AOI檢測裝置以及檢測系統制造方法及圖紙

本實用新型專利技術公開一種AOI檢測裝置以及檢測系統，該AOI檢測裝置包括機架組件、轉運機構和信息采集機構，機架組件包括第一承載臺和第二承載臺，轉運機構可移動地設置于機架組件，信息采集機構設置于機架組件；AOI檢測裝置具有第一狀態和第二狀態，在AOI檢測裝置處于第一狀態時，轉運機構接近第一承載臺而在第一承載臺就第一工件進行上料；在AOI檢測裝置處于第二狀態時，信息采集機構在第一承載臺就第一工件采集信息，且轉運機構接近第二承載臺而在第二承載臺就第二工件進行上料。上述方案能夠解決目前的AOI檢測裝置存在的工作效率偏低的問題。

【技術實現步驟摘要】
AOI檢測裝置以及檢測系統
本技術涉及AOI檢測
，尤其涉及一種AOI檢測裝置以及檢測系統。
技術介紹
AOI(自動光學檢測)是基于光學原理對工件的外觀缺陷進行檢測的設備。在檢測過程中，通過攝像頭自動掃描工件，采集圖像，再通過將圖像的數據與數據庫中的合格參數進行比較，經過圖像處理，檢測出工件上的缺陷，最后通過顯示器或自動標志把缺陷顯示或標示出來，供后續的流程修整。目前，AOI檢測裝置通常包括一個檢測工位和一個信息采集機構，在對工件檢測完畢后，需要先將該工件從檢測工位下料，再將另一個工件上料至檢測工位，在此過程中，信息采集機構一直處于待工狀態，導致AOI檢測裝置的工作效率偏低。
技術實現思路
本技術公開一種AOI檢測裝置以及檢測系統，以解決目前的AOI檢測裝置存在的工作效率偏低的問題。為了解決上述問題，本技術采用下述技術方案：一種AOI檢測裝置，適用于工件的缺陷檢測，其包括機架組件、轉運機構和信息采集機構，所述機架組件包括第一承載臺和第二承載臺，所述轉運機構可移動地設置于所述機架組件，所述信息采集機構設置于所述機架組件；所述AOI檢測裝置具有第一狀態和第二狀態，在所述AOI檢測裝置處于第一狀態時，所述轉運機構接近所述第一承載臺而在所述第一承載臺就第一所述工件進行上料；在所述AOI檢測裝置處于第二狀態時，所述信息采集機構在所述第一承載臺就第一所述工件采集信息，且所述轉運機構接近所述第二承載臺而在所述第二承載臺就第二所述工件進行上料。可選的，所述AOI檢測裝置還具有第三狀態，在所述AOI檢測裝置處于第三狀態時，所述信息采集機構在所述第二承載臺就第二所述工件采集信息，且所述轉運機構接近所述第一承載臺而在所述第一承載臺就第一所述工件進行下料。可選的，所述信息采集機構可移動地設置于所述機架組件，而可分別接近所述第一承載臺及所述第二承載臺以分別就第一所述工件及第二所述工件采集信息。可選的，所述AOI檢測裝置還包括輸送線，所述轉運機構從所述輸送線獲取第一所述工件及第二所述工件，且將從所述第一承載臺下料的第一所述工件轉移至所述輸送線。可選的，所述轉運機構包括抓取組件、第一驅動單元、第二驅動單元和第三驅動單元，所述第一驅動單元的輸出端與所述抓取組件相連、以驅動所述抓取組件在Z軸方向上移動，所述第二驅動單元的輸出端與所述第一驅動單元相連、以驅動所述抓取組件在Y軸方向上移動，所述第三驅動單元的輸出端與所述第二驅動單元相連、以驅動所述抓取組件在X軸方向上移動。可選的，所述抓取組件包括負壓單元、第一支架以及安裝于所述第一支架上的吸附單元，所述第一支架與所述第一驅動單元的輸出端相連；所述吸附單元具有吸附面，且所述吸附單元內部形成有氣體流道，所述氣體流道具有氣體入口和氣體出口，所述氣體入口形成于所述吸附面，所述負壓單元連接于所述氣體出口。可選的，所述抓取組件還包括安裝于所述第一支架上的兩個承靠部，且兩個所述承靠部對稱設置于所述吸附單元的兩側。可選的，所述信息采集機構包括信息采集組件、第四驅動單元、第五驅動單元和第六驅動單元，所述第四驅動單元的輸出端與所述信息采集組件相連、以驅動所述信息采集組件在Z軸方向上移動，所述第五驅動單元的輸出端與所述第四驅動單元相連、以驅動所述信息采集組件在Y軸方向上移動，所述第六驅動單元的輸出端與所述第五驅動單元相連、以驅動所述信息采集組件在X軸方向上移動。可選的，所述信息采集組件包括第四支架和攝像模組，所述攝像模組安裝于所述第四支架上，所述第四支架與所述第四驅動單元的輸出端相連。可選的，所述信息采集機構還包括光源模組，所述光源模組安裝于所述第四支架上。本技術采用的技術方案能夠達到以下有益效果：本技術實施例公開的AOI檢測裝置，通過設置AOI檢測裝置具有第一狀態和第二狀態。其中，在第一狀態時，轉運機構將第一個工件上料至第一承載臺上；在第二狀態時，信息采集機構在第一承載臺上就第一個工件采集信息，同時，轉運機構將第二個工件上料至第二承載臺，如此使得信息采集機構在第一承載臺上對第一個工件信息采集完畢后，能夠即刻移動至第二承載臺對第二個工件進行信息采集作業。相較于現有技術的AOI檢測裝置，本技術實施例公開的AOI檢測裝置無疑能夠避免信息采集機構處于待工狀態，顯著提升了AOI檢測裝置的工作效率。附圖說明此處所說明的附圖用來提供對本技術的進一步理解，構成本技術的一部分，本技術的示意性實施例及其說明用于解釋本技術，并不構成對本技術的不當限定。在附圖中：圖1為本技術實施例公開的AOI檢測裝置處于未工作狀態下的結構示意圖；圖2為圖1的平面示意圖；圖3為本技術實施例公開的AOI檢測裝置處于第一狀態下的結構示意圖；圖4為圖3的平面示意圖；圖5為本技術實施例公開的限AOI檢測裝置處于第二狀態下的結構示意圖；圖6為圖5的平面示意圖；圖7為本技術實施例公開的AOI檢測裝置處于第三狀態下的結構示意圖；圖8為圖7的平面示意圖；圖9為本技術實施例公開的AOI檢測裝置另一視角下的結構示意圖；圖10為本技術實施例公開的抓取組件的結構示意圖；圖11為本技術實施例公開的信息采集機構的部分結構示意圖；附圖標記說明：100-機架組件、110-第一承載臺、111-第二支架、112-第一固定單元、120-第二承載臺、121-第三支架、122-第二固定單元、130-第一導軌、140-第二導軌、200-轉運機構、210-抓取組件、211-第一支架、212-吸附單元、212a-吸附面、212b-氣體入口、213-承靠部、220-第一驅動單元、230-第二驅動單元、240-第三驅動單元、300-信息采集機構、310-信息采集組件、311-第四支架、312-攝像模組、320-第四驅動單元、330-第五驅動單元、331-第三導軌、340-第六驅動單元、350-光源模組、351-光源本體、352-光源支撐架、400-輸送線、500-工件。具體實施方式為使本技術的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本技術具體實施例及相應的附圖對本技術技術方案進行清楚、完整地描述。顯然，所描述的實施例僅是本技術一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本技術中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本技術保護的范圍。以下結合附圖，詳細說明本技術各個實施例公開的技術方案。請參考圖1～圖8，本技術實施例公開一種AOI檢測裝置，適用于工件500的缺陷檢測。AOI檢測裝置又名AOI光學自動檢測裝置，其是基于光學原理對工件的缺陷進行檢測的設備。在檢測過程中，通過攝像頭自動掃描工件，采集圖像，再通過將圖像的數據與數據庫中的合格參數進行比較，經過圖像處理本文檔來自技高網...

【技術保護點】
1.一種AOI檢測裝置，適用于工件(500)的缺陷檢測，其特征在于，包括：/n機架組件(100)，所述機架組件(100)包括第一承載臺(110)和第二承載臺(120)；/n轉運機構(200)，所述轉運機構(200)可移動地設置于所述機架組件(100)；/n信息采集機構(300)，所述信息采集機構(300)設置于所述機架組件(100)；/n所述AOI檢測裝置具有第一狀態和第二狀態，在所述AOI檢測裝置處于第一狀態時，所述轉運機構(200)接近在所述第一承載臺(110)而在所述第一承載臺(110)就第一所述工件(500)進行上料；在所述AOI檢測裝置處于第二狀態時，所述信息采集機構(300)在所述第一承載臺(110)就第一所述工件(500)采集信息，且所述轉運機構(200)接近所述第二承載臺(120)而在所述第二承載臺(120)就第二所述工件(500)進行上料。/n

【技術特征摘要】
1.一種AOI檢測裝置，適用于工件(500)的缺陷檢測，其特征在于，包括：
機架組件(100)，所述機架組件(100)包括第一承載臺(110)和第二承載臺(120)；
轉運機構(200)，所述轉運機構(200)可移動地設置于所述機架組件(100)；
信息采集機構(300)，所述信息采集機構(300)設置于所述機架組件(100)；
所述AOI檢測裝置具有第一狀態和第二狀態，在所述AOI檢測裝置處于第一狀態時，所述轉運機構(200)接近在所述第一承載臺(110)而在所述第一承載臺(110)就第一所述工件(500)進行上料；在所述AOI檢測裝置處于第二狀態時，所述信息采集機構(300)在所述第一承載臺(110)就第一所述工件(500)采集信息，且所述轉運機構(200)接近所述第二承載臺(120)而在所述第二承載臺(120)就第二所述工件(500)進行上料。


2.根據權利要求1所述的AOI檢測裝置，其特征在于，所述AOI檢測裝置還具有第三狀態，在所述AOI檢測裝置處于第三狀態時，所述信息采集機構(300)在所述第二承載臺(120)就第二所述工件(500)采集信息，且所述轉運機構(200)接近所述第一承載臺(110)而在所述第一承載臺(110)就第一所述工件(500)進行下料。


3.根據權利要求2所述的AOI檢測裝置，其特征在于，所述信息采集機構(300)可移動地設置于所述機架組件(100)，而可分別接近所述第一承載臺(110)及所述第二承載臺(120)以分別就第一所述工件(500)及第二所述工件(500)采集信息。


4.根據權利要求2所述的AOI檢測裝置，其特征在于，所述AOI檢測裝置還包括輸送線(400)，所述轉運機構(200)從所述輸送線(400)獲取第一所述工件(500)及第二所述工件(500)，且將從所述第一承載臺(110)下料的第一所述工件(500)轉移至所述輸送線(400)。


5.根據權利要求1或2所述的AOI檢測裝置，其特征在于，所述轉運機構(200)包括抓取組件(210)、第一驅動單元(220)、第二驅動單元(230)和第三驅動單元(240)，所述第一驅動單元(220)的輸出端與所述抓取組件(210)相連、以驅動所述...

【專利技術屬性】
技術研發人員：陳世澤，林義雄，陳琨，昌昆，張剛偉，
申請(專利權)人：捷普電子新加坡公司，
類型：新型
國別省市：新加坡;SG