物體表面缺陷檢測方法和裝置制造方法及圖紙

本公開提供了一種物體表面缺陷檢測方法，包括：獲取物體表面的圖像的指定信息，所述指定信息包括：圖像深度信息；基于所述圖像深度信息，分析所述物體表面是否存在缺陷。本公開還提供了一種物體表面缺陷檢測裝置、一種實現上述物體表面缺陷檢測方法的計算機設備。

【技術實現步驟摘要】
物體表面缺陷檢測方法和裝置
本公開涉及一種物體表面缺陷檢測方法和裝置。
技術介紹
隨著制造業的不斷發展，每天都要生產大量的工業產品。用戶和生產企業對產品質量的要求越來越高，除要求滿足使用性能外，還要有良好的外觀，即良好的表面質量。但是，在制造產品的過程中，表面缺陷的產生往往是不可避免的。不同產品的表面缺陷有著不同的定義和類型，一般而言表面缺陷是產品表面局部物理或化學性質不均勻的區域，如金屬表面的劃痕、斑點、孔洞，紙張表面的色差、壓痕，玻璃等非金屬表面的夾雜、破損、污點，等等。表面缺陷不僅影響產品的美觀和舒適度，而且一般也會對其使用性能帶來不良影響，所以生產企業對產品的表面缺陷檢測非常重視，以便及時發現，從而有效控制產品質量，還可以根據檢測結果分析生產工藝中存在的某些問題，從而杜絕或減少缺陷品的產生。人工檢測是產品表面缺陷的傳統檢測方法，該方法具有抽檢率低、準確性不高、實時性差、效率低、勞動強度大、受人工經驗和主觀因素的影響大等弊端。
技術實現思路
本公開的一個方面提供了一種物體表面缺陷檢測方法，包括：獲取物體表面的圖像的指定信息，所獲取的指定信息包括圖像深度信息。基于所獲取的圖像深度信息，分析物體表面是否存在缺陷。可選地，上述獲取物體表面的圖像的指定信息包括：根據至少兩個從不同角度獲得的物體表面的圖像，獲得圖像深度信息。可選地，所獲取的指定信息還包括圖像強度信息。上述方法還包括提取所獲取的圖像強度信息中的高頻成分。上述基于所獲取的圖像深度信息，分析物體表面是否存在缺陷包括：基于所獲取的圖像深度信息和所獲取的圖像強度信息中的高頻成分，分析物體表面是否存在缺陷。可選地，上述提取所獲取的圖像強度信息中的高頻成分包括：對所獲取的圖像強度信息進行平滑處理，對平滑處理后的圖像強度信息進行高通濾波處理，得到圖像強度信息中的高頻成分。可選地，上述基于所獲取的圖像深度信息和所獲取的圖像強度信息中的高頻成分，分析所述物體表面是否存在缺陷包括：對于圖像強度信息中的高頻成分對應的至少一個像素點，根據圖像深度信息獲取所述像素點對應的深度值，當所述像素點對應的深度值不符合預設條件時，確定所述像素點對應的物體表面存在缺陷。可選地，上述方法還包括獲取物體表面的模板信息。上述基于所獲取的圖像深度信息，分析物體表面是否存在缺陷包括：基于圖像深度信息和物體表面的模板信息，分析物體表面是否存在缺陷。可選地，上述基于圖像深度信息和物體表面的模板信息，分析物體表面是否存在缺陷包括：基于圖像深度信息獲取深度值不符合預設條件的至少一個像素點；在所述像素點的深度值和模板信息對應位置的結構信息不匹配時，確定像素點對應的物體表面存在缺陷。可選地，所獲取的指定信息還包括圖像強度信息。上述方法還包括：提取圖像強度信息中的高頻成分，獲取物體表面的模板信息。上述基于所獲取的圖像深度信息，分析物體表面是否存在缺陷包括：基于圖像深度信息、圖像強度信息中的高頻成分和物體表面的模板信息，分析物體表面是否存在缺陷。本公開的另一個方面提供了一種物體表面缺陷檢測裝置，包括：第一獲取模塊和分析模塊。第一獲取模塊用于獲取物體表面的圖像的指定信息，其中所獲取的指定信息包括圖像深度信息。分析模塊用于基于所獲取的圖像深度信息，分析物體表面是否存在缺陷。可選地，第一獲取模塊用于根據至少兩個從不同角度獲得的物體表面的圖像，獲得圖像深度信息。可選地，所獲取的指定信息還包括圖像強度信息。上述裝置還包括第二獲取模塊，第二獲取模塊用于提取圖像強度信息中的高頻成分。分析模塊，用于基于圖像深度信息和圖像強度信息中的高頻成分，分析物體表面是否存在缺陷。可選地，第二獲取模塊用于對圖像強度信息進行平滑處理，對平滑處理后的圖像強度信息進行高通濾波處理，得到圖像強度信息中的高頻成分。可選地，分析模塊用于對于圖像強度信息中的高頻成分對應的至少一個像素點，根據圖像深度信息獲取所述像素點對應的深度值，當所述像素點對應的深度值不符合預設條件時，確定所述像素點對應的物體表面存在缺陷。可選地，上述裝置還包括第二獲取模塊，第二獲取模塊用于獲取物體表面的模板信息。分析模塊用于基于圖像深度信息和物體表面的模板信息，分析物體表面是否存在缺陷。可選地，分析模塊用于基于圖像深度信息獲取深度值不符合預設條件的至少一個像素點，在所述像素點的深度值和模板信息對應位置的結構信息不匹配時，確定像素點對應的物體表面存在缺陷。可選地，指定信息還包括圖像強度信息。上述裝置還包括第二獲取模塊，第二獲取模塊用于提取圖像強度信息中的高頻成分，以及獲取物體表面的模板信息。分析模塊用于基于圖像深度信息、圖像強度信息中的高頻成分和物體表面的模板信息，分析物體表面是否存在缺陷。本公開的另一方面提供了一種計算機設備，包括處理器、存儲器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，所述處理器執行所述程序時實現如上所述的方法。本公開的另一方面提供了一種非易失性存儲介質，存儲有計算機可執行指令，所述指令在被執行時用于實現如上所述的方法。本公開的另一方面提供了一種計算機程序，所述計算機程序包括計算機可執行指令，所述指令在被執行時用于實現如上所述的方法。附圖說明為了更完整地理解本公開及其優勢，現在將參考結合附圖的以下描述，其中：圖1示意性示出了根據本公開的實施例的物體表面缺陷檢測方法和裝置的應用場；圖2示意性示出了根據本公開的實施例的物體表面缺陷檢測方法的流程圖；圖3A示意性示出了根據本公開的實施例的獲取圖像深度信息的原理圖；圖3B示意性示出了根據本公開的實施例的視差與深度的關系圖；圖4示意性示出了根據本公開的實施例的平滑處理前后的圖像的對比圖；圖5示意性示出了根據本公開的實施例的高通濾波處理前后的圖像的對比圖；圖6示意性示出了根據本公開的另一實施例的物體表面缺陷檢測方法的流程圖；圖7示意性示出了根據本公開的實施例的物體表面缺陷檢測裝置的框圖；圖8示意性示出了根據本公開的另一實施例的物體表面缺陷檢測裝置的框圖；以及圖9示意性示出了根據本公開的實施例的適于實現上文描述的方法的計算機設備的框圖。具體實施方式以下，將參照附圖來描述本公開的實施例。但是應該理解，這些描述只是示例性的，而并非要限制本公開的范圍。在下面的詳細描述中，為便于解釋，闡述了許多具體的細節以提供對本公開實施例的全面理解。然而，明顯地，一個或多個實施例在沒有這些具體細節的情況下也可以被實施。此外，在以下說明中，省略了對公知結構和技術的描述，以避免不必要地混淆本公開的概念。在此使用的術語僅僅是為了描述具體實施例，而并非意在限制本公開。在此使用的術語“包括”、“包含”等表明了所述特征、步驟、操作和/或部件的存在，但是并不排除存在或添加一個或多個其他特征、步驟、操作或部件。在此使用的所有術語(包括技術和科學術語)具有本領域技術人員通常所理解的含義，除非另外定義。應注意，這里使用的術語應解釋為具有與本說明書的上下文相一致的含義，而不應以理想化或過于刻板的方式來解釋。在使用類似于“A、B和C等中至少一個”這樣的表述的情況下，一般來說應該按照本領域技術人員通常理解該表述的含義來予以解釋(例如，“具有A、B和C中至少一個的系統”應包括但不限于單獨具有A、單獨具有B、單獨具有C、具有A和B、具有A和C、具有B和C、和/本文檔來自技高網...

【技術保護點】
1.一種物體表面缺陷檢測方法，包括：獲取物體表面的圖像的指定信息，所述指定信息包括圖像深度信息；基于所述圖像深度信息，分析所述物體表面是否存在缺陷。

【技術特征摘要】
1.一種物體表面缺陷檢測方法，包括：獲取物體表面的圖像的指定信息，所述指定信息包括圖像深度信息；基于所述圖像深度信息，分析所述物體表面是否存在缺陷。2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述獲取物體表面的圖像的指定信息包括：根據至少兩個從不同角度獲得的物體表面的圖像，獲得圖像深度信息。3.根據權利要求1所述的方法，其中，所述指定信息還包括圖像強度信息；所述方法還包括：提取所述圖像強度信息中的高頻成分；所述基于所述圖像深度信息，分析所述物體表面是否存在缺陷包括：基于所述圖像深度信息和所述圖像強度信息中的高頻成分，分析所述物體表面是否存在缺陷。4.根據權利要求3所述的方法，其中，所述提取所述圖像強度信息中的高頻成分包括：對所述圖像強度信息進行平滑處理；對平滑處理后的圖像強度信息進行高通濾波處理，得到所述圖像強度信息中的高頻成分。5.根據權利要求3所述的方法，其中，所述基于所述圖像深度信息和所述圖像強度信息中的高頻成分，分析所述物體表面是否存在缺陷包括：對于所述圖像強度信息中的高頻成分對應的至少一個像素點，根據所述圖像深度信息獲取所述像素點對應的深度值，當所述像素點對應的深度值不符合預設條件時，確定所述像素點對應的物體表面存在缺陷。6.根據權利要求1所述的方法，還包括：獲取所述物體表...

【專利技術屬性】
技術研發人員：張成松，楊帆，王耀暉，
申請(專利權)人：聯想北京有限公司，
類型：發明
國別省市：北京,11