【技術實現步驟摘要】
一種圖像差異檢測方法、裝置、電子設備和存儲介質
本專利技術涉及圖像處理
,尤其涉及一種圖像差異檢測方法、裝置、電子設備和存儲介質。
技術介紹
圖像差異檢測是一種可用于電力設備的防外破預警,工業產品缺陷檢測的圖像分析技術。近年來,圖像差異檢測的應用越來越多。現有技術在進行圖像差異檢測時,一般是基于特定場景下兩幅圖像的局部像素特征及相似性度量來檢測出差異位置。現有技術存在的問題是,基于局部像素特征及相似性度量來檢測出差異位置對于差異檢測的局限性較大,需要預先知道兩個產品可能存在的差異種類,才能進行差異檢測,例如,預先知道產品可能存在缺角這種工藝缺陷,然后在獲取到產品圖像后,基于局部像素特征及相似性度量來檢測是否存在缺角差異。因此,現有的差異檢測方法應用的場景局限性較大,如果預先不知道差異類型,便不能很好的檢測差異區域。
技術實現思路
本專利技術實施例提供了一種圖像差異檢測方法、裝置、電子設備和存儲介質,用以解決現有技術中的差異檢測方案局限性較大的問題。本專利技術實施例提供了一種圖像差異檢測方法,所述方法包括:針對待檢測的第一圖像和第二圖像,根據預設的窗口對所述第一圖像進行隨機偏移處理,得到預設數量的第三圖像;根據每個第三圖像,進行高斯背景建模,得到背景模型;采用所述預設的窗口截取所述第二圖像,得到第四圖像;將所述第四圖像與所述背景模型進行差值計算,確定所述第四圖像中的差異像素點。進一步地,所述根據每個第三圖像,進行高斯背景建 ...
【技術保護點】
1.一種圖像差異檢測方法,其特征在于,所述方法包括:/n針對待檢測的第一圖像和第二圖像,根據預設的窗口對所述第一圖像進行隨機偏移處理,得到預設數量的第三圖像;/n根據每個第三圖像,進行高斯背景建模,得到背景模型;/n采用所述預設的窗口截取所述第二圖像,得到第四圖像;將所述第四圖像與所述背景模型進行差值計算,確定所述第四圖像中的差異像素點。/n
【技術特征摘要】
1.一種圖像差異檢測方法,其特征在于,所述方法包括:
針對待檢測的第一圖像和第二圖像,根據預設的窗口對所述第一圖像進行隨機偏移處理,得到預設數量的第三圖像;
根據每個第三圖像,進行高斯背景建模,得到背景模型;
采用所述預設的窗口截取所述第二圖像,得到第四圖像;將所述第四圖像與所述背景模型進行差值計算,確定所述第四圖像中的差異像素點。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據每個第三圖像,進行高斯背景建模,得到背景模型包括:
根據每個第三圖像,針對每個位置的每個第一像素點,計算該位置的每個第一像素點的像素值的均值和方差。
3.如權利要求2所述的方法,其特征在于,所述將所述第四圖像與所述背景模型進行差值計算,確定所述第四圖像中的差異像素點包括:
針對所述第四圖像中的每個第二像素點,根據該第二像素點的位置確定該第二像素點對應的目標均值和目標方差;計算該第二像素點的像素值與目標均值的差值的絕對值,判斷所述絕對值是否小于所述目標方差與預設系數的乘積;如果是,確定該第二像素點為背景像素點,如果否,確定該第二像素點為差異像素點。
4.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述針對待檢測的第一圖像和第二圖像,根據預設的窗口對所述第一圖像進行隨機偏移處理,得到預設數量的第三圖像之前,所述方法還包括:
分別確定所述第一圖像中的第一SIFT特征點和第二圖像中的第二SIFT特征點;
針對所述第二圖像中的每個第二SIFT特征點,確定所述第一圖像中與該第二SIFT特征點匹配的第一SIFT特征點;
根據相匹配的第一SIFT特征點和第二SIFT特征點,確定投射變換矩陣;
通過所述投射變換矩陣,對所述第二圖像進行變換處理,采用變換處理后的圖像對所述第二圖像進行更新。
5.如權利要求4所述的方法,其特征在于,所述確定所述第一圖像中與該第二SIFT特征點匹配的第一SIFT特征點之后,根據相匹配的第一SIFT特征點和第二SIFT特征點,確定投射變換矩陣之前,所述方法還包括:
通過隨機一致性算法RANSAC,對相匹配的第一SIFT特征點和第二SIFT特征點進行過濾;
所述根據相匹配的第一SIFT特征點和第二SIFT特征點,確定投射變換矩陣包括:
根據保留的相匹配的第一SIFT特征點和第二SIFT特征點,確定投射變換矩陣。
6.如權利要求4所述的方法,其特征在于,所述通過所述投射變換矩陣,對所述第二圖像進行變換處理之后,針對待檢測的第一圖像和第二圖像,對所述第一圖像進行隨機偏移處理,得到預設數量的第三圖像之前,所述方法還包括:
判斷所述第一圖像與所述變換處理后得到的第二圖像的視場是否相同,如果否,截取所述第一圖像中,與所述第二圖像視場相同的區域,將所述相同的區域更新為...
【專利技術屬性】
技術研發人員:李保坤,王楓,
申請(專利權)人:浙江大華技術股份有限公司,
類型:發明
國別省市:浙江;33
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