折軸/潛望望遠光學系統透射比測試系統技術方案

一種折軸／潛望望遠光學系統透射比測試系統，包括：１）光源組件，包括光源和調制盤；２）發射單元，包括平行光管和可換光闌；３）接收單元，包括用于探測入射光能量的積分球和光電倍增管；４）控制處理單元，包括鎖相放大器、模數轉換電路、單片機和顯示屏；其特征在于，將發射單元和接收單元做成分體結構，并且各個分體結構都可以獨立升降或俯仰調整，滿足折軸望遠光學系統透過率的測試要求；為提高測量精度，系統采用了雙光路方式，在一定程度上排除了光源、探測器、高壓電源、放大器等部件的信號漂移，一次１００％校準后可以在長時間內進行測量。

【技術實現步驟摘要】

【技術保護點】
一種折軸／潛望望遠光學系統透射比測試系統，包括：１）光源組件，包括光源和調制盤；２）發射單元，包括平行光管和可換光闌；３）接收單元，包括用于探測入射光能量的積分球和光電倍增管；４）控制處理單元，包括鎖相放大器 、模數轉換電路、單片機和顯示屏；其特征在于，光源組件還包括：用于將光源的出射光分為兩路的分光鏡、用于切換兩路光的電動光閘和用于傳輸兩路光的參考光纖和測量光纖；其中，所述的發射單元和接收單元分別相對獨立地安裝在兩付三維移動導軌 上，所述的控制處理單元安裝在一機柜內，且該機柜與安裝接收單元的三維導軌豎軸成一體，并和光源組件共同安裝在該三維導軌的一橫軸上。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：沙定國，張喆民，何川，林家明，周桃庚，陳凌峰，張旭升，
申請(專利權)人：北京理工大學，
類型：發明
國別省市：11[中國|北京]