本發明專利技術涉及平面片材表面缺陷檢測技術領域,具體公開了一種EVA膠膜檢測系統。本發明專利技術的EVA膠膜檢測系統,工業相機的顯示調整為黑白圖像,線光源發出的光線通過勻光板后再照射到EVA膠膜上,使得工業相機拍攝中顯示的黑膜圖像被勻光板處理為白膜圖像,使EVA膠膜上的黑點缺陷更為清晰;同時,光源組件和相機組件相對EVA膠膜的距離和位置均可調,以適應不同規格的EVA膠膜表面檢測,而且還可以調整檢測精度;另外,自動化檢測的方式與現有技術人工檢測相比,檢測效率和檢測精度更高。
【技術實現步驟摘要】
一種EVA膠膜檢測系統
本專利技術涉及平面片材表面缺陷檢測
,具體涉及一種EVA膠膜檢測系統。
技術介紹
平面片材在生產過程中由于原料溶解的不充分、漿料給料不均勻、滾軸表面不光滑等諸多技術因素,表面會出現顆粒點、裂紋、劃痕、孔洞、氣泡、結晶、表皮分層、色斑、麻點等缺陷的,這些缺陷會降低產品的質量,也增加了其在檢測質量過程中的難度。EVA膠膜屬于平面片材,是一種熱固性有粘性的膠膜,用于放在夾膠玻璃中間。具有粘著力、耐久性、光學特性等方面的優越性,使得它被越來越廣泛的應用于電流組件以及各種光學產品。EVA膠膜在生產過程中由于各種原因也會出現不同的缺陷,比如成材不良造成的料塊、晶點、孔洞等缺陷,異物如蚊蟲、臟污、油污等缺陷。這些缺陷嚴重影響了EVA膠膜的質量,所以目前EVA膠膜的質量檢測越來越受到相關廠家的關注。且目前人工檢測EVA膠膜的工藝具有檢測效率低下,漏檢率較高,存在很大的質量隱患的缺陷。因此,有必要針對EVA膠膜的產品特性設計一種專用的EVA膠膜檢測系統。
技術實現思路
本專利技術要解決的技術問題是提供一種專用的EVA膠膜檢測系統,以解決現有技術中的相關缺陷。為了解決上述技術問題,本專利技術提供的技術方案如下:一種EVA膠膜檢測系統,至少包括:機架,該機架上設有用于傳輸EVA膠膜的滾筒;視覺模塊固定框架,該視覺模塊固定框架固定于機架上,所述視覺模塊固定框架上設有相機組件和光源組件,所述相機組件和光源組件分別位于EVA膠膜的兩側;其中,所述相機組件包括一對工業相機,一對所述工業相機的鏡頭與EVA膠膜上拍攝區域之間的距離S1為760~770mm,所述工業相機的鏡頭相對EVA膠膜平面的拍攝角度α為62°~68°,一對所述工業相機之間的間距為EVA膠膜膜寬的50%,一對所述工業相機的拍攝高度相同且一對所述工業相機在膜寬方向上的拍攝區域存在重疊區域,重疊區域的寬度為EVA膠膜膜寬的9%~10%;其中,所述光源組件包括線光源和勻光板,所述勻光板位于線光源和EVA膠膜之間,所述線光源與EVA膠膜上照射區域之間的距離S2為95~105mm,線光源的光線與EVA膠膜平面之間的夾角β為81°~87°。本實施例的EVA膠膜檢測系統,工業相機的顯示調整為黑白圖像,線光源發出的光線通過勻光板后再照射到EVA膠膜上,使得工業相機拍攝中顯示的黑膜圖像被勻光板處理為白膜圖像,使EVA膠膜上的黑點缺陷更為清晰;同時,光源組件和相機組件相對EVA膠膜的距離和位置均可調,以適應不同規格的EVA膠膜表面檢測;另外,自動化檢測的方式與現有技術人工檢測相比,檢測效率和檢測精度更高。進一步的,所述線光源為發白色光的冷光源。進一步的,S1選自760~770mm中的任一自然數,α選自62°~68°中的任一自然數。進一步的,S2選自95~105mm中的任一自然數,β選自81°~87°中的任一自然數。進一步的,還包括相機安裝支架,所述相機組件安裝于該相機安裝支架上,所述視覺模塊固定框架上設有滑槽,所述相機安裝支架的端部設有連接板,該連接板的一端與相機安裝支架旋轉活動連接,另一端與可在滑槽內移動的滑行件固定連接。進一步的,所述連接板上設有長孔,所述滑行件與連接板的連接位置可在長孔內移動。進一步的,所述相機安裝支架上還設有滑行槽,工業相機通過相機支架與相機安裝支架固定連接,所述相機支架上設有與滑行槽匹配的滑塊。進一步的,所述相機支架上設有腰孔,工業相機通過螺栓穿過腰孔與相機支架固定連接。進一步的,所述線光源的端部設有連接板,該連接板的一端與線光源旋轉活動連接,另一端與可在滑槽內移動的滑行件固定連接。進一步的,所述連接板上設有長孔,所述滑行件與連接板的連接位置可在長孔內移動。附圖說明圖1為本實施例EVA膠膜檢測系統的結構示意圖;圖2為本實施例EVA膠膜檢測系統的檢測示意圖;圖3為本實施例相機組件安裝的局部結構示意圖;圖4為本實施例光源組件安裝的局部結構示意圖。具體實施方式為了使本專利技術的目的、技術方案及優點更加清楚明白,以下結合附圖及實施例,對本專利技術進行進一步詳細說明。應當理解,此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本專利技術,并不用于限定本專利技術。如圖1所示,本實施例的一種EVA膠膜檢測系統,至少包括機架1、視覺模塊固定框架2和用于傳輸EVA膠膜7的滾筒6,其中視覺模塊固定框架2固定于機架1上,視覺模塊固定框架2上設有相機組件和光源組件,并且相機組件和光源組件分別位于EVA膠膜7的兩側。在本實施例中,如圖1-2所示,所述相機組件包括一對工業相機8,一對工業相機8的鏡頭與EVA膠膜7上拍攝區域之間的距離S1為760~770mm,作為優選,S1選自760~770mm中的任一自然數,當然,選自任一自然數的目的在于便于調節控制,S1選自760~770mm中的非自然數也可。另外,工業相機8的鏡頭相對EVA膠膜7平面的拍攝角度α為62°~68°,同理,α優選為62°~68°中的任一自然數,在62°~68°區間內的非自然數也應當屬于本實施例的等同技術方案。此外,需要說明的是,一對工業相機8之間的間距為EVA膠膜7膜寬的50%,一對工業相機的拍攝高度相同且一對工業相機在膜寬方向上的拍攝區域存在重疊區域,重疊區域的寬度為EVA膠膜膜寬的9%~10%。作為優選,本實施例中,EVA膠膜7的膜寬S3為2200mm,一對工業相機8之間的間距S4為1100mm,重疊區域的寬度為20mm。如圖1-2所示,本實施例的光源組件包括線光源5和勻光板3,其中勻光板3位于線光源5和EVA膠膜7之間。所述線光源5與EVA膠膜上照射區域之間的距離S2為95~105mm,線光源的光線與EVA膠膜平面之間的夾角β為81°~87°。同相機組件中的S1和α,為了便于調節,S2和β優選選自相應數值范圍內的任一自然數,當然,非自然數也屬于與本實施例等同的技術方案。進一步的,如圖3所示,本實施例的工業相機8通過相機安裝支架4與視覺模塊固定框架2連接。其中,視覺模塊固定框架2上設有滑槽21,相機安裝支架4的端部設有連接板9,該連接板9的一端與相機安裝支架4旋轉活動連接,另一端與可在滑槽21內移動的滑行件(圖中未示出)固定連接。作為優選,連接板9上設有長孔91,滑行件與連接板9的連接位置可在長孔91內移動。如此,相機安裝支架4與視覺模塊固定框架2之間的調節至少包含3個自由度,即:連接板與相機安裝支架4之間的旋轉運動、滑行件在滑槽內的移動以及滑行件在長孔91內的可調移動。進一步的,相機安裝支架4上還設有滑行槽41,工業相機8通過相機支架42與相機安裝支架4固定連接,在相機支架4上設有與滑行槽41匹配的滑塊43,同時,相機支架42上設有腰孔44,工業相機8通過螺栓穿過腰孔44與相機支架42固定連接。如此設置的目的在于,工業相機8在相機安裝支架4上的位置可調,便于精確調整距離與角度,提升檢測的精度。進一步的,如圖4所示,本實施例的線光源5的端部設有連接板9,該連接板9的一端與線光源旋轉活動連接,另一端與可在滑槽21內移動的滑行件(圖中未示出)固定連接。同時,連接板上設有長孔91,滑行件與連接板的連接位置可在長孔91內移動。該種結構使得線光源與視覺模塊固定框架2之間的調節至少包含3個自由度,即:連接板與線光源之間的旋轉運動、滑行件本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種EVA膠膜檢測系統,其特征在于,至少包括:機架,該機架上設有用于傳輸EVA膠膜的滾筒;視覺模塊固定框架,該視覺模塊固定框架固定于機架上,所述視覺模塊固定框架上設有相機組件和光源組件,所述相機組件和光源組件分別位于EVA膠膜的兩側;其中,所述相機組件包括一對工業相機,一對所述工業相機的鏡頭與EVA膠膜上拍攝區域之間的距離S1為760~770mm,所述工業相機的鏡頭相對EVA膠膜平面的拍攝角度α為62°~68°,一對所述工業相機之間的間距為EVA膠膜膜寬的50%,一對所述工業相機的拍攝高度相同且一對所述工業相機在膜寬方向上的拍攝區域存在重疊區域,重疊區域的寬度為EVA膠膜膜寬的9%~10%;其中,所述光源組件包括線光源和勻光板,所述勻光板位于線光源和EVA膠膜之間,所述線光源與EVA膠膜上照射區域之間的距離S2為95~105mm,線光源的光線與EVA膠膜平面之間的夾角β為81°~87°。
【技術特征摘要】
1.一種EVA膠膜檢測系統,其特征在于,至少包括:機架,該機架上設有用于傳輸EVA膠膜的滾筒;視覺模塊固定框架,該視覺模塊固定框架固定于機架上,所述視覺模塊固定框架上設有相機組件和光源組件,所述相機組件和光源組件分別位于EVA膠膜的兩側;其中,所述相機組件包括一對工業相機,一對所述工業相機的鏡頭與EVA膠膜上拍攝區域之間的距離S1為760~770mm,所述工業相機的鏡頭相對EVA膠膜平面的拍攝角度α為62°~68°,一對所述工業相機之間的間距為EVA膠膜膜寬的50%,一對所述工業相機的拍攝高度相同且一對所述工業相機在膜寬方向上的拍攝區域存在重疊區域,重疊區域的寬度為EVA膠膜膜寬的9%~10%;其中,所述光源組件包括線光源和勻光板,所述勻光板位于線光源和EVA膠膜之間,所述線光源與EVA膠膜上照射區域之間的距離S2為95~105mm,線光源的光線與EVA膠膜平面之間的夾角β為81°~87°。2.按照權利要求1所述的EVA膠膜檢測系統,其特征在于,所述線光源為發白色光的冷光源。3.按照權利要求1所述的EVA膠膜檢測系統,其特征在于,S1選自760~770mm中的任一自然數,α選自62°~68°中的任一自然數。4.按照權利要求1所述的EVA膠膜檢測系統,...
【專利技術屬性】
技術研發人員:孫浩益,戴云霄,徐瓊,潘英東,伊汀,樓俊卿,
申請(專利權)人:杭州利珀科技有限公司,
類型:發明
國別省市:浙江,33
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