【技術實現步驟摘要】
電感結構及其制作方法
本專利技術涉及電感領域,特別涉及一種多層結構的電感結構及其制作方法。
技術介紹
電感器一般均由纏繞成螺旋狀的導線所構成,其在通訊設備的射頻(radiofrequency;RF)電路上的應用相當廣泛,例如可應用在移動電話、無線電路、無線調制解調器、以及其它的通訊器材。在集成電路技術的進步下,使得電感器可以利用集成電路技術來制造,且可將電感與其它組件整合于單一芯片上,以降低制造電路所需耗費的成本。目前,常見整合于集成電路制程的電感器的結構為回旋狀金屬層。一般來說,品質因子(qualityfactor,Q)是衡量電感性質的一個關鍵參數,品質因子與電感器的電感(L)、其寄生電容、電阻值以及輸入頻率這些參數相關。電感器若具有高電阻的螺旋線圈或大寄生電容皆會降低該電感器的品質因子。增加品質因子Q的方法有二:一為增加厚度、二為降低阻值。但是現有的電感器的制作需要與互連線的制作工藝兼容,因而制作的電感器的厚度受到限制,另外增大電感器的寬度以增加品質因子的方法也會占用較大的芯片面積。
技術實現思路
本專利技術解決的問題是在保證電感結構品質因子的同時,減小電感結構占據的面積。為解決上述問題,本專利技術提供一種電感結構,包括:底部環狀金屬層,所述底部環狀金屬層包括相連接的第一接口、第一金屬體層和第二接口,所述第一金屬體層從第一接口呈環狀延伸至第二接口;位于底部環狀金屬層層上方的中間金屬層,底部環狀金屬層與中間金屬層相互平行,所述中間金屬層包括相連接的第三接口、第二金屬體層和第四接口,所述第二金屬體層從第三接口呈螺旋環狀延伸至第三接口,其中所述第三接口位于螺旋環 ...
【技術保護點】
一種電感結構,其特征在于,包括:底部環狀金屬層,所述底部環狀金屬層包括相連接的第一接口、第一金屬體層和第二接口,所述第一金屬體層從第一接口呈環狀延伸至第二接口;位于底部環狀金屬層層上方的中間金屬層,底部環狀金屬層與中間金屬層相互平行,所述中間金屬層包括相連接的第三接口、第二金屬體層和第四接口,所述第二金屬體層從第三接口呈螺旋環狀延伸至第三接口,其中所述第三接口位于螺旋環內,第三接口與底部環狀金屬層的第二接口電連接,第四接口作為電感結構的輸出端;位于中間金屬層層上方的頂部環狀金屬層,所述頂部環狀金屬層與中間金屬層相互平行,所述頂部環狀金屬層包括相連接的第五接口、第三金屬體層和第六接口,所述第三金屬體層從第五接口呈環狀延伸至第六接口,所述第六接口與中間金屬層的第三接口電連接,所述第五接口與底部環狀金屬層的第一接口電連接一起作為電感結構的輸入端。
【技術特征摘要】
1.一種電感結構,其特征在于,包括:底部環狀金屬層,所述底部環狀金屬層包括相連接的第一接口、第一金屬體層和第二接口,所述第一金屬體層從第一接口呈環狀延伸至第二接口;位于底部環狀金屬層層上方的中間金屬層,底部環狀金屬層與中間金屬層相互平行,所述中間金屬層包括相連接的第三接口、第二金屬體層和第四接口,所述第二金屬體層從第三接口呈螺旋環狀延伸至第三接口,其中所述第三接口位于螺旋環內,第三接口與底部環狀金屬層的第二接口電連接,第四接口作為電感結構的輸出端;位于中間金屬層層上方的頂部環狀金屬層,所述頂部環狀金屬層與中間金屬層相互平行,所述頂部環狀金屬層包括相連接的第五接口、第三金屬體層和第六接口,所述第三金屬體層從第五接口呈環狀延伸至第六接口,所述第六接口與中間金屬層的第三接口電連接,所述第五接口與底部環狀金屬層的第一接口電連接一起作為電感結構的輸入端。2.如權利要求1所述的電感結構,其特征在于,所述第二金屬體層由至少2跟相互平行的第二指狀金屬層構成,至少2跟第二指狀金屬層的一端電連接在一起并與第四接口連接在一起,至少2跟第二指狀金屬層的另一端是相互斷開,該斷開的至少2個端部作為第三接口。3.如權利要求2所述的電感結構,其特征在于,所述第三金屬體層由至少2跟相互平行的第三指狀金屬層構成,至少2跟第三指狀金屬層的一端電連接在一起并與第五接口相連接,至少2跟第三指狀金屬層的另一端是相互斷開,該斷開的至少2個端部作為第五接口。4.如權利要求3所述的電感結構,其特征在于,所述第二指狀金屬層的數量等于第三指狀金屬層的數量。5.如權利要求4所述的電感結構,其特征在于,所述第一金屬體層由至少1跟第一指狀金屬層構成,至少1跟第一指狀金屬層的一端與第二接口相連接,至少1跟第一指狀金屬層的另一端端部作為第一接口。6.如權利要求5所述的電感結構,其特征在于,所述第二指狀金屬層的數量或者第三指狀金屬層的數量至少為第一指狀金屬層數量的兩倍。7.如權利要求6所述的電感結構,其特征在于,第一指狀金屬層的數量≥2跟時,至少2跟的第一指狀金屬層的一端電連接在一起并與第一接口相連接,至少2跟第一指狀金屬層的另一端相互斷開,該斷開的至少2個端部作為第二接口。8.如權利要求1所述的電感結構,其特征在于,所述第一金屬體層的環數量等于第三金屬體層的環數量,第一金屬體...
【專利技術屬性】
技術研發人員:程仁豪,高金鳳,王西寧,鐘琳,
申請(專利權)人:中芯國際集成電路制造上海有限公司,中芯國際集成電路制造北京有限公司,
類型:發明
國別省市:上海,31
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