一種橫桿式探針測(cè)試裝置，應(yīng)用于測(cè)試夾具上檢測(cè)待測(cè)電路板所設(shè)的連接器是否有裝設(shè)錯(cuò)誤，其包括第一探針、第二探針及一橫桿，第一及第二探針分別相鄰設(shè)置于夾具的平板上，第二探針連接有兩條導(dǎo)線與夾具相連通，而橫桿則分別連接第一及第二探針，且其位置分別對(duì)應(yīng)于待測(cè)電路板上所設(shè)的連接器，借由橫桿是否觸及連接器進(jìn)而造成第二探針的導(dǎo)線之間的短路或開路，此情形經(jīng)由傳達(dá)至夾具后，將使夾具得知判斷出連接器是否裝設(shè)錯(cuò)誤。（*該技術(shù)在2011年保護(hù)過期，可自由使用*）
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本技術(shù)涉及一種橫桿式探針測(cè)試裝置，特別是涉及一種探針的結(jié)構(gòu)改良，以擴(kuò)大所能測(cè)試的區(qū)域來提高測(cè)試時(shí)的準(zhǔn)確率。電路板在完成焊接若干電子零件后，必須經(jīng)過測(cè)試方能得知其上的零件有無短路或焊接點(diǎn)位置有無錯(cuò)誤，此測(cè)試步驟是為確定電路板品質(zhì)合格與否的必須步驟，故測(cè)試程序與制造程序同樣地需要兼具高效率及低成本。目前產(chǎn)業(yè)間所采用測(cè)試電路的裝置，如附圖說明圖1所示，在一夾具1a的平板11a上設(shè)置數(shù)個(gè)獨(dú)立的探針12a，并于夾具1a上設(shè)置一待測(cè)電路板2a，且電路板2a上設(shè)有數(shù)個(gè)連接器21a，分別對(duì)應(yīng)于探針12a，又如圖2a及圖2b，探針12a包括一套筒121a、一金屬桿122a及一可移動(dòng)棒123a，其中，套筒121a外連接有一第一導(dǎo)線124a，與夾具1a相連通，而金屬桿122a的桿頭連接有一第二導(dǎo)線125a，并與夾具1a相連通，金屬桿122a的另一端則套設(shè)于一絕緣體126a內(nèi)，而絕緣體126a是為塑料材質(zhì)，金屬桿122a及絕緣體126a部分套設(shè)于套筒121a內(nèi)，且金屬桿122a于套筒121a內(nèi)連接一金屬棒127a，并且金屬棒127a套設(shè)于一第一彈簧128a內(nèi)，而可移動(dòng)棒123a套設(shè)于套筒121a內(nèi)，可在一范圍內(nèi)沿套筒121a內(nèi)自由滑動(dòng)，同時(shí)，可移動(dòng)棒123a在套筒121a內(nèi)連接一第二彈簧129a，其在探針12a與連接器21a發(fā)生接觸時(shí)作為緩沖裝置，且第二彈簧129a另一端連接有一金屬柱130a。平時(shí)，金屬柱130a與金屬棒127a相互不接觸，則第一導(dǎo)線124a及第二導(dǎo)線125a間不相連通，便傳送開路的信號(hào)至夾具1a，當(dāng)可移動(dòng)棒123a向套筒121a內(nèi)移動(dòng)時(shí)，將帶動(dòng)金屬柱130a推抵第二彈簧129a向上移動(dòng)，則金屬柱130a與金屬棒127a相接觸，則第一導(dǎo)線124a及第二導(dǎo)線129a之間短路，便傳送短路的信號(hào)至夾具1a。如圖3a所示，在正常情況下，連接器21a設(shè)置的極性正確，即插設(shè)的位置正確時(shí)，各探針12a將分別對(duì)應(yīng)至連接器21a的缺槽211a，當(dāng)夾具1a下壓接近電路板2a時(shí)，探針12a不會(huì)接觸到連接器21a本體，持續(xù)保持開路的狀態(tài)；反之，如圖3b所示，若某個(gè)連接器21a的極性相反，即插設(shè)的位置相反時(shí)，探針12a會(huì)接觸到連接器21a本體，且插入部1231a往上回縮，造成第一導(dǎo)線124a及第二導(dǎo)線125a短路的情形發(fā)生，并將此短路的情形傳送至夾具1a，因此，夾具1a便可得知連接器21a設(shè)置位置的情形。由于探針12a的頭端面積較小，所以與連接器21a相對(duì)應(yīng)位置要求的準(zhǔn)確性較高，如圖4所示，雖然連接器21a的極性錯(cuò)誤，但探針12a或連接器21a的位置稍微地偏差，探針12a便不會(huì)接觸到連接器21a，而持續(xù)保持開路的狀態(tài)；另一方面，探針12a在多次使用后容易發(fā)生磨損或偏斜的現(xiàn)象，則須立即更換，較為耗費(fèi)成本。由上可知，上述公知測(cè)試電路的裝置，在實(shí)際使用上，顯然具有不便與缺陷存在，而可待加以改善。本技術(shù)的主要目的，在于提供一種橫桿式探針測(cè)試裝置，將探針配合一輔助的探針，共同連接于一橫桿，則將擴(kuò)大所能測(cè)試區(qū)域，提高測(cè)試的準(zhǔn)確率，且可防止探針因長(zhǎng)期測(cè)試易造成磨損或偏斜，造成成本的開銷，從而克服現(xiàn)有技術(shù)中所存在的上述缺陷。本技術(shù)的上述目的是這樣實(shí)現(xiàn)的一種橫桿式探針測(cè)試裝置，應(yīng)用于一測(cè)試夾具上檢測(cè)一待測(cè)電路板所設(shè)的連接器是否有裝設(shè)錯(cuò)誤，其特征在于包括一第一探針，設(shè)于該夾具的平板上；一第二探針，設(shè)于該夾具的平板上，且分別設(shè)于該第一探針的相鄰位置，該第二探針連接有一對(duì)導(dǎo)線，與該夾具相連通；及一橫桿，分別連接該第一探針及第二探針，且對(duì)應(yīng)于該夾具上待測(cè)電路板所設(shè)的連接器，借由該橫桿是否觸及該連接器而由該第二探針的導(dǎo)線的傳達(dá)，讓該夾具得知判斷出該連接器是否裝設(shè)錯(cuò)誤。所述該第一探針及第二探針最好各包括一套筒，其外連接有一第一導(dǎo)線，與該夾具相連通；一金屬桿，其桿頭連接有一第二導(dǎo)線，與該夾具相連通，另一端則套設(shè)于一絕緣體內(nèi)，該金屬桿及絕緣體系部分套設(shè)于該套筒內(nèi)，且該金屬桿于套筒內(nèi)連接一金屬棒，并且該金屬棒套設(shè)于一第一彈簧內(nèi)；及一可移動(dòng)棒，套設(shè)于該套筒內(nèi)，可在一范圍內(nèi)沿該套筒內(nèi)自由滑動(dòng)，另外該可移動(dòng)棒在該套筒內(nèi)連接一第二彈簧，且該第二彈簧另一端連接有一金屬柱。所述該絕緣體可以為塑料材質(zhì)。本技術(shù)所公開的橫桿式探針測(cè)試裝置，在該橫桿接觸到該連接器時(shí)，由該導(dǎo)線傳遞一短路信號(hào)至該夾具，讓該夾具得知該連接器已裝設(shè)錯(cuò)誤。由此可見，本技術(shù)所提供的橫桿式探針測(cè)試裝置，是應(yīng)用于測(cè)試夾具上，包括一第一探針、一第二探針及一橫桿，其中第一探針設(shè)于夾具的平板上；第二探針設(shè)于夾具的平板上，且分別設(shè)于第一探針的相鄰位置，第二探針連接有數(shù)條導(dǎo)線，并與夾具相連通；橫桿分別連接第一探針及第二探針，并且對(duì)應(yīng)于夾具上待測(cè)電路板所設(shè)的連接器。下面結(jié)合實(shí)施例所示附圖，對(duì)本技術(shù)的目的、特征與特點(diǎn)作進(jìn)一步詳細(xì)說明，當(dāng)然所示附圖僅提供參考與說明用，并非用來對(duì)本技術(shù)加以限制。圖1為公知測(cè)試裝置的平面圖2a為公知探針的平面組合圖；圖2b為公知探針的平面分解圖；圖3a為公知連接器極性正確的測(cè)試狀態(tài)示意圖；圖3b為公知連接器極性相反的測(cè)試狀態(tài)示意圖；圖4a為公知探針與連接器位置偏差的示意圖；圖4b為公知探針與連接器位置偏差的示意圖；圖5為本技術(shù)的平面圖；圖6為本技術(shù)的測(cè)試狀態(tài)示意圖；圖7a為本技術(shù)連接器極性相反的測(cè)試狀態(tài)示意圖；圖7b為本技術(shù)連接器極性正確的測(cè)試狀態(tài)示意圖。請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D5及圖6所示，本技術(shù)公開了一種橫桿式探針測(cè)試裝置，其應(yīng)用于測(cè)試夾具1上，包括一第一探針11、一第二探針13及一橫桿15，其中，第一探針11設(shè)于夾具1的平板12上，且第二探針13也設(shè)于夾具1的平板12上，并分別設(shè)于第一探針11的相鄰位置，第二探針13分別焊接有兩條導(dǎo)線14，并與夾具1相連通，而橫桿15則分別連接于第一探針11及第二探針13，且對(duì)應(yīng)于夾具1上待測(cè)電路板2所設(shè)的連接器21。如圖7a所示，希望測(cè)試電路板2時(shí)，夾具1下壓接近電路板2，并由橫桿15去接觸連接器21，若連接器21的極性相反，即插設(shè)時(shí)位置相反，則橫桿15會(huì)接觸到連接器21本體，便往上回縮使第二探針13的兩條導(dǎo)線14間造成短路的情形，并傳遞一短路信號(hào)至夾具1，讓夾具1得知連接器21已裝設(shè)錯(cuò)誤，因橫桿15的接觸面積大，因此，檢測(cè)的準(zhǔn)確性提高，而不會(huì)發(fā)生位置偏差而接觸不到的情形；另外如圖7b所示，連接器21的極性正確，即插設(shè)的位置正確時(shí)，橫桿15將對(duì)應(yīng)至連接器21的缺槽211，當(dāng)夾具1下壓接近電路板2時(shí)，橫桿15不會(huì)接觸到連接器21本體，且一端落于連接器21的針腳212間，則第二探針13的兩條導(dǎo)線14持續(xù)保持開路的狀態(tài)；另一方面，因橫桿15的設(shè)計(jì)，為平面接觸，不同于公知探針的點(diǎn)式接觸，在多次使用時(shí)具有較佳的承受力，不易發(fā)生磨損或偏斜的現(xiàn)象，且維修方便，可減少成本的開銷。因此，本技術(shù)所提供的橫桿式探針測(cè)試裝置，具有如下特點(diǎn)(1)呈現(xiàn)較高的測(cè)試準(zhǔn)確度。(2)測(cè)試的涵蓋率高。(3)維修方便，且減少成本的耗費(fèi)。以上所述，僅為本技術(shù)最佳的具體實(shí)施例的詳細(xì)說明與實(shí)施例的附圖而已，但是本技術(shù)的特征并不局限于此，并非用以限制本技術(shù)，本技術(shù)的保護(hù)范圍應(yīng)以權(quán)利要求確定的保護(hù)范圍為準(zhǔn)，凡符合于本技術(shù)權(quán)利要求的本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種橫桿式探針測(cè)試裝置，應(yīng)用于一測(cè)試夾具上檢測(cè)一待測(cè)電路板所設(shè)的連接器是否有裝設(shè)錯(cuò)誤，其特征在于包括： 一第一探針，設(shè)于該夾具的平板上； 一第二探針，設(shè)于該夾具的平板上，且分別設(shè)于該第一探針的相鄰位置，該第二探針連接有一對(duì)導(dǎo)線，與該夾具相連通；及 一橫桿，分別連接該第一探針及第二探針，且對(duì)應(yīng)于該夾具上待測(cè)電路板所設(shè)的連接器，借由該橫桿是否觸及該連接器而由該第二探針的導(dǎo)線的傳達(dá)，讓該夾具得知判斷出該連接器是否裝設(shè)錯(cuò)誤。
【技術(shù)特征摘要】
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：程國(guó)隆，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：華碩電腦股份有限公司，
類型：實(shí)用新型
國(guó)別省市：71[中國(guó)|臺(tái)灣]
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