測試系統(tǒng)技術(shù)方案

提供了測試系統(tǒng)。提供的測試系統(tǒng)，包括有序短接插座；所述有序短接插座包括第一組N個針腳與第一組N個二極管，第一組N個針腳的第m個針腳與第m?1個針腳通過第一組N個二極管的第m?1個二極管耦合，其中來自第m個針腳的電流能夠通過第m?1個二極管流向第m?1個針腳；所述N個二極管串聯(lián)連接；其中N與m是自然數(shù)，2

Testing system

The test system is provided. The test system provided includes an ordered short socket, which comprises a first group of N pins and a first group of N diodes. The m pins of the first group of N pins are coupled with the M pins of the M pins through the m_1 diodes of the first group of N pins. The current from the M pins can flow from the M pins to the m_1 pins through the m_1 diodes. The polar tubes are connected in series; where N and m are natural numbers, 2

【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
測試系統(tǒng)
本申請涉及電纜的連通性測試，具體地，涉及測試系統(tǒng)。
技術(shù)介紹
電子系統(tǒng)中常用到定制的電纜。定制電纜通常包括多根芯線，為特定應用而設計和制造。為了保證可靠性，需要測試電纜的芯線的連通性(導通或斷開)。將包含多根芯線的電纜稱為多芯電纜，多芯電纜可具有多個電纜插頭。圖1展示了多芯電纜的示意圖。多芯電纜包括容納了多根芯線的電纜本體與耦合到電纜本體的多個插頭(110、112、120與122)。插頭耦合了一個或多個芯線。在圖1的例子中，耦合到插頭110的芯線，大部分耦合到插頭120，也有部分芯線耦合到插頭122；耦合到插頭112的芯線，大部分耦合到插頭122，也有部分芯線耦合到插頭120。插頭與芯線之間耦合關(guān)系的復雜性，給多芯電纜的連通性測試帶來挑戰(zhàn)。現(xiàn)有技術(shù)的電纜測試方法需要已知每根芯線所耦合的插頭及插頭的針腳的預期對應關(guān)系，然后根據(jù)該預期的對應關(guān)系，依次檢驗測試每根芯線所耦合的插頭的連通性(預期導通)，以及每根芯線所耦合的插頭同其他插頭的連通性(預期斷開)。現(xiàn)有技術(shù)中，也使用電纜測試儀用來自動測試電纜的連通性。
技術(shù)實現(xiàn)思路
現(xiàn)有技術(shù)的電纜測試儀有若干缺點：(1)需要事先知道各插頭的各針腳的耦合關(guān)系(將記錄各針腳的耦合關(guān)系的信息記錄載體稱為連接關(guān)系表)，并按耦合關(guān)系進行定制測試；若不知各針腳的耦合關(guān)系，則無法實施測試，缺乏通用性；(2)需要將電纜的所有插頭連接到同一臺測試儀上才能測試；如果電纜已經(jīng)布設好，且電纜的兩端距離較遠，則往往需要將電纜全部拆除才能測試，帶來了極大的不便；(3)常使用指示燈進行通斷指示；如果所有針腳/芯線一起測試，指示燈只能體現(xiàn)短路/斷路錯誤，難以體現(xiàn)連接關(guān)系錯誤；如果依次測試各針腳/芯線，則需要人工根據(jù)指示燈和連接關(guān)系表對比確認連接關(guān)系是否正確，導致效率低下。根據(jù)本申請的實施例，無須事先知曉電纜的各線芯與插頭/針腳的耦合關(guān)系，而通過實施根據(jù)本申請實施例的測試方法，獲得耦合關(guān)系。測試實施過程簡便，無須拆除已安裝的電纜，即使電纜的各插頭被設置在彼此遠離的位置，也可進行連通性測試。根據(jù)本申請實施例的電纜連通性測試設備通過適配轉(zhuǎn)接頭連接待測試電纜的插頭，可適用于多種規(guī)格的電纜。根據(jù)本申請的第一方面，提供了根據(jù)本申請第一方面的第一測試系統(tǒng)，包括有序短接插座；所述有序短接插座包括第一組N個針腳與第一組N個二極管，第一組N個針腳的第m個針腳與第m-1個針腳通過第一組N個二極管的第m-1個二極管耦合，其中來自第m個針腳的電流能夠通過第m-1個二極管流向第m-1個針腳；所述N個二極管串聯(lián)連接；其中N與m是自然數(shù)，2<＝m<＝N。根據(jù)本申請第一方面的第一測試系統(tǒng)，提供了根據(jù)本申請第一方面的第二測試系統(tǒng)，其中所述有序短接插座還包括第二組N個針腳與第二組N個發(fā)光裝置；其中第二組N個針腳的第k個針腳通過所述第二組N個發(fā)光裝置的第k個發(fā)光裝置耦合到所述第一組N個針腳的第k個針腳，其中k是自然數(shù)，且1<＝k<＝N。根據(jù)本申請第一方面的第一或第二測試系統(tǒng)，提供了根據(jù)本申請第一方面的第三測試系統(tǒng)，其中所述有序短接插座還包括N個跳線座；第一組N個針腳的第m個針腳通過第m個跳線座耦合到第一組N個二極管的第m-1個二極管。根據(jù)本申請第一方面的第二或第三測試系統(tǒng)，提供了根據(jù)本申請第一方面的第四測試系統(tǒng)，其中所述發(fā)光裝置是發(fā)光二極管，或者串聯(lián)的發(fā)光二極管與電阻。根據(jù)本申請第一方面的第一至第四測試系統(tǒng)之一，提供了根據(jù)本申請第一方面的第五測試系統(tǒng)，其中所述有序短接插座還包括回路二極管與回路針腳；所述回路二極管的陽極耦合到所述第一組N個二極管的第1個二極管的陰極；所述回路二極管的陰極耦合到所述回路針腳。根據(jù)本申請第一方面的第二至第五測試系統(tǒng)之一，提供了根據(jù)本申請第一方面的第六測試系統(tǒng)，其中所述第二組N個引腳與所述回路引腳用于耦合到控制器。根據(jù)本申請第一方面的第一至第六測試系統(tǒng)之一，提供了根據(jù)本申請第一方面的第七測試系統(tǒng)，還包括無序短接插座；所述無序短接插座包括P個針腳，所述無序短接插座將所述P個針腳短接在一起；其中P是自然數(shù)。根據(jù)本申請第一方面的第七測試系統(tǒng)之一，提供了根據(jù)本申請第一方面的第八測試系統(tǒng)，其中所述無序短接插座用于耦合被測試電纜的電纜插頭。根據(jù)本申請第一方面的第一至第八測試系統(tǒng)之一，提供了根據(jù)本申請第一方面的第九測試系統(tǒng)，還包括：適配轉(zhuǎn)接頭；所述適配轉(zhuǎn)接頭用于橋接被測試的電纜插頭與所述無序短接插座、所述有序短接插座或所述控制器之一。根據(jù)本申請第一方面的第一至第九測試系統(tǒng)之一，提供了根據(jù)本申請第一方面的第十測試系統(tǒng)，還包括控制器；當被耦合到被測試的電纜插頭，所述控制器向所述電纜插頭的針腳之一施加指定的信號，以及從所述電纜插頭的其他針腳采集信號。根據(jù)本申請第一方面的第一至第十測試系統(tǒng)之一，提供了根據(jù)本申請第一方面的第十一測試系統(tǒng)，其中所述有序短接插座用于耦合被測試電纜的電纜插頭。根據(jù)本申請第一方面的第一至第十一測試系統(tǒng)之一，提供了根據(jù)本申請第一方面的第十二測試系統(tǒng)，還包括計算機；所述計算機耦合所述測試系統(tǒng)的控制器。根據(jù)本申請的第二方面，提供了根據(jù)本申請第二方面的第一電纜連通性測試方法，包括：S1：連接電纜的第一電纜插頭的針腳，使得第一電纜插頭的各針腳形成單向有序連接；S2：向電纜的第二電纜插頭的當前測試針腳施加指定信號；S3：從第二電纜插頭的其他針腳采集信號；S4：根據(jù)采集到所施加的指定信號或同所述指定信號對應的信號的針腳的數(shù)量索引第一電纜插頭的當前連通針腳；S5：記錄第二電纜插頭的當前測試針腳與第一電纜插頭的當前連通針腳相連通。根據(jù)本申請第二方面的第一電纜連通性測試方法，提供了根據(jù)本申請第二方面的第二電纜連通性測試方法，還包括：選擇第二電纜插頭的待測試針腳之一作為當前測試針腳；重復步驟S2至步驟S5，以得到當前測試針腳的連通性。根據(jù)本申請第二方面的第一或第二電纜連通性測試方法，提供了根據(jù)本申請第二方面的第三電纜連通性測試方法，還包括：第一電纜插頭的各針腳具有序號，用二極管連接具有相鄰序號的針腳，使得第一電纜插頭的各針腳形成單向有序連接。根據(jù)本申請第二方面的第三電纜連通性測試方法，提供了根據(jù)本申請第二方面的第四電纜連通性測試方法，還包括：識別第一電纜插頭和/或第二電纜插頭的一個或多個短接針腳組，將短接針腳組中的針腳從待測試針腳中移除，使得每個短接針腳組僅具有單一待測試針腳。根據(jù)本申請第二方面的第四電纜連通性測試方法，提供了根據(jù)本申請第二方面的第五電纜連通性測試方法，根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中每個短接針腳組中保留的待測試針腳是該短接針腳組中序號最小的針腳。根據(jù)本申請第二方面的第四或第五電纜連通性測試方法，提供了根據(jù)本申請第二方面的第六電纜連通性測試方法，其中向第一電纜插頭的第一針腳施加指定信號；從第一電纜插頭的其他針腳采集信號；第一針腳與采集到所施加的指定信號或同指定信號對應的信號的所有針腳組成短接針腳組。根據(jù)本申請第二方面的第四至第六電纜連通性測試方法之一，提供了根據(jù)本申請第二方面的第七電纜連通性測試方法，其中向第二電纜插頭的第二針腳施加指定信號；從第二電纜插頭的其他針腳采集信號；第二針腳與采集到所施加的指定信號或同指定信號對應的信號的所有針腳組成短接針腳組。根據(jù)本申請第二方本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護點】
1.一種測試系統(tǒng)，其特征是，包括有序短接插座；所述有序短接插座包括第一組N個針腳與第一組N個二極管，第一組N個針腳的第m個針腳與第m?1個針腳通過第一組N個二極管的第m?1個二極管耦合，其中來自第m個針腳的電流能夠通過第m?1個二極管流向第m?1個針腳；所述N個二極管串聯(lián)連接；其中N與m是自然數(shù)，2<＝m<＝N。

【技術(shù)特征摘要】
1.一種測試系統(tǒng)，其特征是，包括有序短接插座；所述有序短接插座包括第一組N個針腳與第一組N個二極管，第一組N個針腳的第m個針腳與第m-1個針腳通過第一組N個二極管的第m-1個二極管耦合，其中來自第m個針腳的電流能夠通過第m-1個二極管流向第m-1個針腳；所述N個二極管串聯(lián)連接；其中N與m是自然數(shù)，2<＝m<＝N。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其中所述有序短接插座還包括第二組N個針腳與第二組N個發(fā)光裝置；其中第二組N個針腳的第k個針腳通過所述第二組N個發(fā)光裝置的第k個發(fā)光裝置耦合到所述第一組N個針腳的第k個針腳，其中k是自然數(shù)，且1<＝k<＝N。3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的測試系統(tǒng)，其中所述有序短接插座還包括N個跳線座；第一組N個針腳的第m個針腳通過第m個跳線座耦合到第一組N個二極管的第m-1個二極管。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其中所述有序短接插座還包括回路二極管與回路針腳；所...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：周密，楊敏彥，尚利宏，
申請(專利權(quán))人：北京中航瑞博航空電子技術(shù)有限公司，
類型：新型
國別省市：北京,11