一種多功能半導體電學性質快速測試裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術公開了一種多功能半導體電學性質快速測試裝置，包括測試盒本體，測試盒本體分為測試盒底座和測試盒上蓋，測試盒底座和測試盒上蓋活動連接，測試盒底座內設有多個卡槽，且卡槽內固定有帕爾貼片，卡槽的前端設有測試探針，且測試探針連接設置在測試探針下方的彈性伸縮組件，測試探針分別連接PCB板，且測試探針分別并聯連接設置在測試盒底座上的電壓表和電流表，測試盒上蓋內側設有彈性橡膠柱，本發明專利技術結構原理簡單，能夠實現對半導體器件的快速測試，且探針不易損壞，使用壽命長；同時測得的電參數能夠實時顯示。

【技術實現步驟摘要】
一種多功能半導體電學性質快速測試裝置
本專利技術涉及半導體測試
，具體為一種多功能半導體電學性質快速測試裝置。
技術介紹
在已有技術中，對于半導體器件的電學性能測試，我們需要得到器件的電壓、流過器件的電流，對于發光器件還需要獲取器件的發光強度信息。測試時，一般通過鐵夾子將電壓源或電流源的正負極和半導體器件的相應電極連接起來，從而給半導體器件提供電壓或電流，使器件處于工作狀態。通常為了保證測試過程中電壓源或電流源和器件之間接觸良好，需要將鐵夾子設計得很尖很硬，這樣夾在器件兩端就很有可能將電極夾壞；如果待測半導體器件為發光器件，還需要一臺額外的光譜儀通過探頭對焦后測量發光器件的光強，這樣需要搭建一整套光學電學測試系統，操作繁瑣且成本昂貴。
技術實現思路
本專利技術的目的在于提供一種多功能半導體電學性質快速測試裝置，以解決上述
技術介紹
中提出的問題。為實現上述目的，本專利技術提供如下技術方案：一種多功能半導體電學性質快速測試裝置,包括測試盒本體，所述測試盒本體分為測試盒底座和測試盒上蓋，所述測試盒底座和測試盒上蓋活動連接，所述測試盒底座內設有多個卡槽，且所述卡槽內固定有帕爾貼片，所述卡槽的前端設有測試探針，且所述測試探針連接設置在測試探針下方的彈性伸縮組件。優選的，所述彈性伸縮組件包括滑動軸、滑動軸承、固定塊、壓縮彈簧、調節螺絲，所述滑動軸固定設置在探針一側，所述滑動軸承設置在滑動軸上，所述固定塊設置在滑動軸承兩側，所述壓縮彈簧設置在滑動軸承上方，所述調節螺絲底端穿過壓縮彈簧與滑動軸承頂端接觸。優選的，所述測試探針、帕爾貼片分別連接PCB板，且測試探針分別并聯連接設置在測試盒底座上的電壓表和電流表。優選的，所述測試盒上蓋內側設有彈性橡膠柱，且所述測試盒上蓋采用透明玻璃。優選的，所述卡槽設置2-5個。與現有技術相比，本專利技術的有益效果是：本專利技術結構原理簡單，能夠實現對半導體器件的快速測試；在測試探針下端設置彈性伸縮組件，能夠在測試過程中自動對測試探針進行伸縮，確保完全接觸且探針不易損壞，使用壽命長；同時測試探針分別并聯連接設置在測試盒底座上的電壓表和電流表；測得的電參數能夠實時顯示，方便測試人員查看測試數據。附圖說明圖1為本專利技術結構示意圖；圖2為本專利技術的彈性伸縮組件結構示意圖。具體實施方式下面將結合本專利技術實施例中的附圖，對本專利技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本專利技術一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本專利技術中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本專利技術保護的范圍。請參閱圖1-2，本專利技術提供一種技術方案：一種多功能半導體電學性質快速測試裝置,包括測試盒本體1，所述測試盒本體1分為測試盒底座2和測試盒上蓋3，所述測試盒底座2和測試盒上蓋3活動連接，所述測試盒底座2內設有多個卡槽4，卡槽4設置2-5個，設置多個卡槽，方便同時測試多個半導體器件；且所述卡槽4內固定有帕爾貼片5，所述卡槽4的前端設有測試探針6，且所述測試探針6連接設置在測試探針6下方的彈性伸縮組件7。本實施例中，彈性伸縮組件7包括滑動軸8、滑動軸承9、固定塊10、壓縮彈簧11、調節螺絲12，所述滑動軸8固定設置在探針6一側，所述滑動軸承9設置在滑動軸8上，所述固定塊10設置在滑動軸承9兩側，所述壓縮彈簧11設置在滑動軸承9上方，所述調節螺絲12底端穿過壓縮彈簧11與滑動軸承9頂端接觸。本專利技術中，在測試探針下端設置彈性伸縮組件，能夠在測試過程中自動對測試探針進行伸縮，確保完全接觸且探針不易損壞，使用壽命長。本實施例中，測試探針6、帕爾貼片5分別連接PCB板13，且測試探針6分別并聯連接設置在測試盒底座2上的電壓表14和電流表15。另外，本實施例中，測試盒上蓋3內側設有彈性橡膠柱16，且所述測試盒上蓋3采用透明玻璃17。采用彈性橡膠柱，便于在測試時，測試盒上蓋合攏時，彈性橡膠柱頂住半導體器件，使半導體器件與測試探針接觸更緊密；采用透明玻璃，方便測試發光二極管這類半導體器件。本專利技術的有益效果是：本專利技術結構原理簡單，能夠實現對半導體器件的快速測試；在測試探針下端設置彈性伸縮組件，能夠在測試過程中自動對測試探針進行伸縮，確保完全接觸且探針不易損壞，使用壽命長；同時測試探針分別并聯連接設置在測試盒底座上的電壓表和電流表；測得的電參數能夠實時顯示，方便測試人員查看測試數據。盡管已經示出和描述了本專利技術的實施例，對于本領域的普通技術人員而言，可以理解在不脫離本專利技術的原理和精神的情況下可以對這些實施例進行多種變化、修改、替換和變型，本專利技術的范圍由所附權利要求及其等同物限定。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種多功能半導體電學性質快速測試裝置,?包括測試盒本體（1），其特征在于：所述測試盒本體（1）分為測試盒底座（2）和測試盒上蓋（3），所述測試盒底座（2）和測試盒上蓋（3）活動連接，所述測試盒底座（2）內設有多個卡槽（4），且所述卡槽（4）內固定有帕爾貼片（5），所述卡槽（4）的前端設有測試探針（6），且所述測試探針（6）連接設置在測試探針（6）下方的彈性伸縮組件（7）。

【技術特征摘要】
1.一種多功能半導體電學性質快速測試裝置,包括測試盒本體（1），其特征在于：所述測試盒本體（1）分為測試盒底座（2）和測試盒上蓋（3），所述測試盒底座（2）和測試盒上蓋（3）活動連接，所述測試盒底座（2）內設有多個卡槽（4），且所述卡槽（4）內固定有帕爾貼片（5），所述卡槽（4）的前端設有測試探針（6），且所述測試探針（6）連接設置在測試探針（6）下方的彈性伸縮組件（7）。2.根據權利要求1所述的一種多功能半導體電學性質快速測試裝置，其特征在于：所述彈性伸縮組件（7）包括滑動軸（8）、滑動軸承（9）、固定塊（10）、壓縮彈簧（11）、調節螺絲（12），所述滑動軸（8）固定設置在探針（6）一側，所述滑動軸承（9）設置在滑動軸（8）上，所述...

【專利技術屬性】
技術研發人員：張偉，張樹霞，
申請(專利權)人：馬鞍山紐盟知識產權管理服務有限公司，
類型：發明
國別省市：安徽,34