電路分析方法和電路分析設備技術

根據本發明專利技術的電路分析設備包括：電容值提取單元，用于從包括半導體集成電路布局信息的設計信息中提取功能元件的電容值；電容值輸出單元，用于根據功能元件的電容值，以有區別的方式在包括半導體集成電路布局信息的設計圖上顯示該半導體集成電路中的功能元件或者與該功能元件連接的功能元件連接布線，或者包括每一屬性電容值運算單元，用于基于功能元件屬性庫和該功能元件的電容值對每一屬性執行電容值的運算，所述功能元件屬性庫保存有半導體集成電路中功能元件的屬性信息；每一屬性電容值輸出單元，用于輸出由每一屬性電容值運算單元計算出的每一屬性的電容值。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及用于半導體集成電路的電路分析方法和電路分析設備，具體涉及功率消耗分析、簡化時序分析和加速測量。
技術介紹
近年來，鑒于當前降低噪聲的環境趨勢，一直希望移動設備具有更高的輕便性，而固定設備需要降低功率損耗。有鑒于此，需要更低功率消耗的半導體集成電路。為了實現預期的功率消耗，需要一種在電路設計的早期階段估計功率消耗的技術。鑒于該需要，提出了一種根據電容值和每條信號線的變化率估計半導體集成電路的功率消耗的方法，以作為預先估計電路的功率消耗的方法。依照該根據電容值和信號線的變化比率來估計功率消耗的方法，可以精確地得到功率消耗。不過，根據該方法進行分析具有費時的缺點。為了計算變化率，電路需要以盡可能接近實際使用的方式工作。不過，在設計過程的初始階段中網表沒有完成的情況下，很難執行上述功率分析方法。結果，該分析就自然地留到設計過程的最后階段，如果這個階段出現任何問題，就會不利地增加設計過程所需的時間。根據上述方法，雖然很難確定出導致功率消耗增加的原因，但是根據功率消耗的分析結果，指出任何大量消耗功率的部分是可能的。在上述情況下，期望提出一種電路分析設備和電路分析方法，可以容易地提取出任意與功率和速度相關的故障部件。
技術實現思路
(1)一種根據本專利技術用于半導體集成設備的電路分析設備，包括電容值提取單元，用于從包括半導體集成電路布局信息的設計信息中提取功能元件的電容值；和電容值輸出單元，用于依照功能元件的電容值，以有區別的方式在包括半導體集成電路布局信息的設計圖上顯示該半導體集成電路中的功能元件或者與該功能元件連接的功能元件連接布線。在本申請文件中，根據上述結構的電路分析設備被稱為“第一系列的電路分析設備”。根據上述結構，該電容值輸出單元根據電容值以有區別的方式圖形顯示功能元件或者功能元件連接布線。因此，可以容易地可視了解到任意有故障的部分，特別是具有大電容的功能元件或者布線，因此可以有效地發現故障部件。(2)一種根據本專利技術用于半導體集成設備的電路分析設備，包括電容值提取單元，用于從包括半導體集成電路布局信息的設計信息中提取功能元件的電容值；和電容值/屬性輸出單元，用于基于功能元件屬性庫和該功能元件的電容值輸出每個功能元件的電容值和屬性，所述功能元件屬性庫保存有半導體集成電路中功能元件的屬性信息。在本申請文件中，根據上述結構的電路分析設備被稱為“第二系列的電路分析設備”。根據上述結構，該電容值/屬性輸出單元以結合的方式輸出功能元件的電容值和屬性。電容值的大小被用作屬性，所以可以提取出具有大電容值的部分，使得易于分析故障部件。(3)一種根據本專利技術用于半導體集成設備的電路分析設備，包括電容值提取單元，用于從包括半導體集成電路布局信息的設計信息中提取功能元件的電容值；每一屬性電容值運算單元，用于基于功能元件屬性庫和功能元件的電容值執行每一屬性的電容值的運算，所述功能元件屬性庫保存有半導體集成電路中功能元件的屬性信息；和每一屬性電容值輸出單元，用于輸出由該每一屬性電容值運算單元計算出的每一屬性的電容值。術語“輸出單元”表示包括顯示、打印以及電磁數據輸出之類的廣義概念。在本申請文件中，根據上述結構的電路分析設備被稱為“第三系列的電路分析設備”。根據上述結構，每一屬性電容值運算單元執行每一屬性的電容值的運算，得到每一屬性的電容值，此后將具有相同屬性的電容值組合成組，每一屬性電容值輸出單元輸出每一屬性電容值。結果，可以為每種屬性分析電容值，這就使得分析不易單獨檢測到的部分變得更加容易。從上述描述明顯可以看出，可以通過硬件或者軟件來實現設備的各個元件，即電容值提取單元、電容值輸出單元、電容值/屬性輸出單元、每一屬性電容值運算單元和每一屬性電容值輸出單元。根據下面對優選實施例的詳細說明，本專利技術的另外目的和優點將變得明顯，其中參照附圖可以最好地理解本專利技術。附圖說明圖1為示出了根據本專利技術第一實施例的電路分析設備和電路分析方法的結構和操作的框圖。圖2為根據第一實施例的電容模型的示范性視圖。圖3為根據第一實施例的電容模型的示范性視圖。圖4為根據第一實施例整個半導體集成電路中功能元件電容值的顯示示例。圖5為根據第一實施例的功能元件的顯示示例。圖6為示出了根據本專利技術第二實施例的電路分析設備和電路分析方法的結構和操作的框圖。圖7A為根據第二實施例的電路示例；圖7B為關于該電路的屬性庫的示例。圖8A為根據本專利技術第三實施例的電路示例；圖8B為關于該電路的屬性庫的示例。具體實施例方式一般而言，電路的消耗功率總量和延遲值取決于寄生在該電路中的電容值。因此，當電容值減少時，電路可以同時獲得更高速度和更低功率消耗。更具體地，通過集中在電容值上來分析電路，可以更容易和更快速地識別任意與功率和速度相關的故障部件。另外，由于僅有電容值被用于分析，在設計過程的初始階段就可以得到方案，并且通過檢測和處理設計過程早期階段中已有的、具有大電容值的故障部件，可以縮短整個設計過程所需的時間。另外，通過圖形顯示分析電容值的結果，可以可視了解具有大電容值的部分。因此，可以容易地確定問題產生的原因，例如待連接的功能元件之間距離大的配置問題，以及待連接的功能元件數目太大的邏輯問題。上述結構可以更加具體地分為以下模式。(4)在(2)中提到的第二系列電路分析設備中，該電容值/屬性輸出單元依照功能元件的電容值，以有區別的方式在包括半導體集成電路布局信息的設計圖上顯示該功能元件或者功能元件連接布線。可以確認的是，在該結構中，電容值/屬性輸出單元至少具有顯示工具。(5)在(3)中提到的第三系列電路分析設備中，該每一屬性電容值輸出單元依照每一屬性電容值，以有區別的方式在包括半導體集成電路布局信息的設計圖上顯示該功能元件或者功能元件連接布線。可以確認的是，在該結構中，每一屬性電容值輸出單元至少具有顯示工具。根據(4)和(5)的上述結構，基于電容值以有區別的方式圖形顯示功能元件和功能元件連接布線。因此，可以容易地可視確定故障部件，從而實現有效地檢測故障部件。(6)在(3)中提到的第三系列電路分析設備中，每一屬性電容值運算單元對具有相同屬性的功能元件電容值求和，從而可以計算每一屬性的電容值。根據上述結構，通過對每一屬性電容值求和，可以檢測出電容值總和大的屬性，從而使得在不僅需要控制單個功能元件、還需要共同控制具有相同屬性的電容的情況下，便于對故障部件進行分析。(7)在(3)中提到的第三系列電路分析設備中，每一屬性電容值運算單元將通過對具有相同屬性的功能元件電容值求和而計算出的電容值總和，除以包括在每個屬性中的布線的數目，從而計算出每個布線每一屬性的電容值。根據上述結構，可以發現即使包括在每一屬性中布線的數目出現任意差異，具有大電容值的屬性與布線的數目無關，從而使得分析故障部件變得方便。(8)在(1)中提到的第一系列電路分析設備中，電容值輸出單元包括電容條件設置部分，用于設置顯示電容的條件；顯示內容決定部分，用于基于由電容條件設置部分設置的電容條件決定要顯示的內容。(9)在(4)中提到的第二系列電路分析設備中，電容值/屬性輸出單元包括電容條件設置部分，用于設置顯示電容的條件；顯示內容決定部分，用于基于由電容條件設置部分設置的設置條件以及功能元件屬性庫決定要顯示的內容。(10)在(本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種電路分析設備，包括：電容值提取單元，用于從包括半導體集成電路的布局信息的設計信息中提取功能元件的電容值；和電容值輸出單元，用于依照功能元件的電容值，以有區別的方式在包括該半導體集成電路布局信息的設計圖上顯示該半導體集成電 路中的功能元件或者與該功能元件連接的功能元件連接布線。

【技術特征摘要】
JP 2004-5-25 2004-1544991.一種電路分析設備，包括電容值提取單元，用于從包括半導體集成電路的布局信息的設計信息中提取功能元件的電容值；和電容值輸出單元，用于依照功能元件的電容值，以有區別的方式在包括該半導體集成電路布局信息的設計圖上顯示該半導體集成電路中的功能元件或者與該功能元件連接的功能元件連接布線。2.一種電路分析設備，包括電容值提取單元，用于從包括半導體集成電路的布局信息的設計信息中提取功能元件的電容值；和電容值/屬性輸出單元，用于基于功能元件屬性庫和功能元件的電容值輸出每個功能元件的電容值和屬性，所述功能元件屬性庫保存有半導體集成電路中功能元件的屬性信息。3.一種電路分析設備，包括電容值提取單元，用于從包括半導體集成電路的布局信息的設計信息中提取功能元件的電容值；每一屬性電容值運算單元，用于基于功能元件屬性庫和功能元件的電容值對每一屬性執行電容值的運算，所述功能元件屬性庫保存有半導體集成電路中功能元件的屬性信息；和每一屬性電容值輸出單元，用于輸出由該每一屬性電容值運算單元計算出的每一屬性的電容值。4.根據權利要求2所述的電路分析設備，其中該電容值/屬性輸出單元依照功能元件的電容值，以有區別的方式在包括半導體集成電路布局信息的設計圖上顯示功能元件或者功能元件連接布線。5.根據權利要求3所述的電路分析設備，其中該每一屬性電容值輸出單元依照每一屬性電容值，以有區別的方式在包括半導體集成電路布局信息的設計圖上顯示功能元件或者功能元件連接布線。6.根據權利要求3所述的電路分析設備，其中該每一屬性電容值運算單元對具有相同屬性的功能元件電容值求和，從而計算出每一屬性的電容值。7.根據權利要求3所述的電路分析設備，其中該每一屬性電容值運算單元將通過對具有相同屬性的功能元件電容值求和而計算出的電容值總數除以包括在每個屬性中的布線的數目，從而計算出每一屬性每個布線的電容值。8.根據權利要求1所述的電路分析設備，其中該電容值輸出單元包括電容條件設置部分，用于設置要顯示的電容的條件；顯示內容決定部分，用于基于由電容條件設置部分設置的電容條件決定要顯示的內容。9.根據權利要求4所述的電路分析設備，其中該電容值/屬性輸出單元包括電容條件設置部分，用于設置要顯示的電容的條件；顯示內容決定部分，用于基于由電容條件設置部分設置的設置條件和功能元件屬性庫決定要顯示的內容。10.根據權利要求5所述的電路分析設備，其中該每一屬性電容值輸出單元包括電容條件設置部分，用于設置要顯示的電容的條件；顯示內容決定部分，用于基于由電容條件設置部分設置的設置條件和功能元件屬性庫決定要顯示的內容。11.根據權利要求8所述的電路分析設備，其中該電容條件設置部分設置至少一個關于功能元件電容值的閾值，該顯示內容決定部分基于該閾值，依照功能元件的電容值，設置與功能元件或者功能元件布線相關的視覺可識別顯示圖形。12.根據權利要求9所述的電路分析設備，其中該電容條件設置部分設置至少一個關于功能元件電容值的閾值，顯示內容決定部分基于該閾值和功能元件屬性庫，依照功能元件的電容值，設置與功能元件或者功能元件布線相關的視覺可識別顯示圖形。13.根據權利要求10所述的電路分析設備，其中該電容條件設置部分設置至少一個關于每一屬性電容值的閾值，顯示內容決定部分基于功能元件屬性庫和該閾值，依照每一屬性電容值，設置與功能元件或者功能元件布線相關的視覺可識別顯示圖形。14.根據權利要求1所述的電路分析設備，包括用于從包括半導體集成電路布局信息的設計信息中提取功能元件的電容值的該電容值提取單元，其中該功能元件的電容值是在后級中連接到該功能元件的輸出端的功能元件的輸入電容的總和。15.根據權利要求2所述的電路分析設備，包括用于從包括半導體集成電路布局信息的設計信息中提取功能元件的電容值的該電容值提取單元，其中該功能元件的電容值是在后級中連接到該功能元件輸出端的功能元件的輸入電容的總和。16.根據權利要求3所述的電路分析設備，包括用于從包括半導體集成電路的布局信息的設計信息中提取功能元件的電容值的該電容值提取單元，其中該功能元件的電容值是在后級中連接到該功能元件輸出端的功能元件的輸入電容的總和。17.根據權利要求1所述的電路分析設備，包括用于從包括半導體集成電路布局信息的設計信息中提取功能元件的電容值的該電容值提取單元，其中該功能元件的電容值是連接到該功能元件的輸出端的布線的布線電容的總和。18.根據權利要求2所述的電路分析設備，包括用于從包括半導體集成電路布局信息的設計信息中提取功能元件的電容值的該電容值提取單元，其中該功能元件的電容值是連接到該功能元件的輸出端的布線的布線電容的總和。19.根據權利要求3所述的電路分析設備，包括用于從包括半導體集成電路布局信息的設計信息中提取功能元件的電容值的該電容值提取單元，其中該功能元件的電容值是連接到該功能元件的輸出端的布線的布線電容的總和。20.根據權利要求1所述的電路分析設備，包括用于從包括半導體集成電路布局信息的設計信息中提取功能元件的電容值的該電容值提取單元，其中該功能元件的電容值是功能元件內部電容值的總和。21.根據權利要求2所述的電路分析設備，包括用于從包括半導體集成電路布局信息的設計信息中提取功能元件的電容值的該電容值提取單元，其中該功能元件的電容值是功能元件內部電容值的總和。22.根據權利要求3所述的電路分析設備，包括用于從包括半導體集成電路布局信息的設計信息中提取功能元件的電容值的該電容值提取單元，其中該功能元件的電容值是功能元件內部電容值的總和。23.根據權利要求1所述的電路分析設備，包括用于從包括半導體集成電路布局信息的設計信息中提取功能元件的電容值的該電容值提取單元，其中該功能元件的電容值是在后級中連接到功能元件的輸出端的功能元件的輸入電容和連接到該功能...

【專利技術屬性】
技術研發人員：畑山薰，笹川幸宏，
申請(專利權)人：松下電器產業株式會社，
類型：發明
國別省市：JP[日本]