一種可充電元件的檢測電路,對可充電元件進行檢測,包含有:電源,用以對可充電元件進行充電;及可編程邏輯單元,可儲存與執行程序,而可編程邏輯單元與電源及可充電元件電性連接,以對可充電元件的儲能電壓進行取樣檢測,并根據檢測時間內可充電元件的儲能電壓的變化情形判斷可充電元件的儲能品質。本實用新型專利技術可以簡易、方便地檢測可充電元件,取得更多的測量數據,進而提升測量的精確度。(*該技術在2017年保護過期,可自由使用*)
【技術實現步驟摘要】
本技術涉及一種檢測電路,特別涉及一種可充電元件的檢測電路。技術背景在電子產業中,無源元件(Passive Component)是電子零部件中非常重 要的關鍵零部件,凡具有電容器、電阻器、電感器等特性的電子零件均稱為 無源元件。其中電容器又可分為云母電容、紙質電容、陶瓷電容、塑膠薄膜 電容、電解電容以及積層陶瓷電容(MLCC)等,其用途為儲能、濾波、旁 路、耦合、反耦合及調諧振蕩等,所以大部分的電子電路均會使用電容器。為了檢測電容器是否正常, 一般方式是采用萬用表進行測量,而測量時, 是用電表金屬測棒分別任意接電容器的兩個接腳,當阻值為無窮大時,代表 電容器正常。若測出阻值為零時,則代表電容器漏電損壞或內部擊穿。然而 根據電容器的電容值不同,萬用表選用的阻抗檔也需作對應調整,且有時萬 用表的指針擺動幅度較小時,不易看出測量結果,所以非常不方便。另一種方式為采用精確電流對電容器進行充電,在電容器達到一定的電 壓后,根據充電時間來計算出電容器的電容值。此種方法屬于模擬電路方式, 因為存在"精確電流"等條件的限制,也無法靈活的運用在小型的測試設備 中。因此如何能提供一種簡易、準確的可充電元件的檢測電路成為研究人員 待解決的問題之一。
技術實現思路
鑒于以上的問題,本技術提供一種可充電元件的檢測電路,通過檢 測對應于可充電元件的儲能電壓的邏輯信號的變化情形,判斷可充電元件的 儲能品質是否正常,且通過可設定的取樣時間,提升測量的精確度。根據本新型所公開的可充電元件的檢測電路對可充電元件進行檢測,包含有電源,用以對可充電元件進行充電,此電源例如可以是恒流電源、恒 壓電源或變動電源;及可編程邏輯單元,可儲存與執行程序,此可編程邏輯 單元與電源、可充電元件電性連接,以對可充電元件的儲能電壓進行取樣檢 測,并根據檢測時間內可充電元件的儲能電壓的變化情形判斷可充電元件的 儲能品質。上述可充電元件的檢測電路中,該程序可令該可編程邏輯單元每隔一段 預定時間取得該可充電元件的該儲能電壓,并計算該儲能電壓低于閾值電壓 的次數值,以根據該次數值決定該可充電元件的該儲能品質。上述可充電元件的檢測電路中,該程序可令該可編程邏輯單元將該次數 值與正常次數值范圍進行比對,當該次數值落于該正常次數值范圍內時,則 決定該可充電元件的該儲能品質為正常,當該次數值落于該正常次數值范圍 外時,則決定該可充電元件的該儲能品質為不正常。上述可充電元件的檢測電路中,該程序可令該可編程邏輯單元每隔一段 預定時間取得該可充電元件的該儲能電壓,并計算該儲能電壓高于閾值電壓 的次數值,以根據該次數值決定該可充電元件的該儲能品質。上述可充電元件的檢測電路中,該程序可令可編程邏輯單元將該次數值 與正常次數值范圍進行比對,當該次數值落于該正常次數值范圍內時,則決 定該可充電元件的該儲能品質為正常,當該次數值落于該正常次數值范圍外 時,則決定該可充電元件的該儲能品質為不正常。上述可充電元件的檢測電路中,該可充電元件的一端可電性連接至該可 編程邏輯單元,該可充電元件的另一端電性連接至接地端。上述可充電元件的檢測電路中,該可編程邏輯單元可為復雜可編程邏輯 器件。上述可充電元件的檢測電路中,該可編程邏輯單元可為現場可編程門陣列。上述可充電元件的檢測電路中,該電源為恒流電源、恒壓電源或變動電源。借助這種可充電元件的檢測電路,在硬件電路上僅需提供充電電源與一 個可編程邏輯集成電路,通過可編程邏輯集成電路對可充電元件的儲能電壓 進行取樣檢測,即可判斷可充電元件的儲能品質,比以往采用萬用表測量的方式更為簡易、方便,且取樣檢測的取樣時間也可依使用者需求自行設定, 如此,即可取得更多的測量資料,進而提升測量的精確度。有關本技術的特征與實施,現配合附圖作最佳實施例詳細說明如下。附圖說明圖l為本技術的系統方塊圖;及 圖2為本技術的充電曲線示意圖。 其中,附圖標記說明如下10 電源11 電阻12可充電元件 120測量充電曲線 121正常充電曲線 20檢測節點 30可編程邏輯單元具體實施方式請參照圖1,該圖為本技術的系統方塊圖。如圖1所示,本實用新 型的可充電元件的檢測電路包含有電源10、檢測節點20與可編程邏輯單元 30。電源10與電阻11電性連接,用以對可充電元件12進行充電,而電源 IO的類型可為恒流電源、恒壓電源或變動電源,其中電源IO對可充電元件 12的充電方式可為恒流充電、恒壓充電、變動電壓充電或變動電流充電,其 中恒流充電是指整個充電過程中充電電流為一定值,而恒壓充電是指充電過 程中充電電源兩端電壓保持一恒定值,電路中的電流隨電容的儲能電壓升高 而逐漸減小,而變動電壓或變動電流則是指電源為不穩定、不夠精確。檢測節點20分別與電阻11、可充電元件12、可編程邏輯單元30電性連 接,檢測節點20例如可以是具有導電性質的連接端子,此連接端子可將可充 電元件12的一端以及可編程邏輯單元30的接腳予以固定或者電性接觸。其 中可充電元件12例如可以是電容或電池。可編程邏輯單元30與檢測節點20電性連接,具有多個邏輯電路區塊、 輸入/輸出接口與可編程連線架構,可編程邏輯單元30可儲存與執行程序。 可編程邏輯單元30例如可以是復雜可編程邏輯器件(Complexprogrammable Logic Device, CPLD)或現場可編程門陣列(Field Programmable Gate Array, FPGA),因可編程邏輯單元30受變動電源的影響較小,故具有較佳的可靠 度。程序令可編程邏輯單元30每隔一段預定時間(可由使用者自行設定時間 值)通過檢測節點20取得可充電元件12的儲能電壓,并計算儲能電壓低于 閾值電壓的次數值,接著將取得的次數值與正常次數值范圍進行比對,當次 數值落于正常次數值范圍內時,則決定可充電元件12的儲能品質為正常,當 次數值落于正常次數值范圍外時,則決定可充電元件12的儲能品質為不正 常。請參照圖2,該圖為本技術的電容器的充電曲線示意圖。如「圖2」 所示,橫軸為時間,時間的單位為毫秒(ms),縱軸為電壓,電壓的單位為 伏特(v),可編程邏輯單元30檢測儲能電壓的取樣時間為每0.02毫秒一次 (可依照使用者需求自行設定取樣時間),檢測可充電元件12 (以電容器為 例)的時間為0.6毫秒,因此可獲得測量充電曲線120,而可編程邏輯單元 30的閾值電壓為2伏特,故當儲能電壓低于閾值電壓時,可編程邏輯單元30 判斷的邏輯電平為"0",當儲能電壓高于閾值電壓時,可編程邏輯單元30 判斷的邏輯電平為"1"。當時間為0.34毫秒時,可充電元件12的儲能電壓到達約2.2伏特,此時, 可充電元件12的儲能電壓大于可編程邏輯單元30的閾值電壓,則可編程邏 輯單元30判斷的邏輯電平為"1",并計算儲能電壓大于閾值電壓的次數值 為1,接著,當時間為0.36毫秒、0.38毫秒、0.4毫秒、0.42毫秒、0.44毫秒、 0.46毫秒、0.48毫秒、0.5毫秒、0.52毫秒、0.54毫秒、0.56毫秒、0.58毫秒 與0.6毫秒時,可充電元件12的儲能電壓均大于可編程邏輯單元30的閾值 電壓,因此,可編程邏輯單元30判斷的邏輯電平均為"1",并累計儲能電 壓本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種可充電元件的檢測電路,對可充電元件進行檢測,其特征在于包含有: 電源,用以對該可充電元件進行充電;及 可編程邏輯單元,用以儲存與執行程序,該可編程邏輯單元分別與該電源、該可充電元件電性連接,以取得該可充電元件的儲能電壓,并根據該儲能電壓的變化情形判斷該可充電元件的儲能品質。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員:劉方棟,金志仁,宋建福,陳玄同,劉文涵,
申請(專利權)人:英業達股份有限公司,
類型:實用新型
國別省市:71[中國|臺灣]
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