顯示裝置制造方法及圖紙

提供了一種顯示裝置。所述顯示裝置包括：第一基板，包括顯示區域；薄膜晶體管，位于所述第一基板上；像素電極，連接到所述薄膜晶體管；濾色器，與所述像素電極疊置；第二基板，與所述第一基板疊置；液晶層，位于所述第一基板和所述第二基板之間；以及瑕疵校正層，位于所述第二基板和所述液晶層之間并且包括半導體納米晶體。所述顯示區域包括第一區域和除所述第一區域之外的第二區域。所述瑕疵校正層位于所述第一區域中。

display device

【技術實現步驟摘要】
顯示裝置與相關申請的交叉引用本申請要求于2018年1月18日在韓國知識產權局提交的第10-2018-0006605號韓國專利申請的優先權的權益，該韓國專利申請的全部公開內容通過引用包含于此。
本公開涉及一種顯示裝置。
技術介紹
相關技術的討論液晶顯示器可包括兩個場發生電極、液晶層、濾色器和偏振層。從光源發射的光在到達觀察者之前穿過液晶層、濾色器和偏振層。然而，一些發射光可能在偏振層或濾色器中丟失。
技術實現思路
本專利技術構思的至少一個示例性實施例提供了一種顯示裝置，該顯示裝置減少或消除了瑕疵(stain)缺陷并且具有更均勻的亮度。瑕疵缺陷可能是所述顯示裝置的顯得過暗的部分。此外，本專利技術構思的至少一個示例性實施例可具有改進的視角。根據本專利技術構思的示例性實施例的顯示裝置包括：第一基板，包括顯示區域；薄膜晶體管，位于所述第一基板上；像素電極，連接到所述薄膜晶體管；濾色器，與所述像素電極疊置；第二基板，與所述第一基板疊置；液晶層，位于所述第一基板和所述第二基板之間；以及瑕疵校正層，位于所述第二基板和所述液晶層之間并且包括半導體納米晶體。所述顯示區域包括第一區域和除第一區域之外的第二區域。所述瑕疵校正層位于所述第一區域中。在實施例中，所述第一區域包括穿越所述顯示區域的水平部分或豎直部分。在實施例中，所述第一區域包括圓形形狀區域。在實施例中，所述第一區域包括與所述顯示區域的相應邊緣疊置的框架形狀區域。在示例性實施例中，所述薄膜晶體管包括位于所述第一區域中的第一薄膜晶體管和位于所述第二區域中的第二薄膜晶體管，并且所述第一薄膜晶體管的溝道長度和所述第二薄膜晶體管的溝道長度彼此不同。在實施例中，所述第一薄膜晶體管的所述溝道長度短于所述第二薄膜晶體管的所述溝道長度。在實施例中，與所述第一區域疊置的所述液晶層的厚度和與所述第二區域疊置的所述液晶層的厚度彼此不同。在實施例中，所述像素電極包括交叉桿部分和從所述交叉桿部分延伸的微小分支部分，并且位于所述第一區域中的所述微小分支部分的寬度不同于位于所述第二區域中的所述微小分支部分的寬度。在實施例中，位于所述第一區域的所述微小分支部分的所述寬度小于位于所述第二區域中的所述微小分支部分的所述寬度。在實施例中，所述第一區域與多個像素電極疊置，并且所述瑕疵校正層包括成形為在所述多個像素電極上彼此連接的多個層。在實施例中，所述瑕疵校正層包括將入射光轉變成紅光的第一半導體納米晶體，以及將所述入射光轉變成綠光的第二半導體納米晶體。在實施例中，所述瑕疵校正層進一步包括將所述入射光轉變成藍光的第三半導體納米晶體。在實施例中，所述瑕疵校正層包括第一瑕疵校正層、第二瑕疵校正層和第三瑕疵校正層，所述第一瑕疵校正層與發射紅光的區域疊置，所述第二瑕疵校正層與發射綠光的區域疊置，所述第三瑕疵校正層與發射藍光的區域疊置。在實施例中，所述第一瑕疵校正層、所述第二瑕疵校正層和所述第三瑕疵校正層彼此分開。在實施例中，位于所述第一區域中的所述瑕疵校正層包括具有不同厚度的多個區域。根據本專利技術構思的示例性實施例的顯示裝置包括：第一基板，包括顯示區域，所述顯示區域包括第一區域和除所述第一區域之外的第二區域；第一薄膜晶體管，位于所述第一區域中的第一基板上；像素電極，連接到所述第一薄膜晶體管；瑕疵校正層，位于所述第一區域中，與所述像素電極疊置并包括半導體納米晶體；第二基板，與所述第一基板疊置；以及濾色器，位于所述第二基板和所述瑕疵校正層之間。所述第一薄膜晶體管的溝道長度不同于位于所述第二區域中的第二薄膜晶體管的溝道長度。根據本專利技術構思的示例性實施例的顯示裝置包括：第一基板，包括具有第一區域和第二區域的顯示區域；第二基板，與所述第一基板相對；濾色器，設置在所述第二基板上；液晶層，位于所述第一基板和所述第二基板之間；以及分散介質，包含多個半導體納米晶體。所述分散介質位于所述濾色器和所述液晶層之間。所述分散介質僅設置在所述第一區域和所述第二區域中的所述第一區域中。附圖說明圖1是示意性地示出根據本專利技術構思的示例性實施例的包括第一區域和第二區域的顯示裝置的俯視圖。圖2是示意性地示出根據本專利技術構思的示例性實施例的包括第一區域和第二區域的顯示裝置的俯視圖。圖3是表示位于第一區域和第二區域中的每個區域處的多個像素的俯視圖。圖4是沿圖3的線IV-IV'截取的剖視圖。圖5是沿圖3的線V-V'截取的剖視圖。圖6是根據示例性實施例的位于第一區域和第二區域中的每個區域處的多個像素的俯視圖。圖7、圖8和圖9分別是根據圖6的示例性實施例的與圖4對應地截取的剖視圖。圖10是包括根據本專利技術構思的示例性實施例的用于計算瑕疵校正層的位置和厚度的方法的流程圖。圖11和圖12是示出顯示裝置的出現瑕疵的圖像的視圖。圖13是示意性地示出執行曝光的過程的俯視圖。圖14是示出位于圖13的第一區域處的薄膜晶體管的圖像的視圖，并且圖15是示出位于圖13的第二區域處的薄膜晶體管的圖像的視圖。具體實施方式在下文中，將參照附圖更全面地描述本專利技術，附圖中示出了本專利技術的示例性實施例。在所有不脫離本專利技術的精神或范圍的情況下，可以以各種不同的方式修改所描述的實施例。為了清楚地描述本專利技術，與描述無關的部分將被省略，并且在整個說明書中相同的元件將由相同的附圖標記表示。而且，應當理解的是，當元件(諸如，層、膜、區域或基板)被稱為在另一元件“上”時，該元件可直接在另一元件上或者也可存在中間元件。參照圖1至圖5，將描述根據示例性實施例的顯示裝置。圖1是示意性地示出根據示例性實施例的包括第一區域和第二區域的顯示裝置的俯視圖，圖2是示意性地示出根據本專利技術構思的示例性實施例的包括第一區域和第二區域的顯示裝置的俯視圖，圖3是表示位于第一區域和第二區域中的每個區域處的多個像素的俯視圖，圖4是沿圖3的線IV-IV'截取的剖視圖，并且圖5是沿圖3的線V-V'截取的剖視圖。參照圖1，根據本專利技術構思的示例性實施例的顯示裝置10包括用于顯示圖像的顯示區域DA和位于顯示區域DA的邊緣處的外圍區域PA。外圍區域PA可圍繞顯示區域DA。外圍區域PA可被稱為非顯示區域。非顯示區域可包括用于驅動顯示區域DA的像素的控制電路。例如，控制電路可包括用于驅動連接到像素的柵極線的柵極驅動電路和用于驅動連接到像素的數據線的源極驅動電路。顯示區域DA包括第一區域R1和第二區域R2。根據示例性實施例的第一區域R1包括水平區域HS、豎直區域VS和邊緣區域PS當中的至少一個。雖然，在圖1中示出了一個水平區域HS和一個豎直區域VS，但是本專利技術不限于此。例如，可包括多個水平區域和豎直區域。在實施例中，邊緣區域PS包括相互平行的第一部分(例如，最上部的水平矩形)與第二部分(例如，最下部的水平矩形)，以及相互平行的第三部分(例如，最左側的豎直矩形)與第四部分(例如，最右側的豎直矩形)。在該實施例中，第三部分連接到第一部分和第二部分，并且第四部分連接到第一部分和第二部分，使得邊緣區域PS具有框架或窗口形狀。在實施例中，豎直區域VS和水平區域HS相互交叉。在實施例中，豎直區域VS的第一邊緣連接到第一部分，并且豎直區域VS的相對第二邊緣連接到第二部分。在實施例中，水平區域HS的第一邊緣連接到第三部分，并且水平區域HS的相對第二邊緣連接到第四部分。參照圖2，根本文檔來自技高網...

【技術保護點】
1.一種顯示裝置，包括：第一基板，包括顯示區域；薄膜晶體管，位于所述第一基板上；像素電極，連接到所述薄膜晶體管；濾色器，與所述像素電極疊置；第二基板，與所述第一基板疊置；液晶層，位于所述第一基板和所述第二基板之間；以及瑕疵校正層，位于所述第二基板和所述液晶層之間并包括半導體納米晶體，其中，所述顯示區域包括第一區域和除所述第一區域之外的第二區域，并且所述瑕疵校正層位于所述第一區域中。

【技術特征摘要】
2018.01.18 KR 10-2018-00066051.一種顯示裝置，包括：第一基板，包括顯示區域；薄膜晶體管，位于所述第一基板上；像素電極，連接到所述薄膜晶體管；濾色器，與所述像素電極疊置；第二基板，與所述第一基板疊置；液晶層，位于所述第一基板和所述第二基板之間；以及瑕疵校正層，位于所述第二基板和所述液晶層之間并包括半導體納米晶體，其中，所述顯示區域包括第一區域和除所述第一區域之外的第二區域，并且所述瑕疵校正層位于所述第一區域中。2.如權利要求1所述的顯示裝置，其中，所述第一區域包括水平部分、豎直部分、框架形狀區域和圓形形狀區域中的至少一個，所述水平部分和所述豎直部分穿越所述顯示區域，并且所述框架形狀區域與所述顯示區域的相應邊緣疊置。3.如權利要求1所述的顯示裝置，其中，所述薄膜晶體管包括：位于所述第一區域中的第一薄膜晶體管；和位于所述第二區域中的第二薄膜晶體管，其中，所述第一薄膜晶體管的溝道長度和所述第二薄膜晶體管的溝道長度彼此不同。4.如權利要求...

【專利技術屬性】
技術研發人員：崔珠英，沈潤燮，金圭翊，林孝澤，
申請(專利權)人：三星顯示有限公司，
類型：發明
國別省市：韓國,KR