超級(jí)電容模組監(jiān)控、預(yù)警方法、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及裝置制造方法及圖紙

本發(fā)明專利技術(shù)公開(kāi)了一種超級(jí)電容模組監(jiān)控、預(yù)警方法、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及裝置，該方法通過(guò)獲取超級(jí)電容模組工作時(shí)的電壓信息、電流信息、溫度信息以及內(nèi)阻信息；根據(jù)電壓信息、電流信息、溫度信息和內(nèi)阻信息通過(guò)預(yù)設(shè)超級(jí)電容壽命曲線對(duì)超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得模組衰減壽命；根據(jù)模組衰減壽命確定超級(jí)電容模組的模組剩余壽命。本發(fā)明專利技術(shù)根據(jù)電壓信息、電流信息、溫度信息和內(nèi)阻信息通過(guò)預(yù)設(shè)超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得模組衰減壽命進(jìn)而得到超級(jí)電容模組的模組剩余壽命，并在所述模組剩余壽命不滿足預(yù)設(shè)條件時(shí)生成安全預(yù)警信息進(jìn)行預(yù)警，從而實(shí)現(xiàn)了對(duì)超級(jí)電容模組的壽命進(jìn)行監(jiān)控及預(yù)警。對(duì)超級(jí)電容模組的壽命進(jìn)行監(jiān)控及預(yù)警。對(duì)超級(jí)電容模組的壽命進(jìn)行監(jiān)控及預(yù)警。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
超級(jí)電容模組監(jiān)控、預(yù)警方法、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及裝置


[0001]本專利技術(shù)涉及電子
，尤其涉及一種超級(jí)電容模組監(jiān)控、預(yù)警方法、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及裝置。

技術(shù)介紹

[0002]超級(jí)電容器是一種利用活性炭多空電極和電解質(zhì)組成雙層結(jié)構(gòu)存儲(chǔ)電能的高功率密度儲(chǔ)能器件，其性能介于靜電電容器和蓄電池之間，具有循環(huán)次數(shù)多、工作溫度范圍寬、功率密度大、充放電速度快以及環(huán)境友好等優(yōu)點(diǎn)。大功率超級(jí)電容的實(shí)際應(yīng)用中，基本未對(duì)使用壽命做監(jiān)控，常規(guī)做法是以設(shè)計(jì)使用年限為參考，單純用使用時(shí)間來(lái)作為壽命終結(jié)條件，因使用環(huán)境的差異，導(dǎo)致實(shí)際壽命與設(shè)計(jì)值偏差較大，實(shí)際使用中無(wú)法對(duì)超級(jí)電容模組的使用壽命進(jìn)行監(jiān)控，存在提前更換產(chǎn)生浪費(fèi)或電容損壞后再更換的情形。
[0003]上述內(nèi)容僅用于輔助理解本專利技術(shù)的技術(shù)方案，并不代表承認(rèn)上述內(nèi)容是現(xiàn)有技術(shù)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

[0004]本專利技術(shù)的主要目的在于提供一種超級(jí)電容模組監(jiān)控、預(yù)警方法、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及裝置，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中無(wú)法對(duì)超級(jí)電容模組的使用壽命進(jìn)行監(jiān)控的技術(shù)問(wèn)題。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本專利技術(shù)提供一種超級(jí)電容模組監(jiān)控、預(yù)警方法，所述超級(jí)電容模組監(jiān)控、預(yù)警方法包括以下步驟：
[0006]獲取超級(jí)電容模組工作時(shí)的電壓信息、電流信息、溫度信息以及內(nèi)阻信息；
[0007]根據(jù)所述電壓信息、所述電流信息、所述溫度信息和所述內(nèi)阻信息通過(guò)預(yù)設(shè)超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得模組衰減壽命；
[0008]根據(jù)所述模組衰減壽命確定所述超級(jí)電容模組的模組剩余壽命，并在所述模組剩余壽命不滿足預(yù)設(shè)條件時(shí)生成安全預(yù)警信息進(jìn)行預(yù)警。
[0009]可選地，所述根據(jù)所述電壓信息、所述電流信息、所述溫度信息和所述內(nèi)阻信息通過(guò)預(yù)設(shè)超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得模組衰減壽命的步驟包括：
[0010]根據(jù)所述電壓信息和所述電流信息通過(guò)預(yù)設(shè)第一超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得第一衰減壽命；
[0011]根據(jù)所述溫度信息通過(guò)預(yù)設(shè)第二超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得第二衰減壽命；
[0012]根據(jù)所述內(nèi)阻信息通過(guò)預(yù)設(shè)第三超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得第三衰減壽命；
[0013]根據(jù)所述第一衰減壽命、所述第二衰減壽命和所述第三衰減壽命確定所述超級(jí)電容模組的模組衰減壽命。
[0014]可選地，所述根據(jù)所述內(nèi)阻信息通過(guò)預(yù)設(shè)第三超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容
模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得第三衰減壽命的步驟包括：
[0015]根據(jù)所述內(nèi)阻信息確定所述超級(jí)電容模組的充放電次數(shù)信息；
[0016]根據(jù)所述充放電次數(shù)信息通過(guò)預(yù)設(shè)第三超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得第三衰減壽命。
[0017]可選地，所述根據(jù)所述電壓信息和所述電流信息通過(guò)預(yù)設(shè)第一超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得第一衰減壽命的步驟之前，還包括：
[0018]獲取電壓樣本信息、電流樣本信息和第一衰減壽命樣本信息，并根據(jù)所述電壓樣本信息、所述電流樣本信息和所述第一衰減壽命樣本信息建立預(yù)設(shè)第一超級(jí)電容壽命曲線；
[0019]獲取溫度樣本信息和第二衰減壽命樣本信息，并根據(jù)所述溫度樣本信息和所述第二衰減壽命樣本信息建立預(yù)設(shè)第二超級(jí)電容壽命曲線；
[0020]獲取充放電次數(shù)樣本信息和第三衰減壽命樣本信息，并根據(jù)所述充放電次數(shù)樣本信息和所述第三衰減壽命樣本信息建立預(yù)設(shè)第三超級(jí)電容壽命曲線。
[0021]可選地，所述根據(jù)所述電壓信息和所述電流信息通過(guò)預(yù)設(shè)第一超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得第一衰減壽命的步驟包括：
[0022]獲取在所述電壓信息和所述電流信息狀態(tài)下所述超級(jí)電容模組的第一工作時(shí)間；
[0023]根據(jù)所述電壓信息、所述電流信息和所述第一工作時(shí)間通過(guò)預(yù)設(shè)第一超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得第一衰減壽命。
[0024]可選地，所述根據(jù)所述溫度信息通過(guò)預(yù)設(shè)第二超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得第二衰減壽命的步驟包括：
[0025]獲取在所述溫度信息下所述超級(jí)電容模組的第二工作時(shí)間；
[0026]根據(jù)所述溫度信息和所述第二工作時(shí)間通過(guò)預(yù)設(shè)第二超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得第二衰減壽命。
[0027]可選地，所述根據(jù)所述模組衰減壽命確定所述超級(jí)電容模組的模組剩余壽命的步驟之后，還包括：
[0028]實(shí)時(shí)獲取所述超級(jí)電容模組的容量衰減變化率、溫度變化率、內(nèi)阻變化率以及相互串聯(lián)的所述超級(jí)電容膜組的總成不均衡度；
[0029]在所述容量衰減變化率、所述溫度變化率、所述內(nèi)阻變化率或所述總成不均衡度中的至少一項(xiàng)不滿足所述預(yù)設(shè)條件時(shí)，生成所述安全預(yù)警信息進(jìn)行預(yù)警。
[0030]此外，為實(shí)現(xiàn)上述目的，本專利技術(shù)還提出一種超級(jí)電容模組監(jiān)控、預(yù)警設(shè)備，所述超級(jí)電容模組監(jiān)控、預(yù)警設(shè)備包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的超級(jí)電容模組監(jiān)控、預(yù)警程序，所述超級(jí)電容模組監(jiān)控、預(yù)警程序配置為實(shí)現(xiàn)如上文所述的超級(jí)電容模組監(jiān)控、預(yù)警方法的步驟。
[0031]此外，為實(shí)現(xiàn)上述目的，本專利技術(shù)還提出一種存儲(chǔ)介質(zhì)，所述存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有超級(jí)電容模組監(jiān)控、預(yù)警程序，所述超級(jí)電容模組監(jiān)控、預(yù)警程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上文所述的超級(jí)電容模組監(jiān)控、預(yù)警方法的步驟。
[0032]此外，為實(shí)現(xiàn)上述目的，本專利技術(shù)還提出一種超級(jí)電容模組監(jiān)控、預(yù)警裝置，所述超級(jí)電容模組監(jiān)控、預(yù)警裝置包括：信息獲取模塊、衰減壽命預(yù)測(cè)模塊、剩余壽命確定模塊以及安全監(jiān)控模塊；
[0033]所述信息獲取模塊，用于獲取超級(jí)電容模組工作時(shí)的電壓信息、電流信息、溫度信息以及內(nèi)阻信息；
[0034]所述衰減壽命預(yù)測(cè)模塊，用于根據(jù)所述電壓信息、所述電流信息、所述溫度信息和所述內(nèi)阻信息通過(guò)預(yù)設(shè)超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得模組衰減壽命；
[0035]所述剩余壽命確定模塊，用于根據(jù)所述模組衰減壽命確定所述超級(jí)電容模組的模組剩余壽命，并在所述模組剩余壽命不滿足預(yù)設(shè)條件時(shí)生成安全預(yù)警信息進(jìn)行預(yù)警。
[0036]本專利技術(shù)中提供一種超級(jí)電容模組監(jiān)控、預(yù)警方法、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及裝置，該方法通過(guò)獲取超級(jí)電容模組工作時(shí)的電壓信息、電流信息、溫度信息以及內(nèi)阻信息；根據(jù)所述電壓信息、所述電流信息、所述溫度信息和所述內(nèi)阻信息通過(guò)預(yù)設(shè)超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得模組衰減壽命；根據(jù)所述模組衰減壽命確定所述超級(jí)電容模組的模組剩余壽命。本專利技術(shù)根據(jù)所述電壓信息、所述電流信息、所述溫度信息和所述內(nèi)阻信息通過(guò)預(yù)設(shè)超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得模組衰減壽命進(jìn)而得到超級(jí)電容模組的模組剩余壽命，并在所述模組剩余壽命不滿本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

【技術(shù)特征摘要】
1.一種超級(jí)電容模組監(jiān)控、預(yù)警方法，其特征在于，所述方法包括：獲取超級(jí)電容模組工作時(shí)的電壓信息、電流信息、溫度信息以及內(nèi)阻信息；根據(jù)所述電壓信息、所述電流信息、所述溫度信息和所述內(nèi)阻信息通過(guò)預(yù)設(shè)超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得模組衰減壽命；根據(jù)所述模組衰減壽命確定所述超級(jí)電容模組的模組剩余壽命，并在所述模組剩余壽命不滿足預(yù)設(shè)條件時(shí)生成安全預(yù)警信息進(jìn)行預(yù)警。2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述電壓信息、所述電流信息、所述溫度信息和所述內(nèi)阻信息通過(guò)預(yù)設(shè)超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得模組衰減壽命的步驟包括：根據(jù)所述電壓信息和所述電流信息通過(guò)預(yù)設(shè)第一超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得第一衰減壽命；根據(jù)所述溫度信息通過(guò)預(yù)設(shè)第二超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得第二衰減壽命；根據(jù)所述內(nèi)阻信息通過(guò)預(yù)設(shè)第三超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得第三衰減壽命；根據(jù)所述第一衰減壽命、所述第二衰減壽命和所述第三衰減壽命確定所述超級(jí)電容模組的模組衰減壽命。3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述內(nèi)阻信息通過(guò)預(yù)設(shè)第三超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得第三衰減壽命的步驟包括：根據(jù)所述內(nèi)阻信息確定所述超級(jí)電容模組的充放電次數(shù)信息；根據(jù)所述充放電次數(shù)信息通過(guò)預(yù)設(shè)第三超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得第三衰減壽命。4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述電壓信息和所述電流信息通過(guò)預(yù)設(shè)第一超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲得第一衰減壽命的步驟之前，還包括：獲取電壓樣本信息、電流樣本信息和第一衰減壽命樣本信息，并根據(jù)所述電壓樣本信息、所述電流樣本信息和所述第一衰減壽命樣本信息建立預(yù)設(shè)第一超級(jí)電容壽命曲線；獲取溫度樣本信息和第二衰減壽命樣本信息，并根據(jù)所述溫度樣本信息和所述第二衰減壽命樣本信息建立預(yù)設(shè)第二超級(jí)電容壽命曲線；獲取充放電次數(shù)樣本信息和第三衰減壽命樣本信息，并根據(jù)所述充放電次數(shù)樣本信息和所述第三衰減壽命樣本信息建立預(yù)設(shè)第三超級(jí)電容壽命曲線。5.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述電壓信息和所述電流信息通過(guò)預(yù)設(shè)第一超級(jí)電容壽命曲線對(duì)所述超級(jí)電容模組的衰減壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，獲...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：孫建軍，邢偉，李軍華，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：武漢世紀(jì)精能科技發(fā)展有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：