/D轉換模塊9、控制模塊10和顯示模塊11；第一測量端子3和第二測量端子4的一端分別與精密恒流源1的輸入端和輸出端電連接；第三測量端子5和第四測量端子6的一端分別與電壓放大模塊7的電壓輸入端電連接；電壓放大模塊7的放大輸出端與濾波模塊8的輸入端電連接；濾波模塊8的輸出端與A/D轉換模塊9的信號輸入端電連接；基準源2與A/D轉換模塊9的基準電壓輸入端電連接；A/D轉換模塊9的信號輸出端與控制模塊10的信號輸入端電連接；顯示模塊11與控制模塊10信號連接；精密恒流源1、基準源2、電壓放大模塊7和A/D轉換模塊9的控制端分別與控制模塊10信號連接。第一測量端子3，第二測量端子4、第三測量端子5和第四測量端子6為測試夾。電壓放大模塊7為二級放大器，第一級放大器為測量放大器71，第二級放大器為運算放大器72，第三測量端子5和第四測量端子6的一端分別與測量放大器71的電壓輸入端電連接，測量放大器71的放大輸出端與運算放大器72的電壓輸入端電連接，運算放大器72的放大輸出端與濾波模塊8的信號輸入端電連接。控制模塊10包括單片機101，A/D轉換模塊9的信號輸出端和顯示模塊11均與單片機101信號連接。將第一測量端子3和第二測量端子4的另一端與待測輪對低值電阻的兩端電連接，第三測量端子5和第四測量端子6的另一端也與待測輪對低值電阻的兩端電連接。四端接線技術有效減少了引本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種輪對低值電阻測試裝置，其特征在于：包括精密恒流源(1)、基準源(2)、第一測量端子(3)，第二測量端子(4)、第三測量端子(5)、第四測量端子(6)、電壓放大模塊(7)、濾波模塊(8)、A/D轉換模塊(9)、控制模塊(10)和顯示模塊(11)；所述第一測量端子(3)和第二測量端子(4)的一端分別與所述精密恒流源(1)的輸入端和輸出端電連接；所述第三測量端子(5)和第四測量端子(6)的一端分別與所述電壓放大模塊(7)的電壓輸入端電連接；所述電壓放大模塊(7)的放大輸出端與所述濾波模塊(8)的輸入端電連接；所述濾波模塊(8)的輸出端與所述A/D轉換模塊(9)的信號輸入端電連接；所述基準源(2)與所述A/D轉換模塊(9)的基準電壓輸入端電連接；所述A/D轉換模塊(9)的信號輸出端與所述控制模塊(10)的信號輸入端電連接；所述顯示模塊(11)與所述控制模塊(10)信號連接；所述精密恒流源(1)、基準源(2)、電壓放大模塊(7)、濾波模塊(8)和A/D轉換模塊(9)的控制端分別與所述控制模塊(10)信號連接。

【技術特征摘要】
1.一種輪對低值電阻測試裝置，其特征在于：包括精密恒流源(1)、基準源(2)、第一測量端子(3)，第二測量端子(4)、第三測量端子(5)、第四測量端子(6)、電壓放大模塊(7)、濾波模塊(8)、A/D轉換模塊(9)、控制模塊(10)和顯示模塊(11)；所述第一測量端子(3)和第二測量端子(4)的一端分別與所述精密恒流源(1)的輸入端和輸出端電連接；所述第三測量端子(5)和第四測量端子(6)的一端分別與所述電壓放大模塊(7)的電壓輸入端電連接；所述電壓放大模塊(7)的放大輸出端與所述濾波模塊(8)的輸入端電連接；所述濾波模塊(8)的輸出端與所述A/D轉換模塊(9)的信號輸入端電連接；所述基準源(2)與所述A/D轉換模塊(9)的基準電壓輸入端電連接；所述A/D轉換模塊(9)的信號輸出端與所述控制模塊(10)的信號輸入端電連接；所述顯示模塊(11)與所述控制模塊(10)信號連接；所述精密恒流源(1)、基準源(2)、電壓放大模塊(7)、濾波模塊(8)和A/D轉換模塊(9)的控制端分別與所述控制模塊(10)信號連接。2.根據(jù)權利要求1所述的輪對低值電阻測試裝置，其特征在于：所述第一測量端子(3)，第二測量端子(4)、第三測量端子(5)和第四測量端子(6)為測試夾。3.根據(jù)權利要求1所述的輪對低值電阻測試裝置，其特征在于：還包括一接地端子(16)，所述精密恒流源(1)、基準源(2)、電壓放大模塊(7)、A/D轉換模塊(9)和控制模塊(10)的接地端均與所述接地端子(16)電連接，所述接地端子(16)接地。4.根據(jù)權利要求1所...

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：張斌，楊昕，
申請(專利權)人：天津斌德鑫力電子科技有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：天津,12