一種天線測試設備制造技術

本實用新型專利技術涉及天線測試技術領域，提供了一種天線測試設備，包括第一測試模板，設有測試耦合片；以及第二測試模板，用于承載具有天線的金屬殼體，第二測試模板可移動以帶動金屬殼體靠近和遠離測試耦合片，測試耦合片于測試時與天線間隙配合；本實用新型專利技術提供的天線測試設備具有以下優點：首先，第一測試模板上設有測試耦合片，利用天線的耦合饋電原理，測試耦合片不需要與金屬殼體接觸即可測試天線性能，其結構簡單；其次，測試耦合片采用非接觸式進行檢測，提高了測試效率；再次，由于無需設置額外的氣缸，避免造成設計的局限性；最后，基于天線的耦合饋電原理，一個測試耦合片可以同時測量多個天線，即節約了天線測試設備的制造成本。本。本。

【技術實現步驟摘要】
一種天線測試設備


[0001]本技術涉及天線測試
，更具體地說，是涉及一種天線測試設備。

技術介紹

[0002]目前無線終端由于外形及天線的影響，必須采用金屬殼作為天線的一部分，以金屬殼體邊緣開槽的形式來充當天線，通常有2/3/4G天線和WIFI//GPS天線，隨著5G天線的出現，金屬殼體上天線的數量越來越多。因此在天線測試過程中，天線測試點會出現在金屬殼體的正面以及側面。現有技術中利用測試探針接觸金屬殼體的表面進行測試，利用一個氣缸驅動測試探針可以實現同一表面上的天線測試點的測試，如果金屬殼體具有正面的測試點以及帶有側面或多個側面天線測試點的話，需增加對應方向以及數量的氣缸來實現測試探針的移動以進行天線性能的測試，其增加了測試設備的結構復雜性。而測試時間也會相應地增加一個或者多個氣缸的工作周期，即增加了測試時間。再者，如果兩個不同方向上的表面的天線測試點距離太近，由于空間上的問題，氣缸加測試探針的形式可能會無法實現性能測試，即提高了測試的局限性。
[0003]另外，測試點的測試探針都是通過測試設備的連接座連接到網絡分析儀上，通過網絡分析儀的駐波比的一致性來判斷金屬殼體制作是否通過測試，而且每個天線必須連接網絡分析儀的一個端口，當天線數量越多，需要的網絡分析儀越多，進而導致測試設備的成本的提高。

技術實現思路

[0004]本技術的目的在于提供一種天線測試設備，以解決現有技術中存在的結構復雜、測試時間長、測試存在局限以及制造成本高的技術問題。
[0005]為實現上述目的，本技術采用的技術方案是一種天線測試設備，包括：
[0006]第一測試模板，設有測試耦合片；以及
[0007]第二測試模板，用于承載具有天線的金屬殼體，所述第二測試模板可移動以帶動所述金屬殼體靠近和遠離所述測試耦合片，所述測試耦合片于測試時與所述天線間隙配合。
[0008]在一個實施例中，所述金屬殼體具有正面和側面，所述金屬殼體的正面正對著所述第一測試模板，所述天線位于所述金屬殼體的側面，所述測試耦合片于測試時與所述金屬殼體的側面正對。
[0009]在一個實施例中，所述第一測試模板還設有測試探針，所述測試探針于測試時抵頂于所述金屬殼體的正面。
[0010]在一個實施例中，所述第一測試模板設有朝所述第二測試模板突出的限位塊，所述限位塊的高度大于所述金屬殼體的厚度。
[0011]在一個實施例中，所述第一測試模板上設有多個導向桿，所述導向桿穿設于所述第二測試模板上，所述第二測試模板沿所述導向桿的長度方向作靠近和遠離所述第一測試
模板的移動。
[0012]在一個實施例中，還包括連接所述第二測試模板的托舉組件，所述托舉組件驅動所述第二測試模板移動。
[0013]在一個實施例中，所述第二測試模板的朝向所述第一測試模板的側面設有定位凸臺，所述定位凸臺的形狀配合于所述金屬殼體的內腔的形狀。
[0014]在一個實施例中，所述金屬殼體具有至少兩個相鄰的所述天線，一個所述測試耦合片于測試時覆蓋至少兩個相鄰的所述天線。
[0015]在一個實施例中，所述測試耦合片為折彎體，所述折彎體的長度方向沿所述金屬殼體的邊角部分延伸。
[0016]在一個實施例中，還包括用于連接網絡分析儀的端子座，所述端子座設于所述第一測試模板上，所述端子座具有多個與所述測試耦合片一一對應的端口。
[0017]本技術提供的天線測試設備的有益效果在于：
[0018]首先，第一測試模板上設有測試耦合片，利用天線的耦合饋電原理，以測試耦合片的形式替代天線性能測試中使用多個氣缸加測試探針的方式，進而達到測試耦合片不需要與金屬殼體接觸即可測試天線性能，無需額外的氣缸啟動測試耦合片，其結構簡單；其次，由于無需額外的氣缸啟動測試耦合片，并且測試耦合片采用非接觸式進行檢測，提高了測試效率；再次，由于無需設置額外的氣缸，簡化了結構從而避免了在測試過于靠近的兩個天線時無法設置對應的測試探針和氣缸，避免造成設計的局限性；最后，基于天線的耦合饋電原理，一個測試耦合片可以同時測量多個天線，即節約了天線測試設備的制造成本。
附圖說明
[0019]為了更清楚地說明本技術實施例中的技術方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本技術的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0020]圖1是本技術實施例提供的天線測試設備的一種視角的立體結構圖；
[0021]圖2是本技術實施例提供的金屬殼體的示意圖；
[0022]圖3是本技術實施例提供的天線測試設備的主視圖；
[0023]圖4是本技術實施例提供的天線測試設備的另一種視角的立體結構圖。
[0024]圖中各附圖標記為：
[0025]1-第一測試模板；2-第二測試模板；21-定位凸臺；22-感應組件；3-測試耦合片；4-金屬殼體；41-天線；5-限位塊；6-導向桿；7-托舉組件；8-端子座；81-端口；操作臺9。
具體實施方式
[0026]為了使本技術所要解決的技術問題、技術方案及有益效果更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本技術進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本技術，并不用于限定本技術。
[0027]需要說明的是，當元件被稱為“固定于”或“設置于”另一個元件，它可以直接位于另一個元件上或者間接位于另一個元件上。當一個元件被稱為“連接于”另一個元件，它可
以是直接連接或間接連接至另一個元件。
[0028]需要理解的是，術語“長度”、“寬度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“頂”、“底”“內”、“外”等指示的方位或位置關系為基于附圖所示的方位或位置關系，僅是為了便于描述本技術，而不是指示裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本技術的限制。
[0029]此外，術語“第一”、“第二”僅用于描述目的，而不能理解為指示相對重要性或指示技術特征的數量。在本技術的描述中，“多個”的含義是兩個或兩個以上，除非另有明確具體的限定。以下結合具體實施例對本技術的具體實現進行更加詳細的描述：
[0030]如圖1和圖2所示，本技術實施例提供的一種天線測試設備，用于測試利用金屬邊框斷縫做天線的金屬殼體，通過天線的饋電原理(耦合饋電是指在通信等領域內的不接觸但有存在較小距離的兩個電路元件或電路網絡之間通過耦合的方式進行電能量的傳導，使得其中的一個元件不與電能量傳導系統有直接接觸的情況下獲得能量)對金屬殼體上的天線結構進行測試；具體地，以下對天線結構進一步說明：一種整合于金屬殼體的天線結構，包括金屬殼體、設置于該金屬殼體中的電路基板及設置于該電路基板上的天線輻射線路，該金屬殼體包括多個側面，該多個側面的其中的本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種天線測試設備，其特征在于，包括：第一測試模板，設有測試耦合片；以及第二測試模板，用于承載具有天線的金屬殼體，所述第二測試模板可移動以帶動所述金屬殼體靠近和遠離所述測試耦合片，所述測試耦合片于測試時與所述天線間隙配合。2.如權利要求1所述的天線測試設備，其特征在于，所述天線位于所述金屬殼體的側面，所述測試耦合片用于測試時與所述金屬殼體的側面正對。3.如權利要求2所述的天線測試設備，其特征在于，所述第一測試模板還設有測試探針，所述測試探針于測試時抵頂于所述金屬殼體的正面。4.如權利要求1所述的天線測試設備，其特征在于，所述第一測試模板設有朝所述第二測試模板突出的限位塊，所述限位塊的高度大于所述金屬殼體的厚度。5.如權利要求4所述的天線測試設備，其特征在于，所述第一測試模板上設有多個導向桿，所述導向桿穿設于所述第二測試模板上，所述第二測試模板沿所述導向桿的長度方向作靠...

【專利技術屬性】
技術研發人員：鄒毅，韓振宇，蘇永紅，劉蔣軍，韋進，熊皓，
申請(專利權)人：深圳市中天迅通信技術股份有限公司，
類型：新型
國別省市：