一種用于測定粉體的體積電阻率的裝置和方法制造方法及圖紙

一種用于測定粉體的體積電阻率的裝置包括兩個導電體，其中，該裝置還包括絕緣料倉，絕緣料倉的兩端開口，在使用時，所述兩個導電體各自的至少一部分分別通過絕緣料倉兩端的開口插入到絕緣料倉的腔體中，兩個導電體的插入到絕緣料倉腔體中的部分的至少端部與絕緣料倉的內(nèi)壁無縫接觸，并且至少一個導電體的插入到絕緣料倉腔體中的部分能夠在絕緣料倉的腔體中滑動。本發(fā)明專利技術(shù)還提供了一種利用該裝置測定粉體的體積電阻率的方法。本發(fā)明專利技術(shù)提供的裝置可以方便快捷地測定粉體的體積電阻率。

【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】

本專利技術(shù)是關(guān)于。
技術(shù)介紹
作為儲能裝置電池得到廣泛應用，為減小電池內(nèi)部損耗，提高電池的能 量效率，要求電池有較小的內(nèi)阻。通常電池內(nèi)阻包括歐姆電阻和電極在電化 學反應時所表現(xiàn)的極化電阻，歐姆電阻包括極片、電解液、隔膜的電阻及各 部分零件的接觸電阻，其中極片的電阻在電池的內(nèi)阻中占據(jù)很大的比例，并 且極片的內(nèi)阻在很大程度上取決于電極材料的體積電阻率。電池電極材料的 體積電阻率過小會使電池電阻過大，倍率放電性能低下，能量效率過低。因 此，在制作電池的過程中，需要測定電極材料的體積電阻率。現(xiàn)有的測定體積電阻率的方法一般包括在兩電極間嵌入待測試樣，使電 極與待測試樣接觸，在兩個電極之間連接電阻計，通過電阻計測定待測試樣 的電阻，利用公式Pv二R/S/L來計算試樣的體積電阻率。在上述公式中，pv表示試樣的體積電阻率(Q，cm)， Rv表示試樣的電阻(Q)， S表示試樣的橫 截面面積(cm2)， L表示試樣的長度(cm)。在利用現(xiàn)有的體積電阻率測定 方法測定粉體(如電池電極材料)的體積電阻率時，需要先將粉體制成形狀 規(guī)則的試樣如長條形，步驟繁瑣。此外， 一般還需要測定電池電極材料在不 同的壓實密度下的體積電阻率，因此需要將粉體制成壓實密度不同的多個試 樣，步驟繁瑣、耗費時間。
技術(shù)實現(xiàn)思路
本專利技術(shù)的目的是為了克服現(xiàn)有的測定粉體的體積電阻率的方法步驟繁瑣、耗費時間的缺點，提供一種能夠方便快捷地測定粉體的體積電阻率的裝置。本專利技術(shù)的另一目的是提供使用該裝置的測定粉體的體積電阻率的方法。 本專利技術(shù)提供了一種用于測定粉體的體積電阻率的裝置，該裝置包括兩個 導電體，其中，該裝置還包括絕緣料倉，絕緣料倉的兩端開口，在使用時， 所述兩個導電體各自的至少一部分分別通過絕緣料倉兩端的開口插入到絕 緣料倉的腔體中，兩個導電體的插入到絕緣料倉腔體中的部分的至少端部與 絕緣料倉的內(nèi)壁無縫接觸，并且至少一個導電體的插入到絕緣料倉腔體中的 部分能夠在絕緣料倉的腔體中滑動。本專利技術(shù)提供了一種用于測定粉體的體積電阻率的方法，該方法包括測定 粉體的電阻，利用測得的電阻值計算粉體的體積電阻率，其中，測定粉體的 電阻的方法使用一種用于測定粉體的體積電阻率的裝置，該裝置包括絕緣料 倉和兩個導電體，絕緣料倉的兩端開口；將一個導電體的至少一部分通過絕 緣料倉一端的開口插入到絕緣料倉的腔體中，通過絕緣料倉另一端的開口將 粉體填充到絕緣料倉的腔體中，然后將另一個導電體的至少一部分通過絕緣 料倉另一端的開口插入到絕緣料倉的腔體中，兩個導電體與填充在絕緣料倉 腔體中的粉體接觸，兩個導電體的插入到絕緣料倉腔體中的部分的至少端部 與絕緣料倉的內(nèi)壁無縫接觸，并且至少一個導電體的插入到絕緣料倉腔體中的部分能夠在絕緣料倉的腔體中滑動；對導電體施加壓力，使粉體的壓實密 度為0.5-5.0克/立方厘米，使用電阻計測定填充在絕緣料倉腔體中的粉體的 電阻。本專利技術(shù)提供的用于測定粉體的體積電阻率的裝置可以將粉體填充在絕 緣料倉的腔體中，兩個導電體與填充在絕緣料倉腔體中的粉體接觸，在兩個 導電體之間施加直流電壓，使用電阻計測定粉體的電阻，然后利用測得的電 阻值計算粉體的體積電阻率即可，不需要常規(guī)的測定方法中的將粉體制成試樣的步驟；此外，可以通過在導電體上施加不同的壓力使粉體達到不同的壓 實密度，從而測定粉體在不同壓實密度下的體積電阻率，因此本專利技術(shù)提供的 用于測定粉體的體積電阻率的裝置可以方便快捷地測定粉體的體積電阻率。附圖說明圖1為本專利技術(shù)提供的用于測定粉體的體積電阻率的裝置的剖視圖。 具體實施例方式如圖1所示，本專利技術(shù)提供的用于測定粉體的體積電阻率的裝置包括兩個導電體l，其中，該裝置還包括絕緣料倉2，絕緣料倉2的兩端開口，在使 用時，所述兩個導電體1各自的至少一部分分別通過絕緣料倉2兩端的開口 插入到絕緣料倉2的腔體中，兩個導電體1的插入到絕緣料倉腔體中的部分 的至少端部與絕緣料倉2的內(nèi)壁無縫接觸，并且至少一個導電體1的插入到 絕緣料倉腔體中的部分能夠在絕緣料倉的腔體中滑動。所述絕緣料倉2可以由現(xiàn)有的各種絕緣材料制成，只要能夠使絕緣料倉 滿足絕緣的要求并且具有一定的硬度即可，優(yōu)選由有機玻璃或硬質(zhì)塑料制 成。導電體1可以由現(xiàn)有的各種導電材料制成，只要能夠使導電體滿足導電 的要求并且具有一定的硬度即可，優(yōu)選由電阻小的金屬制成，如銅、不銹鋼或鋁。在使用過程中，即測試過程中，所述兩個導電體l各自的至少一部分分 別通過絕緣料倉2兩端的開口插入到絕緣料倉2的腔體中，兩個導電體1的 插入到絕緣料倉腔體中的部分的至少端部與絕緣料倉2的內(nèi)壁無縫接觸，并 且至少一個導電體1的插入到絕緣料倉腔體中的部分能夠在絕緣料倉的腔體 中滑動。兩個導電體1的插入到絕緣料倉腔體中的部分的至少端部與絕緣料倉2的內(nèi)壁無縫接觸，可以有效地防止填充在絕緣料倉2的粉體泄漏，從而保證 順利地進行測定。只要兩個導電體的插入到絕緣料倉腔體中的部分的端部與 絕緣料倉的內(nèi)壁無縫接觸，就可以實現(xiàn)上述效果，因此，對于導電體的除了 所述端部的其它部分是否與絕緣料倉的內(nèi)壁無縫接觸不作要求，導電體的除 了所述端部的其它部分可以與絕緣料倉的內(nèi)壁無縫接觸，也可以不與絕緣料 倉的內(nèi)壁無縫接觸。同時，至少一個導電體1的插入到絕緣料倉腔體中的部分能夠在絕緣料 倉的腔體中滑動。只要其中一個導電體的插入到絕緣料倉腔體中的部分能夠 在絕緣料倉的腔體中滑動，就能夠滿足要求。例如，在測定一種粉體的體積 電阻率時，將一個導電體的至少一部分通過絕緣料倉一端的開口插入到絕緣 料倉的腔體中，通過絕緣料倉另一端的開口將粉體填充到絕緣料倉的腔體 中，然后將另一個導電體的至少一部分通過絕緣料倉另一端的開口插入到絕 緣料倉的腔體中，可以通過對導電體施加壓力，使一個或兩個導電體在絕緣 料倉的腔體中滑動，從而測定粉體在一定壓實密度下的電阻。測定完一種粉 體的體積電阻率后，可以將能夠在絕緣料倉的腔體中滑動的一個或兩個導電 體從絕緣料倉的腔體中取出，將測定完的粉體倒出，然后可以填充新的粉體， 重復上述操作，測定該新的粉體的電阻。所述絕緣料倉的腔體的形狀可以為任意的規(guī)則形狀，例如，可以為圓柱 形、多邊柱形。為了便于使兩個導電體的插入到絕緣料倉腔體中的部分的至 少端部與絕緣料倉的內(nèi)壁無縫接觸并且至少一個導電體的插入到絕緣料倉 腔體中的部分能夠在絕緣料倉的腔體中滑動，所述絕緣料倉的腔體的形狀優(yōu) 選為圓柱形或正多邊柱形，例如正三角柱形、正方柱形或正六邊柱形。導電 體的插入到絕緣料倉腔體中的部分的端部與絕緣料倉的腔體的形狀相同，并 且所述端部的橫截面尺寸等于或略小于絕緣料倉的腔體的橫截面尺寸。導電體的除了所述端部的其它部分與絕緣料倉的腔體的形狀可以相同，也可以不 同。為了便于測定粉體在不同壓實密度下的體積電阻率，兩個導電體的長度 之和大于絕緣料倉腔體的長度。優(yōu)選情況下，所述導電體上標注有刻度。按照該優(yōu)選實施方式，可以方 便地計算出填充在絕緣料倉的腔體中的粉體的長度，并且可以進一步根據(jù)粉 體的長度計算出粉體的體積，從而計算出粉體的壓實密度。當只有一個導電 體能夠在絕緣料倉的腔體中滑動時，可以只在該導電體上標注刻度即可。所述粉體可以為各種電池的電極材料。電極材料一般為包括正(負)極 活性材料、導電劑和粘結(jié)劑的本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護點】
一種用于測定粉體電阻率的裝置，該裝置包括兩個導電體，其特征在于，該裝置還包括絕緣料倉，絕緣料倉的兩端開口，在使用時，所述兩個導電體各自的至少一部分分別通過絕緣料倉兩端的開口插入到絕緣料倉的腔體中，兩個導電體的插入到絕緣料倉腔體中的部分的至少端部與絕緣料倉的內(nèi)壁無縫接觸，并且至少一個導電體的插入到絕緣料倉腔體中的部分能夠在絕緣料倉的腔體中滑動。

【技術(shù)特征摘要】

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：吳聲本，郜志華，黃麗，劉海瑞，
申請(專利權(quán))人：上海比亞迪有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：31[中國|上海]