特別是在染料透滲法或磁性法后使用的裂痕檢測系統技術方案

本發明專利技術涉及在染料滲透法或磁性裂痕檢測法后使用的對工件（１０）的裂痕檢測系統，該系統具有一個照明單元（１１）、一個用于施加檢測工件的裝置（１３）和一個評估臺（１４），還具有作為所述系統中照明單元的發光二極管（ＬＥＤ）。（*該技術在2020年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及利用染料滲透法或磁性裂痕檢測的檢測系統，它具有照明單元、用于施加檢測材料的裝置和評估臺。在現有技術中業已公知各種裂痕(crack)檢測方法，一般，對于可磁化的檢測工件，具體講是由鐵制造的檢測工件是用磁性粉末法，在這種情況下，在檢測工件的磁場中，磁性染料微粒累積在裂痕等處，并在照明下進行檢測。染料經常是發熒光的，并因此改善了對比度。對于非導磁材料，通常使用所謂“黑色粉末法”，由于利用染料溶液，染料液由于液面現象和毛細現象來累積在裂痕處，并且然后在特定的檢測周期中進行檢測。這樣的方法從EP 0831321中已經公知。在上述兩種方法中，已經使用各種常規燈泡，諸如汞汽燈，氣體放電燈，閃光燈作為照明燈具，這特別是因為所使用的特別活潑的熒光染料在紫外光(UV)或在可見光譜的蘭光區有最大的激發。常規的燈泡，特別是那些具有熱發射極的燈泡都經受嚴重的老化。甚至在點亮幾個小時后，這種燈泡的紫外成分就已經大大都降低了。具體地講，因為對于熒光激發需要有燈泡的紫外成分，在已知的裂痕檢測系統的情況下，燈泡的功率必須代價高昂地進行監視和重新調整。不斷改變照明光的強度可以引起在當前通用的經圖象處理的光檢測法中的大量錯誤顯示，由于這個原因燈泡的監視是昂貴的。因此，例如從DE-A-4013133．5裂痕檢測系統中用燈泡檢查的系統也已經公知。因此，本專利技術的一個目的是創造一種具有成本較低的燈泡監視的裂痕檢測系統。本專利技術的這個目的是利用將發光二極管(LED)作為照明單元實現了裂痕檢測系統。從各個從屬權利要求使本專利技術有進一步的改進。按照本專利技術下面的各個優點和其它優點是由此予以實現的LED沒有老化現象，這也就是說，發射的光仍然保持恒定并且發射光譜不經受漂移；這也就是說，可以消除前面所要求的昂貴燈泡監視和對燈泡的重新調整；并且該系統是按顯著簡化的方式實現的。LED是小體積的并且還可以被安裝在難以接近的場所。LED發射少量的熱量，結果可以消除冷卻測量或別的預警措施，而這些措施在使用燈泡的情況下為了避免燒毀則是需要的。由于LED的發射光，LED可以在特定吸收波長下激發染料的熒光／磷光，結果在使用不同染料的情況下，各種染料都可以個別地激發。例如，如果部件數量已經加有一種特定的染料，裂痕檢測材料的染料具有不同的熒光波長，并且為了區別待檢測的各部件的目的，兩者都將被光檢測系統進行檢測。LED可以容易地光耦合到光傳導部件，而光傳導部件可以容易地導向難以接近的場所。使用LED的優點是它發射從200到970nm(納米)范圍的光，因為在這個范圍的光將被染料吸收。有益的是LED的電壓可以進行調制，因為通過處理器可以由此進行改善了的信號處理。LED可以被光耦合到在系統中傳導照明光的光傳導部件。在本專利技術的一個具體實施例中，可能使得利用一個分光器，該分光器分路來自一個光源的光，并因此允許對于不同光出口僅使用一個光源，結果其能夠消除對多個燈泡的控制和維護等等，或者限制為僅控制一個單一的光源。該方案有益的是，如果裂痕檢測系統具有用于控制光圖象處理的各裝置的處理器，所述處理器還控制LED的電源。借助于一個優選實施例和借助于附圖，對本專利技術進行更詳細地解釋，但本專利技術并不是只限于該實施例，其中各附圖是附圖說明圖1a表示裂痕檢測方法流程的示意圖；圖1b表示用于實現如圖1a所示的方法的按照本專利技術的裂痕檢測系統的第一實施例；圖2表示按照本專利技術的磁性粉末法的裂痕檢測系統的第二實施例。第一示例性實施例，利用染料滲透(penetration)法的裂痕檢測系統如圖1a所示，在利用染料滲透法的裂痕檢測方法的情況下，大多數情況下，一個非鐵磁性檢測工件，例如鋁或鎂工件，或者別的陶瓷工件被清洗、如合適的話被酸洗(pickle)和被干燥，然后利用檢測材料進行處理，它也稱為染料滲透劑。經過一個特定時間以后，過量的染料滲透劑被去除，對工件進行中間清洗并然后利用顯影液(developing solution)進行處理。在顯影時間以后，如果適合，工件被進行干燥和探查，并且作出對工件的缺陷的報告，如果適合，該報告還形成文件歸檔。如圖1b所示，在這種情況下，被顯影的工件10作為檢測件被導入檢測臺，在檢測臺中通過噴嘴13從染料滲透劑槽12施加染料滲透劑，這僅表示出一種例子的方式。實際上，檢測件傳送過多個工作臺，在各工作臺上檢測件用清洗和酸洗液處理并且還用顯影液和染色液處理，這些在這里沒有表示出。這里，檢測材料被功能性檢查，如果適合，染料或類似物可以被相繼計量注入到槽12中，如果有必要的話。用于標記表面缺陷的檢測液13a通過噴頭13經一個饋送管用噴頭13從存儲槽12進行饋送，并且在工件10的表面上霧化。現在檢測液分布在工件上，借助于表面張力染料微粒集中在各個裂痕處，這是已知的一種物理現象。然后在這些地方存在著增加的微粒濃度。過量的檢測液被去掉，例如通過擦去。從而，檢測件利用顯影液進行處理。在顯影時間期滿以后，將實驗性地為每個檢測系統(arrangement)和檢測件進行確定，這里是LED 11被用于照射工件10的表面，因此提高檢測液微粒的對比度，并且累集在表面裂痕區的染料微粒被觀測和／或估計它們的非均勻分布。為了該系統功能可靠的緣故，可以提供一種自檢查裝置，用于相關操作參數的監視或自監視，也就是說，使相應的各操作參數遵守在指定值范圍內，每當測量的值處于期望的測量值范圍之外時，在規定的限制內可以進行任何調整，結果，這樣作可以避免不必要的材料的浪費，諸如過早地替換有痕跡的部件(marking means)所造成的。因此，該檢測系統的工作壽命明顯地延長，該系統可以不間斷地運行，和與之相關的操作成本、以及材料成本和能耗一系列地都可以被降低。在本專利技術中，自檢查裝置與一個記錄(documentation)裝置，打印機相連，其中可以繪制出檢測記錄，利用該檢測記錄該系統的功能可以被描述。當然，記錄裝置不限于打印機，替代打印機的可以是光數據介質，諸如可以使用CD-ROM(只讀光盤)、或者還可以存儲在其它磁光介質，如在EP-A-0831321中所描述的那樣。正如它們分別已經公知的那樣，測量單元的測量值的實際檢測和輸出可以按照如下方法執行測量單元14的功能監視還可借助于具有測試裂痕的測試物體來進行，正如DE-A-3804054所描述的那樣。最好是，用于檢測材料的自動測量單元17是一種自動化的ASTM(美國材料試驗學會)球狀物(bulb)，正如EP-A-0788598中所描述的那樣。第二實施例，利用磁粉法的裂痕檢測系統在利用磁粉法經過圖象處理的處理中監視的(in-process monitoring)裂痕檢測的自動缺陷檢測(探傷)系統中，在工件上確定可發出熒光的磁性顆粒的高濃度區，所述各發熒光區是由熒光激發LED來激發產生熒光的；該系統包括一個或多個記錄裝置、檢測材料施加系統和圖象處理單元，該圖象處理單元適合于評估通過掃描和檢測較亮的區域借助于各記錄單元記錄的圖象單元，并在評估邏輯的基礎上輸出各種信號。在連續制造將要進行檢查的工件的生產系統中，諸如連續鑄造設備、線端測試系統等等，用磁性粉末檢測的自動光缺陷檢測是已知的。借助于熒光染料，各工件的圖象業已利用所謂光圖象檢測技術進行評估，通過磁性粉末法各個缺陷被以可視的方本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種利用染料滲透法或磁性裂痕檢測法的裂痕檢測系統，具有一個照明單元，一個用于施加檢測材料的裝置和一個評估臺，其利用發光二極管（ＬＥＤ）作為照明單元。

【技術特征摘要】
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【專利技術屬性】
技術研發人員：托馬斯維特萊因，
申請(專利權)人：蒂德檢查裂痕設備兩合公司，
類型：發明
國別省市：DE[德國]