樣本吸光度差的測量方法、樣本分析儀和存儲介質技術

一種樣本吸光度差的測量方法、樣本分析儀和存儲介質。該方法包括以下步驟：獲取樣本對象的吸光度數據；根據吸光度數據應用兩點法計算第一吸光度差，根據吸光度數據應用速率法計算第二吸光度差；將第一吸光度差和第二吸光度差代入用于計算最終吸光度差的預設的加權平均函數；根據預設函數關系確定滿足所述加權平均函數的第一吸光度差的權重和第二吸光度差的權重以及最終吸光度差。還具有樣本分析儀，包括光源(132)、檢測器(134)、處理器(136)。處理器(136)。處理器(136)。處理器(136)。

【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】

【技術保護點】

【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】

【專利技術屬性】
技術研發人員：李聰，郭文恒，李坷坷，
申請(專利權)人：北京普利生儀器有限公司，
類型：發明
國別省市：