測試機臺的測試程序自動產(chǎn)生的裝置及方法制造方法及圖紙

本發(fā)明專利技術(shù)一種測試機臺的測試程序自動產(chǎn)生的軟件，包括：一測試機程序庫，含復(fù)數(shù)測試機臺的測試程序模塊，所述測試程序模塊是根據(jù)所述測試機臺的一測試策略而產(chǎn)生；以及一操作平臺，相應(yīng)一測試機臺的一測試需求，并根據(jù)所述測試機程序庫的測試策略，自動轉(zhuǎn)換產(chǎn)生所述測試機臺的一測試程序。（*該技術(shù)在2021年保護過期，可自由使用*）

【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
【國外來華專利技術(shù)】
本專利技術(shù)為一種。目前芯片開發(fā)的模式已偏向于芯片上系統(tǒng)(SOC)(System on chip)發(fā)展，方使芯片的功能更為強大(Powerful)，隨之帶來測試上的復(fù)雜度提高，開發(fā)測試程序的時間加長，不同機臺程序的轉(zhuǎn)換，程序的維護修改等問題，使其在后段所花費的人力及成本大大提高，影響到整個產(chǎn)品的市場先機(Time to market)。當(dāng)前大多的芯片設(shè)計(chip design)都走向芯片上系統(tǒng)(SOC)(System onchip)，并自行研發(fā)建立智能特性(IP)(Intellectual Property)或采用它人的智能特性(IP)，來作為芯片(Chip)的整合及加速開發(fā)的時間(Cycle Time)，及正確找出客戶需求的布置，在其IP交互完全兼容下，其芯片設(shè)計(Chip Design)的產(chǎn)出(Throughput)大大地增加，故可將此一方法導(dǎo)入測試程序的開發(fā)，針對不同測試機(Tester)的建立不同的IP。從同一個模擬樣本(Simulation pattern)產(chǎn)生不同機臺的格式(Format)，針對不同的測試項目，而產(chǎn)生不同的Tester測試程序的原始碼(Source Code)，這樣只要先準(zhǔn)備好模擬形式(Simulation Pattern)，引腳定義(Pin-define)，測試項項目選擇，規(guī)格條件，機臺種類等等輸入，通過一個軟件的IP程序，就能產(chǎn)生測試機(Tester)的原始碼(Source code)及樣本檔案(patternfile)，使其控制程序的開發(fā)時間更快，同時實現(xiàn)轉(zhuǎn)程序的功能。本專利技術(shù)的目的是提供一種測試機臺的測試程序自動產(chǎn)生的軟件及其方法，使測試機臺的測試程序高效率地產(chǎn)出，同時不同測試機臺的測試程序也能相互轉(zhuǎn)換，使測試程序的再利用率大為提高，從而節(jié)省開發(fā)測試程序的時間。為達本專利技術(shù)的上述目的，本專利技術(shù)的測試機臺的測試程序自動產(chǎn)生的軟件，其特點是包括一測試機程序庫，含數(shù)個測試機臺的測試程序模塊，所述測試程序模塊是根據(jù)所述測試機臺的一測試策略而產(chǎn)生；以及一操作平臺，相應(yīng)一測試機臺的一測試需求，并根據(jù)所述測試機程序庫的測試策略，自動轉(zhuǎn)換產(chǎn)生所述測試機臺的一測試程序。如所述的測試機臺的測試程序自動產(chǎn)生的軟件，其中所述測試機臺包括一數(shù)字測試機臺。如所述的測試機臺的測試程序自動產(chǎn)生的軟件，其中所述測試機臺包括一模擬測試機臺。如所述的測試機臺的測試程序自動產(chǎn)生的軟件，其中所述測試機臺包括一Trillium測試機臺、一Schlumberger ITS serier測試機臺、一HP 9491測試機臺、一Advantester T7315測試機臺、一VTT V7100測試機臺。如所述的測試機臺的測試程序自動產(chǎn)生的軟件，其中所述測試策略是包括一邏輯產(chǎn)品的測試項目及一模擬產(chǎn)品的測試項目。如所述的測試機臺的測試程序自動產(chǎn)生的軟件，其中所述邏輯產(chǎn)品的測試項目是包括一連續(xù)性(Continutity)測試、一驅(qū)動/吸收電流(Drive/Sink Current)測試、一電力消耗(Power Dissiapation)測試、一IDDQ測試、一輸入漏電流測試、一功能樣本(Function Pattern)測試、一交流特性測試。如所述的測試機臺的測試程序自動產(chǎn)生的軟件，其中所述模擬產(chǎn)品測試是包括一ADC/DAC’s SNR，THD，Gain_Var測試、一Jitter/Skew測試、一串音測試、一眼圖測試、一頻率響應(yīng)測試。為達本專利技術(shù)的上述目的，本專利技術(shù)的測試機臺的測試程序自動產(chǎn)生的方法，其特點是包括下列步驟建立數(shù)個測試機臺的測試程序模塊，所述測試程序模塊是含所述數(shù)個測試機臺的測試策略；以及根據(jù)一測試需求及所述測試策略，自動轉(zhuǎn)換產(chǎn)生一測試機臺的測試程序原始碼。采用本專利技術(shù)的上述方案，測試程序的產(chǎn)生是借助整合的測試機程序庫，利用各測試機的測試規(guī)格加以轉(zhuǎn)換，這樣測試程序更容易開發(fā)，從而使開發(fā)測試程序的時間減短，以加速產(chǎn)品的市場先機(Time to market)。為更清楚理解本專利技術(shù)的目的、特點和優(yōu)點，下面將結(jié)合附圖對本專利技術(shù)的較佳實施例進行詳細說明。附圖說明圖1是本專利技術(shù)一較佳實施例的建立各種機臺的數(shù)據(jù)庫的示意圖；圖2是本專利技術(shù)一較佳實施例的機臺安裝組態(tài)及電性限制示意圖；圖3是本專利技術(shù)一較佳實施例的正常的測試策略示意圖；圖4是本專利技術(shù)一較佳實施例的整合項目示意圖。要完成此軟件的IP，首先要了解各測試機臺原始碼(Tester Source Code)的布置，以C或Pascal語言為主及模型格式(Pattern Format)的定義，以圖1為例，舉出五種機臺的分類，測試機臺程序庫11包括了Trillium測試機臺12、Schlumberger ITS serier測試機臺13、HP 9491測試機臺14、Advantester T7315測試機臺15、VTT V7100測試機臺16，其中各測試機臺的測試程序的樣本檔案格式及原始碼雛型是依測試需求所產(chǎn)生，而針對同樣測試需求的測試程序，則可相互轉(zhuǎn)換為不同測試機臺的測試程序。依據(jù)本身測試機臺的資源及規(guī)格極限，以圖2為例，定義好機臺安裝組合及電性規(guī)格限制，進而定義規(guī)劃好此軟件IP的輸入條件，依據(jù)條件產(chǎn)生用戶(User)所需的測試程序及，其中測試安裝組態(tài)21包括了精密電子規(guī)格22(PrecisionElectronics(PE)spec.& Max.Channels)、精密測量單元規(guī)格23(Precisionmeasurement Unit(PMU)Spec.)、設(shè)備電源供應(yīng)規(guī)格24(Device Power Supplies(DPS)Spec.)、時間測量單元規(guī)格25(Time Measurement Unit(TMU)Spec.)、向量內(nèi)存大小26(Vector Memory Size)、系統(tǒng)時序比率27(System Clock Rate Spec.)、模擬通道規(guī)格28(Analog Channels Spec.)。如圖3所示，圖中示出一正常標(biāo)準(zhǔn)邏輯產(chǎn)品的測試項目。其中，測試策略31包括了正常項項目(邏輯產(chǎn)品)33及額外項目(模擬產(chǎn)品)32。正常項項目(邏輯產(chǎn)品)33包括連續(xù)性測試331(Continuity)、驅(qū)動/吸收電流測試332(drive/SinkCurrent)、電力消耗測試333(Power dissiaption)、IDDQ測試334、輸入漏電流測試335(Input Leakage Current)、功能樣本測試336(Function Pattern)、交流特性測試337(Accharacteristic)。另外，額外項項目32則包括了ADC/DAC’s SNR，THD測試321、Jitter/Skew測試322、串音測試323(Crosstalk)、眼圖測試324(EyeDiagram)、頻率響應(yīng)測試325(Frequency Response)。此軟件IP可以用C語言或C Shell Script來完成，將上述所提及的數(shù)據(jù)庫加以整合，如圖4所示，可以在PC及工作站平臺上執(zhí)行，加速測試程序開發(fā)的時間。此軟件IP內(nèi)部必須作各種Tester的軟件對象，其具備有交互完全的兼容性，當(dāng)不同Tester要增加或修改程序時，只要換其相關(guān)的軟件對象，即可本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護點】
一種測試機臺的測試程序自動產(chǎn)生的軟件，其特征在于，它包括：一測試機程序庫，含數(shù)個測試機臺的測試程序模塊，所述測試程序模塊是根據(jù)所述測試機臺的一測試策略而產(chǎn)生；以及一操作平臺，相應(yīng)一測試機臺的一測試需求，并根據(jù)所述測試機程序庫的測試策略，自動轉(zhuǎn)換產(chǎn)生所述測試機臺的一測試程序。

【技術(shù)特征摘要】
【國外來華專利技術(shù)】

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：鄭貽仁，楊登凱，
申請(專利權(quán))人：華邦電子股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：71[中國|臺灣]