陣列基板、顯示面板和顯示面板的檢測方法技術

本發明專利技術實施例公開了一種陣列基板、顯示面板和顯示面板的檢測方法。其中，陣列基板包括顯示區和周邊電路區；顯示區設置有多個矩陣排列的公共電極塊，周邊電路區設置有至少兩條信號檢測走線；每一公共電極塊通過至少一第一公共電極走線與一條信號檢測走線對應電連接，相鄰的公共電極塊與不同的信號檢測走線電連接；周邊電路區還設置有第一控制走線和至少一個第一開關模塊，第一開關模塊通過兩條第二公共電極走線與兩個公共電極塊電連接，兩個公共電極塊對應不同的信號檢測走線。本發明專利技術實施例提供的技術方案，可以有效檢測第二公共電極走線是否發生短路或者斷路，防止驅動IC、FPC、偏光片等物料的浪費，以及制程的浪費，節約資源。

Array substrate, display panel, and detection method of display panel

The embodiment of the invention discloses an array substrate, a display panel and a detection method of the display panel. The array substrate includes a display area and a peripheral circuit area; display area is provided with a common electrode block is arranged with a plurality of matrix, the peripheral circuit area is provided with at least two signal detection line; each common electrode block by at least a first common electrode wire and a signal detection line correspondingly and electrically connected with the public electrode block with different signal detection of adjacent wire is electrically connected; the peripheral circuit area is provided with a first control line and at least a first switch module, and the two common electrode wire block is electrically connected with the first switch module through two second common electrode signal detection, two common electrode blocks corresponding to different line. Technical scheme of the embodiment of the invention can effectively detect the second common electrode wire is short circuit or open circuit, to prevent driver IC, FPC, Polaroid material waste, and waste process, saving resources.

【技術實現步驟摘要】
陣列基板、顯示面板和顯示面板的檢測方法
本專利技術實施例涉及顯示
，尤其涉及一種陣列基板、顯示面板和顯示面板的檢測方法。
技術介紹
在出廠前一般會對顯示面板進行檢測，例如進行視覺檢測(VT檢測)來檢測顯示面板中的走線的連接是否正常。參見圖1，圖1是現有技術中一種顯示面板的結構示意圖。該顯示面板包括多個公共電極100，相鄰的公共電極100通過第一金屬走線200分別與檢測信號線401和檢測信號線402電連接，各公共電極100通過第二金屬走線300與驅動芯片500(驅動IC)電連接。在對顯示面板進行VT檢測時，通過檢測信號線401和402向公共電極100輸送相應的檢測信號，不同檢測信號線輸送不同的檢測信號。這樣，對于一公共電極100，其對應的像素顯示一灰階畫面，與其相鄰的公共電極100對應的像素顯示另一灰階畫面，可通過觀測灰階畫面來確定第一金屬走線200是否發生斷路或者短路。組成模組之后，由驅動芯片500通過第二金屬走線300向公共電極100輸入灰階信號。在第二金屬走線300發生短路或者斷路時，在VT檢測階段無法檢測出第二金屬走線300的斷路或者短路情況，只有在綁定驅動芯片500之后，才能通過驅動芯片500向公共電極100輸入灰階信號來確定第二金屬走線300是否發生了斷路或短路，造成驅動IC、FPC、偏光片等物料的浪費，還會造成制程的浪費。
技術實現思路
本專利技術提供一種陣列基板、顯示面板和顯示面板的檢測方法，以實現在VT檢測階段有效檢測出顯示面板中金屬走線是否發生短路或者斷路的情況，防止造成物料和制程浪費。第一方面，本專利技術實施例提供了一種陣列基板，該陣列基板包括顯示區和周邊電路區；所述顯示區設置有多個矩陣排列的公共電極塊，所述周邊電路區設置有至少兩條信號檢測走線；每一公共電極塊通過一第一公共電極走線與一條所述信號檢測走線對應電連接，相鄰的公共電極塊與不同的信號檢測走線電連接；所述周邊電路區還設置有第一控制走線和至少一個第一開關模塊，所述第一開關模塊的第一端和第二端分別通過兩條第二公共電極走線與兩個公共電極塊電連接，所述兩個公共電極塊對應不同的所述信號檢測走線，所述第一開關模塊的控制端與所述第一控制走線電連接。第二方面，本專利技術實施例還提供了一種顯示面板，該顯示面板包括第一方面提供的陣列基板。第三方面，本專利技術實施例還提供了一種顯示面板檢測方法，其中，顯示面板包括陣列基板，所述陣列基板包括顯示區和非顯示區；所述顯示區設置有多個矩陣排列的公共電極塊，所述周邊電路區設置有至少兩條信號檢測走線；每一公共電極塊通過至少一第一公共電極走線與一條所述信號檢測走線對應電連接，相鄰的公共電極塊與不同的信號檢測走線電連接；所述周邊電路區還設置有第一控制走線和至少一個第一開關模塊，所述第一開關模塊的第一端和第二端分別通過兩條第二公共電極走線與兩個公共電極塊電連接，所述兩個公共電極塊對應不同的所述信號檢測走線，所述第一開關模塊的控制端與所述第一控制走線電連接；該方法可用于對第二方面提供的顯示面板進行檢測，該方法包括：第一階段，通過所述信號檢測走線向所述信號檢測走線電連接的公共電極塊輸入灰階信號，不同信號檢測走線電連接的公共電極塊輸入不同的灰階信號，同時控制所述第一開關模塊關閉；第二階段，控制所述第一開關模塊導通。本專利技術實施例提供的技術方案，第一開關模塊的第一端和第二端分別通過兩條第二公共電極走線與兩個公共電極塊電連接，并且該兩個公共電極塊對應不同的信號檢測走線，第一開關模塊的控制端與第一控制走線電連接。第一開關模塊可以根據第一控制走線上的控制信號導通或者關閉，在第一開關模塊關閉時，通過信號檢測走線向信號檢測走線電連接的公共電極塊輸入灰階信號，不同信號檢測走線電連接的公共電極塊輸入不同的灰階信號，然后控制第一開關模塊導通，根據公共電極塊對應的像素的灰階畫面，可以確定第二公共電極走線是否發生短路或者斷路，在綁定驅動芯片之前即可有效檢測第二公共電極走線是否正常，而不是在綁定驅動芯片和FPC，貼附偏光片之后才可通過驅動芯片檢測第二公共電極走線是否正常，因此不會造成物料和制程浪費。附圖說明圖1是現有技術中一種顯示面板的結構示意圖；圖2A是本專利技術實施例提供的一種陣列基板的結構示意圖；圖2B是本專利技術實施例提供的陣列基板處于一種檢測階段的示意圖；圖3A是本專利技術實施例提供的又一種陣列基板的結構示意圖；圖3B是本專利技術實施例提供的再一種陣列基板的結構示意圖；圖4A是本專利技術實施例提供的一種顯示面板的剖面示意圖；圖4B是本專利技術實施例提供的顯示面板處于一種檢測階段的示意圖；圖4C是本專利技術實施例提供的顯示面板處于另一種檢測階段的示意圖；圖4D是本專利技術實施例提供的顯示面板處于另一種檢測階段的示意圖；圖4E是本專利技術實施例提供的顯示面板處于另一種檢測階段的示意圖；圖5是本專利技術實施例提供的一種顯示面板的檢測方法的流程示意圖。具體實施方式下面結合附圖和實施例對本專利技術作進一步的詳細說明。可以理解的是，此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋本專利技術，而非對本專利技術的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與本專利技術相關的部分而非全部結構。圖2A是本專利技術實施例提供的一種陣列基板的結構示意圖。該陣列基板包括顯示區10和周邊電路區20；顯示區10設置有多個矩陣排列的公共電極塊11，周邊電路區20設置有至少兩條信號檢測走線21；每一公共電極塊11通過至少一第一公共電極走線12與一條信號檢測走線21對應電連接，相鄰的公共電極塊11與不同的信號檢測走線21電連接。例如，圖2A中示例性的示出了兩條信號檢測走線21，分別為第一條信號檢測走線211和第二條信號檢測走線212，可以看到，對于一個與第一條信號檢測走線211電連接的公共電極塊11，與其相鄰的公共電極塊11均與第二條信號檢測走線212電連接。周邊電路區20還設置有第一控制走線22和至少一個第一開關模塊23，第一開關模塊23的第一端和第二端分別通過兩條第二公共電極走線13與兩個公共電極塊11電連接，該兩個公共電極塊11對應不同的信號檢測走線21，第一開關模塊23的控制端與第一控制走線22電連接。例如對于圖2A所示的最左邊的第一開關模塊23，其第一端和第二端分別與兩個公共電極塊11電連接，這兩個公共電極塊11中的一個與第一條信號檢測走線211電連接，另一個與第二條信號檢測走線212電連接。在對本專利技術實施例提供的陣列基板形成的顯示面板進行檢測時，例如進行VT檢測?？梢钥刂频谝婚_關模塊23關閉，通過第一條信號檢測走線211向其電連接的公共電極塊11輸入第一灰階信號，通過第二條信號檢測走線212向其電連接的公共電極塊11輸入第二灰階信號，第一灰階信號和第二灰階信號不同。如此，第一信號檢測走線211電連接的公共電極塊11對應的像素顯示的第一灰階畫面和第二信號檢測走線212電連接的公共電極塊11對應的像素顯示的第二灰階畫面不同。其中，公共電極塊11對應的像素為在該像素顯示過程需要使用該公共電極塊11上的信號的像素。如果監測到第一灰階畫面和第二灰階畫面相同，則可確定第二公共電極走線13有短路發生。如果判斷沒有短路發生，然后通過向第一控制走線22傳輸控制信號控制第一開關模塊23導通，第一信號檢測走線211電連接的公共電極塊11對應的像素顯本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種陣列基板，其特征在于，包括顯示區和周邊電路區；所述顯示區設置有多個矩陣排列的公共電極塊，所述周邊電路區設置有至少兩條信號檢測走線；每一公共電極塊通過至少一第一公共電極走線與一條所述信號檢測走線對應電連接，相鄰的公共電極塊與不同的信號檢測走線電連接；所述周邊電路區還設置有第一控制走線和至少一個第一開關模塊，所述第一開關模塊的第一端和第二端分別通過兩條第二公共電極走線與兩個公共電極塊電連接，所述兩個公共電極塊對應不同的所述信號檢測走線，所述第一開關模塊的控制端與所述第一控制走線電連接。

【技術特征摘要】
1.一種陣列基板，其特征在于，包括顯示區和周邊電路區；所述顯示區設置有多個矩陣排列的公共電極塊，所述周邊電路區設置有至少兩條信號檢測走線；每一公共電極塊通過至少一第一公共電極走線與一條所述信號檢測走線對應電連接，相鄰的公共電極塊與不同的信號檢測走線電連接；所述周邊電路區還設置有第一控制走線和至少一個第一開關模塊，所述第一開關模塊的第一端和第二端分別通過兩條第二公共電極走線與兩個公共電極塊電連接，所述兩個公共電極塊對應不同的所述信號檢測走線，所述第一開關模塊的控制端與所述第一控制走線電連接。2.根據權利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述公共電極塊復用為觸控電極塊。3.根據權利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述第一公共電極走線與所述第二公共電極走線同層設置。4.根據權利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述第一開關模塊的第一端和第二端分別與每一列中相鄰兩行的公共電極塊電連接。5.根據權利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述信號檢測走線為兩條，任意一列公共電極塊中，相鄰兩行所述公共電極塊分別電連接于不同的信號檢測走線。6.根據權利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述周邊電路區還設置有多個第二開關模塊和第二控制走線；每一所述第一公共電極走線和其對應的信號檢測走線之間設置一所述第二開關模塊；所述第一公共電極走線與所述第二開關模塊的第一端電連接，其對應的信號檢測走線與所述第二開關模塊的第二端電連接，所述第二開關模塊的控制端與所述第二控制走線電連接。7.根據權利要求6所述的陣列基板，其特征在于，所述第一開關模塊包括第一晶體管，所述第二開關模塊包括第二晶體管；所述第一晶體管的第一極和第二極分別電連接于所述第一開關模塊的第一端和第二端，所述第一晶體管的柵極與所述第一開關模塊的控制端電連接；所述第二晶體管的第一極和第二極分別電連接于所述第二開關模塊...

【專利技術屬性】
技術研發人員：潘朝煌，
申請(專利權)人：廈門天馬微電子有限公司，
類型：發明
國別省市：福建,35