由荷載探測器測量了流經(jīng)流道的粒料的動荷載以及在預(yù)定時(shí)間內(nèi)流經(jīng)預(yù)定位置的粒料總體的靜荷載。根據(jù)第一公式算出對應(yīng)于粒料動荷載測量值的動態(tài)荷載型流率,根據(jù)第二公式算出據(jù)上述靜荷載的測量值算出的粒料實(shí)際流率。根據(jù)粒料的不同求出校正系數(shù),使動荷載型流率值與實(shí)際流率值一致,據(jù)此校正系數(shù)校正第一公式,并由校正的第一公式根據(jù)已測的動荷載來計(jì)算已校正的動荷載型流率。由此能制得易校準(zhǔn)或易校正其流率的流量計(jì)。(*該技術(shù)在2017年保護(hù)過期,可自由使用*)
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及用來測量連續(xù)流過流道的粒料的流率的流量計(jì),還涉及用來校準(zhǔn)這種流量計(jì)的方法?!傲A稀痹诖耸侵富旧峡蛇B續(xù)流動的顆粒或粉粒,它的例子不僅有麥粒與米粒以及例如麥粉或面粉的粉粒,還有其特性(比如比重)依外部條件例如環(huán)境條件與生產(chǎn)條件而變化的顆粒,以及平均粒度不同的顆粒,而且這種顆?;蚍哿5某叽绮皇芟拗?。在加工稻米與小麥之類谷物的設(shè)備中,有關(guān)粒料的加工數(shù)量是以流率來測度的。這里,“粒料的流率”是指單位時(shí)間內(nèi)流過的這類粒料的重量。為了連續(xù)地測量連續(xù)流動的這類粒料的流率,采用了沖擊荷載探測型或沖擊型流量計(jì),其中用沖擊接收探測板(沖擊接收板狀件)來接收粒料,測量此種粒料在此板上的沖擊荷載,然后將此沖擊荷載換算為流率。但在這種沖擊型流量計(jì)中,粒料作用于沖擊接收探測板上的向下流動沖擊隨粒料的性質(zhì)或特征,例如隨粒料的毛體積比重、水分與溫度而變化。當(dāng)有關(guān)流率只是對相同條件下同一種原料粒進(jìn)行測量時(shí),上述變化不會引起實(shí)質(zhì)上的問題。但事實(shí)上,原料的環(huán)境很少是整齊有序的,并且在絕大多數(shù)情況下必須測量各種各樣粒料的流率。此外,即使是同一種粒粒,取決于粒料受到過的各種條件的影響,它們的水份常常會變化。于是,在用來加工各粒料的加工設(shè)備或加工機(jī)構(gòu)中,常需用很多的時(shí)間來校準(zhǔn)流量計(jì)或校正流量計(jì)中流率的示度,在流量計(jì)中,“校正流率”與“流率校正”是指“校正流率的示度”與“流率示度的校正”,也即是“校準(zhǔn)流量計(jì)”與“流量計(jì)的校準(zhǔn)”。在校正沖擊型流量計(jì)流率(的示度)時(shí),通常是在一段預(yù)定時(shí)間內(nèi)從(待測量的)粒料流中提取或抽樣一定量的粒料,根據(jù)這段預(yù)定時(shí)間內(nèi)提取的粒料重量來計(jì)算實(shí)際的流率,然后依此實(shí)際的流率值來校正流率或進(jìn)行校準(zhǔn)。絕大多數(shù)這類校正或校準(zhǔn)作業(yè)是由手工進(jìn)行。要是試圖對安裝在一加工設(shè)備中許多流量計(jì)的每一個(gè)都來精確地校正流率或進(jìn)行校準(zhǔn),這樣的校正或校準(zhǔn)作業(yè)常需用很長時(shí)間(例如一至二日)。如果想把此種校正或校準(zhǔn)作業(yè)所需的勞動減至最少,當(dāng)加工中的原料粒與前一批的類似時(shí),就省略對流率的校正或即省略校準(zhǔn),結(jié)果降低了流量計(jì)所測流率值的精度。已知存在有這樣類型的流量計(jì),包括以傾斜方式設(shè)于粒料流道中的荷載接收板狀件(在這部分涉及對有關(guān)技術(shù)描述中用到的“粒料”一詞,不限于指其性質(zhì)或特性易隨環(huán)境條件而變化或是其比重等易隨環(huán)境條件而改變的物料,而是泛指任何中等粒度或小粒度的粒料物質(zhì)和粉料),用來接收對應(yīng)于粒料流過流道的粒料流率的動荷載;用來探測上述荷載接收板狀件接收的荷載大小的荷載探測器;以及運(yùn)算/控制單元,該單元具有動荷載型流率計(jì)算裝置,用來根據(jù)粒料流過流道時(shí)從荷載探測器獲得的測量值計(jì)算“動荷載型流率”(定義見后)。這類流量計(jì)例如公開于日本專利(公開)公報(bào)No.1-105120(A)(要求1987年5月13日提出的美國專利申請No.07/049666的普通優(yōu)先權(quán));日本專利(公開)公報(bào)No.63-195524(A);美國專利No.5065632;日本專利(公開)公報(bào)No.8-14962(A)與57-189013(A),以及WO-A-93-22633。在上述這些現(xiàn)有技術(shù)的參考文獻(xiàn)中,日本專利(公開)公報(bào)No.1-105120(A)、美國專利No.5065632與日本專利(公開)公報(bào)No.8-14962(A)公開了一種有代表性的沖擊探測型流量計(jì),其中的荷載接收板狀件接收經(jīng)一段顯著距離下落的粒料的向下流動沖擊。另一方面,在所述參考文獻(xiàn)中,日本專利(公開)公報(bào)No.63-195524(A)和相應(yīng)于WO-A-93-22633的日本專利(公開)說明書No.6-511558(A)公開了這樣一種結(jié)構(gòu),其中的荷載接收板狀件接收從上游側(cè)斜面上經(jīng)較小一段距離下落的粒料的較小的向下流動沖擊,而且此荷載接收板狀件支承著粒料使其能在此板狀件上表面上往下流動,而板狀件接收的總荷載(以后稱為“動荷載”)為上述兩種荷載的和(亦即向下流動沖擊的荷載和在此板狀件上表面上向下流動的粒料的荷載)。在本說明書中,“動荷載”指包括流動的粒料作用于荷載探測器的荷載的總荷載,同時(shí)它可以把流動的粒料的重量產(chǎn)生的靜荷載包括進(jìn)去作為它的一部分,但其前提是沉積或聚集于板狀件上不流動的粒料的靜荷載不包括在此動荷載之中。相應(yīng)于美國專利申請No.07/049666的日本專利(公開)公報(bào)No.1-105120公開了一種沖擊型流量計(jì),其中將向下流動沖擊作為動荷載探測,同時(shí)調(diào)整或校正其輸出量程(output span)。具體地說,此日本專利(公開)公報(bào)No.1-105120公開的是附圖說明圖15所示的沖擊型流量計(jì)120。沖擊型流量計(jì)120包括筒形套123,它有一個(gè)在其下端的下游端口121以及一個(gè)插入粒料流入管122的側(cè)口;沖擊接收板124,用來接收流經(jīng)注入管122的粒料的向下流動沖擊;以及應(yīng)變儀裝置(用作荷載探測器)125,它的上端以吊掛形式安裝于套123的內(nèi)周面上,它的下端則以吊掛方式支承沖擊接收板124。應(yīng)變儀裝置125探測作為沖擊荷載被荷載接收板124所接收的向下流動沖擊的水平分力。沖擊型流量計(jì)120必要時(shí)還包括有校準(zhǔn)砣127,它經(jīng)纜繩126與沖擊型接收板的外表面連接。此校準(zhǔn)砣127用來調(diào)節(jié)構(gòu)成上述荷載探測器的放大器的量程問題。但在以上情形下,為了確定通過變換沖擊接收板124探測出的荷載所求得的實(shí)際流率值是否正確,就必須“使流動的粒料以已知的流率通過流量計(jì)來檢驗(yàn)所進(jìn)行的校準(zhǔn)”??紤]到上述種種問題,本專利技術(shù)的目的之一在于提供這樣的流量計(jì),其中的流率(示度)易于校正或校準(zhǔn);并提供這樣的方法,用來校準(zhǔn)流量計(jì)或校正流量計(jì)測得的流率(的示度)。本專利技術(shù)的另一目的在于提供這樣的流量計(jì),其中只需較少的時(shí)間與勞力來校準(zhǔn)流量計(jì)或校正相應(yīng)的流率;并提供這樣的方法,用來校準(zhǔn)流量計(jì)或校正流量計(jì)測得的流率(的示度)。本專利技術(shù)的又一目的在于提供這樣的流量計(jì),它能根據(jù)原料粒的變化來精確地測量流率;并提供這樣的方法,用來校準(zhǔn)流量計(jì)或校正此流量計(jì)測得的流率(的示度)。本專利技術(shù)的再一目的在于提供這樣的流量計(jì),其中在每次開始測量具有不同性質(zhì)或特性的粒料流率之前,對此流量計(jì)或由其測得的流率(的示度)作實(shí)質(zhì)性的或自動的校準(zhǔn)或校正;并提供這樣的方法,用來校準(zhǔn)流量計(jì)或校正流量計(jì)測得的流率(的示度)。為了實(shí)現(xiàn)至少是部分上述目的,根據(jù)本專利技術(shù)的第一個(gè)方面,提供了一種流量計(jì),此流量計(jì)包括形成粒料流道的管件;開/關(guān)閥件,它與上述管件連接,以能開/關(guān)管件的下游端口,此開/管閥件當(dāng)處于其打開位置以敞開管件的下游端口時(shí),適用于接收相應(yīng)于流過流道的粒料流率的動荷載;以及用來探測作用于此開/關(guān)閥件荷載的荷載探測器;其中,上述流量計(jì)還包括有運(yùn)算/控制單元,而此運(yùn)算/控制單元包括動荷載型流率計(jì)算裝置,用來在上述開/關(guān)閥件允許粒料流動而使粒料流過流道時(shí),根據(jù)荷載探測器的測量值來求出或計(jì)算出粒料的動荷載型流率;實(shí)際流率計(jì)算裝置,用來根據(jù)荷載探測器的測量值和預(yù)定時(shí)間間隔值來計(jì)算粒料的實(shí)際流率,該測量值為開/關(guān)閥件中斷或截止后上述預(yù)定時(shí)間間隔內(nèi)沉積或聚集于所述管件內(nèi)的粒料的靜荷載;以及用來求得或得出或計(jì)算出一校正系數(shù),用于將動荷載型流率值校正成實(shí)際流率值的裝置。為了實(shí)現(xiàn)至少是部分上述目的,根據(jù)本專利技術(shù)的第二方面,提出了一種流量計(jì),此流量計(jì)包括以傾置方式設(shè)于粒料流道內(nèi)的荷載接收板狀件本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種流量計(jì),此流量計(jì)包括:形成粒料流道的管件;開/關(guān)閥件,它與上述管件連接成能開/關(guān)管件的下游端口,此開/關(guān)閥件當(dāng)處于其打開位置來敞開管件的下游端口時(shí),適用于接收相應(yīng)于流過流道的粒料流率的動荷載;以及用來探測作用于此開/關(guān)閥件上 荷載的荷載探測器;其中,上述流量計(jì)還包括有運(yùn)算/控制單元,此運(yùn)算/控制單元包括:動荷載型流率計(jì)算裝置,用來在上述開/關(guān)閥件允許粒料流動而使粒料流過流道時(shí),根據(jù)荷載探測器的測量值來求出或計(jì)算出粒料的動荷載型流率;實(shí)際流率計(jì)算裝置, 用來根據(jù)荷載探測器的測量值和一預(yù)定的時(shí)間間隔值來計(jì)算粒料的實(shí)際流率,該測量值為開/關(guān)閥件中斷或截止后在上述預(yù)定時(shí)間間隔內(nèi)沉積或聚集于所述管件內(nèi)的粒料的靜荷載;以及用來求得將動荷載型流率值校正成實(shí)際流率值的校正系數(shù)的裝置。
【技術(shù)特征摘要】
...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:佐竹覺,友保義正,
申請(專利權(quán))人:株式會社佐竹,
類型:發(fā)明
國別省市:JP[日本]
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