本發(fā)明專利技術(shù)為一種判別內(nèi)外層瑕疵的檢測(cè)方法與系統(tǒng)，其步驟包括將具有多層結(jié)構(gòu)的一待測(cè)物體，設(shè)置于一承載裝置上，并提供待測(cè)物體一背光裝置；繼而提供相對(duì)應(yīng)于承載裝置的一影像擷取裝置，并對(duì)該影像擷取裝置進(jìn)行初始化設(shè)定及對(duì)其與待測(cè)物體進(jìn)行相對(duì)位置校正；再開啟背光裝置，利用影像擷取裝置，取得待測(cè)物體至少一總瑕疵影像；然后再對(duì)待測(cè)物體提供一表面照明裝置，進(jìn)行待測(cè)物體的表面照明，并利用影像擷取裝置，取得待測(cè)物體一表面瑕疵影像；最后通過一計(jì)算機(jī)解析單元，分析總瑕疵影像及表面瑕疵影像；將總瑕疵影像扣除表面瑕疵影像，所得即為待測(cè)物體的內(nèi)層瑕疵影像。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)關(guān)于一種判別內(nèi)外層瑕疵的檢測(cè)方法與系統(tǒng)，特別指一種運(yùn)用至 少二光源檢測(cè)一具有多層結(jié)構(gòu)的待測(cè)物體，透過影像辨識(shí)而判別該待測(cè)物體 的內(nèi)外層瑕疵的方法與系統(tǒng)。
技術(shù)介紹
薄型顯示器在現(xiàn)今社會(huì)中的運(yùn)用，已十分普遍，大至戶外電視墻、液晶電視、電漿電視、計(jì)算機(jī)的顯示屏幕，小至手機(jī)屏幕、PDA的顯示器以及 MP3的顯示屏幕等，日常生活中，幾乎隨處可見此種顯示器的蹤跡。薄型顯示器的成品，由顯示材料、玻璃基材及背光模塊等所多種材料及 結(jié)構(gòu)貼合而成，制造薄型液晶顯示裝置的制造工藝非常復(fù)雜，通常可概分為 三個(gè)階段，依序?yàn)殛嚵兄圃旃に?array process)、面板組裝制造工藝(cell process)以及模塊組裝制造工藝(module assembly process)。簡(jiǎn)單來說，陣 列制造工藝會(huì)在一玻璃機(jī)板上形成一薄膜晶體管陣列。面板制造工藝是將一 彩色濾光片基板與陣列制造工藝所完成的薄膜晶體管基板貼合，并于其內(nèi)灌 入液晶材料。而模塊組裝制造工藝而是將面板組裝制造工藝所完成的面板模 塊與其它如背光模塊(backlight module)、驅(qū)動(dòng)電路以及外框等多種零件進(jìn) 行組裝。由于薄型液晶顯示裝置是一項(xiàng)極精密的高科技產(chǎn)業(yè)，而且制造廠商 的資本投資龐大，因此，對(duì)于產(chǎn)品的良率非常重視，所以，在目前大部分的 制造工藝中，皆已具有一定的標(biāo)準(zhǔn)制造工藝及制造工藝中對(duì)半成品的各項(xiàng)檢 測(cè)工作，但是，仍難避免各種瑕疵的發(fā)生。對(duì)于薄型顯示器而言，視覺瑕疵的種類繁多， 一般可依據(jù)瑕疵的面積與 形狀分為三類，包括點(diǎn)缺陷、線缺陷及面缺陷。無論何種瑕疵，就目前生產(chǎn) 廠商的檢測(cè)技術(shù)而言，均己可利用各種檢測(cè)儀器或是檢測(cè)方法，輕易發(fā)現(xiàn)瑕疵所在的位置及其形狀。但是，現(xiàn)行的各種檢測(cè)技術(shù)，難以正確判斷瑕疵發(fā)生在薄型顯示器的內(nèi) 層背光模塊、玻璃基材結(jié)構(gòu)上或是外層的顯示材料上，因而，廠商往往無法 進(jìn)行適當(dāng)?shù)奶幚砼c修補(bǔ)，使得有瑕疵的薄型顯示器淪為次級(jí)品銷售或予以作 廢，影響生產(chǎn)廠商的良率，亦造成生產(chǎn)成本提高。因此，針對(duì)于薄型顯示器的視覺瑕疵，有必要提出一種簡(jiǎn)單又精準(zhǔn)的方 法與裝置，除了可發(fā)現(xiàn)瑕疵所在的位置及其形狀外，更可適當(dāng)判別瑕疵發(fā)生 在內(nèi)層結(jié)構(gòu)上或是外層結(jié)構(gòu)上，方便制造廠商，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行有效的進(jìn)行處理 與修補(bǔ)，以達(dá)成提升良率及降低成本的目的。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)的主要目的，在于提供一種判別內(nèi)外層瑕疵的檢測(cè)方法與系統(tǒng)， 特別是指一種運(yùn)用至少二光源檢測(cè)具多層結(jié)構(gòu)的待測(cè)物體及影像辨識(shí)，發(fā)現(xiàn) 待測(cè)物體瑕疵位置，并準(zhǔn)確判別該待測(cè)物體的內(nèi)外層瑕疵的方法與系統(tǒng)。利 用簡(jiǎn)單的檢測(cè)方法與檢測(cè)系統(tǒng)，可正確而快速的判斷待測(cè)物體內(nèi)外層瑕疵的 效果，以有效解決目前現(xiàn)有的各種檢測(cè)技術(shù)，難以判斷瑕疵發(fā)生于待測(cè)物體 的內(nèi)層背光模塊、玻璃基材結(jié)構(gòu)上或是外層的顯示材料上的問題。本專利技術(shù)的一種判別內(nèi)外層瑕疵的檢測(cè)方法，其步驟包括將具有多層結(jié)構(gòu)的一待測(cè)物體，設(shè)置于一承載裝置上，并提供待測(cè)物體一背光裝置；繼而， 提供相對(duì)應(yīng)于承載裝置的一影像擷取裝置，并對(duì)影像擷取裝置進(jìn)行初始化設(shè) 定及待測(cè)物體的相對(duì)位置校正之后，開啟背光裝置，利用影像擷取裝置以線 性移動(dòng)掃描的方式，擷取待測(cè)物體的影像，取得待測(cè)物體至少一總瑕疵影像； 然后，提供待測(cè)物體一表面照明裝置，該表面照明裝置將提供一特定角度的 斜向光，照射至待測(cè)物體的表面，再利用影像擷取裝置以線性移動(dòng)掃描的方 式，取得待測(cè)物體一表面瑕疵影像；最后，通過一計(jì)算機(jī)解析單元，分析總 瑕疵影像及表面瑕疵影像；以及將,fe、瑕疵影像扣除表面瑕疵影像，所得即為 待測(cè)物體的內(nèi)層瑕疵影像。本專利技術(shù)的一種判別內(nèi)外層瑕疵的檢測(cè)系統(tǒng)包括至少一背光裝置、至少一 表面照明裝置、至少一影像擷取裝置、 一相對(duì)于影像擷取裝置的承載裝置、一支撐物以及一計(jì)算機(jī)解析單元；背光裝置用以提供待測(cè)物體一背光源；表 面照明裝置，為一線性聚光照明裝置，可提供待測(cè)物體一特定角度的斜向照 明光線，以對(duì)待測(cè)物體進(jìn)行表面照明；影像擷取裝置更包括至少一線性影像 感測(cè)器及一大視野光學(xué)透鏡，用于產(chǎn)生待測(cè)物體的總瑕疵影像及表面瑕疵影 像；承載裝置用以承載該待測(cè)物體；而支撐物用以使架設(shè)影像擷取裝置，并 使其可以進(jìn)行線性平移的動(dòng)作；計(jì)算機(jī)解析單元電性連接于影像擷取裝置， 用以分析其所產(chǎn)生的待測(cè)物體的總瑕疵影像及表面瑕疵影像，獲得待測(cè)物體 的內(nèi)層瑕疵影像。此方法與系統(tǒng)，可應(yīng)用于具有多層結(jié)構(gòu)的背光模塊檢測(cè)、液晶模塊檢測(cè)、 液晶面板檢測(cè)以及電漿電視面板的瑕疵檢測(cè)等的組合中的任何一種。關(guān)于本專利技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)與精神，可通過以下的專利技術(shù)詳述及所附圖式得到進(jìn)一 步的了解，然而所附圖式，僅供參考與說明，非以對(duì)本專利技術(shù)加以限制。附圖說明圖1為本專利技術(shù)一種判別內(nèi)外層瑕疵的檢測(cè)系統(tǒng)的較佳實(shí)施例的整體結(jié)構(gòu) 示意圖；圖2A-圖2C為本專利技術(shù)一種判別內(nèi)外層瑕疵的檢測(cè)方法與系統(tǒng)的較佳實(shí) 施例的掃描瑕疵示意圖；圖3為本專利技術(shù)一種判別內(nèi)外層瑕疵的檢測(cè)方法的較佳實(shí)施例的流程圖。 附圖標(biāo)號(hào)11 影像擷取裝置111 線性影像感測(cè)器112 大視野光學(xué)透鏡12 承載裝置13 背光裝置14 具有多層結(jié)構(gòu)的待測(cè)物體15 龍門16 線性聚光照明裝置17 計(jì)算機(jī)解析單元21 總瑕疵影像信息22 表面瑕疵影像信息23 內(nèi)層瑕疵信息31 總瑕疵位置32 表面瑕疵位置33 內(nèi)層瑕疵位置 810~880 步驟編號(hào)具體實(shí)施方式本專利技術(shù)關(guān)于一種判別內(nèi)外層瑕疵的檢測(cè)方法與系統(tǒng)，特別指一種運(yùn)用至 少二光源檢測(cè)一具有多層結(jié)構(gòu)的待測(cè)物體，透過影像辨識(shí)而判別該待測(cè)物體 的內(nèi)外層瑕疵的方法與裝置。茲配合圖示將本專利技術(shù)的較佳實(shí)施例加以詳細(xì)說明如下。請(qǐng)參閱圖1，為 本專利技術(shù)一種判別內(nèi)外層瑕疵的檢測(cè)系統(tǒng)的較佳實(shí)施例的整體結(jié)構(gòu)示意圖。如 圖1所示，該檢測(cè)系統(tǒng)包括一影像擷取裝置11、 一承載裝置12、 一背光裝置 13、 一龍門15、 一線性聚光照明裝置16、以及一計(jì)算機(jī)解析單元17。影像擷取裝置11 ，至少由一線性影像感測(cè)器111與一大視野光學(xué)透鏡112 結(jié)合而成，用以對(duì)一具有多層結(jié)構(gòu)的待測(cè)模塊14進(jìn)行掃描后，以取得其影像。承載裝置12相對(duì)應(yīng)于影像擷取裝置11的下方，以供承載具有多層結(jié)構(gòu) 的待測(cè)模塊14，于該承載裝置12的適當(dāng)處設(shè)有背光裝置13，該背光裝置可 以是冷陰極燈管、發(fā)光二極管、熒光燈管或其它發(fā)光源，亦可以為該多層結(jié) 構(gòu)的待測(cè)模塊14本身具有的背光源裝置，其可提供具有多層結(jié)構(gòu)的待測(cè)模塊14背光源，使影像擷取裝置11得以擷取具有多層結(jié)構(gòu)的待測(cè)模塊14的總瑕 疵影像。影像擷取裝置11架設(shè)于龍門15上，采線性平移方式作動(dòng)，得以對(duì)具有 多層結(jié)構(gòu)的待測(cè)模塊14進(jìn)行掃描，取得其總瑕疵影像；亦可令該影像擷取裝 置11固設(shè)于龍門15上，令承載該具有多層結(jié)構(gòu)的待測(cè)模塊14的承載裝置 12相對(duì)于影像擷取裝置11線性平移，以取得待測(cè)模塊14的總瑕疵影像。上述的影像擷取裝置11，其取得具有多層結(jié)構(gòu)的待測(cè)模塊14的瑕疵影 像的方式，并不僅限于利用線性掃描方式取得，亦可利用背光源裝置提供的 背光，以整幅畫面擷取的方式取得待測(cè)模塊14的瑕疵影像。線性聚光照明裝置16，其設(shè)置在適當(dāng)?shù)奈恢靡源钆溆跋駭X取裝置11進(jìn) 行同步的移動(dòng)，用以提供一特定角度的斜向照明光線，照射于具有多層結(jié)構(gòu) 的待測(cè)模塊14的表面，使影像擷取裝置11得以對(duì)具有多層結(jié)構(gòu)的待測(cè)本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種判別內(nèi)外層瑕疵的檢測(cè)方法，其步驟包括： 將具有多層結(jié)構(gòu)的一待測(cè)物體，設(shè)置于一承載裝置上； 提供至少一影像擷取裝置，相對(duì)應(yīng)于所述的承載裝置； 開啟至少一背光裝置，利用所述的影像擷取裝置，取得所述的待測(cè)物體至少一總瑕疵影像； 開啟至少一表面照明裝置，進(jìn)行所述的待測(cè)物體的表面照明，利用所述的影像擷取裝置，取得所述的待測(cè)物體至少一表面瑕疵影像； 通過一計(jì)算機(jī)解析單元，分析所述的總瑕疵影像及所述的表面瑕疵影像；以及 將所述的總瑕疵影像扣除所述的表面瑕疵影像，所得即為所述的待測(cè)物體的內(nèi)層瑕疵影像。
【技術(shù)特征摘要】
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：簡(jiǎn)宏達(dá)，宋新岳，管繼正，羅文期，林思延，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：中茂電子深圳有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：94[中國(guó)|深圳]
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