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    檢測裝置制造方法及圖紙

    技術編號:25642838 閱讀:47 留言:0更新日期:2020-09-15 21:33
    本發明專利技術提供一種能夠用單一的非接觸式開關來區分并檢測多個檢測體的狀態的檢測裝置。該檢測裝置包括:具有導電性的檢測體(2);以及輸出根據構成檢測體(2)的材質而變化的非接觸式開關(1),非接觸式開關(1)包括:檢測用線圈(101);振蕩電路(104),其進行振蕩以使檢測用線圈(101)產生高頻磁場;檢波電路(105),其對振蕩電路(104)的振蕩的振幅進行檢波;比較電路(106),其將由檢波電路(105)檢波得到的振幅與多個閾值分別進行比較;輸出電路(107),其根據比較電路(106)的與多個閾值的比較結果,分別輸出表示由檢波電路(105)檢波得到的振幅是否在由該多個閾值構成的多個輸出范圍內的信號;以及設定輸入部(109),其設定針對比較電路(106)的多個閾值。

    【技術實現步驟摘要】
    檢測裝置
    本專利技術涉及一種具備非接觸式開關的檢測裝置。
    技術介紹
    以往,已知有判定如金屬等那樣具有導電性的檢測體的存在或接近的非接觸式開關(非接觸式傳感器)(例如參照專利文獻1)。非接觸式開關通過由檢測部檢測與檢測體的存在或接近相伴的檢測用線圈的阻抗或Q值等的變化,來判定檢測體的存在或接近。Q值是表示由電磁感應作用引起的電感損耗的值,Q值越高,表示損耗越小。此外,根據使用目的的不同,非接觸式開關檢測檢測體和非接觸式開關中的基準點之間的距離?;鶞庶c例如是檢測部頂端的不銹鋼罩中的與檢測體相對的表面上的點。另外,還已知有通過使用與金屬的種類對應的閾值,來謀求針對由特定的金屬構成的檢測體的判定性能的提高的非接觸式開關(例如參照專利文獻2)。另外,在該非接觸式開關中,所使用的閾值為1個,在實際應用時能夠對多種金屬中的1種金屬進行檢測。【現有技術文獻】【專利文獻】【專利文獻1】日本專利特開2010-216863號公報【專利文獻2】日本專利特開2017-130897號公報
    技術實現思路
    【專利技術要解決的技術問題】在現有的非接觸式開關中,由于所使用的閾值為1個,所以不能區分并檢測多個檢測體的狀態。因此,在想要區分并檢測多個檢測體的狀態的情況下,需要使用多個非接觸式開關。例如,在想要使用以往的非接觸式開關來區分并檢測材質不同的多個檢測體的情況下,需要使用多個非接觸式開關。本專利技術是為了解決上述問題而完成的,其目的在于提供一種檢測裝置,其能夠用單一的非接觸式開關來區分并檢測多個檢測體的狀態?!居糜诮鉀Q技術問題的手段】本專利技術所涉及的位置檢測裝置的特征在于,包括:具有導電性的檢測體;以及非接觸式開關,其輸出根據構成存在于檢測區域的檢測體的材質而變化,非接觸式開關包括:檢測用線圈;振蕩電路,其進行振蕩以使檢測用線圈產生高頻磁場;檢波電路,其對振蕩電路的振蕩的振幅進行檢波;比較電路,其將由檢波電路檢波得到的振幅與多個閾值分別進行比較;輸出電路,其根據比較電路的與多個閾值的比較結果,分別輸出表示由檢波電路檢波得到的振幅是否在由該多個閾值構成的多個輸出范圍內的信號;以及設定輸入部,其設定針對比較電路的多個閾值?!緦@夹g的效果】根據本專利技術,由于如上述那樣構成,所以能夠用單一的非接觸式開關來區分并檢測多個檢測體的狀態。附圖說明圖1是表示實施方式1的檢測裝置的構成例的圖。圖2是表示實施方式1中的非接觸式開關的構成例的圖。圖3是表示在實施方式1的檢測裝置中,來自輸出電路所具有的兩個輸出端子的輸出與構成檢測體的材質的對應關系的一例的圖。圖4是用于說明針對實施方式1中的非接觸式開關的閾值設定的圖。具體實施方式以下,參照附圖對本專利技術的實施方式進行詳細說明。實施方式1圖1是表示實施方式1的檢測裝置的構成例的圖。檢測裝置對檢測體2進行檢測。如圖1所示,檢測裝置具備非接觸式開關1及檢測體2。非接觸式開關1能夠區分并檢測材質不同的多個檢測體2。即,非接觸式開關1的輸出根據構成檢測體2的材質而變化。非接觸式開關1具有作為傳感器頭的檢測部11、一端與檢測部11的輸入輸出端連接的電纜12、以及與電纜12的另一端連接的多個輸出引腳13。另外,在非接觸式開關1中,如IO-Link等那樣,輸出引腳13的根數被限制。另外,在非接觸式開關1所具有的多個輸出引腳13中,可用于信號輸出的輸出引腳13為2根。此外,稍后將描述非接觸式開關1的更詳細的構成例。檢測體2是與非接觸式開關1所具有的檢測面(檢測部11的端面)相對的物體。檢測體2是如金屬等那樣具有導電性的物體。檢測體2例如由鐵或鋁構成。接著,參照圖2說明非接觸式開關1的構成例。如圖2所示,非接觸式開關1具備檢測用線圈101、電源102、穩定化電源電路103、振蕩電路104、檢波電路105、比較電路106、輸出電路107、2系統的晶體管108(晶體管108a及晶體管108b)、以及設定輸入部109。另外,在非接觸式開關1上連接有2系統的電阻3(電阻3a和電阻3b)。檢測用線圈101相對于芯(未圖示)卷繞成圓筒狀,在檢測部11的框體內與檢測面相對配置。穩定化電源電路103利用從電源102供給的電力進行動作,對振蕩電路104、檢波電路105以及比較電路106供給規定電壓的電力。振蕩電路104振蕩,使檢測用線圈101產生高頻磁場。當檢測體2接近檢測用線圈101產生的高頻磁場時,在檢測體2中流過感應電流而產生熱損耗,檢測用線圈101的阻抗或Q值等發生變化,振蕩電路104的振蕩衰減。另外,振蕩電路104也可以構成為,即使在檢測體2最接近的情況下也維持振蕩,振蕩的振幅根據檢測用線圈101的阻抗或Q值等的變化而變化。另外,例如,在由鋁構成的檢測體2與非接觸式開關1所具有的檢測面相對的情況下,Q值變高,在由鐵構成的檢測體2與非接觸式開關所具有的檢測面相對的情況下,Q值變低。檢波電路105對振蕩電路104的振蕩的振幅進行檢波。即,檢波電路105將振蕩電路104的振蕩的振幅直流化來進行整流。比較電路106將由檢波電路105檢波得到的振幅(檢測值)與多個閾值(第一閾值~第三閾值以及上限值)分別進行比較。第二閾值是與第一閾值不同的值的閾值。第三閾值是第一閾值和第二閾值之間的值的閾值。另外,各閾值(第一閾值~第三閾值)由設定輸入部109設定。輸出電路107根據比較電路106得出的與各閾值的比較結果,分別輸出表示由檢波電路105檢波到的振幅是否在各輸出范圍內的信號。各輸出范圍是由各閾值構成的范圍。具體而言,在由檢波電路105檢波得到的振幅在第一輸出范圍內的情況下,輸出電路107從兩個輸出端子中的一個輸出導通信號。另外,在由檢波電路105檢波得到的振幅在第二輸出范圍內的情況下,輸出電路107從兩個輸出端子中的另一個輸出導通信號。第一輸出范圍是由第一閾值和第二閾值構成的范圍。另外,第二輸出范圍是由第三閾值和上限值構成的范圍。即,第一輸出范圍和第二輸出范圍彼此部分重疊。圖3表示來自輸出電路107所具有的兩個輸出端子的輸出與構成檢測體2的材質的對應關系的一例。在圖3中,作為來自輸出電路107所具有的兩個輸出端子中的一個輸出端子的輸出(第一輸出),將輸出導通信號的狀態設為“ON”,將未輸出導通信號的狀態設為“OFF”。另外,作為來自輸出電路107所具有的兩個輸出端子中的另一個輸出端子的輸出(第二輸出),將輸出導通信號的狀態設為“ON”,將未輸出導通信號的狀態設為“OFF”。晶體管108a的柵極端子與輸出電路107所具有的兩個輸出端子中的一個輸出端子連接,晶體管108a的發射極端子與電源102的正極端子連接。晶體管108a由來自輸出電路107所具有的兩個輸出端子中的一個輸出端子的導通信號驅動。晶體管108b的柵極端子與輸出電路107所具有的兩個輸出端子中的另一個連接,其發射極端子與電本文檔來自技高網...

    【技術保護點】
    1.一種檢測裝置,其特征在于,包括:/n具有導電性的檢測體;以及/n非接觸式開關,所述非接觸式開關的輸出根據構成存在于檢測區域的所述檢測體的材質而變化,/n所述非接觸式開關包括:/n檢測用線圈;/n振蕩電路,其進行振蕩以使所述檢測用線圈產生高頻磁場;/n檢波電路,其對所述振蕩電路的振蕩的振幅進行檢波;/n比較電路,其將由所述檢波電路檢波得到的振幅與多個閾值分別進行比較;/n輸出電路,其根據所述比較電路的與多個閾值的比較結果,分別輸出表示由所述檢波電路檢波得到的振幅是否在由該多個閾值構成的多個輸出范圍內的信號;以及/n設定輸入部,其設定針對所述比較電路的多個閾值。/n

    【技術特征摘要】
    20190307 JP 2019-0411531.一種檢測裝置,其特征在于,包括:
    具有導電性的檢測體;以及
    非接觸式開關,所述非接觸式開關的輸出根據構成存在于檢測區域的所述檢測體的材質而變化,
    所述非接觸式開關包括:
    檢測用線圈;
    振蕩電路,其進行振蕩以使所述檢測用線圈產生高頻磁場;
    檢波電路,其對所述振蕩電路的振蕩的振幅進行檢波;
    比較電路,其將由所述檢波電路檢波得到的振幅與多個閾值分別進行比較;
    輸出電路,其根據所述比較電路的與多個閾值的比較結果,分別輸出表示由所述檢波電路檢波得到的振幅是否在由該多個閾值構成的多個輸出范圍內的信號;以及
    設定輸入部,其設定針對所述比較電路的多個閾值...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:田中雅人,喜入信博,
    申請(專利權)人:阿自倍爾株式會社
    類型:發明
    國別省市:日本;JP

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