一種全自動玻璃面板微裂紋檢測平臺制造技術

本實用新型專利技術提供一種全自動玻璃面板微裂紋檢測平臺，包括工作平臺、電機控制裝置、驅動電機、可移動裝置、顯微成像裝置；工作平臺用于放置被測樣本；可移動裝置設置于工作平臺上方，可移動裝置可在工作平臺上方任意位置移動；可移動裝置為雙向直線導軌；顯微成像裝置設置于可移動裝置上，通過可移動裝置帶動顯微成像裝置在被測樣本上方移動，用于檢測被測樣本的微裂紋；實現顯微成像裝置對被測樣本微裂紋自動檢測；電機控制裝置，用于控制驅動電機，可移動裝置的按照預定運動軌跡移動。本實用新型專利技術可實現全自動檢測玻璃微裂紋且定位精確；適用于不同尺寸玻璃面板的快速掃描；顯微成像裝置可檢測寬度小于0.1mm等級肉眼不可觀測的玻璃微裂紋。

【技術實現步驟摘要】
一種全自動玻璃面板微裂紋檢測平臺
本技術涉及玻璃缺陷檢測領域，具體地，涉及一種全自動玻璃面板微裂紋檢測平臺。
技術介紹
玻璃面板在加工和使用期間產生的微裂紋，是玻璃面板不可避免的缺陷，會對玻璃面板整體強度造成很大削弱，進而將對其使用性能造成極大影響，因此需要進行及時有效的檢測，確定面板損傷狀況?，F有針對于玻璃面板缺陷檢測仍以人工線下檢測為主，會消耗大量人力物力，且效率低下，同時微裂紋寬度小于0.1mm，用肉眼無法直接觀察，易造成漏檢。目前，部分裝置利用圖像傳感器代替人工檢測進行玻璃面板缺陷檢測，例如：申請號為201510771955.1的中國專利，公開了一種玻璃面板的音孔缺陷檢測方法及系統，該系統包括采集處理單元，對玻璃面板的音孔進行圖像采集，并將采集的圖像進行灰度轉換和預處理得到音孔圖像，然后對音孔圖形進行膨脹運算得到音孔灰度圖像；二值處理單元，用于對音孔灰度圖像進行灰度統計，得到二值化閾值，然后，二值化閾值對音孔灰度圖像進行二值化分割得到音孔二值化圖像；分析提取單元，用于對音孔二值化圖形進行分析和提??；缺陷識別單元，用于根據音孔感興趣區域圖像進行缺陷識別，并標記缺陷坐標。目前市場上還缺少專用于檢測玻璃面板微裂紋的設備，因此需要提出一種全自動控制、運行過程平穩、拍攝效果好且定位精度高的玻璃面板微裂紋檢測裝置。
技術實現思路
針對現有技術中的缺陷，本技術的目的是提供一種全自動玻璃面板微裂紋檢測平臺。為實現上述目的，本技術提供一種全自動玻璃面板微裂紋檢測平臺，包括：工作平臺，用于放置被測樣本；可移動裝置，設置于所述工作平臺上方，所述可移動裝置在所述工作平臺上方任意位置移動；所述可移動裝置為雙向直線導軌；顯微成像裝置，設置于所述可移動裝置上，通過所述可移動裝置帶動所述顯微成像裝置在所述被測樣本上方移動，用于檢測所述被測樣本的微裂紋；驅動電機，用于驅動所述可移動裝置移動，實現所述顯微成像裝置對所述被測樣本微裂紋自動檢測；電機控制裝置，與所述驅動電機連接，用于控制所述驅動電機，使所述可移動裝置的按照預定運動軌跡移動。優選地，所述雙向直線導軌包括第一導軌、第二導軌及支架，所述第一導軌設置于所述第二導軌的上方，所述第一導軌與所述第二導軌通過所述支架連接。優選地，所述支架為可伸縮式支架，所述第一導軌通過所述可伸縮式支架調節高度。優選地，所述第一導軌包括第一滑槽和第一滑塊，所述第一滑槽沿所述工作平臺的寬度方向布設，所述第一滑塊可沿所述第一滑槽做往復運動；所述顯微成像裝置設置于所述第一導軌上，所述顯微成像裝置固定于所述第一滑塊上，通過所述第一滑塊帶動所述顯微成像裝置沿所述第一滑槽做往復運動，使所述顯微成像裝置可在所述工作平臺的寬度方向移動。優選地，所述第二導軌包括兩個第二滑槽和兩個第二滑塊，兩個所述第二滑槽分別對稱設置于所述第一滑槽的兩端，且分別沿所述工作平臺的長度方向布設，所述第二滑塊沿所述第二滑槽做往復運動；所述第二導軌的兩個所述第二滑塊分別通過所述支架與所述第一滑槽的兩端連接；通過兩個所述第二滑塊帶動所述第一導軌可沿所述第二滑槽做往復運動，使所述顯微成像裝置可在所述工作平臺的長度方向移動，實現所述顯微成像裝置在所述工作平臺上方任意位置移動。優選地，所述顯微成像裝置包括顯微鏡、工業相機及顯微鏡支架，所述工業相機的鏡頭安裝在所述顯微鏡的目鏡上成為一體，所述顯微鏡設置于所述顯微鏡支架上，所述顯微鏡支架與所述第一滑塊連接。優選地，所述顯微鏡支架上設有高度調節手輪，通過所述高度調節手輪調整所述顯微鏡距離所述被測樣本高度。優選地，還包括外殼、觸摸屏；所述外殼的內部具有容納空間，所述電機控制裝置、所述驅動電機設置于所述外殼內；所述觸摸屏設置于所述外殼的前部，所述觸摸屏的輸出端與所述電機控制裝置的輸入端連接，通過所述觸摸屏輸入所述可移動裝置的運動軌跡。優選地，所述外殼的上方設置金屬機架，所述金屬機架由多根方管焊接形成龍門架結構；所述金屬機架位于所述工作平臺的下方，用于支撐所述工作平臺；所述工作平臺的下表面與所述金屬機架上表面固定。優選地，所述工作平臺上設有膠墊，所述膠墊上設有柵格標記，用于檢測過程中目標定位。與現有技術相比，本技術具有如下至少一種的有益效果：本技術上述結構，通過電機控制裝置進行路徑控制，使雙向直線導軌按照預定運動軌跡移動，在工作過程中實現全自動且定位精確；工作平臺適用于不同尺寸玻璃面板的快速掃描；顯微成像裝置通過顯微鏡可檢測寬度小于0.1mm等級肉眼不可觀測的玻璃微裂紋。進一步，本技術上述結構，通過搭載的高分辨率工業相機進行掃描或拍攝，方便后續進行圖像處理或特征提取。進一步的，顯微鏡搭載同軸光源，可克服玻璃反光率較強的不利影響拍攝清晰度高的圖像，大幅度提升檢測結果準確性。附圖說明通過閱讀參照以下附圖對非限制性實施例所作的詳細描述，本技術的其它特征、目的和優點將會變得更明顯：圖1為本技術一實施例的檢測平臺的結構立體示意圖；圖2為本技術一實施例的檢測平臺的結構俯視示圖；圖3為本技術一實施例的檢測平臺的結構側視示圖；圖中標記分別表示為：1為外殼、2為顯微成像裝置、3為顯微鏡支架、4為工作平臺、5為雙向直線導軌、6為觸摸屏、7為總開關、8為支架、9為金屬機架、501為第一導軌、502為第二導軌。具體實施方式下面結合具體實施例對本技術進行詳細說明。以下實施例將有助于本領域的技術人員進一步理解本技術，但不以任何形式限制本技術。應當指出的是，對本領域的普通技術人員來說，在不脫離本技術構思的前提下，還可以做出若干變形和改進。這些都屬于本技術的保護范圍。參照圖1-3所示，為本技術一實施例全自動玻璃面板微裂紋檢測平臺的結構示意圖，包括工作平臺4、電機控制裝置、驅動電機、可移動裝置、顯微成像裝置2；其中，工作平臺4呈正方形，用于放置被測樣本，在工作平臺4上設有膠墊，膠墊上設有柵格標記，在膠墊上可以采用絲印刻制柵格，用于檢測過程中目標定位。可移動裝置采用雙向直線導軌5，雙向直線導軌5設置于工作平臺4上方，雙向直線導軌5可在工作平臺4上方任意位置移動。顯微成像裝置2設置于可移動裝置上，通過可移動裝置帶動顯微成像裝置2在工作平臺4上方移動。顯微成像裝置2用于檢測被測樣本的微裂紋。電機控制裝置的輸出端與驅動電機連接，向驅動電機輸入驅動信號，驅動電機與可移動裝置連接，用于控制可移動裝置的運動路徑，使可移動裝置的按照預定運動軌跡移動。運動路徑一般按照玻璃尺寸不同設置在工作平臺4上移動。驅動電機為可移動裝置提供動力，實現顯微成像裝置2可在規劃路徑內對玻璃面板微裂紋自動檢測，工作過程中可實現全自動且定位精確。上述實施例在具體實施時，電機控制裝置采用PLC控制系統進行運動控制，在一具體實施例中，所采用的PLC控制系統的型號為XDM本文檔來自技高網...

【技術保護點】
1.一種全自動玻璃面板微裂紋檢測平臺，其特征在于：包括：/n工作平臺，用于放置被測樣本；/n可移動裝置，設置于所述工作平臺上方，所述可移動裝置在所述工作平臺上方任意位置移動；所述可移動裝置為雙向直線導軌；/n顯微成像裝置，設置于所述可移動裝置上，通過所述可移動裝置帶動所述顯微成像裝置在所述被測樣本上方移動，用于檢測所述被測樣本的微裂紋；/n驅動電機，用于驅動所述可移動裝置移動，實現所述顯微成像裝置對所述被測樣本微裂紋自動檢測；/n電機控制裝置，與所述驅動電機連接，用于控制所述驅動電機，使所述可移動裝置的按照預定運動軌跡移動。/n

【技術特征摘要】
1.一種全自動玻璃面板微裂紋檢測平臺，其特征在于：包括：
工作平臺，用于放置被測樣本；
可移動裝置，設置于所述工作平臺上方，所述可移動裝置在所述工作平臺上方任意位置移動；所述可移動裝置為雙向直線導軌；
顯微成像裝置，設置于所述可移動裝置上，通過所述可移動裝置帶動所述顯微成像裝置在所述被測樣本上方移動，用于檢測所述被測樣本的微裂紋；
驅動電機，用于驅動所述可移動裝置移動，實現所述顯微成像裝置對所述被測樣本微裂紋自動檢測；
電機控制裝置，與所述驅動電機連接，用于控制所述驅動電機，使所述可移動裝置的按照預定運動軌跡移動。


2.根據權利要求1所述的一種全自動玻璃面板微裂紋檢測平臺，其特征在于：所述雙向直線導軌包括第一導軌、第二導軌及支架，所述第一導軌設置于所述第二導軌的上方，所述第一導軌與所述第二導軌通過所述支架連接。


3.根據權利要求2所述的一種全自動玻璃面板微裂紋檢測平臺，其特征在于：所述支架為可伸縮式支架，所述第一導軌通過所述可伸縮式支架調節高度。


4.根據權利要求2所述的一種全自動玻璃面板微裂紋檢測平臺，其特征在于：所述第一導軌包括第一滑槽和第一滑塊，所述第一滑槽沿所述工作平臺的寬度方向布設，所述第一滑塊可沿所述第一滑槽做往復運動；
所述顯微成像裝置設置于所述第一導軌上，所述顯微成像裝置固定于所述第一滑塊上，通過所述第一滑塊帶動所述顯微成像裝置沿所述第一滑槽做往復運動，使所述顯微成像裝置可在所述工作平臺的寬度方向移動。


5.根據權利要求4所述的一種全自動玻璃面板微裂紋檢測平臺，其特征在于：所述第二導軌包括兩個第二滑槽和兩個第二滑塊，兩個所述第二滑槽分別對稱設置于所述第一滑槽的兩端，且分別沿...

【專利技術屬性】
技術研發人員：劉軍進，楊健，李建輝，潘珠峰，王超，王星爾，徐涵，孟嫣然，趙宸君，
申請(專利權)人：建研科技股份有限公司，上海交通大學，
類型：新型
國別省市：北京;11