分析裝置及分析裝置中的細(xì)胞計(jì)數(shù)方法制造方法及圖紙

本發(fā)明專利技術(shù)能夠提供一種細(xì)胞分析裝置，通過在窗口存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)表示僅移動(dòng)與窗口大小相對(duì)應(yīng)的距離的信息，對(duì)窗口移動(dòng)進(jìn)行優(yōu)化控制，從而能夠防止重復(fù)檢測(cè)同一細(xì)胞，不需要每改變一次窗口大小就重新取得數(shù)據(jù)，因此能夠通過一次數(shù)據(jù)取得就求出所希望的細(xì)胞數(shù)，以短時(shí)間高精度地進(jìn)行分析。（*該技術(shù)在2024年保護(hù)過期，可自由使用*）

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
【國(guó)外來華專利技術(shù)】
本專利技術(shù)在醫(yī)療設(shè)備領(lǐng)域中也屬于分析細(xì)胞的技術(shù)，涉及，它是在盤片上注入含有各種各樣大小的細(xì)胞的試樣，用光照射該盤片，根據(jù)它的光的反射或透射光來對(duì)試驗(yàn)中的細(xì)胞進(jìn)行細(xì)胞大小判別及計(jì)數(shù)。
技術(shù)介紹
在醫(yī)療設(shè)備領(lǐng)域中，作為對(duì)試樣中的細(xì)胞進(jìn)行細(xì)胞大小判別及計(jì)數(shù)用的分析裝置的以往技術(shù)1，也使用一種利用光盤的分析裝置，在該分析裝置中，光源一面跟蹤盤片的軌道上，一面對(duì)注入盤片上的試樣照射光，檢測(cè)器檢測(cè)它的反射光或透射光。檢測(cè)的信號(hào)通過AD轉(zhuǎn)換器，保存在緩沖存儲(chǔ)器中。在盤片上存在表示旋轉(zhuǎn)方向基準(zhǔn)的校正標(biāo)記，檢測(cè)器檢測(cè)的數(shù)據(jù)以校正標(biāo)識(shí)為基準(zhǔn)形成序列。在試樣內(nèi)不存在細(xì)胞時(shí)，檢測(cè)器檢測(cè)的光的強(qiáng)度為一定，與此不同的是，在存在有細(xì)胞時(shí)，由于光的干涉，檢測(cè)器檢測(cè)的電平降低，通過識(shí)別這樣的檢測(cè)器的電平變化，來判斷有無細(xì)胞。另外，該方法是以一維(一個(gè)軌道上)來判斷有無細(xì)胞，下面用圖1及圖2來說明以二維來判斷細(xì)胞的方法。圖1表示以往的分析裝置的分析方法的說明圖，圖2表示從往的分析裝置中分析大小不同的細(xì)胞的方法的說明圖。首先，以一維判斷有無細(xì)胞，在判斷為有細(xì)胞時(shí)，在存儲(chǔ)器中每一個(gè)細(xì)胞存儲(chǔ)一個(gè)‘1’，在判斷為沒有細(xì)胞時(shí)，在存儲(chǔ)器中每隔一定的采樣間隔存儲(chǔ)‘0’。那時(shí)的存儲(chǔ)器內(nèi)部的狀態(tài)如圖1所示。盤片軌道102上存在的細(xì)胞104的一維細(xì)胞識(shí)別數(shù)據(jù)以試樣存儲(chǔ)器101上使各道102與數(shù)據(jù)總線的各bit相對(duì)應(yīng)的形式存儲(chǔ)。這時(shí)，在試樣存儲(chǔ)器101上配置與細(xì)胞104的大小相對(duì)應(yīng)的m行×n列的窗口103，沿切線方向及軌道方向分別一面一個(gè)bit一個(gè)bit的移位，一面在前述存儲(chǔ)器101上掃描。在掃描時(shí)，在窗口103內(nèi)的所有的行存在‘1’時(shí)，判斷為在二維有細(xì)胞。這時(shí)，將窗口內(nèi)存在的全部的‘1’重寫為‘0’，這是為了防止以后重復(fù)檢測(cè)同一細(xì)胞進(jìn)行的處理。這時(shí)。作為檢測(cè)對(duì)象的細(xì)胞的大小由窗口大小來決定。在想改變要檢測(cè)的細(xì)胞的大小時(shí)，可據(jù)此改變窗口103的大小。另外，作為分析裝置的以往技術(shù)2，下面用附圖說明一種以往的細(xì)胞計(jì)數(shù)方法，它是對(duì)分析盤片上注入的形成各種各樣大小的細(xì)胞按大小分別對(duì)一定范圍的大小的細(xì)胞進(jìn)行計(jì)數(shù)。圖11表示以往的細(xì)胞計(jì)數(shù)方法中的細(xì)胞檢測(cè)方法的說明圖，圖11(a)表示以往的細(xì)胞計(jì)算方法中分析盤片上的測(cè)定對(duì)象物體即細(xì)胞和軌道以及激光的位置關(guān)系的說明圖，圖11(b)表示在以往的細(xì)胞計(jì)數(shù)方法中使用窗口判別細(xì)胞的大小、并按大小分別進(jìn)行計(jì)數(shù)的方法的說明圖。在圖11(a)中，201是分析盤片上注入的測(cè)定對(duì)象物體即細(xì)胞，202是分析盤片上的軌道，203是在分析盤上相對(duì)移動(dòng)的激光。以往的分析裝置是在分析盤片注入試樣，在試樣內(nèi)存在的形成各種各樣大小的細(xì)胞201中，分析特定細(xì)胞的個(gè)數(shù)，在這樣的分析裝置中，在分析盤片上與CD-ROM等光盤相同，刻有螺旋形的軌道202，在分析盤片旋轉(zhuǎn)時(shí)進(jìn)行控制，使得激光203在軌道202上進(jìn)行相對(duì)移動(dòng)。另一方面，測(cè)定對(duì)象物體即細(xì)胞201大于軌道202的寬度，橫跨多條軌道202存在，在激光203沿軌道202上移動(dòng)時(shí)，取決于軌道202上是否有細(xì)胞201，激光受光單元中產(chǎn)生信號(hào)變化。通過對(duì)該信號(hào)變換進(jìn)行處理，在判定為有細(xì)胞201時(shí)，將“1”存入存儲(chǔ)器，在除此以外的情況時(shí)，將“0”存入存儲(chǔ)器，以這些數(shù)據(jù)陣列為基礎(chǔ)，檢測(cè)“1”沿縱向的長(zhǎng)度，通過這樣對(duì)多個(gè)細(xì)胞進(jìn)行大小判別，并按大小分別進(jìn)行個(gè)數(shù)計(jì)數(shù)。作為這樣進(jìn)行細(xì)胞的大小判別、并按其大小分別將細(xì)胞進(jìn)行計(jì)數(shù)的細(xì)胞計(jì)數(shù)方法是采用下述的方法，即采用方形的窗口，對(duì)于每個(gè)想求得的大小，切換窗口，按大小分別檢測(cè)測(cè)定對(duì)象物體即細(xì)胞并進(jìn)行計(jì)數(shù)。在以上那樣的細(xì)胞計(jì)數(shù)方法中，例如在從占有軌道1～11條大小的多個(gè)細(xì)胞中，想要檢測(cè)占有軌道6條大小的細(xì)胞個(gè)數(shù)時(shí)，如圖11(b)所示，首先用6×X1大小的窗口，沿X方向一面一個(gè)一個(gè)移位，一面進(jìn)行掃描，對(duì)窗口的各行全部包含“1”的地方的個(gè)數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)。接著，用7×X1的大小的窗口，沿X方向一面一個(gè)一個(gè)移位，一面進(jìn)行掃描，對(duì)窗口的各行全部包含“1”的部位的個(gè)數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)。通過這樣，求出橫跨大于等于6條軌道存在的細(xì)胞及橫跨大于等于7條軌道存在的細(xì)胞的個(gè)數(shù)，根據(jù)其差值可以求出占有6條軌道大小的細(xì)胞的個(gè)數(shù)。另外，在這里X1是采用大于因盤片旋轉(zhuǎn)不均勻及信號(hào)檢測(cè)誤差而引起的“1”的位置偏移范圍的整數(shù)值，各軌道中即使“1”的位置發(fā)生偏移，也能夠作為從同一個(gè)細(xì)胞檢測(cè)出的“1”來進(jìn)行檢測(cè)。另外，作為分析裝置的以往技術(shù)3，是對(duì)圖像數(shù)據(jù)采用孤立點(diǎn)檢測(cè)濾波器FD來檢測(cè)孤立點(diǎn)，在規(guī)定區(qū)域內(nèi)利用檢測(cè)的孤立點(diǎn)的個(gè)數(shù)，判別圖像數(shù)據(jù)是否是網(wǎng)點(diǎn)圖像，按照網(wǎng)點(diǎn)圖像判別方法輸出其判別結(jié)果，為了對(duì)圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，在存儲(chǔ)器內(nèi)進(jìn)行窗口掃描。圖16表示細(xì)胞識(shí)別時(shí)對(duì)存儲(chǔ)器內(nèi)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)方法。在圖16中，對(duì)盤片的每條軌道312取得測(cè)定對(duì)象的細(xì)胞311的數(shù)據(jù)，使其二值化后的數(shù)據(jù)和數(shù)據(jù)總線的位相對(duì)應(yīng)，按照采樣的順序存入存儲(chǔ)器區(qū)域313。這里，若在通過的軌道312上細(xì)胞被識(shí)別，則作為“1”進(jìn)行存儲(chǔ)，若細(xì)胞未被識(shí)別，則作為“0”進(jìn)行存儲(chǔ)。如圖17所示，作為這里的細(xì)胞大小判別及計(jì)數(shù)方式，首先如前所述，在存儲(chǔ)了細(xì)胞數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器內(nèi)，使a×b(作為例子在圖中是3×8)大小固定的窗口314進(jìn)行掃描。這里，a對(duì)應(yīng)于測(cè)定對(duì)象的細(xì)胞大小是大約占有a條軌道大小的情況，b是基于下述情況，即在因跳動(dòng)而軌道內(nèi)的樣本位置偏移時(shí)，在如果細(xì)胞的識(shí)別數(shù)據(jù)“1”是同一細(xì)胞而連續(xù)的b樣本內(nèi)也能夠搜索。另外，作為掃描方法，是沿地址方向使窗口每次偏移一個(gè)樣本，而沿位方向使窗口每次向下偏移一位。該方法是，若窗口內(nèi)的位方向上“1”連續(xù)有a位，則將它識(shí)別作為一個(gè)細(xì)胞加以計(jì)數(shù)，并將該窗口內(nèi)的“1”全部置換為“0”，然后重復(fù)這些操作。但是，如圖2所示，在上述那樣的以往技術(shù)1中，在試樣內(nèi)混合存在有想檢測(cè)的細(xì)胞及大小是細(xì)胞105的兩倍而不想檢測(cè)的細(xì)胞106的情況下，在用符合想檢測(cè)的細(xì)胞105的大小的窗口107對(duì)試樣存儲(chǔ)器101進(jìn)行掃描時(shí)，不想檢測(cè)的細(xì)胞106作為兩個(gè)想檢測(cè)的細(xì)胞105來計(jì)數(shù)。例如，在想檢測(cè)的細(xì)胞105存在100個(gè)、而不想檢測(cè)的細(xì)胞106存在50個(gè)時(shí)，若用窗口107進(jìn)行檢測(cè)，則成為100個(gè)+50個(gè)×2＝200個(gè)那樣的結(jié)果。為了求出想檢測(cè)的細(xì)胞105的數(shù)量，就必須求出不想檢測(cè)的細(xì)胞106的數(shù)量，再?gòu)目倲?shù)中減去。為此，現(xiàn)在要對(duì)試樣存儲(chǔ)器101內(nèi)用符合不想檢測(cè)的細(xì)胞106的大小的窗口108進(jìn)行掃描。但是，由于試驗(yàn)存儲(chǔ)器101內(nèi)的數(shù)據(jù)已經(jīng)在用前述窗口107掃描后被重寫，因此不能利用。為此，必須再次重新取得數(shù)據(jù)。但是，那樣存在的問題是，不僅使分析時(shí)間增加一倍，而且由于分析條件不相同，有可能擴(kuò)大分析誤差。另外，在利用以往技術(shù)2的細(xì)胞計(jì)數(shù)方法進(jìn)行的測(cè)定方法中，計(jì)數(shù)之后的窗口移動(dòng)中，在X1較大、而且各軌道的“1”的位置偏移較小時(shí)，有可能重復(fù)讀取一度檢測(cè)出的序列。另外，例如在想要檢測(cè)占有6條軌道大小的細(xì)胞時(shí)，占有7條軌道及以上大小的細(xì)胞即使是一度檢測(cè)過的細(xì)胞，在下一次的窗口掃描中將再次被檢測(cè)。因此，在以往的細(xì)胞計(jì)數(shù)方法中，關(guān)于用窗口檢測(cè)并一度計(jì)數(shù)了的部位，通過將“1”變換為“0”，就不能重復(fù)作為“1”來讀取，但因此在切換窗口的大小進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，必須利用再次對(duì)所有的行進(jìn)行窗口掃描，重新測(cè)定軌道上本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種分析裝置，在盤片上注入含有細(xì)胞的試樣、并對(duì)該盤片照射光后根據(jù)該光的反射或透射光求出試樣中的細(xì)胞數(shù)，其特征在于，具有根據(jù)所述光的反射光或透射光的變化以一維進(jìn)行細(xì)胞識(shí)別的一維細(xì)胞識(shí)別單元；存儲(chǔ)根據(jù)所述一維細(xì)胞識(shí)別單元的識(shí)別結(jié)果，表示在與盤片的各道相對(duì)應(yīng)的ｂｉｔ有無細(xì)胞的第１數(shù)據(jù)用的試樣存儲(chǔ)器；對(duì)所述試樣存儲(chǔ)器上以任意大小的窗口為單位進(jìn)行掃描，通過確認(rèn)所述第１數(shù)據(jù)，以二維識(shí)別細(xì)胞的二維細(xì)胞識(shí)別單元；將利用所述二維細(xì)胞識(shí)別所識(shí)別的表示有無細(xì)胞的第２數(shù)據(jù)以每個(gè)窗口為單位附加在所述試樣存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)附加單元；利用所述第２數(shù)據(jù)來判別細(xì)胞大小的細(xì)胞大小判別單元；以及控制所述窗口移動(dòng)的窗口移動(dòng)控制單元，通過對(duì)所述試樣存儲(chǔ)器附加表示每個(gè)窗口有無細(xì)胞的第２數(shù)據(jù)，利用一次數(shù)據(jù)取得來求出細(xì)胞的大小及其個(gè)數(shù)。

【技術(shù)特征摘要】
【國(guó)外來華專利技術(shù)】...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：山田亮介，兵頭正威，藤井善之，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：JP[日本]