電子器件在板卡圖中的突顯方法及系統(tǒng)技術(shù)方案

本發(fā)明專利技術(shù)提供一種電子器件在板卡圖中的突顯方法及系統(tǒng)，所述電子器件在板卡圖中的突顯方法包括：選中板卡圖中任一目標電子器件所在的圖像區(qū)域，并將選中的圖像區(qū)域作為所述目標電子器件的器件樣版圖進行存儲；將所述器件樣版圖對整個所述板卡圖進行掃描；當檢測到所述板卡圖中存在與所述器件樣版圖一致的目標圖像區(qū)域時，將所述目標圖像區(qū)域進行突顯，以將所有的所述目標電子器件在所述板卡圖中進行突顯。本發(fā)明專利技術(shù)中的電子器件在板卡圖中的突顯方法及系統(tǒng)，只需要完成一次選中動作，然后制作成器件樣版圖進行掃描，即可將所有對應(yīng)的電子器件進行自動突顯，而無需一一進行選中突顯，提高了效率，且避免了出現(xiàn)漏突顯的電子器件。

Method and system for highlighting electronic device in card diagram

The invention provides an electronic device in the card highlights method and system, including the method of highlighting the electronic devices on board diagram: either the target image area where the selected card electronic map, storage and image regions selected as the target of electronic devices like the device layout; the kind of device layout to scan the entire board diagram; when detecting that the board diagram exist in the target image region of the device layout of the sample, the target image regions are highlighted, in the eyes of all standard electronic components are highlighted in the chart board. The electronic device of the present invention in highlighting the method in the figure of the board and system, only need to complete a selected action, then made into sample layout to scan all the corresponding electronic devices can be automatically highlighted, without one by one selected to highlight, improves the efficiency, and avoid the leakage of electronic devices highlights.

【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】

本專利技術(shù)涉及自動光學(xué)檢測
，特別涉及一種電子器件在板卡圖中的突顯方法及系統(tǒng)。
技術(shù)介紹
AOI(AutomaticOpticalInspection，自動光學(xué)檢測)是基于光學(xué)原理來對焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進行檢測的技術(shù)，是液晶及微電子等行業(yè)廣泛使用的測量手段，而AOI設(shè)備則是液晶及微電子等行業(yè)廣泛使用的檢測設(shè)備，AOI設(shè)備可用于在線檢測PCB板卡，判斷PCB板卡上的相關(guān)器件是否達到預(yù)設(shè)的參數(shù)。目前采用AOI設(shè)備在線對PCB板卡檢測時，通常需要拍攝整個板卡的圖片，然后在板卡圖片中將所有待測電子器件各自所在的圖像區(qū)域一一選中，使得所有待測電子器件各自所在的圖像區(qū)域均在板卡圖片中進行突顯，間接使所有待測電子器件在板卡圖片中進行突顯，以制作成測試板式文件，然后AOI設(shè)備將根據(jù)測試板式文件當中突顯的圖像區(qū)域，自動在板卡中匹配出與突顯的圖像區(qū)域的位置對應(yīng)的檢測區(qū)域，然后對檢測區(qū)域內(nèi)的電子器件進行檢測，從而實現(xiàn)對所有待測電子器件進行檢測。然而，現(xiàn)有技術(shù)當中，目前在制作上述的測試板式文件時，通常是通過人工在板卡圖片中將所有待測電子器件各自所在的圖像區(qū)域進行一一選中，而一個板卡上可能會有上百個不同種類的電子器件，采用人工一個一個選中突顯將費時費力，降低檢測的效率，同時經(jīng)常出現(xiàn)遺漏未被突顯的器件，從而出現(xiàn)漏檢測的電子器件，減低了檢測的可靠性。
技術(shù)實現(xiàn)思路
基于此，本專利技術(shù)的目的是提供一種電子器件在板卡圖中的突顯方法及系統(tǒng)，以實現(xiàn)對所有待測電子器件各自所在的圖像區(qū)域在板卡圖片中進行突顯，進而實現(xiàn)將所有待測電子器件在板卡圖片中進行突顯。根據(jù)本專利技術(shù)實施例的一種電子器件在板卡圖中的突顯方法，包括：選中板卡圖中任一目標電子器件所在的圖像區(qū)域，并將選中的圖像區(qū)域作為所述目標電子器件的器件樣版圖進行存儲；將所述器件樣版圖對整個所述板卡圖進行掃描；當檢測到所述板卡圖中存在與所述器件樣版圖一致的目標圖像區(qū)域時，將所述目標圖像區(qū)域進行突顯，以將所有的所述目標電子器件在所述板卡圖中進行突顯。另外，根據(jù)本專利技術(shù)上述實施例的一種電子器件在板卡圖中的突顯方法，還可以具有如下附加的技術(shù)特征：所述將所述器件樣版圖對整個所述板卡圖進行掃描的步驟包括：獲取所述板卡圖當中在所述器件樣版圖當前掃描位置下的當前圖像區(qū)域；將所述當前圖像區(qū)域與所述器件樣版圖進行比較。所述將所述目標圖像區(qū)域進行突顯的步驟包括：獲取所述目標圖像區(qū)域的所有邊界點的坐標信息；根據(jù)所述所有邊界點的坐標信息，從預(yù)設(shè)邊界點開始按照預(yù)設(shè)的連接順序通過預(yù)設(shè)參數(shù)的線條依次將所述目標圖像區(qū)域的所有邊界點連接，以生成所述目標圖像區(qū)域的邊框，所述預(yù)設(shè)參數(shù)包括線條的顏色、形狀及大小。在所述選中板卡圖中任一目標電子器件所在的圖像區(qū)域，并將選中的圖像區(qū)域作為所述目標電子器件的器件樣版圖進行存儲的步驟之后，所述電子器件在板卡圖中的突顯方法還包括：獲取輸入的與所述目標電子器件對應(yīng)的器件待測參數(shù)，并將所述器件待測參數(shù)進行存儲。所述電子器件在板卡圖中的突顯方法運用于一自動光學(xué)檢測設(shè)備，在所述當檢測到所述板卡圖中存在與所述器件樣版圖一致的目標圖像區(qū)域時，將所述目標圖像區(qū)域進行突顯，以將所有的所述目標電子器件在所述板卡圖中進行突顯的步驟之后，所述電子器件在板卡圖中的突顯方法還包括：提取所述器件待測參數(shù)；根據(jù)所述目標圖像區(qū)域在所述板卡圖上的位置，以得到在與所述板卡圖對應(yīng)的板卡中位置與所述目標圖像區(qū)域?qū)?yīng)的檢測區(qū)域；將所述自動光學(xué)檢測設(shè)備按照所述器件待測參數(shù)對所述檢測區(qū)域內(nèi)的器件進行檢測。根據(jù)本專利技術(shù)實施例的一種電子器件在板卡圖中的突顯系統(tǒng)，包括：圖像存儲模塊，用于選中板卡圖中任一目標電子器件所在的圖像區(qū)域，并將選中的圖像區(qū)域作為所述目標電子器件的器件樣版圖進行存儲。圖像掃描模塊，用于將所述器件樣版圖對整個所述板卡圖進行掃描；圖像突顯模塊，用于當檢測到所述板卡圖中存在與所述器件樣版圖一致的目標圖像區(qū)域時，將所述目標圖像區(qū)域進行突顯，以將所有的所述目標電子器件在所述板卡圖中進行突顯。另外，根據(jù)本專利技術(shù)上述實施例的一種電子器件在板卡圖中的突顯系統(tǒng)，還可以具有如下附加的技術(shù)特征：所述圖像掃描模塊包括：第一獲取單元，用于獲取所述板卡圖當中在所述器件樣版圖當前掃描位置下的當前圖像區(qū)域；比較模塊，用于將所述當前圖像區(qū)域與所述器件樣版圖進行比較。所述圖像突顯模塊包括：第二獲取單元，用于獲取所述目標圖像區(qū)域的所有邊界點的坐標信息；邊框生成單元，用于根據(jù)所述所有邊界點的坐標信息，從預(yù)設(shè)邊界點開始按照預(yù)設(shè)的連接順序通過預(yù)設(shè)參數(shù)的線條依次將所述目標圖像區(qū)域的所有邊界點連接，以生成所述目標圖像區(qū)域的邊框，所述預(yù)設(shè)參數(shù)包括線條的顏色、形狀及大小。所述電子器件在板卡圖中的突顯系統(tǒng)還包括：檢測參數(shù)存儲模塊，用于獲取輸入的與所述目標電子器件對應(yīng)的器件待測參數(shù)，并將所述器件待測參數(shù)進行存儲。所述電子器件在板卡圖中的突顯系統(tǒng)運用于一自動光學(xué)檢測設(shè)備，所述電子器件在板卡圖中的突顯系統(tǒng)還包括：提取模塊，用于提取所述器件待測參數(shù)；檢測區(qū)域生成模塊，用于根據(jù)所述目標圖像區(qū)域在所述板卡圖上的位置，以得到在與所述板卡圖對應(yīng)的板卡中位置與所述目標圖像區(qū)域?qū)?yīng)的檢測區(qū)域；檢測模塊，用于將所述自動光學(xué)檢測設(shè)備按照所述器件待測參數(shù)對所述檢測區(qū)域內(nèi)的器件進行檢測。上述電子器件在板卡圖中的突顯方法及系統(tǒng)，通過將目標電子器件在板卡圖當中所在的圖像區(qū)域進行選中，然后制作成所述器件樣版圖進行存儲，然后將所述器件樣版圖對整個所述板卡圖進行掃描，當檢測到所述板卡圖中存在與所述器件樣版圖一致的目標圖像區(qū)域時，將所述目標圖像區(qū)域進行突顯，從而能夠?qū)⑺霭蹇▓D當中所有的所述目標電子器件進行自動突顯，因此所述電子器件在板卡圖中的突顯方法及系統(tǒng)只需要完成一次選中動作，即可將所有對應(yīng)的待測電子器件進行自動突顯，而無需一一進行選中，提高了效率，且避免了出現(xiàn)漏突顯的電子器件，同時由于選中之后將制作成所述器件樣版圖進行存儲，以后都無需再對相同的電子器件進行人工選中突顯，只需要調(diào)用對應(yīng)的器件樣版圖，然后對板卡圖進行掃描，即可將所有對應(yīng)的電子器件進行突顯。附圖說明圖1為本專利技術(shù)第一實施例中電子器件在板卡圖中的突顯方法的流程圖。圖2為本專利技術(shù)第二實施例中電子器件在板卡圖中的突顯方法的流程圖。圖3為圖2中步驟S13的具體實施流程圖。圖4為將目標圖像區(qū)域進行突顯的具體實施的流程圖。圖5為本專利技術(shù)第一實施例中電子器件在板卡圖中的突顯系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。主要元件符號說明如下具體實施方式將結(jié)合上述附圖進一步說明本專利技術(shù)。具體實施方式為了便于理解本專利技術(shù)，下面將參照相關(guān)附圖對本專利技術(shù)進行更全面的描述。附圖中給出了本專利技術(shù)的若干實施例。但是，本專利技術(shù)可以以許多不同的形式來實現(xiàn)，并不限于本文所描述的實施例。相反地，提供這些實施例的目的是使對本專利技術(shù)的公開內(nèi)容更加透徹全面。需要說明的是，當元件被稱為“固設(shè)于”另一個元件，它可以直接在另一個元件上或者也可以存在居中的元件。當一個元件被認為是“連接”另一個元件，它可以是直接連接到另一個元件或者可能同時存在居中元件。本文所使用的術(shù)語“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及類似的表述只是為了說明的目的。除非另有定義，本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語與屬于本專利技術(shù)的
的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護點】
一種電子器件在板卡圖中的突顯方法，其特征在于，包括：選中板卡圖中任一目標電子器件所在的圖像區(qū)域，并將選中的圖像區(qū)域作為所述目標電子器件的器件樣版圖進行存儲；將所述器件樣版圖對整個所述板卡圖進行掃描；當檢測到所述板卡圖中存在與所述器件樣版圖一致的目標圖像區(qū)域時，將所述目標圖像區(qū)域進行突顯，以將所有的所述目標電子器件在所述板卡圖中進行突顯。

【技術(shù)特征摘要】
1.一種電子器件在板卡圖中的突顯方法，其特征在于，包括：選中板卡圖中任一目標電子器件所在的圖像區(qū)域，并將選中的圖像區(qū)域作為所述目標電子器件的器件樣版圖進行存儲；將所述器件樣版圖對整個所述板卡圖進行掃描；當檢測到所述板卡圖中存在與所述器件樣版圖一致的目標圖像區(qū)域時，將所述目標圖像區(qū)域進行突顯，以將所有的所述目標電子器件在所述板卡圖中進行突顯。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子器件在板卡圖中的突顯方法，其特征在于，所述將所述器件樣版圖對整個所述板卡圖進行掃描的步驟包括：獲取所述板卡圖當中在所述器件樣版圖當前掃描位置下的當前圖像區(qū)域；將所述當前圖像區(qū)域與所述器件樣版圖進行比較。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子器件在板卡圖中的突顯方法，其特征在于，所述將所述目標圖像區(qū)域進行突顯的步驟包括：獲取所述目標圖像區(qū)域的所有邊界點的坐標信息；根據(jù)所述所有邊界點的坐標信息，從預(yù)設(shè)邊界點開始按照預(yù)設(shè)的連接順序通過預(yù)設(shè)參數(shù)的線條依次將所述目標圖像區(qū)域的所有邊界點連接，以生成所述目標圖像區(qū)域的邊框，所述預(yù)設(shè)參數(shù)包括線條的顏色、形狀及大小。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子器件在板卡圖中的突顯方法，其特征在于，在所述選中板卡圖中任一目標電子器件所在的圖像區(qū)域，并將選中的圖像區(qū)域作為所述目標電子器件的器件樣版圖進行存儲的步驟之后，所述電子器件在板卡圖中的突顯方法還包括：獲取輸入的與所述目標電子器件對應(yīng)的器件待測參數(shù)，并將所述器件待測參數(shù)進行存儲。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電子器件在板卡圖中的突顯方法，其特征在于，所述電子器件在板卡圖中的突顯方法運用于一自動光學(xué)檢測設(shè)備，在所述當檢測到所述板卡圖中存在與所述器件樣版圖一致的目標圖像區(qū)域時，將所述目標圖像區(qū)域進行突顯，以將所有的所述目標電子器件在所述板卡圖中進行突顯的步驟之后，所述電子器件在板卡圖中的突顯方法還包括：提取所述器件待測參數(shù)；根據(jù)所述目標圖像區(qū)域在所述板卡圖上的位置，以得到在與所述板卡圖對應(yīng)的板卡中位置與所述目標圖像區(qū)域?qū)?yīng)的檢測區(qū)域；將所述...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：劉柏芳，
申請(專利權(quán))人：廣州視源電子科技股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：廣東;44